JPH11218496A - 米単粒白度測定装置およびその方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、試料米の各一粒毎に白度値を測定
し、とう精工程における白度のばらつきを確認し得ると
ともに、ばらつきからとう精作業の限界を把握し、効率
の良いとう精作業を可能とすることを目的としている。 【構成】 このため、一粒毎に品質区分を判定する品質
区分判定手段を設け、一粒毎の拡散反射光中の波長の光
量を検知する検知手段を設け、光量により一粒毎の白度
値を演算する演算手段を設け、演算手段の信号と品質区
分判定手段からの品質区分とで品質区分の組み合わせに
おける白度値を判定処理する処理手段を設けている。ま
た、品質区分判定手段で一粒毎に品質区分を判定する段
階と、検知手段で一粒毎の拡散反射光中の波長の光量を
検知する段階と、光量を入力する演算手段で一粒毎の白
度値を演算する段階と、演算手段の信号と品質区分判定
手段からの品質区分とを入力する処理手段で品質区分の
組み合わせにおける白度値を判定処理する段階とを有し
ている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は米単粒白度測定装
置およびその方法に係り、特に試料米の各一粒毎に白度
値を測定し、とう精度測定装置のとう精工程における白
度のばらつきを確認し得て、均一な結果が得られている
か否かの判断が容易となるとともに、試料米において玄
米の単粒白度と精米の単粒白度とのばらつきからとう精
作業の限界を把握することが可能となり、効率の良いと
う精作業を可能とする米単粒白度測定装置およびその方
法に関する。

【０００２】

【従来の技術】米の品質区分としては、玄米の場合に、
例えば整粒、未熟粒、被害粒、白死米等があり、精米の
場合には、例えば正常粒、粉状質粒、破粒等がある。

【０００３】また、米の品質判定方策としては、特公平
３−６０３８２号公報に開示されるものがある。この公
報に開示される玄米の品質判定方法は、試料玄米の各玄
米一粒毎に光を照射し拡散透過光量および拡散反射光量
と拡散反射光中任意の二波長の光量と玄米一粒毎の二位
置の透過光量とを夫々検知する段階と、拡散透過光量お
よび拡散反射光量の比と拡散反射光中任意の二波長の光
量の比と玄米一粒毎の二位置の透過光量の比とを夫々演
算する段階と、各玄米一粒毎の品質を分類すべく各光量
の比を判定処理する段階とを有するものがあった。

【０００４】更に、とう精度測定方策としては、特開平
５−３０８７１７号に開示される如く、演算手段によっ
て演算された一粒毎のとう精前の玄米およびとう精後の
精米の透過反射比からとう精度を判定するとともに、演
算手段によって演算されたとう精前の玄米およびとう精
後の精米の透過反射比からとう精度のばらつきを確認し
ている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の米の
白度測定装置においては、米全体の白度値を測定してい
る。つまり、米の各一粒毎に白度値を測定するものがな
かった。

【０００６】そして、玄米の白度値を測定する場合に、
白死米等の整粒以外の米の混入量の多少によって測定さ
れる白度値が変化する。

【０００７】すなわち、従来の白度計においては、試料
米全体に光を照射し、試料米全体の白度値を測定してお
り、試料米中に白死米が多いと白度値が高くなる傾向に
あり、正確な白度値を測定することができないものであ
る。

【０００８】この不具合を解消するためには、測定に使
用した試料米において、白死米の混入量を測定し、この
混入量の検出値によって補正する必要があるが、現在開
発されている白度計にはこのような機能はなく、改善が
切望されている。

【０００９】また、玄米において、白死米以外の品質区
分の米、つまり未熟粒や被害粒等の混入についても同様
の問題点が惹起されるという不都合がある。

【００１０】更に、精米の白度値を測定する場合には、
粉状質粒等の正常粒以外の米の混入量の多少によって測
定される白度値が変化する。

【００１１】すなわち、従来の白度計においては、試料
米全体に光を照射し、試料米全体の白度値を測定してお
り、試料米中に粉状質粒が多いと白度値が高くなる傾向
にあり、正確な白度値を測定することができないもので
ある。

【００１２】この不具合を解消するためには、測定に使
用した試料米において、粉状質粒の混入量を測定し、こ
の混入量の検出値によって補正する必要があるが、現在
開発されている白度計にはこのような機能はなく、改善
が切望されている。

