JPH11212714A - 座標検出装置および座標検出方法 - Google Patents
座標検出装置および座標検出方法Info
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- JPH11212714A JPH11212714A JP1416598A JP1416598A JPH11212714A JP H11212714 A JPH11212714 A JP H11212714A JP 1416598 A JP1416598 A JP 1416598A JP 1416598 A JP1416598 A JP 1416598A JP H11212714 A JPH11212714 A JP H11212714A
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
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- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/045—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means using resistive elements, e.g. a single continuous surface or two parallel surfaces put in contact
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 より精度の良い座標値を出力し得る座標検出
装置および座標検出方法を提供すること。 【解決手段】 １０３は、センサー部１０１からの基本
座標値１０２をハードウエア回路により補正およびノイ
ズ除去する処理回路である。かかる処理回路１０３は、
基本座標値１０２の内、Ｘ軸方向の座標データに対応す
るものと、Ｙ軸方向の座標データに対応するものの２系
統が、内部において独立して準備されている。また、各
系統毎に、補正およびノイズ除去のためのパラメータを
設定できるようになっている。
装置および座標検出方法を提供すること。 【解決手段】 １０３は、センサー部１０１からの基本
座標値１０２をハードウエア回路により補正およびノイ
ズ除去する処理回路である。かかる処理回路１０３は、
基本座標値１０２の内、Ｘ軸方向の座標データに対応す
るものと、Ｙ軸方向の座標データに対応するものの２系
統が、内部において独立して準備されている。また、各
系統毎に、補正およびノイズ除去のためのパラメータを
設定できるようになっている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、精度の良い座標値
を出力し得る座標検出装置および座標検出方法に関す
る。
を出力し得る座標検出装置および座標検出方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】座標検出装置は、通常、指またはペン等
により指示した位置を検知しこれを電気信号に変換する
センサー部と、このセンサー部により得られた基本座標
値に補正やノイズ除去処理を施す座標処理部を含む。こ
こで、センサー部には、抵抗膜感圧方式、電磁誘導方
式、静電結合方式、超音波方式または振動子方式等の種
々の方法を採用し得る。また、座標処理部は、フィルタ
ー回路またはソフトウエア処理によって、基本座標値の
補正やノイズ除去を行う。
により指示した位置を検知しこれを電気信号に変換する
センサー部と、このセンサー部により得られた基本座標
値に補正やノイズ除去処理を施す座標処理部を含む。こ
こで、センサー部には、抵抗膜感圧方式、電磁誘導方
式、静電結合方式、超音波方式または振動子方式等の種
々の方法を採用し得る。また、座標処理部は、フィルタ
ー回路またはソフトウエア処理によって、基本座標値の
補正やノイズ除去を行う。
【０００３】なお、基本座標値に生じるノイズには、セ
ンサー部の特性に起因するものや、センサー部に重ね配
置されるＬＣＤ等の表示デバイスからの影響に基づくも
の等がある。かかるノイズは、上記何れの検出方式を採
用しても何らかの形で生じるので、各ノイズ成分に相応
して、適正な補正、ノイズ除去を施す必要がある。
