JPH11214275A - 半導体製造設備管理システムの設備事前予防維持の周期管理方法 - Google Patents
半導体製造設備管理システムの設備事前予防維持の周期管理方法Info
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- JPH11214275A JPH11214275A JP10241433A JP24143398A JPH11214275A JP H11214275 A JPH11214275 A JP H11214275A JP 10241433 A JP10241433 A JP 10241433A JP 24143398 A JP24143398 A JP 24143398A JP H11214275 A JPH11214275 A JP H11214275A
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Abstract
設備損傷を防止することができる半導体製造設備管理シ
ステムの設備事前予防維持の周期管理方法を提供する。 【解決手段】 各設備から可動パラメータデータを受信
する段階S10と、事前予防維持周期スペックテーブル
を検索する段階S20と、可動パラメータデータの値が
事前予防維持周期スペックテーブルのスペックデータ値
以上であるか否かを判断する段階S30と、可動パラメ
ータデータ値の中で特定可動パラメータデータの値がス
ペックデータ値以上であると、特定可動パラメータデー
タを発生させた特定設備の変数IDを変更する段階S4
0と、変数IDを設備制御メッセージに載せた後、設備
制御メッセージを特定設備にダウンロードして特定設備
の可動状態を変更する段階S50とを含むため、作業者
の介在なしに各設備で適切な時期に迅速に事前予防維持
が実行できる。
Description
システムの設備事前予防維持(以下、事前予防維持を
“PM”と称する。)の周期管理方法に関し、より詳細
には、所定のPM管理モジュールを通して各設備のPM
周期を自動に管理することにより、各設備のPMが適切
な時期に実施されるようにした半導体製造設備管理シス
テムの設備PMの周期管理方法に関するものである。
が要求される。このため、通常の半導体生産ラインでは
情密加工が可能な高機能の設備を配置して大部分の半導
体素子製造工程を実行し、作業者は各設備の動作状況を
半導体製造設備管理システムを通して観察することによ
りライン作業効率の向上を図っている。
略的に示す。図6に図示されるように、生産ライン内に
は工程を実行する設備3が配置され、設備3には図示し
ないロットが投入されて該当工程が進行される。
ホスト1とオンラインで連結され、ホスト1はO/IP
C(operatorinterface PC)2とオンラインで連結され
る。このとき、作業者がO/IPC2を通してホスト1
に生産基礎データ、例えば、対象ロットのID、工程が
進行される設備ID等を設定すると、ホスト1はその入
力された生産基礎データに基づいて自身のデータベース
を検索して当該ロットに進行される工程条件データを算
出する。
した後、工程開始(または工程終了)命令を入力して設
備3にロットを迅速にトラックイン/トラックアウトさ
せることにより該当工程を進行する。
動パラメータ、例えば、設備3の可動時間、設備3で工
程が進行されたウェハ枚数等は作業者の持続的な観測に
より把握され、この場合、各設備3の中で特定設備の可
動パラメータと関連する進行数値が一定基準を超過する
と、作業者はPMを適切な周期で実施して設備の損傷を
防止する。
製造設備管理システムにおいて、一般的にPM周期は設
備を観測する作業者の主観的な判断により決定されるた
め、作業者によってPM周期が相異なるようになり、一
貫されたPMが実施できず、PM周期決定に誤謬が発生
する場合に設備が損傷される問題点があった。また、作
業者がPM周期を決定するためには常に生産ライン内で
設備を一つ一つ観測する必要があるため作業者の全体的
な業務効率が低減された。
されたもので、作業者のPM周期決定誤謬による設備損
傷を防止することができる半導体製造設備管理システム
の設備事前予防維持の周期管理方法を提供することを目
的とする。
務効率を向上させることができる半導体製造設備管理シ
ステムの設備事前予防維持の周期管理方法を提供するこ
とにある。
めの本発明による半導体製造設備管理システムの設備事