【００１３】更にまた、精米において、粉状質粒以外の
品質区分の米、つまり破粒等の混入についても同様の問
題点が惹起されるという不都合がある。

【００１４】ここで、更に詳述すると、米全体の白度値
を測定する際に、例えば精米中に粉状質粒等の正常粒以
外の米が混入していない場合には、図１１（ａ）に示す
如く、正確な正常粒の平均値Ｘを得ることができる。

【００１５】しかし、精米中に粉状質粒等の正常粒以外
の米が混入する場合には、図１１（ｂ）に示す如く、粉
状質粒等の正常粒以外の米が単粒白度の高い値側のみに
集中することにより、単粒白度の高い値側に位置する全
体の平均値と正常粒の平均値Ｘとには差△ｘが生ずるこ
ととなり、正確な正常粒の平均値Ｘを得ることができな
い。

【００１６】

【課題を解決するための手段】そこで、この発明は、上
述不都合を除去するために、移送される試料米に光を照
射して光の状態を検出しこの検出値により試料米の白度
値を測定する測定装置において、試料米の各一粒毎に光
を照射し一粒毎に米の品質区分を判定する品質区分判定
手段を設け、前記試料米の各一粒毎に光を照射し一粒毎
の拡散反射光中の任意の波長の光量を検知する検知手段
を設け、この検知手段により検知された光量を用いて前
記試料米の各一粒毎の白度値を演算する演算手段を設
け、前記演算手段の出力信号と前記品質区分判定手段か
らの品質区分とによって試料米の品質区分の組み合わせ
における白度値を判定処理する処理手段を設けたことを
特徴とする。

【００１７】また、移送される試料米に光を照射して光
の状態を検出しこの検出値により試料米の白度値を測定
する測定方法において、試料米の各一粒毎に光を照射し
品質区分判定手段により一粒毎に米の品質区分を判定す
る段階と、前記試料米の各一粒毎に光を照射し検知手段
により一粒毎の拡散反射光中の任意の波長の光量を検知
する段階と、前記検知手段により検知された光量を演算
手段に入力しこの演算手段によって前記試料米の各一粒
毎の白度値を演算する段階と、前記演算手段の出力信号
と前記品質区分判定手段からの品質区分とを処理手段に
入力しこの処理手段によって試料米の品質区分の組み合
わせにおける白度値を判定処理する段階とを有すること
を特徴とする。

【００１８】

【発明の実施の形態】上述の如く発明したことにより、
試料米の各一粒毎に白度値を測定し、とう精度測定装置
のとう精工程における白度のばらつきを確認し、均一な
結果が得られているか否かの判断を容易とするととも
に、試料米において玄米の単粒白度と精米の単粒白度と
のばらつきからとう精作業の限界を把握することを可能
とし、効率の良いとう精作業を可能としている。

【００１９】

【実施例】以下図面に基づいてこの発明の実施例を詳細
に説明する。

【００２０】図１〜図１３はこの発明の実施例を示すも
のである。図１及び図２において、２は米単粒白度測定
装置である。

【００２１】この米単粒白度測定装置２は、図１に示す
如く、玄米や精米からなる試料米の各一粒毎に光を照射
し一粒毎に米の品質区分を判定する品質区分判定手段４
と、試料米の白度値を判定する白度値判定手段６とから
なり、この白度値判定手段６は、前記試料米の各一粒毎
に光を照射し一粒毎の拡散反射光中の任意の波長の光量
を検知する検知手段８と、この検知手段８により検知さ
れた光量を用いて前記試料米の各一粒毎の白度値を演算
する演算手段１０と、前記演算手段１０の出力信号と前
記品質区分判定手段４からの品質区分とによって試料米
の品質区分の組み合わせにおける白度値を判定処理する
処理手段１２とを有している。

【００２２】そして、前記品質区分判定手段４は、試料
米の各一粒毎に品質区分を判定する際に、試料米の各一
粒毎に光を照射し、一粒毎の拡散透過光量と拡散反射光
量とを検知する検知段階と、前記検知段階により検知さ
れた一粒毎の拡散透過光量（Ｔ）と拡散反射光量（Ｒ）
との値、例えば透過反射比（Ｔ／Ｒ）を演算する演算段
階と、この演算段階の出力信号から試料米の品質区分を
判定処理する処理段階とを有しており、これらの各段階
のものは、上述の白度値の測定に使用される白度値判定
手段６の各手段８〜１２と別体に設けることも可能であ
るが、この実施例においては、一体的に設けた構成とし
て説明する。