ンサー部の特性に起因するものや、センサー部に重ね配
置されるＬＣＤ等の表示デバイスからの影響に基づくも
の等がある。かかるノイズは、上記何れの検出方式を採
用しても何らかの形で生じるので、各ノイズ成分に相応
して、適正な補正、ノイズ除去を施す必要がある。
【０００４】かかるノイズ除去の方法としては、フィル
ター回路によるもの、ソフトウエアによるもの等があ
る。例えば、サンプル間の距離の差の異常性を判定する
方法が、特開平９―６２４５０号公報や特開平９―１０
１８５３号公報に開示されている。
ター回路によるもの、ソフトウエアによるもの等があ
る。例えば、サンプル間の距離の差の異常性を判定する
方法が、特開平９―６２４５０号公報や特開平９―１０
１８５３号公報に開示されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の座標検出装置に
おいては、センサー部のＸ軸方向のデータ成分とＹ軸方
向のデータ成分を何ら区別することなく、両者に一律に
処理を施すことで、ノイズの除去がなされている。しか
しながら、通常、ノイズの発生は、センサー部の縦横比
やその特性、または周囲環境（ＬＣＤや周囲回路等）か
らの影響によって、Ｘ軸方向とＹ軸方向とで、発生の仕
方が相違する。よって、上記のように一律にノイズ除去
を行う場合には、少なくともＸ軸方向またはＹ軸方向の
何れかにノイズが残留することになってしまう。
おいては、センサー部のＸ軸方向のデータ成分とＹ軸方
向のデータ成分を何ら区別することなく、両者に一律に
処理を施すことで、ノイズの除去がなされている。しか
しながら、通常、ノイズの発生は、センサー部の縦横比
やその特性、または周囲環境（ＬＣＤや周囲回路等）か
らの影響によって、Ｘ軸方向とＹ軸方向とで、発生の仕
方が相違する。よって、上記のように一律にノイズ除去
を行う場合には、少なくともＸ軸方向またはＹ軸方向の
何れかにノイズが残留することになってしまう。
【０００６】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明に係る座
標検出装置は、２次元または３次元の座標をセンサー部
で検出して得た基本座標値に対し回路処理および／若し
くはソフトウエア処理を施す座標検出装置において、Ｘ
軸方向、Ｙ軸方向またはＺ軸方向のそれぞれに対し前記
回路処理および／若しくはソフトウエア処理を施す処理
部を別途独立して配したことを特徴とする。
標検出装置は、２次元または３次元の座標をセンサー部
で検出して得た基本座標値に対し回路処理および／若し
くはソフトウエア処理を施す座標検出装置において、Ｘ
軸方向、Ｙ軸方向またはＺ軸方向のそれぞれに対し前記
回路処理および／若しくはソフトウエア処理を施す処理
部を別途独立して配したことを特徴とする。
【０００７】かかる発明によれば、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向
またはＺ軸方向毎に、適正に補正、ノイズ除去等を行い
得るので、より精度の高い座標データを得ることができ
る。
またはＺ軸方向毎に、適正に補正、ノイズ除去等を行い
得るので、より精度の高い座標データを得ることができ
る。
【０００８】ここで、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向またはＺ軸方
向毎にパラメータを変更できるようにすれば、センサー
部の特性等により、各軸方向のノイズ成分等が変動した
場合にも、良好に補正、ノイズ除去を行い得る。
向毎にパラメータを変更できるようにすれば、センサー
部の特性等により、各軸方向のノイズ成分等が変動した
場合にも、良好に補正、ノイズ除去を行い得る。
【０００９】また、センサー部の座標検出方法として抵
抗膜感圧方式を採用すると、Ｘ軸方向またはＹ軸方向の
何れかにノイズ成分が偏り易い。よって、かかる抵抗膜
感圧方式のセンサー部である場合に本発明を採用する
と、その効果は、より顕著となる。
抗膜感圧方式を採用すると、Ｘ軸方向またはＹ軸方向の
何れかにノイズ成分が偏り易い。よって、かかる抵抗膜
感圧方式のセンサー部である場合に本発明を採用する
と、その効果は、より顕著となる。
【００１０】さらに本発明に係る座標検出方法は、２次
元または３次元の座標をセンサー部で検出して得た基本
座標値に対し、回路処理および／若しくはソフトウエア
