JPH11233219A

JPH11233219A - 電子デバイス検査ジグ

Info

Publication number: JPH11233219A
Application number: JP10052964A
Authority: JP
Inventors: Takahiro Tsuchiya; 高広土屋; Riyouji Sunami; 良二砂見
Original assignee: TDK Corp
Current assignee: TDK Corp
Priority date: 1998-02-18
Filing date: 1998-02-18
Publication date: 1999-08-27

Abstract

(57)【要約】【課題】極めて低コストで、種々のピッチの電子デバ
イスに対応可能であり、耐久性を有し、メンテナンスも
容易で、しかもコンパクトで視野角等の測定にも容易に
対応できるディスプレイ検査ジグを提供する。【解決手段】略鉛直方向に配列されている被測定素子
１の端子ピン１ａをガイドし、かつ所定位置に保持する
素子保持手段２，３と、前記被測定素子１の端子ピン１
ａを一方の側から他方の側に向けて押圧する押圧手段
４，５と、この端子ピン１ａの他方の側に所定間隔離間
して配置されると共に、この他方の側に向けて押圧され
た端子ピン１ａと接触して電気的に導通する接続手段６
と、この接続手段６の端子ピン１ａ側と反対側に配置さ
れ前記接続手段６により端子ピン１ａと電気的に接続さ
れる配線基板７とを有する電子デバイス検査ジグとし
た。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、端子ピンを有する
有機ＥＬディスプレイ、ＬＣＤといったディスプレイ素
子や、ＩＣ、ＬＳＩといった半導体デバイス、その他半
導体、ＬＣ回路等のハイブリットデバイス等種々の異な
ったピン配列を有する電子デバイスの検査に必要なジグ
に関する。

【０００２】

【従来の技術】有機ＥＬディスプレイやＬＣＤといった
電子デバイスを検査する場合、コンタクトプローブとい
った測定用のプローブをディスプレイの端子に接触させ
て導通を図り、検査用の回路と接続させる。そして、デ
ィスプレイであれば輝度、画質、視野角といった性能
や、半導体デバイスであれば動作の確認や規格値となっ
ているか等といった評価を行っている。

【０００３】しかし、検査に用いられるコンタクトプロ
−ブは高価なため、これを多用する検査装置は非常に高
価なものが多い。また、特にディスプレイや半導体デバ
イス等が大型化、高精細化すると端子の数が増加し、端
子の配列間隔が狭くなってくる。このため、コンタクト
プローブもこのような配列に合わせて配置しなければな
らないが、プローブは比較的大きく嵩張るため、このよ
うな狭ピッチに合わせて配置することはきわめて困難で
あり、また、使用する数も多くなるためさらに高価なも
のとなってしまう。

【０００４】電子デバイスの種類によっては、通常のＩ
Ｃ等のように一定のピッチや端子数に統一されていると
は限らず、電子デバイスが異なる毎に、その素子に適合
した端子数やピッチのプローブに取り替える必要があ
る。このため、さらに装置のコストを引き上げることと
なり、経済的負担が大きい。

【０００５】また、ＤＩＰタイプの端子ピンを有する電
子デバイスの場合、前記コンタクトプローブと端子ピン
との接続を行わせるには複雑な機構を要し、しかも安定
して確実な導通を図ることが困難である。

【０００６】このため、ＤＩＰタイプの端子ピンを有す
る電子デバイスでは、種々のソケットを用いて測定回路
との接続を行う場合も多い。しかし、ソケットに電子デ
バイスを抜き差しする場合、比較的大きな力を要し、作
業が面倒である。また、端子数の多い電子デバイスをソ
ケットに差し込んだり、引き抜いたりする際に端子が折
れ曲がったり、破損したりする事故も多く、検査品を無
駄にしてしまう場合があった。また、通常ソケットは頻
繁に抜き差しするようには作られておらず、多くの電子
デバイスを検査するための装置には耐久性の面でも問題
があった。

【０００７】これらのソケットの中には着脱自在に電子
デバイスを保持できるものもある。しかし、このような
ソケットは種類が少なく、ある種の電子デバイスにしか
対応できないものが多い。特に、上記ソケットは特殊な
ピッチ、特に狭ピッチのものには対応することが困難で
ある。

【０００８】また、コンタクトプローブやソケットを用
いた検査装置の場合、プローブやソケットが汚れたり、
酸化したり、あるいは破損したとしても容易に清掃や交
換できるような機構のものは少なく、メンテナンスの面
でも問題があった。