【００２３】つまり、前記検知手段８は、試料米の任意
の数について各一粒毎に光を照射し、一粒毎の拡散透過
光量（Ｔ）を拡散透過光量検知部８−１によって検知す
るとともに、拡散反射光量（Ｒ）を拡散反射光量検知部
８−２によって検知し、前記試料米の各一粒毎に光を照
射し一粒毎の拡散反射光中の任意の波長の光量をも検知
する。そして、試料米Ｓの拡散透過光量（Ｔ）と拡散反
射光量（Ｒ）とは、後述するタイミング孔２６によって
特定される検知時期に検知される。

【００２４】また、前記演算手段１０は、前記検知段階
たる検知手段８により検知された一粒毎の拡散透過光量
（Ｔ）と拡散反射光量（Ｒ）との値、例えば透過反射比
（Ｔ／Ｒ）を演算するとともに、検知手段８により検知
された光量を用いて前記試料米の各一粒毎の白度値を演
算する。

【００２５】更に、前記処理手段１２は、前記演算段階
たる演算手段１０の出力信号から試料米の品質区分を判
定処理するとともに、前記演算手段１０の出力信号と前
記品質区分判定手段４からの品質区分とによって試料米
の品質区分の組み合わせにおける白度値を判定処理する
ものである。

【００２６】前記品質区分判定手段４及び前記白度値判
定手段６の各手段８〜１２を有する米単粒白度測定装置
２を、図２に示す如く構成する。図２〜図４において、
１４は試料米Ｓを一粒毎に所定位置に保持して移送する
円板、１６及び１８は夫々検知の機能を有する第１ヘッ
ド及び第２ヘッド、２０は第１、第２ヘッド１６、１８
からの信号を次第に入力させるための入力回路、２２は
演算及び処理機能を有するマイクロコンピュータ等のＣ
ＰＵからなる演算処理回路である。

【００２７】前記円板１４は、円周方向外周に等間隔に
各試料米Ｓを一粒毎に保持する試料用孔２４を開設す
る。また、この試料用孔２４内側の円周方向等間隔に、
試料用孔２４の位置に対応させてタイミング孔２６を開
設する。前記円板１４は、モータ２８等により回転して
各試料用孔２４に保持した一粒毎の試料米Ｓを矢印ａ方
向に移送する。

【００２８】前記円板１４により移送される一粒毎の各
試料米Ｓの各光量を検知する第１ヘッド１６及び第２ヘ
ッド１８は、以下の如く構成される。

【００２９】第１ヘッド１６は、図２に示す如く、ラン
プ等の発光具３０と赤外線カットフィルタ３２と集光レ
ンズ３４とにより、試料米Ｓに光を照射する。照射され
た光の拡散透過光量及び拡散反射光量は、フォトダイオ
ード等よりなる透過光受光素子３６及び反射光受光素子
３８により電気量に変換して検知し、次段の入力回路２
０に出力する。また、拡散反射光の一部は集光レンズ４
０で集光した後に、ハーフミラー４２で二分割する。

【００３０】そして、一方の光は、６６０ｎｍバンドパ
スフィルタ４４と赤外線カットフィルタ４６とにより赤
色光を通過させ、赤色光受光素子４８によりその光量を
電気量に変換して検知し、次段に出力する。

【００３１】他方の光は、５５０ｎｍバンドパスフィル
タ５０と赤外線カットフィルタ５２とにより緑色光を通
過させ、緑色光受光素子５４によりその光量を電気量に
変換して検知し、次段に出力する。

【００３２】これらの発光具３０〜緑色光受光素子５４
により、前記第１ヘッド１６は構成される。

【００３３】また、前記第２ヘッド１８は、図２に示す
如く、ＬＥＤ等の発光素子５６と照射用光ファイバ５８
とにより、試料米Ｓに光を照射する。矢印ａ方向に移送
される試料米Ｓに照射された光の試料米長軸方向の前部
透過光及び後部透過光は、夫々前部透過光用光ファイバ
６０及び後部透過光用光ファイバ６２により前部透過光
受光素子６４及び後部透過光受光素子６６に導かれる。

