JPH11204288A - Ｘ線撮影装置 - Google Patents
Ｘ線撮影装置Info
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- JPH11204288A JPH11204288A JP10021389A JP2138998A JPH11204288A JP H11204288 A JPH11204288 A JP H11204288A JP 10021389 A JP10021389 A JP 10021389A JP 2138998 A JP2138998 A JP 2138998A JP H11204288 A JPH11204288 A JP H11204288A
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- JP
- Japan
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- tube voltage
- tube
- ray
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- voltage
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 自動露出制御によってパルス状にＸ線曝射し
てＸ線画像を撮影する場合にその画像の画質劣化を防
ぐ。 【解決手段】 フォトマル２２によりイメージインテン
シファイア１２の出力に対応する露光量信号を得て、こ
れをフォトタイマ回路２３によって積分し、その積分値
が所定値に達したときに曝射遮断信号を生じる。このと
きの実パルス幅と設定パルス幅との差に応じた管電圧補
正信号を管電圧補正回路２４から高電圧装置２１に与え
て管電圧を補正する。この実測管電圧をＡ／Ｄ変換器２
８を通してＣＰＵ２５に読み込み、メモリ２６より読み
出した望ましい範囲であるかを判定し、その範囲外であ
る場合に設定パルス幅を変化させて管電圧補正回路２４
に出力する。
てＸ線画像を撮影する場合にその画像の画質劣化を防
ぐ。 【解決手段】 フォトマル２２によりイメージインテン
シファイア１２の出力に対応する露光量信号を得て、こ
れをフォトタイマ回路２３によって積分し、その積分値
が所定値に達したときに曝射遮断信号を生じる。このと
きの実パルス幅と設定パルス幅との差に応じた管電圧補
正信号を管電圧補正回路２４から高電圧装置２１に与え
て管電圧を補正する。この実測管電圧をＡ／Ｄ変換器２
８を通してＣＰＵ２５に読み込み、メモリ２６より読み
出した望ましい範囲であるかを判定し、その範囲外であ
る場合に設定パルス幅を変化させて管電圧補正回路２４
に出力する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、医学的診断のた
めのＸ線画像などを撮影するＸ線撮影装置に関し、とく
にパルス状にＸ線を曝射して撮影を行うＸ線撮影装置の
改良に関する。
めのＸ線画像などを撮影するＸ線撮影装置に関し、とく
にパルス状にＸ線を曝射して撮影を行うＸ線撮影装置の
改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線管からパルス状にＸ線を曝射するこ
とは、Ｘ線シネ撮影などにおいてしばしば行われてい
る。通常、このパルス状Ｘ線曝射においては、Ｘ線管の
電圧・電流・パルス幅をあらかじめ設定しておいて、曝
射中にはこれらのパラメータをリアルタイムでコントロ
ールして自動露出制御する。
とは、Ｘ線シネ撮影などにおいてしばしば行われてい
る。通常、このパルス状Ｘ線曝射においては、Ｘ線管の
電圧・電流・パルス幅をあらかじめ設定しておいて、曝
射中にはこれらのパラメータをリアルタイムでコントロ
ールして自動露出制御する。
【０００３】パルス幅はフォトタイマを用いて露出量を
検出しこれが一定になるようにコントロールするのが原
則であるが、もともとパルス状Ｘ線曝射を行うのは動体
をぶれなく撮影するためであるから、自動露出制御によ
ってあまりパルス幅が長くなるようにはせずに、あらか
じめ設定しておいたパルス幅に収束するよう管電圧・管
電流を増減するというように制御するのが普通である。
この際、Ｘ線管に加える負荷が定格を超えないように管
電圧と管電流をコントロールしている。
検出しこれが一定になるようにコントロールするのが原
則であるが、もともとパルス状Ｘ線曝射を行うのは動体