【０００９】ところで、電子デバイスのなかでも有機Ｅ
Ｌディスプレイを検査する場合、通常その視野角が１４
０〜１６０度程度必要とされ、製品検査においてもこの
視野角を測定する必要がある。ところが、従来の検査装
置では、そのような測定用途への対応は考慮されておら
ず、そのまま視野角を測定することが困難であった。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、極め
て低コストで、種々のピッチの電子デバイスに対応可能
であり、耐久性を有し、メンテナンスも容易で、しかも
コンパクトで視野角等の測定にも容易に対応できるディ
スプレイ検査ジグを提供することである。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的は、以下の構成
により達成される。（１）略鉛直方向に配列されている被測定素子１の端
子ピン１ａをガイドし、かつ所定位置に保持する素子保
持手段２，３と、前記被測定素子１の端子ピン１ａを一
方の側から他方の側に向けて押圧する押圧手段４，５
と、この端子ピン１ａの他方の側に所定間隔離間して配
置されると共に、この他方の側に向けて押圧された端子
ピン１ａと接触して電気的に導通する接続手段６と、こ
の接続手段６の端子ピン１ａ側と反対側に配置され前記
接続手段６により端子ピン１ａと電気的に接続される配
線基板７とを有する電子デバイス検査ジグ。（２）前記配線基板７には被測定素子１の端子ピン１
ａの配置に対応したピッチの端子電極が形成されている
上記（１）の電子デバイス検査ジグ。（３）前記接続手段６は、異方性導電ゴムである上記
（１）または（２）の電子デバイス検査ジグ。（４）前記被測定素子１は、ＤＩＰ状の端子ピン１ａ
を有する上記（１）〜（３）のいずれかの電子デバイス
検査ジグ。（５）前記押圧手段６は、中央に配置され、かつ扁平
部５ａを有する駆動軸５と、この駆動軸５の両側にあっ
て非動作時には被測定素子１の端子ピン１ａより僅かに
内側に配置され、前記駆動軸５の方向に対して付勢され
ると共に、この駆動軸５の扁平部５ａと当接する当接部
４ａと前記端子ピン１ａを押圧するための押圧部４ｃと
が形成されている摺動ブロック４とを有する上記（１）
〜（４）のいずれかの電子デバイス検査ジグ。（６）さらに支持台２１を有し、この支持台２１は測
定回路を有する上記（１）〜（５）のいずれかのディス
プレイ検査ジグ。

【００１２】

【発明の実施の形態】本発明の電子デバイス検査ジグ
は、例えば図１に示すように、略鉛直方向に延び所定間
隔で配列されている被測定素子１の端子ピン１ａをガイ
ドし、かつ所定位置に保持する素子保持手段２，３と、
前記被測定素子１の端子ピン１ａを一方の側から他方の
側に向かって押圧する押圧手段４，５と、この端子ピン
１ａの他方の側に所定間隔離間して配置されると共に、
他方の側に向かって押圧された端子ピン１ａと接触して
電気的に導通する接続手段６と、この接続手段６の端子
ピン１ａ側と反対側に配置され前記接続手段６により端
子ピン１ａと電気的に接続される配線基板７とを有す
る。

【００１３】すなわち、被測定素子１の端子ピン１ａを
押圧手段４，５により一方の側（内方）より他方の側
（外方）に向かって押圧し、端子ピン１ａの他方の側
（外側）に所定間隔離間して配置されている接続手段６
と接触させて電気的に導通させる。また、接続手段６の
端子ピン１ａ側と反対側（さらに外側）には、この接続
手段６により端子ピン１ａと電気的に接続される配線基
板７を有している。このため、ＤＩＰタイプの端子ピン
１ａでも配線基板７と確実に導通させることができ、種
々のピッチを有する電子デバイスにも配線基板７のパタ
ーンを変更するだけで容易に対応することができる。ま
た、端子ピン１ａは素子保持手段２，３によりガイドさ
れ、所定位置に保持されるので簡単に装着することがで
き、確実な導通を図ることができる。

【００１４】被測定素子１は、略鉛直方向に延び所定間
隔で配列されている端子ピンを有する。この端子ピン
は、所謂ＳＩＰのように被測定素子の一方の側部に一列
の配列しているものでもよいが、好ましくは所謂ＤＩＰ
のように被測定素子の両側部に一列に配列しているもの
が好ましい。このような端子ピンを有する被測定素子と
しては、有機ＥＬディスプレイ、ＬＣＤといったディス
プレイ素子や、ＩＣ、ＬＳＩといった半導体デバイス、
その他半導体とレジスタ、インダクタやキャパシタ等を
有する回路等のハイブリットデバイス等を挙げることが
でき、なかでも特に種々の異なったピッチの端子ピンを
有する有機ＥＬディスプレイ、ＬＣＤといったディスプ
レイ素子が好ましい。

【００１５】このような被測定素子の端子ピン１ａは、
通常、被測定素子の両側部に複数本配列されている。そ
の本数としては特に限定されるものではないが、片側で
２〜７０本、特に１０〜５０本程度である。また、その
ピッチも特に限定されるものではないが、通常、０．５
〜５mmの範囲であり、一般には１．２７mmや２．５４mm
のものが多く使用されているが、本発明ではこれらに限
定されるものではない。