処理を施す座標検出方法において、前記基本座標値のＸ
軸方向、Ｙ軸方向またはＺ軸方向の各成分毎に前記回路
処理および／若しくはソフトウエア処理を施すことを特
徴とする。
元または３次元の座標をセンサー部で検出して得た基本
座標値に対し、回路処理および／若しくはソフトウエア
処理を施す座標検出方法において、前記基本座標値のＸ
軸方向、Ｙ軸方向またはＺ軸方向の各成分毎に前記回路
処理および／若しくはソフトウエア処理を施すことを特
徴とする。
【００１１】かかる発明によれば、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向
またはＺ軸方向毎に、適正に補正、ノイズ除去等を行い
得るので、より精度の高い座標データを得ることができ
る。
またはＺ軸方向毎に、適正に補正、ノイズ除去等を行い
得るので、より精度の高い座標データを得ることができ
る。
【００１２】
【発明の実施の形態】図１に本発明の実施の態様を示
す。
す。
【００１３】図において、１０１はセンサー部で、通
常、デジタイザまたはタブレットと称される。本実施の
態様では、かかるセンサー部の座標検出方法として、抵
抗膜感圧式を採用するが、これに代えて、上記種々の検
出方法の何れかを採用しても良い。かかる抵抗膜感圧方
式のセンサー部は、ペン又は指で指示された座標位置が
センサー部の横（Ｘ軸）の長さおよび縦（Ｙ軸）の長さ
をそれぞれ内分する比に応じて、Ｘ軸データとＹ軸デー
タ（基本座標値１０２）のそれぞれを、電圧値として出
力する。なお、かかる抵抗膜感圧方式の詳細について
は、周知の構成であるので、説明を省略する。
常、デジタイザまたはタブレットと称される。本実施の
態様では、かかるセンサー部の座標検出方法として、抵
抗膜感圧式を採用するが、これに代えて、上記種々の検
出方法の何れかを採用しても良い。かかる抵抗膜感圧方
式のセンサー部は、ペン又は指で指示された座標位置が
センサー部の横（Ｘ軸）の長さおよび縦（Ｙ軸）の長さ
をそれぞれ内分する比に応じて、Ｘ軸データとＹ軸デー
タ（基本座標値１０２）のそれぞれを、電圧値として出
力する。なお、かかる抵抗膜感圧方式の詳細について
は、周知の構成であるので、説明を省略する。
【００１４】１０３は、センサー部１０１からの基本座
標値１０２をハードウエア回路により補正およびノイズ
除去を行う処理回路である。かかる処理回路１０３は、
基本座標値１０２の内、Ｘ軸方向の座標データに対応す
るものと、Ｙ軸方向の座標データに対応するものの２系
統が、内部において独立して準備されている。また、各
系統毎に、補正およびノイズ除去のためのパラメータを
設定できるようになっている。なお、内部回路の詳細に
ついては後述する。
標値１０２をハードウエア回路により補正およびノイズ
除去を行う処理回路である。かかる処理回路１０３は、
基本座標値１０２の内、Ｘ軸方向の座標データに対応す
るものと、Ｙ軸方向の座標データに対応するものの２系
統が、内部において独立して準備されている。また、各
系統毎に、補正およびノイズ除去のためのパラメータを
設定できるようになっている。なお、内部回路の詳細に
ついては後述する。
【００１５】１０４は、ソフトウエア処理により、補正
およびノイズ除去を行う処理部である。かかるソフトウ
エア処理部１０４は、マイコン回路により構成されてお
り、ＡＤ（Analog-Digital）変換器、ＣＰＵ（Central-
Processing-Unit）、ＲＯＭ（Read-Only-Memory）およ
びＲＡＭ（Random-Access-Memory）等よりなる。上記処
理回路１０３から送られてくる座標データは、ＡＤ変換
器によりデジタルデータに変換され、ＣＰＵによってデ
ータ処理される。処理プログラムはＲＯＭに記憶されて
いる。ＲＡＭは、処理データを一時格納するためのもの
である。なお、処理アルゴリズムの詳細については後述
する。
およびノイズ除去を行う処理部である。かかるソフトウ
エア処理部１０４は、マイコン回路により構成されてお
り、ＡＤ（Analog-Digital）変換器、ＣＰＵ（Central-
Processing-Unit）、ＲＯＭ（Read-Only-Memory）およ
びＲＡＭ（Random-Access-Memory）等よりなる。上記処
理回路１０３から送られてくる座標データは、ＡＤ変換