をぶれなく撮影するためであるから、自動露出制御によ
ってあまりパルス幅が長くなるようにはせずに、あらか
じめ設定しておいたパルス幅に収束するよう管電圧・管
電流を増減するというように制御するのが普通である。
この際、Ｘ線管に加える負荷が定格を超えないように管
電圧と管電流をコントロールしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来のコントロール方式では、場合によっては撮
影したＸ線画像の画質が犠牲になるという問題がある。
すなわち、限られたＸ線管定格の範囲内で露出量の制御
を行う場合、管電流による制御よりも管電圧による制御
の方がＸ線管にとって負荷が少ないため、制御変動量が
大きい場合には管電圧を大きく変動させることとなって
管電圧があらかじめ設定しておいた値（望ましい値）か
ら大きく離れてしまうことがある。管電圧はＸ線画像の
コントラストを左右するため、このような場合に露出量
は一定に保たれていても、画質が悪くなるという事態が
生じる。
ような従来のコントロール方式では、場合によっては撮
影したＸ線画像の画質が犠牲になるという問題がある。
すなわち、限られたＸ線管定格の範囲内で露出量の制御
を行う場合、管電流による制御よりも管電圧による制御
の方がＸ線管にとって負荷が少ないため、制御変動量が
大きい場合には管電圧を大きく変動させることとなって
管電圧があらかじめ設定しておいた値（望ましい値）か
ら大きく離れてしまうことがある。管電圧はＸ線画像の
コントラストを左右するため、このような場合に露出量
は一定に保たれていても、画質が悪くなるという事態が
生じる。
【０００５】この発明は、上記に鑑み、撮影Ｘ線画像の
画質を犠牲にすることなく、パルス状Ｘ線曝射時の自動
露出制御を行ってＸ線画像を撮影するように改善した、
Ｘ線撮影装置を提供することを目的とする。
画質を犠牲にすることなく、パルス状Ｘ線曝射時の自動
露出制御を行ってＸ線画像を撮影するように改善した、
Ｘ線撮影装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明によるＸ線撮影装置においては、Ｘ線管
と、設定された管電圧、管電流、パルス幅の値に応じて
上記のＸ線管にパルス電圧を供給する高電圧供給手段
と、上記Ｘ線管から曝射され被写体を透過したＸ線が入
射するＸ線撮像手段と、該Ｘ線撮像手段へのＸ線露出量
を検出する検出手段と、該検出Ｘ線露出量が所定量に到
達したときに曝射遮断信号を上記の高電圧供給手段に送
って上記Ｘ線管に送る高電圧を遮断させる手段と、この
遮断までのパルス幅が設定値に収束するよう管電圧を補
正する手段と、補正された管電圧を監視して所定の範囲
外となったときに設定パルス幅を修正して管電圧が上記
の所定範囲に収まるように制御する手段とが備えられる
ことが特徴となっている。
め、この発明によるＸ線撮影装置においては、Ｘ線管
と、設定された管電圧、管電流、パルス幅の値に応じて
上記のＸ線管にパルス電圧を供給する高電圧供給手段
と、上記Ｘ線管から曝射され被写体を透過したＸ線が入
射するＸ線撮像手段と、該Ｘ線撮像手段へのＸ線露出量
を検出する検出手段と、該検出Ｘ線露出量が所定量に到
達したときに曝射遮断信号を上記の高電圧供給手段に送
って上記Ｘ線管に送る高電圧を遮断させる手段と、この
遮断までのパルス幅が設定値に収束するよう管電圧を補
正する手段と、補正された管電圧を監視して所定の範囲
外となったときに設定パルス幅を修正して管電圧が上記
の所定範囲に収まるように制御する手段とが備えられる
ことが特徴となっている。
【０００７】Ｘ線撮像手段へのＸ線露出量を検出しこれ
が所定量となったときにＸ線曝射を遮断することにより
パルス状にＸ線を曝射する場合、このパルス幅が設定値
に収束するようＸ線管電圧が補正される。この補正され
た管電圧は監視されており、所定の範囲外となったとき
は、設定パルス幅が修正される。そのため、この修正さ
れた設定パルス幅に、実際のパルス幅が収束するように
なり、このとき、管電圧が上記の所定の範囲内に収まる
ようにできる。この管電圧の所定の範囲というのを、撮
像手段によって撮像されるＸ線画像の画質が劣化しない
範囲に対応させて定めておけば、画質が犠牲にされるこ
となく、自動露出制御を行いながらパルス状にＸ線曝射
して、Ｘ線画像を撮像することができる。
が所定量となったときにＸ線曝射を遮断することにより
パルス状にＸ線を曝射する場合、このパルス幅が設定値