【００１６】押圧手段４，５は、被測定素子１の端子ピ
ン１ａを一方の側（内方）より他方の側（外方）に向か
って押圧する。押圧する具体的方法としては、特に限定
されるものではなく、作業者の手、あるいはエアーシリ
ンダー、油圧シリンダー、ソレノイド、ステッピングモ
ータ、サーボモータ等を動力源とすればよい。また、こ
の動力源より得られる動作が直線運動するものであれば
そのままこれを利用したり、あるいはジョイント、ショ
ックアブソバー等を介して押圧するようにしてもよい。
また、回転運動するものであれば扁平軸、あるいはカ
ム、クランク、スクリュー等により直線運動に変換して
もよい。さらに、端子ピンの数が比較的多い場合、端子
ピンの大きさに即した角ないし丸棒状、あるいは平板状
の押し板等を押圧部として設けてもよい。

【００１７】押圧手段４，５のストローク量としては、
特に限定されるものではなく使用する被測定素子の大き
さや、接続手段の配置位置、種類等により適切なものと
すればよいが、通常１〜１０mm、特に２〜５mm程度であ
る。

【００１８】接続手段６は、端子ピン１ａの他方の側
（外側）に所定間隔離間して配置されている。このよう
な接続用コネクタとしては、異方性導電ゴム（エラステ
ィックコネクタ）や、被測定素子１の端子ピン１ａに対
応して配列された複数の弾性を有する金属からなる接点
金属等を好ましく挙げることができる。

【００１９】異方性導電ゴムは、弾性体であって導電性
を有する導電層と、弾性体であって導電性のない絶縁層
とを交互に配列した細長の四角い形状のものである。そ
して、導電層と絶縁層とのピッチが被測定素子の端子ピ
ンのピッチよりも小さいものとすることにより、これを
被測定素子の端子ピンと配線基板上の端子電極パターン
の間に配置すると、いずれかの導電層が被測定素子の端
子ピン１ａと配線基板７上の端子電極パターン間との導
通を図ることとなる。この異方性導電ゴムのピッチとし
ては、必要とされる被測定素子の端子ピン１ａの間隔よ
りも狭いものであればよく、通常、０．０５〜１mm、特
に０．１〜０．３mm程度である。また、その材質として
はシリコーンゴム等の弾性部材と、これに導電性を付与
するためのカーボン、金属繊維、金属細線等により構成
されている。

【００２０】ところで、被測定素子が有機ＥＬディスプ
レイの場合、電流駆動素子であるため、比較的大きな電
流を必要とする。このため接続用コネクタに通常の異方
性導電ゴムを用いた場合電流容量が不足してしまう。そ
こで、導電層内部に金属線等を含有し、比較的電流容量
の大きな異方性導電ゴムを用いるとよい。この場合の電
流容量としては、５０mA／mm² 以上が好ましく、特に５
０〜１０００mA／mm²、さらには２００〜１０００mA／m
m² 程度が好ましい。

【００２１】異方性導電ゴムの大きさとしては、通常、
幅０．５〜１０mm、特に１〜３mm程度、長さ０．５〜３
０cm、特に１〜１２cm程度である。

【００２２】また、接点金属は、被測定素子の端子に対
応して配列されている複数の弾性を有する金属材であっ
て配線基板と一体化しているものが好ましい。このよう
な接点金属は、通常のプロ−ブに比べ非常に安価であ
り、また、基板上に配列させているため任意のピッチ間
隔に配列させることができる。このような接点部材とし
ては、リン青銅、ベリリウム銅、バネ性ステンレス鋼等
が挙げられるが、好ましくはリン青銅である。そして、
これが接続用コネクタとして被測定素子の端子ピンの他
方の側（外側）にそれぞれ配置されることとなる。

【００２３】接続手段６と端子ピン１ａとは、非使用時
（非動作時）、両者が接触しないように離間している。
その程度は特に限定されるものではなく、前記押圧手段
４，５のストロークや端子ピンの形状などにより適宜最
適なものとすればよいが、通常、０．５〜５mm、特に１
〜２mm程度である。

【００２４】配線基板７は、前記接続手段６と電気的に
接続される。これにより、接続手段６を介して配線基板
７と端子ピン１ａとの導通が図られる。配線基板７と接
続手段６との接続方法は、特に限定されるものではな
く、基板に直接ハンダ付け、カシメ等してもよいし、接
点を介して接続するようにしてもよい。また、前記異方
性導電ゴムのようなものであれば、配線基板上の端子電
極パターンに異方性導電ゴムを押圧することにより、両
者の導通を図ることができる。

【００２５】配線基板７の材質としては、通常のプリン
ト基板に用いられているようなエポキシ、紙エポキシ、
ガラスエポキシの他、ＦＰＣその他の可撓性樹脂を用い
ることもでき、また、ガラス、セラミックス等の無機材
質を用いてもよい。