【００３４】これにより、照射された光の試料米長軸方
向の前部透過光量及び後部透過光量は、夫々前部透過光
受光素子６４及び後部透過光受光素子６６により電気量
に変化して検知し、次段に出力する。

【００３５】また、前記第２ヘッド１８には、円板１４
のタイミング孔２６を検知するために、このタイミング
孔２６に向かって光を照射する発光素子６８を設け、固
定孔７０とタイミング孔２６が一致した時に光を検知す
る受光素子７２を設けている。この受光素子の検知した
光は、電気量に変換して波形成形した後に、タイミング
孔２６を検知した信号として次段に出力する。

【００３６】これらの発光素子５６〜受光素子７２によ
り、前記第２ヘッド１８は構成される。

【００３７】前記第１ヘッド１６及び第２ヘッド１８か
らの信号、すなわち透過光受光素子３６、反射光受光素
子３８、赤色光受光素子４８、緑色光受光素子５２、前
部透過光受光素子６４、後部透過光受光素子６６の各素
子から入力する各光量の信号及び一粒毎の拡散反射光中
の任意の波長の光量の信号は、前記入力回路２０のマル
チプレクサ７４に入力する。入力した信号は、Ａ／Ｄコ
ンバータ７６によりＡ／Ｄ変換され、演算処理回路２２
に出力される。

【００３８】一方、第２ヘッド１８の受光素子２２に入
力するタイミング孔２０を検知した信号は、割込みコン
トローラ７８を介してコントローラ８０に入力する。コ
ントローラ８０は、タイミング孔２６を検知した信号に
よりマルチプレクサ７４及びＡ／Ｄコンバータ７６を制
御するために前記演算処理回路２２と接続される。

【００３９】この演算処理回路２２は、入力回路２０か
ら入力する前記各光量の信号をメモリ（図示せず）に記
憶し、この信号から各光量の比を演算し、分類すべく判
定処理する。

【００４０】すなわち、この発明の実施例は、メモリ内
の拡散透過光量及び拡散反射光量から透過反射比を演算
するとともに、拡散反射光中の６６０ｎｍの赤色光量及
び５５０ｎｍの緑色光量から分光比を演算する。

【００４１】また、各試料米Ｓの一粒毎の試料米長軸方
向の前部透過光量及び後部透過光量から前後透過比を演
算する。

【００４２】次いで、前記各試料米Ｓの一粒毎の品質
を、図５の如く分類するように演算で得られた各光量の
比を判定処理する。

【００４３】更に、前記白度値判定手段６の検知手段８
は、図１に示す如く、拡散反射光量検知部８−２によっ
て検知される拡散反射光中の任意の波長の光量を試料米
の各一粒毎に検知する。

【００４４】そして、前記検知手段８によって検知され
た拡散反射光中の任意の波長の光量を前記演算手段１０
に入力し、この演算手段１０によって前記試料米の各一
粒毎の白度値を演算する。

【００４５】前記演算手段１０からの出力信号と前記品
質区分判定手段４からの品質区分に関する出力信号とを
前記処理手段１２に入力し、この処理手段１２によって
試料米の品質区分の組み合わせにおける白度値を判定処
理するものである。

【００４６】次に作用について説明する。

【００４７】先ず、前記品質区分判定手段４によって試
料米を一粒毎に品質区分の判定を行う際には、図１２に
示す如く、品質区分判定用フローチャートのプログラム
がスタート（１００）すると、回転する円板１４のタイ
ミング孔２６を第２ヘッド１８の発光素子６８〜受光素
子７２により検知（１０２）する。

【００４８】そして、タイミング孔２６を検知した信号
に対応する一粒毎の試料米Ｓの拡散透過光量、拡散反射
光量、６６０ｎｍの赤色光量、５５０ｎｍの緑色光量を
第１ヘッド１６の発光具３０〜受光素子３８により検知
（１０４）し、入力回路２０により演算処理回路２２に
入力してメモリに記憶（１０６）する。また、各試料米
Ｓの一粒毎の試料米長軸方向の前部透過光量及び後部透
過光量を第２ヘッド１８の発光素子５６〜受光素子６６
により検知（１０８）し、前記タイミング孔２６を検知
した信号とともに入力回路２０により演算処理回路２２
に入力してメモリに記憶（１１０）する。各光量の検知
は、試料米Ｓの所定粒数を検知するまで続けられる（１
１２）。