に収束するようＸ線管電圧が補正される。この補正され
た管電圧は監視されており、所定の範囲外となったとき
は、設定パルス幅が修正される。そのため、この修正さ
れた設定パルス幅に、実際のパルス幅が収束するように
なり、このとき、管電圧が上記の所定の範囲内に収まる
ようにできる。この管電圧の所定の範囲というのを、撮
像手段によって撮像されるＸ線画像の画質が劣化しない
範囲に対応させて定めておけば、画質が犠牲にされるこ
となく、自動露出制御を行いながらパルス状にＸ線曝射
して、Ｘ線画像を撮像することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】つぎに、この発明の実施の形態に
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。図１に示す
ように、Ｘ線管１１には高電圧装置２１からパルス状の
高電圧が供給されており、このＸ線管１１からパルス状
にＸ線の曝射が行われる。このＸ線管１１からのＸ線は
被写体３０を透過してイメージインテンシファイア１２
に入射し、Ｘ線透過像が撮像される。イメージインテン
シファイア１２の出力光学像は光学系１３を経てＴＶカ
メラ１４に送られてビデオ信号が得られ、これが画像処
理装置１５などを経て画像モニター装置１６に送られ
て、いわゆるＸ線透視が行われる。
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。図１に示す
ように、Ｘ線管１１には高電圧装置２１からパルス状の
高電圧が供給されており、このＸ線管１１からパルス状
にＸ線の曝射が行われる。このＸ線管１１からのＸ線は
被写体３０を透過してイメージインテンシファイア１２
に入射し、Ｘ線透過像が撮像される。イメージインテン
シファイア１２の出力光学像は光学系１３を経てＴＶカ
メラ１４に送られてビデオ信号が得られ、これが画像処
理装置１５などを経て画像モニター装置１６に送られ
て、いわゆるＸ線透視が行われる。
【０００９】イメージインテンシファイア１２の出力側
の光学系１３には光検出器であるフォトマルチプライア
（フォトマル）２２が結合されており、これから、イメ
ージインテンシファイア１２に入射したＸ線露出量に対
応する露光量信号が得られる。この露光量信号はフォト
タイマ回路２３に送られる。このフォトタイマ回路２３
では、露光量信号を積分しており、あらかじめ設定され
た値に到達した時に曝射遮断信号を高電圧装置２１に送
り、Ｘ線管１１に送る高電圧を遮断させる。
の光学系１３には光検出器であるフォトマルチプライア
（フォトマル）２２が結合されており、これから、イメ
ージインテンシファイア１２に入射したＸ線露出量に対
応する露光量信号が得られる。この露光量信号はフォト
タイマ回路２３に送られる。このフォトタイマ回路２３
では、露光量信号を積分しており、あらかじめ設定され
た値に到達した時に曝射遮断信号を高電圧装置２１に送
り、Ｘ線管１１に送る高電圧を遮断させる。
【００１０】こうして、高電圧装置２１からＸ線管１１
に送るパルス状の高電圧のパルス幅が制御される。この
高電圧装置２１からＸ線管１１に与える管電圧および管
電流は、あらかじめ設定された値とされる。すなわち、
ＣＰＵ２５からＤ／Ａ変換器２７を介して管電圧および
管電流の設定値に関する情報が高電圧回路２１に送られ
ている。
に送るパルス状の高電圧のパルス幅が制御される。この
高電圧装置２１からＸ線管１１に与える管電圧および管
電流は、あらかじめ設定された値とされる。すなわち、
ＣＰＵ２５からＤ／Ａ変換器２７を介して管電圧および
管電流の設定値に関する情報が高電圧回路２１に送られ
ている。
【００１１】一方、フォトタイマ回路２３からは、曝射
遮断信号を生じるまでの時間を表す実パルス幅信号が管
電圧補正回路２４に送られる。この管電圧補正回路２４
にはＣＰＵ２５からの設定パルス幅信号が送られてお
り、実パルス幅を設定パルス幅と比較してその差に応じ
た管電圧補正信号を高電圧装置２１に送る。こうして管
電圧が補正されると、その実際の管電圧がＡ／Ｄ変換器
２８を介してＣＰＵ２５に読み取られる（管電圧がＣＰ
Ｕ２５によって実測される）。
遮断信号を生じるまでの時間を表す実パルス幅信号が管
電圧補正回路２４に送られる。この管電圧補正回路２４
にはＣＰＵ２５からの設定パルス幅信号が送られてお
り、実パルス幅を設定パルス幅と比較してその差に応じ
た管電圧補正信号を高電圧装置２１に送る。こうして管