【００２６】配線基板７は、好ましくは被測定素子１の
端子ピン１ａの配列に対応した端子電極パターンが形成
され、この部分に接続手段６が接続されるようにする。
そして、この端子電極パターンのピッチを被測定素子の
ピッチに合わせて変更することにより、種々のピッチの
被測定素子に対応させることができる。

【００２７】配線基板７には、好ましくは通常端子電極
パターンからさらに測定用の回路（測定回路基板）へ接
続するためのコネクタ、ケーブル等が装着され、これら
と前記端子電極パターンとを接続するための回路パター
ンが形成されている。この場合のコネクタとしては、通
常基板に用いられているフラットケーブル、ＦＰＣ、そ
の他多芯ケーブル用のコネクタを用いることができ、さ
らに異方性導電ゴムやヒートシルコネクタ等を用いても
よい。また、カードエッジコネクタとしてもよい。配線
基板やその取り付け位置に余裕がある場合には、測定回
路あるいはその一部（ヘッドアンプ・駆動回路等）を搭
載してもよい。

【００２８】このように、接続用コネクタ１２と配線基
板７とを用いているため、狭ピッチの素子であったり、
異なる端子数やピッチの素子にも配線基板７等を取り替
えるだけで容易に対応できる。なお、基板上のパターン
（端子等）は、公知の技術（エッチング等）により任意
の大きさや形状のものを容易に得ることができる。

【００２９】特に、上記異方性導電ゴムを用いた場合、
配線基板の端子電極配列を、被測定素子の端子ピンと同
様なものとし、これを端子ピン１ａと対向する位置に配
置するだけでよく、接続手段自体の位置合わせは不要と
なる。従って、製造面やメンテナンス面で非常に有利で
あり、コネクタ自体の交換も容易である。

【００３０】また、接続手段６に異方性導電ゴムを用い
る場合、その配置部分を異方性導電ゴムが交換可能なよ
うに、外部から容易に操作できる部位、あるいは僅かな
作業で取り外しや分解が可能な構造物内に収納するよう
にするとよい。そして、このような接続手段配置部分内
に異方性導電ゴムを配置することにより、容易に位置決
め固定したり、取り外したりすることができる。

【００３１】そして、接続手段（異方性導電ゴム）６の
ピン端子と反対側にとなる位置には配線基板７の端子電
極が配置され、被測定素子の端子ピンが接続手段６を挟
んで配置されるので、接続手段６を介して両者が電気的
に接続される（導通される）ことになる。すなわち、接
続手段（異方性導電ゴム）６は弾性を有し、前記押圧手
段により被測定素子のピン端子１ａが押された場合、こ
れに押されて接続手段６が弾性変形し、左右（ピン端子
と端子電極部分）に加圧して導電性を確保できるように
なっている。

【００３２】素子保持手段２，３は、被測定素子を乗せ
ておいたり、掴んだり、挟んだ状態で保持したりして安
定に被測定素子１を保持し、かつ被測定素子１の端子ピ
ン１ａを所定の位置にガイドして保持（固定）しうるも
のであればよい。その形状としては、被測定素子１の形
状により適宜適当な形状とすればよい。簡単な構造のも
のとして、被測定素子１のケース部分より僅かに狭い幅
を有し、被測定素子を乗せておくための素子載置部と、
その両側に端子ピン１ａをガイドし、所定位置に収納す
るためのガイド溝ないしガイド孔を設けたものが好まし
い。なお、これに加えて、被測定素子をさらに安定に保
持するため、上部から押さえたり周囲を規制したりして
もよいが、通常、検査時には被測定素子１のピン端子１
ａが、前記押圧機構と接続手段とで保持されるため、単
に被測定素子１を載置するだけでも問題はない。

【００３３】端子ピン１ａをガイドするための機構とし
ては、通常、被測定素子１の幅方向や、長さ方向に変形
している端子ピン１ａを規制するため、入り口部分が広
くなるようテーパー状に形成されたガイド溝、ガイド孔
が用いられ、これと同様な機能を有するガイド板、ガイ
ドブロック等を用いてもよい。テーパーの形状は、使用
する被測定素子の端子ピンの状態等により、挿入しやす
い形状とすればよい。通常、端子ピンの反り等の変位量
は基準値から±１〜３mm程度である。ガイド機構に用い
られる部材の材質は、端子ピン同士の短絡を防止するた
めに絶縁材を用いることが好ましい。また、表面に絶縁
塗料を塗布したり、化学的処理を施して絶縁性を確保し
てもよい。

【００３４】素子保持手段２，３は、被測定素子１の形
状に合わせて形成されていることが好ましい。このた
め、被測定素子１を異なった種類のものに変更する場合
には、この素子保持手段も併せて交換したり、一定の被
測定素子１に対しては１種の保持手段を共用したりして
もよい。従って、保持手段２，３も交換容易な構造とす
ることが好ましい。