【００４９】また、所定粒数の試料米Ｓを検知（１１
２）すると、検知は終了（１１４）する。検知が終了し
たら、演算処理回路２２のメモリ内の拡散透過光量及び
拡散反射光量から透過反射比を演算するとともに、赤色
光量及び緑色光量から分光比を演算し、また、前部透過
光量及び後部透過光量から前後透過比を演算（１１６）
する。このとき、演算により得られた透過反射比と分光
比と前後透過比とを判定処理（１１８）し、図５の如く
試料玄米Ｓの一粒毎の品質を分類（１２０）してプログ
ラムがエンド（１２２）となる。

【００５０】次に、前記白度値判定手段６によって試料
米の白度値を判定する際には、図１３に示す如く、白度
値判定用フローチャートのプログラムがスタート（２０
０）すると、回転する円板１４のタイミング孔２６を第
２ヘッド１８の発光素子６８〜受光素子７２により検知
（２０２）しつつ、検知手段８によって前記拡散反射光
量検知部８−２によって検知される拡散反射光中の任意
の波長の光量を試料米の各一粒毎に検知（２０４）し、
演算処理回路２２のメモリに記憶（２０６）する。

【００５１】また、所定粒数の試料米Ｓを検知（２０
８）すると、検知は終了（２１０）する。検知が終了し
たら、演算処理回路２２のメモリ内の拡散反射光中の任
意の波長の光量を演算手段１０によって演算する。

【００５２】そして、演算手段１０にからの出力信号と
前記品質区分判定手段４からの品質区分に関する出力信
号とを前記処理手段１２に入力し、この処理手段１２に
よって試料米の品質区分の組み合わせにおける白度値を
判定処理（２１４）してプログラムがエンド（２１６）
となる。

【００５３】これにより、白死米や粉状質粒の影響をな
くした試料米の白度値を測定することができる（図１１
（ａ）及び（ｂ）参照）。そして、この白度値をとう精
度測定装置のとう精工程における指標として使用するこ
とができ（図６〜図８参照）、図９あるいは図１０に示
す如く、とう精度測定装置のとう精工程における白度の
ばらつきを確認し得て、均一な結果が得られているか否
かの判断が容易となり、実用上有利である。

【００５４】また、試料米において玄米の単粒白度と精
米の単粒白度とのばらつきからとう精作業の限界を把握
することが可能であることにより、効率の良いとう精作
業を可能とすることができ、使い勝手を向上し得るもの
である。

【００５５】更に、前記品質区分判定手段４と白度値判
定手段６とを一体的に構成したことにより、ソフトの変
更のみで対処することができ、構成が複雑化する惧れが
なく、コストを低廉に維持し得て、経済的に有利であ
る。

【００５６】なお、この発明は上述実施例に限定される
ものではなく、種々の応用改変が可能である。

【００５７】例えば、この発明の実施例において、前記
品質区分判定手段と白度値判定手段とを一体的に構成し
たが、夫々別体に構成することも可能である。

【００５８】また、光源をハロゲンランプとするととも
に、受光部にフィルタを配設し、任意の波長の光量を検
知する構成とすることもできる。あるいは、光源を赤と
緑と青とのＬＥＤ光源とし、受光部を光量センサとする
ことも可能である。

【００５９】

【発明の効果】以上詳細に説明した如くこの発明によれ
ば、移送される試料米に光を照射して光の状態を検出し
この検出値により試料米の白度値を測定する測定装置に
おいて、試料米の各一粒毎に光を照射し一粒毎に米の品
質区分を判定する品質区分判定手段を設け、試料米の各
一粒毎に光を照射し一粒毎の拡散反射光中の任意の波長
の光量を検知する検知手段を設け、検知手段により検知
された光量を用いて試料米の各一粒毎の白度値を演算す
る演算手段を設け、演算手段の出力信号と品質区分判定
手段からの品質区分とによって試料米の品質区分の組み
合わせにおける白度値を判定処理する処理手段を設けた
ので、白死米や粉状質粒の影響をなくした試料米の白度
値を測定することができ、この白度値をとう精度測定装
置のとう精工程における指標として使用することがで
き、とう精度測定装置のとう精工程における白度のばら
つきを確認し得て、均一な結果が得られているか否かの
判断が容易となり、実用上有利である。また、試料米に
おいて玄米の単粒白度と精米の単粒白度とのばらつきか
らとう精作業の限界を把握することが可能であることに
より、効率の良いとう精作業を可能とすることができ、
使い勝手を向上し得る。