器によりデジタルデータに変換され、ＣＰＵによってデ
ータ処理される。処理プログラムはＲＯＭに記憶されて
いる。ＲＡＭは、処理データを一時格納するためのもの
である。なお、処理アルゴリズムの詳細については後述
する。
【００１６】以上の補正、ノイズ除去処理が施された
後、目標とする座標値１０５が出力される。かかる座標
値１０５は、本座標検出装置の最終的な出力として、本
座標検出装置を含むシステムで使用される。
後、目標とする座標値１０５が出力される。かかる座標
値１０５は、本座標検出装置の最終的な出力として、本
座標検出装置を含むシステムで使用される。
【００１７】図２は、上記処理回路１０３の内部回路を
示す図である。内部回路は、Ｘ軸方向のデータと、Ｙ軸
方向のデータのそれぞれに対応して、ローパスフィルタ
ーとして構成されている。ここで、可変抵抗器２０２、
２０６は、センサー部１０１のノイズ特性に応じてパラ
メータが調整される。かかる調整の方法として、ボリュ
ーム摘みによるもの、またはＲＯＭ付きの可変抵抗にあ
ってはＲＯＭに可変データ値をスイッチ等により設定す
る方法等がある。なお、可変抵抗器２０２、２０６のみ
ならずコンデンサ２０３、２０７を可変としても良い。
示す図である。内部回路は、Ｘ軸方向のデータと、Ｙ軸
方向のデータのそれぞれに対応して、ローパスフィルタ
ーとして構成されている。ここで、可変抵抗器２０２、
２０６は、センサー部１０１のノイズ特性に応じてパラ
メータが調整される。かかる調整の方法として、ボリュ
ーム摘みによるもの、またはＲＯＭ付きの可変抵抗にあ
ってはＲＯＭに可変データ値をスイッチ等により設定す
る方法等がある。なお、可変抵抗器２０２、２０６のみ
ならずコンデンサ２０３、２０７を可変としても良い。
【００１８】図３は、ソフトウエア処理部１０４のアル
ゴリズムを示す図である。
ゴリズムを示す図である。
【００１９】上記処理回路１０３の座標データに基づい
て、センサー部１０１へのペンダウンが検出されると
（３１０）、Ｘ軸方向データとＹ軸方向データのそれぞ
れについてＡＤ変換が実行される（３２１）。かかるＡ
Ｄ変換は、所定のサンプリング周期にて実行される。こ
こで、Ｘ軸方向のデータについてＭｘ回だけＡＤ変換を
行うと、次にＹ軸方向のデータについてＭｙ回だけＡＤ
変換を行う。このように、ＡＤ変換は、Ｘ軸方向のデー
タとＹ軸方向のデータについて交互に繰り返される。そ
して、Ｍｘ回のサンプル値を一かたまりとしてＸ軸方向
データのサンプル値群とし、Ｍｙ回のサンプル値を一か
たまりとしてＹ軸方向データのサンプル値群とする（３
２２）。ここで、Ｍｘ回、Ｍｙ回の回数は、上記センサ
ー部１０１の特性に応じて、個別に調整される。
て、センサー部１０１へのペンダウンが検出されると
（３１０）、Ｘ軸方向データとＹ軸方向データのそれぞ
れについてＡＤ変換が実行される（３２１）。かかるＡ
Ｄ変換は、所定のサンプリング周期にて実行される。こ
こで、Ｘ軸方向のデータについてＭｘ回だけＡＤ変換を
行うと、次にＹ軸方向のデータについてＭｙ回だけＡＤ
変換を行う。このように、ＡＤ変換は、Ｘ軸方向のデー
タとＹ軸方向のデータについて交互に繰り返される。そ
して、Ｍｘ回のサンプル値を一かたまりとしてＸ軸方向
データのサンプル値群とし、Ｍｙ回のサンプル値を一か
たまりとしてＹ軸方向データのサンプル値群とする（３
２２）。ここで、Ｍｘ回、Ｍｙ回の回数は、上記センサ
ー部１０１の特性に応じて、個別に調整される。
【００２０】かかるサンプル値群は、次に、各サンプル
値の異常性が判定される（３２３）。かかる異常性の判
断は、例えば、隣り合うサンプル値間の距離差がしきい
値を超えたか（異常距離判定）または隣り合うサンプル
値間の距離の変化率がしきい値を超えたか（異常加速度
判定）によって、一のサンプル値の異常性を判断するも
のである。なお、異常距離判定または異常加速度判定の
しきい値についても、上記センサー部１０１の特性に応
じて、個別に調整される。
値の異常性が判定される（３２３）。かかる異常性の判
断は、例えば、隣り合うサンプル値間の距離差がしきい
値を超えたか（異常距離判定）または隣り合うサンプル
値間の距離の変化率がしきい値を超えたか（異常加速度
判定）によって、一のサンプル値の異常性を判断するも
のである。なお、異常距離判定または異常加速度判定の
しきい値についても、上記センサー部１０１の特性に応