【００３５】上記各機構は、さらに支持台２１上に固定
してもよい。この支持台２１は上記機構を安定に支持
し、測定が容易なように支持しうるものであればその形
状や大きさは特に限定されるものではない。上記機構は
ネジ止め等のように、確実に安定して、しかも着脱自在
に固定可能な手段により支持台２１上に固定するように
すればよい。

【００３６】支持台２１には測定用の回路を内蔵しても
よい。測定用の回路は前記配線基板７と同様な基材上に
形成することができ、例えば測定基板として配置され
る。支持台２１に測定用の回路を装着することにより、
検査装置がコンパクトになる。測定用の回路と前記配線
基板とは、前述のようにコネクタ、ケーブル等を介して
着脱自在に接続するようにすればよい。

【００３７】測定用の回路としては、測定に必要な検査
を行ったり、表示を行わせるため、電子デバイスを駆動
したり、制御したり、検査用の電圧、電流を印加したり
測定するための回路が必要となる。このような回路とし
ては、ヘッドアンプ、制御素子（プロセッサ、論理回路
素子等）、電圧・電流検出素子、Ｄ／Ａ、Ａ／Ｄ変換素
子、ディスプレイコントローラ、ドライバＩＣとして市
販されているもの等を適宜選択して使用してもよいし、
汎用のマイクロプロセッサやその周辺素子、および各種
トランジスタＦＥＴ等を用いたり、各種ゲート、フリッ
プフロップ、デーコーダ等を適宜組み合わせて必要な機
能を有するものを構成してもよい。これらの回路は、プ
リント基板上にコンパクトに構成でき、支持台２１内に
収納することが可能である。なお電源などは外部から供
給するようにしてもよい。

【００３８】さらに、支持台２１には他の測定装置に容
易に取り付けられるような取り付け機構を設けてもよ
い。この取り付け機構は、例えば視野角の測定等のよう
に本発明のジグのみでは測定が困難な性能を評価する
際、他の測定装置に本発明のジグを取り付けることによ
り、容易に測定できるようにするものである。この取り
付け機構は、例えば所定の取り付けネジ孔としてもよい
し、特別な取り付けのための機構を設けてもよい。

【００３９】このように、端子ピン１ａを横方向から挟
み込むようにして導通を図り、測定用の回路等は配線基
板を介して接続するようにしているので、被測定素子の
着脱が容易になると共に、異方性導電ゴムのような接続
コネクタを被測定素子の端子に押圧した状態で固定する
ことができ、比較的簡単な構造で被測定素子、接続手段
および配線基板間の導通を確実にすることができる。ま
た、劣化した異方性導電ゴムの交換など、メンテナンス
も容易になる。

【００４０】本発明に使用される各種部材の材質として
は、特に限定されるものではなく、上記で特に指示され
たもの以外はその機能や必要とされる性能などに応じて
適宜最適なものを使用すればよい。特に、保持手段２，
３は絶縁性を有する部材あるいは絶縁処理を施した部材
を用いる必要があり、支持台２１等は、鉄、アルミニウ
ム、真鍮およびこれらの合金材や、アクリル、塩化ビニ
ール、ベークライト等の樹脂材等を用いて製造すること
ができる。また、端子ピン１ａ、接続手段６である異方
性導電ゴム、接点金属等の導電性材料と接触する部分は
絶縁性を有する樹脂材などが好ましく、素子載置部等頻
繁にワークと接触する部分等にはハードクローム等摩耗
防止のための表面処理を施してもよい。

【００４１】なお、素子保持手段に被測定素子を配置す
る手段として、作業者によるハンドリング作業により行
わせてもよいし、チャッキング等のハンドリング機構を
用いて自動的に行わせてもよい。この場合、押圧手段と
併せて素子保持手段への被測定素子の着脱等をエアシリ
ンダー、サーボモータ、パルスモータ等を応用したハン
ドリング機構等により行わせるようにしてもよい。この
ように、自動化することにより、製造ラインの最終工程
に検査用のラインとして組み込むことができ、生産効率
が向上する。

【００４２】

【実施例】次に、実施例を示し本発明をより具体的に説
明する。図２は、本発明の電子デバイス検査ジグの一実
施例を示す外観斜視図、図５，６は図２の使用状態を示
した図である。図示例の電子デバイス検査ジグ４０は、
ベースブロック８と、このベースブロック８に取り付け
られている軸受けブロック９とを有する。また、図３に
示すように軸受けブロック９には扁平部５ａを有する駆
動軸５が取り付けられており、さらに駆動軸５の扁平部
５ａにより水平方向に駆動され、摺動する摺動ブロック
４がベースブロック８上の摺動部８ａ（図示せず）上に
載置されて、駆動軸５方向に対して付勢されている。こ
の駆動軸５の扁平部５ａは、図示例のように非動作時に
は短径側に摺動ブロック４が当接するようになってい
る。そして、図４に示すように駆動軸５が取り付けられ
ているレバー１０を回転させると、駆動軸５が回転して
扁平部５ａが長径側に変化し、これに当接する摺動ブロ
ック４が外側に動作する。つまり摺動ブロック４が扁平
部５ａの軸径変化により両側に押し出される。これによ
り、端子ピン１ａ（図示せず）が押し出されて接続手段
６が押圧されることとなり、これらが押圧手段を形成し
ている。