【００６０】また、移送される試料米に光を照射して光
の状態を検出しこの検出値により試料米の白度値を測定
する測定方法において、試料米の各一粒毎に光を照射し
品質区分判定手段により一粒毎に米の品質区分を判定す
る段階と、試料米の各一粒毎に光を照射し検知手段によ
り一粒毎の拡散反射光中の任意の波長の光量を検知する
段階と、検知手段により検知された光量を演算手段に入
力しこの演算手段によって試料米の各一粒毎の白度値を
演算する段階と、演算手段の出力信号と品質区分判定手
段からの品質区分とを処理手段に入力しこの処理手段に
よって試料米の品質区分の組み合わせにおける白度値を
判定処理する段階とを有することにより、白死米や粉状
質粒の影響をなくした試料米の白度値を測定することが
でき、この白度値をとう精度測定装置のとう精工程にお
ける指標として使用することができ、とう精度測定装置
のとう精工程における白度のばらつきを確認し得て、均
一な結果が得られているか否かの判断が容易となり、実
用上有利である。また、試料米において玄米の単粒白度
と精米の単粒白度とのばらつきからとう精作業の限界を
把握することが可能であることにより、効率の良いとう
精作業を可能とすることができ、使い勝手を向上し得
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施例を示す米単粒白度測定装置の
概略ブロック図である。

【図２】回路の概略構成図である。

【図３】検知段階の装置の平面図である。

【図４】検知段階の装置の側面図である。

【図５】各光量の比の分布の関係を示す図である。

【図６】玄米と精米との比を示す図である。

【図７】一粒毎の資料米のばらつきを示す図である。

【図８】各光量と白度計の値との関係を示す図である。

【図９】白度のばらつきが均一である場合の白度と粒数
との関係を示す図である。

【図１０】白度のばらつきが不均一である場合の白度と
粒数との関係を示す図である。

【図１１】単粒白度と品質区分との関係を示し、（ａ）
は正常粒における単粒白度と品質区分との関係を示す
図、（ｂ）は正常粒中に粉状質粒を含む場合の単粒白度
と品質区分との関係を示す図である。

【図１２】試料米の品質区分判定用フローチャートであ
る。

【図１３】試料米の白度測定用フローチャートである。

【符号の説明】

２ 米単粒白度測定装置 ４ 品質区分判定手段 ６ 白度値判定手段 ８ 検知手段 １０ 演算手段 １２ 処理手段 １６ 第１ヘッド １８ 第２ヘッド ２０ 入力回路 ２２ 演算処理回路 ２４ 試料用孔 ２６ タイミング孔

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 移送される試料米に光を照射して光の状
   態を検出しこの検出値により試料米の白度値を測定する
   測定装置において、試料米の各一粒毎に光を照射し一粒
   毎に米の品質区分を判定する品質区分判定手段を設け、
   前記試料米の各一粒毎に光を照射し一粒毎の拡散反射光
   中の任意の波長の光量を検知する検知手段を設け、この
   検知手段により検知された光量を用いて前記試料米の各
   一粒毎の白度値を演算する演算手段を設け、前記演算手
   段の出力信号と前記品質区分判定手段からの品質区分と
   によって試料米の品質区分の組み合わせにおける白度値
   を判定処理する処理手段を設けたことを特徴とする米単
   粒白度測定装置。
2. 【請求項２】 移送される試料米に光を照射して光の状
   態を検出しこの検出値により試料米の白度値を測定する
   測定方法において、試料米の各一粒毎に光を照射し品質
   区分判定手段により一粒毎に米の品質区分を判定する段
   階と、前記試料米の各一粒毎に光を照射し検知手段によ
   り一粒毎の拡散反射光中の任意の波長の光量を検知する
   段階と、前記検知手段により検知された光量を演算手段
   に入力しこの演算手段によって前記試料米の各一粒毎の
   白度値を演算する段階と、前記演算手段の出力信号と前
   記品質区分判定手段からの品質区分とを処理手段に入力
   しこの処理手段によって試料米の品質区分の組み合わせ
   における白度値を判定処理する段階とを有することを特
   徴とする米単粒白度測定方法。