じて、個別に調整される。
【００２１】しかる後、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向の各サンプ
ル値群について平均値化処理が実行される（３２４）。
かかる平均値化処理を行うに当たっては、上記サンプル
内異常判定（３２４）によって異常と判定されたサンプ
ル値は、平均値化の対象から外される。すなわち、Ｍｘ
個のＸ軸方向サンプル値の内、ｍ個のサンプル値につい
て異常があった場合には、Ｍｘ―ｍ個のサンプル値を対
象として平均値化処理が実行される。
ル値群について平均値化処理が実行される（３２４）。
かかる平均値化処理を行うに当たっては、上記サンプル
内異常判定（３２４）によって異常と判定されたサンプ
ル値は、平均値化の対象から外される。すなわち、Ｍｘ
個のＸ軸方向サンプル値の内、ｍ個のサンプル値につい
て異常があった場合には、Ｍｘ―ｍ個のサンプル値を対
象として平均値化処理が実行される。
【００２２】このようにして得られたサンプル平均値
は、次に、各サンプル平均値間の異常性判定と平均値化
処理が実行される。すなわち、サンプル平均値をＮｘ、
Ｎｙ個ずつ順番に取り出して行き、かかるサンプル平均
値群毎に、上記と同様の異常性判断（３３１）と平均値
化処理（３３２）を実行する。例えば、Ｘ軸方向のＮｘ
個のサンプル平均値の内、ｎ個に異常性が判別されると
（３３１）、これを除くＮｘ−ｎ個のサンプル平均値に
ついて平均値化処理を実行する（３３２）。なお、異常
性判断のためのしきい値は、上記と同様、センサー部１
０１の特性に応じて、個別に調整できる。
は、次に、各サンプル平均値間の異常性判定と平均値化
処理が実行される。すなわち、サンプル平均値をＮｘ、
Ｎｙ個ずつ順番に取り出して行き、かかるサンプル平均
値群毎に、上記と同様の異常性判断（３３１）と平均値
化処理（３３２）を実行する。例えば、Ｘ軸方向のＮｘ
個のサンプル平均値の内、ｎ個に異常性が判別されると
（３３１）、これを除くＮｘ−ｎ個のサンプル平均値に
ついて平均値化処理を実行する（３３２）。なお、異常
性判断のためのしきい値は、上記と同様、センサー部１
０１の特性に応じて、個別に調整できる。
【００２３】しかして、各サンプル平均値群について異
常性判断と平均値化処理を施した最終データが、目的と
する座標データとして出力される。なお、上記ソフトウ
エア処理においては、異常性判断と平均値化の処理が２
段準備されているが、これは、最初の異常性判断と平均
値化処理（３２３）（３２４）によって、座標検出の微
細な乱れを補償し、次の異常性判断と平均値化処理（３
３１）（３３２）によって、上記処理（３２３）（３２
４）では補償し得ない大きな検出乱れを補償するためで
ある。このように２段の補償を行うことにより、精度の
高い座標データを得ることができる。
常性判断と平均値化処理を施した最終データが、目的と
する座標データとして出力される。なお、上記ソフトウ
エア処理においては、異常性判断と平均値化の処理が２
段準備されているが、これは、最初の異常性判断と平均
値化処理（３２３）（３２４）によって、座標検出の微
細な乱れを補償し、次の異常性判断と平均値化処理（３
３１）（３３２）によって、上記処理（３２３）（３２
４）では補償し得ない大きな検出乱れを補償するためで
ある。このように２段の補償を行うことにより、精度の
高い座標データを得ることができる。
【００２４】以上、本発明の実施の形態について説明し
たが、本発明はかかる実施の形態に制限されるものでは
ない。例えば、異常性判断の方法や、細かな構成上の変
更は、本発明の技術的思想の範囲内で、適宜変更可能で
ある。さらに、上記実施の形態では、２次元の座標検出
装置を例に採ったが、同様に、３次元の座標検出装置に
対しも、本発明を適用できることは言うまでもない。
たが、本発明はかかる実施の形態に制限されるものでは
ない。例えば、異常性判断の方法や、細かな構成上の変
更は、本発明の技術的思想の範囲内で、適宜変更可能で
ある。さらに、上記実施の形態では、２次元の座標検出
装置を例に採ったが、同様に、３次元の座標検出装置に
対しも、本発明を適用できることは言うまでもない。
【図１】 実施の形態の大まかな構成を示す図。
【図２】 実施の形態に係る処理回路の構成を示す図。
【図３】 実施の形態に係るソフトウエア処理部を示す