【００４３】さらに、ベースブロック８上には、被測定
素子１を載置するための素子載置ブロック２が軸受けブ
ロック９間に固定されている。この素子載置ブロック２
には被測定素子を載置したときに端子ピンを収納するた
めの収納凹部２ａが形成されていて、この収納凹部２ａ
にはさらに各端子ピンを個々にガイドし収納するための
ガイド孔２ｂ（図示せず）が形成されている。また、収
納凹部２ａ間に素子を載置するための領域である素子載
置部が形成されることになる。

【００４４】ベースブロック８の両側部には配線基板７
が固定ブロック１１により固定されている。この配線基
板７上には、被測定素子１の端子ピン１ａと対応した位
置に同ピッチの端子電極パターンが形成されている。そ
して、上述の動作時には押圧された異方性導電ゴム６を
介して前記端子ピン１ａと接続するようになっている。
さらに、配線基板７には基板コネクタ１２が配置され、
上記端子電極パターンからの配線パターンが接続される
と共に、測定回路基板２２と着脱自在に接続されるよう
になっている。

【００４５】また、固定ブロック１１には前記収納凹部
２ａと対応する位置にガイドブロック３が取り付けられ
ている。このガイドブロック３は、その収納凹部２ａ側
がテーパー状に形成され、収納凹部２ａと共に上方に開
口したガイド部として機能し、端子ピン１ａをガイド孔
２ｂに導入し易いようになっている。

【００４６】測定回路基板２２は支持台２１上に固定さ
れている。また、この支持台２１には、前記ベースブロ
ック８が固定されると共に、これらの機構を安定に保持
するための脚２３が取り付けられている。支持台１は、
ベースブロックより大きめの外形をなし、安定な支持が
可能になっている。測定回路基板２２の取り付けられる
部位には測定回路基板と略同形状の窓部２７が形成さ
れ、測定回路基板２２の配線との干渉を防止している。

【００４７】このような電子デバイス検査ジグで被測定
素子を検査する場合、例えば図５に示すように電子デバ
イス検査ジグ４０上に被測定素子１を配置し、さらに図
６に示すように被測定素子１の端子ピン１ａが丁度収納
凹部２ａとガイドブロック３とで形成されるガイド部を
介してガイド孔２ｂ内に挿入されるように装着する。そ
して、図３，４に示すようにレバー１０を回転させてピ
ン端子１ａを押圧し、異方性導電ゴム（接続手段）に押
し当て固定する。この状態で配線基板と端子ピンとの導
通が確保されているので、測定回路を動作させることに
より被測定素子の検査を行う。測定終了後、レバー１０
を元の状態に戻し、被測定素子１を抜き取って検査工程
が終了する。

【００４８】次に、電子デバイス検査ジグのより詳しい
構造について図７〜１２を参照しつつ説明する。図７〜
１２は電子デバイス検査ジグの各部の組立図である。

【００４９】先ず、図７に示すように、ベースブロック
８には軸受けブロック９と駆動軸５が取り付けられる。
軸受けブロック９には軸受け孔９ｂが形成されており、
この軸受け孔９ｂに駆動軸５を挿通して駆動軸５を保持
できるようになっている。また、軸受けブロック９には
ネジ止め孔９ａが形成されていて、このネジ止め孔９ａ
に止めネジ１３を挿通し、ベースブロック８のネジ孔８
ｃにネジ止めできるようになっている。なお、軸受けブ
ロック９には後述する摺動ブロック４に付勢するための
弾性部材１４を係止する弾性部材押さえ部９ｅが形成さ
れている。

【００５０】次いで、図８に示すようにベースブロック
８の摺動部８ａ上に摺動ブロック４が配置される。この
摺動ブロック４には弾性部材収納凹部４ｂが形成されて
いて、コイルバネ等の弾性部材１４を収納できるように
なっている。そして、この弾性部材１４は、弾性部材収
納凹部４ｂに収納された後、摺動ブロック４が摺動部８
ａ上に配置されると、弾性変形した状態で前記弾性部材
押さえ部９ｅに当接し、摺動ブロック４を常に駆動軸５
の方向に付勢するようになっている。摺動ブロック４の
駆動軸５側には、駆動軸５の扁平部５ａと対向する位置
に摺動ブロック４の面位置より駆動軸５側に突出した当
接部４ａが形成されている。そして、この当接部４ａは
前記コイルバネ１４により駆動軸５側に付勢されている
ため、扁平部５ａと常に接することとなり、扁平部５ａ
の回動に従いその短径／長径の変化を摺動ブロック４に
伝達し、摺動部８ａ上で摺動ブロック４を水平方向に駆
動することになる。そして摺動ブロック４の当接部４ａ
が形成されている部分と反対側の面である押圧部４ｃに
より、端子ピン１ａを押圧するようになっている。な
お、駆動軸５の他端部は、軸固定ブロック９の他方でＥ
リング等の係止具１５により回動自在に固定される。