電圧が補正されると、その実際の管電圧がＡ／Ｄ変換器
２８を介してＣＰＵ２５に読み取られる（管電圧がＣＰ
Ｕ２５によって実測される）。
【００１２】ＣＰＵ２５では、図２のフローチャートで
示すように、上記のようにして管電圧の実測を行った
後、この実測管電圧が望ましい範囲かどうかを判定す
る。この望ましい管電圧というのは、基本的にはＸ線管
１１の定格の範囲内で、画質が良好になるものとしてあ
らかじめ求めたものであって、メモリ２６に格納されて
いる。ＣＰＵ２５がこのメモリ２６に記憶しておいた望
ましい範囲を参照して上記の判定を行う。望ましい範囲
を外れている場合には設定パルス幅を修正する。すなわ
ち、実測管電圧がその範囲より大きければ設定パルス幅
を広げ、小さければ設定パルス幅を狭くする。ＣＰＵ２
５はこうして修正した設定パルス幅信号を管電圧補正回
路２４に出力する。
示すように、上記のようにして管電圧の実測を行った
後、この実測管電圧が望ましい範囲かどうかを判定す
る。この望ましい管電圧というのは、基本的にはＸ線管
１１の定格の範囲内で、画質が良好になるものとしてあ
らかじめ求めたものであって、メモリ２６に格納されて
いる。ＣＰＵ２５がこのメモリ２６に記憶しておいた望
ましい範囲を参照して上記の判定を行う。望ましい範囲
を外れている場合には設定パルス幅を修正する。すなわ
ち、実測管電圧がその範囲より大きければ設定パルス幅
を広げ、小さければ設定パルス幅を狭くする。ＣＰＵ２
５はこうして修正した設定パルス幅信号を管電圧補正回
路２４に出力する。
【００１３】そこで、たとえば図３の（イ）に示すよう
に、設定管電圧Ｖａで設定パルス幅Ｗａに収束していた
ときに被写体３０が厚くなったとかして所定の露光量に
到達する時間が長引いて曝射遮断信号が出力されるまで
の時間が遅くなり、パルス幅がＷａからＷｂへと広くな
ったとする（図で網掛け部は変化した部分である）。そ
うすると、設定パルス幅Ｗａに対して実パルス幅Ｗｂが
大きくなったので、管電圧補正回路２４は管電圧をＶａ
からＶｂに補正せよという管電圧補正信号を生じる。そ
のため、管電圧がＶｂに上昇することによって従来の条
件（管電圧Ｖａ）での露光量不足が補われ、パルス幅は
設定パルス幅Ｗａに収束していく。
に、設定管電圧Ｖａで設定パルス幅Ｗａに収束していた
ときに被写体３０が厚くなったとかして所定の露光量に
到達する時間が長引いて曝射遮断信号が出力されるまで
の時間が遅くなり、パルス幅がＷａからＷｂへと広くな
ったとする（図で網掛け部は変化した部分である）。そ
うすると、設定パルス幅Ｗａに対して実パルス幅Ｗｂが
大きくなったので、管電圧補正回路２４は管電圧をＶａ
からＶｂに補正せよという管電圧補正信号を生じる。そ
のため、管電圧がＶｂに上昇することによって従来の条
件（管電圧Ｖａ）での露光量不足が補われ、パルス幅は
設定パルス幅Ｗａに収束していく。
【００１４】ところがこの管電圧Ｖｂが望ましい管電圧
範囲Ｖｐ〜Ｖｑを外れたものとなっても、従来であれ
ば、図４の（イ）に示すようにそのまま継続してしま
い、結果的に画質が悪くなってしまう。そこで、上記の
ようにＣＰＵ２５が実測管電圧Ｖｂが望ましい管電圧範
囲Ｖｐ〜Ｖｑかどうかを判定し、この図３の（イ）では
その範囲を上回っているため、設定パルス幅をＷｃに広
げる。そのため、実パルス幅との間の差に応じて定まる
管電圧補正信号も変化し、結局、管電圧が望ましい管電
圧範囲Ｖｐ〜Ｖｑの内の電圧Ｖｃとなり、実パルス幅が
Ｗｃに収束する。
範囲Ｖｐ〜Ｖｑを外れたものとなっても、従来であれ
ば、図４の（イ）に示すようにそのまま継続してしま
い、結果的に画質が悪くなってしまう。そこで、上記の
ようにＣＰＵ２５が実測管電圧Ｖｂが望ましい管電圧範
囲Ｖｐ〜Ｖｑかどうかを判定し、この図３の（イ）では
その範囲を上回っているため、設定パルス幅をＷｃに広
げる。そのため、実パルス幅との間の差に応じて定まる
管電圧補正信号も変化し、結局、管電圧が望ましい管電
圧範囲Ｖｐ〜Ｖｑの内の電圧Ｖｃとなり、実パルス幅が
Ｗｃに収束する。
【００１５】また、図３の（ロ）に示すように、設定管
電圧Ｖａで設定パルス幅Ｗａに収束していたときに被写
体３０が薄くなる等で所定の露光量に到達する時間が早
まり曝射遮断信号が出力されるまでの時間が短くなり、
パルス幅がＷａからＷｄへと狭くなったとする。この場
合、設定パルス幅Ｗａに対して実パルス幅Ｗｄが小さく
なったので、管電圧補正回路２４は管電圧をＶａからＶ