前予防維持の周期管理方法は、各設備から可動パラメー
タデータを受信する段階と、PM周期スペックテーブル
を検索する段階と、可動パラメータデータの値がPM周
期スペックテーブルのスペックデータ値以上であるか否
かを判断する段階と、可動パラメータデータ値の中で特
定可動パラメータデータの値がスペックデータ値以上で
あると、特定可動パラメータデータを発生させた特定設
備の変数IDを変更する段階と、変数IDを設備制御メ
ッセージに載せた後、設備制御メッセージを特定設備に
ダウンロードして特定設備の可動状態を変更する段階と
を含む。
ームファンクションメッセージであり、設備制御メッセ
ージのストリームファンクション形態はS2F15また
はS2F41である。
VIDである。また、設備制御メッセージを特定設備に
ダウンロードする段階後に、警告メッセージを特定設備
にダウンロードする段階と、設備可動状態変更メッセー
ジをO/IPC2にダウンロードする段階とをさらに含
むことを特徴とする。
ファンクションメッセージであり、警告メッセージのス
トリームファンクション形態はS10F3またはS10
F5である。
の実施例による半導体製造設備管理システムの設備PM
の周期管理方法について詳細に説明する。本実施例を倶
現するための半導体製造設備管理システムを図1に概略
的に示す。図1に図示されるように、各設備サーバー4
とホスト1との間にはPM管理モジュール10がオンラ
インで連結される。ここで、作業者はPM管理モジュー
ル10を設置する時PM管理モジュール10に対応する
各設備サーバー4にも適切な報告機能を附与することに
より、各設備3の可動パラメータデータが全てPM管理
モジュール10に実時間で報告されるようにする。この
とき、各設備3及び設備サーバー4はSECS(semi e
quipment communications standard)通信プロトコルを
使用してオンラインで連結されて、設備サーバー4及び
PM管理モジュール10はTCP/IP通信プロトコル
を使用してオンラインで連結される。
備サーバー4を通して各設備3から入力される可動パラ
メータデータ全てを実時間で受信することにより各設備
3のPM周期を自動に管理する。これによって、各設備
3は作業者の介在なしにPM周期が正確に管理されるた
め作業者の業務効率が向上される。一例で、各設備3の
中で特定設備、例えば、第1設備3aの可動パラメータ
データでエラーが発生した場合、PM管理モジュール1
0はそのエラーが発生した可動パラメータデータを自動
に受信した後、第1設備3aの可動状態をPM状態に変
更させることにより、第1設備3aにロットがロ−ディ
ングされないようにして、以後、作業者は第1設備3a
に迅速にPMを実施するようになる。
ムの設備事前予防維持の周期管理方法を図2、図4に示
す。本実施例によるPM周期スペックテーブルを概略的
に図3に示す。本実施例によりディスプレイ状態が修訂
されたO/IPC画面を図5に概略的に示す。
ール10は各設備サーバー4を通して設備3からアップ
ロードされる可動パラメータデータを全て実時間で受信
する(S10段階)。これによって、各設備3の可動時
間、各設備で工程が進行されたウェハ枚数等の可動パラ
メータはPM管理モジュール10により迅速に把握され
る。
のデータサーバー領域に保存されたPM周期スペックテ
ーブルを検索して受信された各設備3の可動パラメータ
データ値がスペックデータ値以上であるか否かを判断す
る(S20、S30段階)。このとき、可動パラメータ
データ値が全てスペックデータ値未満で、まだ各設備3
にPMを実施する必要がないと判定されると、PM管理
モジュール10は最初段階に進行して持続的に上述した
可動パラメータデータを受信する。
パラメータデータの値がスペックデータ値以上で、これ
を発生させた特定設備にPMを実施する必要があると判
定されると、PM管理モジュール10はその結果をホス
ト1に伝達し、ホスト1はすぐそれに該当する特定設備
の変数IDキー値をPM状態に変更する(S40段
階)。一例で、図3に図示されるように、第1設備3a
の設備可動時間と関連するスペックデータ値は3500
0時間であるが第1設備3aから受信された設備可動時
間と関連された可動パラメータデータ値は35001時
間であると把握されて第1設備3aの可動パラメータデ
ータの値がスペックデータの値以上であると判定される