【００５１】次いで、図９に示すように、ベースブロッ
ク８上の接続手段配置部８ｆに接続手段６（異方性導電
ゴム）が配置されると共に、素子載置ブロック２が取り
付けられる。素子載置ブロック２にはネジ孔２ｃが形成
されていて、軸受けブロック９の止め孔９ｃを介してネ
ジ１７によりネジ止めされるようになっている。また、
駆動軸５の一端側には駆動軸５を動作させるのに必要な
レバー１０が、窓孔１８を介して挿入された取り付けネ
ジ１８により固定される。そして、レバー１０の回転範
囲を規制する規制ピン１６が、固定ブロック９のネジ孔
９ｄに取り付けられる。なお、素子載置ブロック２はネ
ジ１７による１点止めのため、ある程度アキシャル方向
に変位し、異方性導電ゴム６や摺動ブロック４の動作が
スムースになるようになっている。

【００５２】なお、素子載置ブロック２には、その両側
部であって被測定素子１の端子ピン１ａと対応する位置
に、内側に窪んだ挿入凹部２ａが形成され、さらに、こ
の挿入凹部２ａの底部には端子ピン１ａをガイドするた
めのガイド孔２ｂが、端子ピン１ａの配列に応じて端子
ピンを挿入しガイド可能な大きさに形成されている。ま
た、ガイド孔２ｂは、端子ピン１ａを挿入し易くするた
めに、入り口付近が広がったテーパー状に形成されてい
る。

【００５３】次いで、図１０に示すように、配線基板７
がベースブロック８の両側部に配置される。この配線基
板７には、測定回路基板２２と着脱自在に接続するため
の基板コネクタ１２が取り付けられる（図示例では配線
基板上のコネクタ取り付け孔および端子孔、コネクタの
ピン等は省略して記載している）。

【００５４】そして、図１１に示すように、配線基板７
のさらに外側に固定ブロック１１が配置され、固定ブロ
ック１１の取り付け孔１１ａおよび配線基板７の取り付
け孔７ａを介して、ベースブロック７のネジ孔８ｄに、
止めネジ１８により固定される。すなわち、固定ブロッ
ク１１は、配線基板７と一体として固定されると共に、
内部から異方性導電ゴム等の接続手段６を介して押圧さ
れる配線基板７を補強する役割も果たす。

【００５５】固定ブロック１１上には、ガイドブロック
３が、このガイドブロック３の形状に即して形成されて
いるガイドブロック装着部１１ｂに装着される。そし
て、その上に止め板２０が配置されると共に、止めネジ
１９により止め板２０の止め孔２０ａを介して固定ブロ
ックのネジ孔１１ｃに固定される。

【００５６】このようにして、組み立てられた検査ブロ
ック３０は、さらに図１２に示すように、止めネジ２４
により止め孔８ｂを介して支持台２１のネジ孔２１ａ固
定され、支持台２１に取り付けられる。このとき、支持
台２１には、測定回路基板２２が、止めネジ２５によ
り、止め孔２２ａを介して支持台２１のネジ孔２１ｂに
固定されており、上記基板コネクタ１２により配線基板
７と測定回路基板２２とが電気的に接続されるようにな
っている。

【００５７】また、支持台２１の測定回路基板２２が装
着される部位には、測定回路基板２２のパターンと支持
台２１とが干渉して測定回路基板２２内の電気回路に支
障が生じないように、開口した窓部２７が形成されてい
る。さらに、支持台２１には支持台２１を安定して支え
たり、設置される場所に傷が付かないようにしたりする
ための脚２３が、止めネジ２６により、取り付け孔２３
ａを介してネジ孔２１ｃ取り付けられる。この、脚２３
は、樹脂やゴム等比較的柔らかく柔軟性のあるものが好
ましい。

【００５８】このように、支持台２１上に安定して固定
されると共に、被測定素子１を素子載置ブロック２上に
載置するようにして配置し、その後はレバー１０を回動
させるだけで簡単に測定することができる。しかも、被
測定素子１の端子ピン１ａは押圧手段により異方性導電
ゴム６を介して配線基板７上の接続端子パターンと導通
されるようになっているので、異なる端子ピッチの被測
定素子１にも、配線基板等を交換するだけで容易に対応
することができる。また、支持台２１は測定回路基板を
有しているため、極めてコンパクトな検査ジグとなって
いる。