ｄへと下降させよという管電圧補正信号を生じる。これ
により管電圧が下がって実パルス幅は設定パルス幅Ｗａ
に収束しようとする。
電圧Ｖａで設定パルス幅Ｗａに収束していたときに被写
体３０が薄くなる等で所定の露光量に到達する時間が早
まり曝射遮断信号が出力されるまでの時間が短くなり、
パルス幅がＷａからＷｄへと狭くなったとする。この場
合、設定パルス幅Ｗａに対して実パルス幅Ｗｄが小さく
なったので、管電圧補正回路２４は管電圧をＶａからＶ
ｄへと下降させよという管電圧補正信号を生じる。これ
により管電圧が下がって実パルス幅は設定パルス幅Ｗａ
に収束しようとする。
【００１６】この場合も、実測管電圧Ｖｄが望ましい管
電圧範囲Ｖｐ〜Ｖｑを下回るものであっても、従来なら
ば図４の（ロ）に示すように管電圧Ｖｄ、パルス幅Ｗａ
に収束するが、この図１の構成では、ＣＰＵ２５が管電
圧範囲Ｖｐ〜Ｖｑを下回るものであることを判定して図
３の（イ）に示すように設定パルス幅を狭くしてＷｅと
し、管電圧補正回路２４から出力される管電圧補正信号
を変化させて、管電圧をＶｅ（望ましい管電圧範囲Ｖｐ
〜Ｖｑの内の電圧）に、実パルス幅をＷｅに、それぞれ
収束させることになる。
電圧範囲Ｖｐ〜Ｖｑを下回るものであっても、従来なら
ば図４の（ロ）に示すように管電圧Ｖｄ、パルス幅Ｗａ
に収束するが、この図１の構成では、ＣＰＵ２５が管電
圧範囲Ｖｐ〜Ｖｑを下回るものであることを判定して図
３の（イ）に示すように設定パルス幅を狭くしてＷｅと
し、管電圧補正回路２４から出力される管電圧補正信号
を変化させて、管電圧をＶｅ（望ましい管電圧範囲Ｖｐ
〜Ｖｑの内の電圧）に、実パルス幅をＷｅに、それぞれ
収束させることになる。
【００１７】すなわち、従来であれば、露光量が変動し
たときに最初はフォトタイマ回路２３の動作によってパ
ルス幅が変化するが、実パルス幅を設定値に保つように
管電圧を補正する。そのため、過度的にパルス幅が変化
するが、管電圧の補正により設定パルス幅に収束する。
このように管電圧のみで露光量変動に対応しているた
め、管電圧が適切でなくなり画質の劣化をもたらすこと
がある。これに対して、この発明によると、露光量が変
動したときに最初はフォトタイマ回路２３の動作によっ
てパルス幅が変化するとともに、実パルス幅を設定値に
保つように管電圧を補正する点は同じであるが、その実
測管電圧が望ましい範囲を外れたものとなったときに
は、パルス幅も変化させているので管電圧の補正量が少
なくてすみ、実測管電圧がその範囲を外れないようにす
ることができる。
たときに最初はフォトタイマ回路２３の動作によってパ
ルス幅が変化するが、実パルス幅を設定値に保つように
管電圧を補正する。そのため、過度的にパルス幅が変化
するが、管電圧の補正により設定パルス幅に収束する。
このように管電圧のみで露光量変動に対応しているた
め、管電圧が適切でなくなり画質の劣化をもたらすこと
がある。これに対して、この発明によると、露光量が変
動したときに最初はフォトタイマ回路２３の動作によっ
てパルス幅が変化するとともに、実パルス幅を設定値に
保つように管電圧を補正する点は同じであるが、その実
測管電圧が望ましい範囲を外れたものとなったときに
は、パルス幅も変化させているので管電圧の補正量が少
なくてすみ、実測管電圧がその範囲を外れないようにす
ることができる。
【００１８】なお、この説明はこの発明の実施の形態に
関するものであって、この発明が上の記述に限定される
趣旨でないことは明らかであろう。たとえば、上記では
被写体３０のＸ線透過像を画像モニター装置１６で表示
していわゆる透視を行う場合について説明したが、シネ
撮影などのパルス状Ｘ線曝射によるフィルム撮影などに
も適用できることはもちろんである。また、管電圧補正
回路２４の機能をＣＰＵ２５に取り込んでハードウェア
としての管電圧補正回路２４をなくすことができるな
ど、具体的な構成は種々のものとすることが可能であ
る。
関するものであって、この発明が上の記述に限定される
趣旨でないことは明らかであろう。たとえば、上記では
被写体３０のＸ線透過像を画像モニター装置１６で表示
していわゆる透視を行う場合について説明したが、シネ
撮影などのパルス状Ｘ線曝射によるフィルム撮影などに
も適用できることはもちろんである。また、管電圧補正
回路２４の機能をＣＰＵ２５に取り込んでハードウェア
としての管電圧補正回路２４をなくすことができるな
ど、具体的な構成は種々のものとすることが可能であ