と、PM管理モジュール10は第1設備3aに適切な
“PM”、例えば、クリーニングを実施する必要性があ
ると判断してその判断結果をホスト1に伝達する。これ
によって、ホスト1は第1設備3aの変数IDキー値を
“PM”状態に変更することにより第1設備3aで“P
M”が迅速に実施できる。
数IDは第1設備3aの状態を変更させることができる
ECID(equipment constant ID)またはSVID(s
tatusvariable ID)である。
上述した過程を通してキー値が変更された変数IDをホ
スト1から伝達を受け、これを設備制御メッセージに載
せた後、第1設備サーバー4aを通して第1設備3aに
ダウンロードする(S50段階)。これによって、第1
設備3aの可動状態はPM状態に迅速に変更される。こ
のとき、PM管理モジュール10からダウンロードされ
る設備制御メッセージは通信伝達が円滑なストリームフ
ァンクションメッセージとする。
ァンクション形態は標準化規格に適切なS2F15また
はS2F41であることが好ましい。一例で、PM管理
モジュール10が上述した過程を通して第1設備3aの
異常を発見した後、第1設備3aの状態を“PM”状態
に変更しようとすると、PM管理モジュール10はホス
ト1を通してそのキー値が“PM”状態に変更されたE
CIDの伝達を受ける。その後、それをストリームファ
ンクションメッセージS2F15またはS2F41に載
せて第1設備3aにダウンロードする。これによって、
第1設備3aは変更されたECIDのキー値に合わせて
その状態が“PM”状態に迅速に変更される。
事前予防維持の周期管理方法によると、各設備のPM周
期は設備を観測する作業者の主観的な判断により決定さ
れたので、作業者によって決定するPM周期が相異にな
ることにより一貫されたPMが実施できず、そのPM周
期決定に誤謬が発生するときは設備が損傷された。
システムの設備事前予防維持の周期管理方法によると、
各設備3のPM周期を作業者の介在なしにPM管理モジ
ュール10を通してホスト1が実時間で把握され、一貫
性を持って管理することにより各設備3で適切な時期に
迅速に“PM”が実行できる。
ージを第1設備3aにダウンロードするS50段階後
に、PM管理モジュール10はテキストを載せた警告メ
ッセージを第1設備サーバー4aを通して第1設備3a
にダウンロードすることにより作業者が異常が発生した
第1設備3aを設備モニタ3bを通して視覚的に確認で
きるようにする(S61段階)。一例で、PM管理モジ
ュールは“現在第1設備にクリーニング周期が到来し
た。”等のテキストを載せた警告メッセージを第1設備
3aにダウンロードすることにより作業者が第1設備3
aにPM周期が到来したことを迅速に把握できるように
する。
者はPM周期が到来した第1設備3aに迅速にPMを実
施する。このとき、警告メッセージは上述した設備制御
メッセージと同様に通信伝達が円滑なストリームファン
クションメッセージであり、警告メッセージのストリー
ムファンクション形態は標準化規格に適切なS10F3
またはS10F5であることが好ましい。また、この二
つのストリームファンクション形態の中でS10F5は
S10F3より多量のテキストが伝送できる。
C2に表示された設備可動状態を上述した過程を通して
変更された最新情報に修訂できる設備可動状態変更メッ
セージをO/IPC2にダウンロードする(S62段
階)。これによって、O/IPC2に表示された設備可
動状態は最新情報に合わせて適切に修訂される。
3の可動状態をホスト1から伝達を受けてその状態を可
動可能な“RUN、IDLE”状態または可動不可能で
ある“DOWN、PM”状態にグラフィック処理して表
示することにより作業者によりトラックイン/トラック
アウト過程が円滑に行われるように補助する。
設備可動状態が上述した過程を通して変更された最新情
報に修訂されるように設備可動状態変更メッセージをO
/IPC2にダウンロードしてその内容を適切に修訂す
ることにより作業者の判断錯誤によるトラックイン/ト
ラックアウト過程の発生を防止する。一例で、上述した
過程を通して第1設備3aの状態が“RUN状態”から
“PM状態”に変更されると、PM管理モジュール10
は設備可動状態変更メッセージをO/IPC2にダウン
ロードしてその表示内容を図5に図示されるように、
“PM状態”に迅速に修訂することにより作業者の錯誤