【００５９】さらに、異方性導電ゴム６が劣化等した場
合、２点で固定されている素子載置ブロック２を取り外
すだけで容易に交換することができ、メンテナンス性に
も優れている。なお、必要により脚２３を設ける代わり
に、ネジ孔２１ｃ等を用いて他の測定装置に固定するこ
とも可能である。例えば、有機ＥＬディスプレイやＬＣ
Ｄ等は視野角の測定が重要な検査要素であるが、本発明
の電子デバイス検査ジグは、コンパクトで固定しやす
く、このような測定にも容易に対応することができる。

【００６０】なお、上記例ではレバー１０は作業者等の
手により操作するように構成しているが、この部分をエ
アシリンダー、サーボモータ、パルスモータ等の動力源
により駆動するようにしてもよい。このような動力源を
用い、ハンドリング機構等と共に用いることで、検査工
程を自動化することができる。

【００６１】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、極めて低
コストで、種々のピッチの電子デバイスに対応可能であ
り、耐久性を有し、メンテナンスも容易で、しかもコン
パクトで視野角等の測定にも容易に対応できるディスプ
レイ検査ジグを提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のディスプレイ検査ジグの基本構成を示
す断面図である。

【図２】本発明のディスプレイ検査ジグの実施例を示す
外観斜視図である。

【図３】本発明のディスプレイ検査ジグの押圧手段に構
成例を示す一部断面図である。

【図４】本発明のディスプレイ検査ジグの押圧手段に構
成例を示す一部断面図で、動作した状態を示した図であ
る。

【図５】本発明のディスプレイ検査ジグの実施例を示す
外観斜視図で、被測定素子を装着する前の状態を示した
図である。

【図６】本発明のディスプレイ検査ジグの実施例を示す
外観斜視図で、被測定素子を装着した状態を示した図で
ある。

【図７】本発明の実施例であるディスプレイ検査ジグの
一部組立図である。

【図８】本発明の実施例であるディスプレイ検査ジグの
一部組立図である。

【図９】本発明の実施例であるディスプレイ検査ジグの
一部組立図である。

【図１０】本発明の実施例であるディスプレイ検査ジグ
の一部組立図である。

【図１１】本発明の実施例であるディスプレイ検査ジグ
の一部組立図である。

【図１２】本発明の実施例であるディスプレイ検査ジグ
の一部組立図である。

【符号の説明】

１被測定素子１ａ端子ピン２素子載置部ブロック３ガイドブロック４摺動ブロック５駆動軸５ａ扁平部６接続手段７配線基板８ベースブロック９保持ブロック１０レバー１１固定ブロック１２基板コネクタ２１支持台２２測定回路基板

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】略鉛直方向に配列されている被測定素子
（１）の端子ピン（１ａ）をガイドし、かつ所定位置に
保持する素子保持手段（２，３）と、前記被測定素子（１）の端子ピン（１ａ）を一方の側か
ら他方の側に向けて押圧する押圧手段（４，５）と、この端子ピン（１ａ）の他方の側に所定間隔離間して配
置されると共に、この他方の側に向けて押圧された端子
ピン（１ａ）と接触して電気的に導通する接続手段
（６）と、この接続手段（６）の端子ピン（１ａ）側と反対側に配
置され前記接続手段（６）により端子ピン（１ａ）と電
気的に接続される配線基板（７）とを有する電子デバイ
ス検査ジグ。
【請求項２】前記配線基板（７）には被測定素子
（１）の端子ピン（１ａ）の配置に対応したピッチの端
子電極が形成されている請求項１の電子デバイス検査ジ
グ。
【請求項３】前記接続手段（６）は、異方性導電ゴム
である請求項１または２の電子デバイス検査ジグ。
【請求項４】前記被測定素子（１）は、ＤＩＰ状の端
子ピン（１ａ）を有する請求項１〜３のいずれかの電子
デバイス検査ジグ。
【請求項５】前記押圧手段（６）は、中央に配置さ
れ、かつ扁平部（５ａ）を有する駆動軸（５）と、この駆動軸（５）の両側にあって非動作時には被測定素
子（１）の端子ピン（１ａ）より僅かに内側に配置さ
れ、前記駆動軸（５）の方向に対して付勢されると共
に、この駆動軸（５）の扁平部（５ａ）と当接する当接
部（４ａ）と前記端子ピン（１ａ）を押圧するための押
圧部（４ｃ）とが形成されている摺動ブロック（４）と
を有する請求項１〜４のいずれかの電子デバイス検査ジ
グ。
【請求項６】さらに支持台（２１）を有し、この支持
台（２１）は測定回路を有する請求項１〜５のいずれか
のディスプレイ検査ジグ。