る。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によるＸ
線撮影装置によれば、自動露出制御によるパルス状Ｘ線
曝射によってＸ線画像を撮影する場合に、良好な画質の
Ｘ線画像を撮影することができる。
線撮影装置によれば、自動露出制御によるパルス状Ｘ線
曝射によってＸ線画像を撮影する場合に、良好な画質の
Ｘ線画像を撮影することができる。
【図１】この発明の実施の形態を示すブロック図。
【図２】同実施形態における動作を示すフローチャー
ト。
ト。
【図３】同実施形態における管電圧の波形を示す波形
図。
図。
【図４】参考までに示す従来の管電圧の波形を示す波形
図。
図。
１１ Ｘ線管 １２ イメージインテンシファイア １３ 光学系 １４ ＴＶカメラ １５ 画像処理装置 １６ 画像モニター装置 ２１ 高電圧装置 ２２ フォトマルチプライア ２３ フォトタイマ回路 ２４ 管電圧補正回路 ２５ ＣＰＵ ２６ メモリ ２７ Ｄ／Ａ変換器 ２８ Ａ／Ｄ変換器
Claims (1)
- 【請求項１】 Ｘ線管と、設定された管電圧、管電流、
パルス幅の値に応じて上記のＸ線管にパルス電圧を供給
する高電圧供給手段と、上記Ｘ線管から曝射され被写体
を透過したＸ線が入射するＸ線撮像手段と、該Ｘ線撮像
手段へのＸ線露出量を検出する検出手段と、該検出Ｘ線
露出量が所定量に到達したときに曝射遮断信号を上記の
高電圧供給手段に送って上記Ｘ線管に送る高電圧を遮断
させる手段と、この遮断までのパルス幅が設定値に収束
するよう管電圧を補正する手段と、補正された管電圧を
監視して所定の範囲外となったときに設定パルス幅を修
正して管電圧が上記の所定範囲に収まるように制御する
手段とを備えることを特徴とするＸ線撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02138998A JP3267548B2 (ja) | 1998-01-19 | 1998-01-19 | Ｘ線撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02138998A JP3267548B2 (ja) | 1998-01-19 | 1998-01-19 | Ｘ線撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11204288A true JPH11204288A (ja) | 1999-07-30 |
| JP3267548B2 JP3267548B2 (ja) | 2002-03-18 |
Family
ID=12053726
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02138998A Expired - Lifetime JP3267548B2 (ja) | 1998-01-19 | 1998-01-19 | Ｘ線撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3267548B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001014909A1 (fr) * | 1999-08-26 | 2001-03-01 | Sollac | Dispositif et procede de mesure d'intensite lumineuse a l'aide d'un photomultiplicateur comportant une source de calibrage |
| JP2013202328A (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-07 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4154990B2 (ja) * | 2002-10-17 | 2008-09-24 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線ｃｔ装置 |
-
1998
- 1998-01-19 JP JP02138998A patent/JP3267548B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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