図。
図。
１０３ 処理回路 １０４ ソフトウエア処理部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堀井 洋 大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三 洋電機株式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】 ２次元または３次元の座標をセンサー部
で検出して得た基本座標値に対し、回路処理および／若
しくはソフトウエア処理を施す座標検出装置において、
Ｘ軸方向、Ｙ軸方向またはＺ軸方向のそれぞれに対し前
記回路処理および／若しくはソフトウエア処理を施す処
理部を別途独立して配したことを特徴とする座標検出装
置。 - 【請求項２】 処理部は、 Ｘ軸方向、Ｙ軸方向または
Ｚ軸方向毎にパラメータを変更できることを特徴とする
請求項１に記載の座標検出装置。 - 【請求項３】 センサー部は、抵抗膜感圧方式のデジタ
イザであることを特徴とする請求項１または２に記載の
座標検出装置。 - 【請求項４】 ２次元または３次元の座標をセンサー部
で検出して得た基本座標値に対し、回路処理および／若
しくはソフトウエア処理を施す座標検出方法において、
前記基本座標値のＸ軸方向、Ｙ軸方向またはＺ軸方向の
各成分毎に前記回路処理および／若しくはソフトウエア
処理を施すことを特徴とする座標検出方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1416598A JPH11212714A (ja) | 1998-01-27 | 1998-01-27 | 座標検出装置および座標検出方法 |
| US09/237,235 US6366866B1 (en) | 1998-01-27 | 1999-01-26 | Coordinates detecting apparatus for independently correcting coordinates |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1416598A JPH11212714A (ja) | 1998-01-27 | 1998-01-27 | 座標検出装置および座標検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11212714A true JPH11212714A (ja) | 1999-08-06 |
Family
ID=11853542
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1416598A Pending JPH11212714A (ja) | 1998-01-27 | 1998-01-27 | 座標検出装置および座標検出方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6366866B1 (ja) |
| JP (1) | JPH11212714A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007148730A1 (ja) * | 2006-06-22 | 2007-12-27 | Konami Digital Entertainment Co., Ltd. | 線形状処理装置、線形状処理方法、情報記録媒体、ならびに、プログラム |
| JP2013097709A (ja) * | 2011-11-04 | 2013-05-20 | Lg Display Co Ltd | タッチパネル装置およびタッチパネルのタッチ検出方法 |
| JP2014106836A (ja) * | 2012-11-29 | 2014-06-09 | Pentel Corp | 座標入力システム |
| JP2016085518A (ja) * | 2014-10-23 | 2016-05-19 | アルパイン株式会社 | タッチパネル入力装置及びコンピュータプログラム |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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