により第1設備3aにロットがトラックインされること
を防止する。このとき、設備可動状態メッセージの形態
はO/IPC2の仕様によって多様に選択できる。以
後、ホスト1はPM管理モジュール10を通して上述し
た各段階を継続して反復することにより効率的に全体的
な設備3のPMを管理する。
ールを通して設備のPM周期を自動に管理することによ
り設備のPMが適切な時期に実施されるようにする。本
発明は生産ライン内に配置されて一定の管理を必要とす
る多様な半導体製造設備で幅広く使用される。
いて詳細に記述したが、本発明が属する技術分野におい
て通常の知識を持つ者であれば、添附された請求範囲に
記載された本発明の技術的思想の範囲内で本発明を多様
に変形または変更して実施できる。
備管理システムの設備事前予防維持の周期管理方法で
は、ホストと設備との間に所定のPM管理モジュールを
具備し、それを通して各設備からアップロードされる多
様な可動パラメータ値が持続的に自動点検されるように
する。これにより、設備のPM周期が自動に一貫性を持
って管理されるようにし、作業者のPM周期決定誤謬に
よる設備の損傷を防止し、作業者の全体的な業務効率を
向上させることができる。
ステムを示すブロック図である。
備事前予防維持の周期管理方法を示す流れ図である。
ルを概略的に示す概念図である。
テムの設備事前予防維持の周期管理方法を示す流れ図で
ある。
/IPC画面を示す概念図である。
示すブロック図である。
Claims (7)
- 【請求項1】 各設備から可動パラメータデータを受信
する段階と、 事前予防維持周期スペックテーブルを検索する段階と、 前記可動パラメータデータの値が前記事前予防維持周期
スペックテーブルのスペックデータ値以上であるか否か
を判断する段階と、 前記可動パラメータデータ値の中で特定可動パラメータ
データの値が前記スペックデータ値以上であると、前記
特定可動パラメータデータを発生させた特定設備の変数
IDを変更する段階と、 前記変数IDを設備制御メッセージに載せた後、前記設
備制御メッセージを前記特定設備にダウンロードして前
記特定設備の可動状態を変更する段階と、 を含むことを特徴とする半導体製造設備管理システムの
設備事前予防維持の周期管理方法。 - 【請求項2】 前記設備制御メッセージは、ストリーム
ファンクションメッセージであることを特徴とする請求
項1記載の半導体製造設備管理システムの設備事前予防
維持の周期管理方法。 - 【請求項3】 前記設備制御メッセージのストリームフ
ァンクション形態は、S2F15またはS2F41であ
ることを特徴とする請求項2記載の半導体製造設備管理
システムの設備事前予防維持の周期管理方法。 - 【請求項4】 前記変数IDは、ECIDまたはSVI
Dであることを特徴とする請求項1記載の半導体製造設
備管理システムの設備事前予防維持の周期管理方法。 - 【請求項5】 前記設備制御メッセージを前記特定設備
にダウンロードする段階後に、警告メッセージを前記特
定設備にダウンロードする段階と、設備可動状態変更メ
ッセージをO/IPCにダウンロードする段階とをさら
に含むことを特徴とする請求項1記載の半導体製造設備
管理システムの設備事前予防維持の周期管理方法。 - 【請求項6】 前記警告メッセージは、ストリームファ
ンクションメッセージであることを特徴とする請求項5
記載の半導体製造設備管理システムの設備事前予防維持
の周期管理方法。 - 【請求項7】 前記警告メッセージのストリームファン
クション形態は、S10F3またはS10F5であるこ
とを特徴とする請求項6記載の半導体製造設備管理シス
テムの設備事前予防維持の周期管理方法。
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JPH11214275A (ja) |
| KR (1) | KR100319208B1 (ja) |
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| TW (1) | TW396378B (ja) |
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| US6216054B1 (en) | 2001-04-10 |
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