JPH11237308A

JPH11237308A - ディスプレイ検査ジグ

Info

Publication number: JPH11237308A
Application number: JP10052963A
Authority: JP
Inventors: Takahiro Tsuchiya; 高広土屋; Riyouji Sunami; 良二砂見
Original assignee: TDK Corp
Current assignee: TDK Corp
Priority date: 1998-02-18
Filing date: 1998-02-18
Publication date: 1999-08-31

Abstract

(57)【要約】（修正有）【課題】極めて低コストで、狭ピッチのディスプレイ
にも対応可能であり、異なる端子数やピッチにも容易に
対応でき、しかもコンパクトで視野角等の測定にも容易
に対応できるディスプレイ検査ジグを提供する。【解決手段】保持ブロック２上に配置され、被測定素
子の表示部分と対応して設けられた窓部３１を有すると
共に、被測定素子を押さえる固定ブロック３と、保持ブ
ロック２と、固定ブロック３とを着脱自在に固定する係
止機構とを有し、保持ブロック２には、少なくとも被測
定素子の端子と同位置かつ同ピッチに配列された接続用
端子と測定回路へ接続するための回路パターンが形成さ
れた配線基板を有し、かつ前記コネクタ配置部２２に
は、被測定素子により押圧されると共に被測定素子の端
子と前記配線基板上の接続用端子との導通を図るための
接続用コネクタが配置される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、有機ＥＬディスプ
レイ、ＬＣＤといったディスプレイ素子の検査に必要な
ジグに関する。

【０００２】

【従来の技術】有機ＥＬディスプレイやＬＣＤといった
ディスプレイを検査する場合、コンタクトプローブとい
った測定用のプローブをディスプレイの端子に接触させ
て導通を図り、検査用の回路と接続させることにより、
輝度、画質、視野角といったディスプレイの評価を行っ
ていた。

【０００３】しかしながら、コンタクトプロ−ブは高価
なため、これを多用した場合検査装置が非常に高価なも
のになってしまう。また、特にディスプレイが大型化高
精細化すると、端子数が増加し、端子の配列間隔が狭く
なってしまう。しかし、コンタクトプローブは比較的大
きく嵩張るため、このような狭ピッチに合わせて配置す
ることはきわめて困難である。

【０００４】また、ディスプレイ等は通常のＩＣ等のよ
うに一定のピッチや端子数に統一されている場合は少な
く、ディスプレイ素子が異なる毎に、その素子に適合し
た端子数やピッチのプローブに取り替える必要があり、
さらに、装置のコストを引き上げる要因となっていた。

【０００５】特に、有機ＥＬディスプレイにおいては、
通常その視野角が８０〜２４０度程度必要とされてい
る。このため、有機ＥＬディスプレイの製品検査ではこ
の視野角を測定する必要があるが、従来のプロ−ブを用
いた検査装置では、検査装置が大きく、そのまま視野角
を測定することが困難であった。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、極め
て低コストで、狭ピッチのディスプレイにも対応可能で
あり、異なる端子数やピッチにも容易に対応でき、しか
もコンパクトで視野角等の測定にも容易に対応できるデ
ィスプレイ検査ジグを提供することである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的は、以下の構成
により達成される。（１）被測定素子を収容可能な素子配置部２１を有
し、かつこの素子配置部２１には被測定素子の端子と対
応する部位に接続用コネクタを配置するためのコネクタ
配置部２２を有する保持ブロック２と、前記保持ブロッ
ク２上に配置され、被測定素子の表示部分と対応して設
けられた窓部３１を有すると共に、この窓部３１以外の
部位により被測定素子を位置決め、固定する固定ブロッ
ク３と、前記保持ブロック２と、固定ブロック３とを着
脱自在に固定する係止機構４とを有し、前記保持ブロッ
ク２には、前記コネクタ配置部２２と対応する位置であ
って、少なくとも被測定素子の端子と同位置かつ同ピッ
チに配列された接続用端子とこの接続用端子から測定回
路へ接続するための回路パターンが形成された配線基板
５を有し、かつ前記コネクタ配置部２２には、被測定素
子により押圧されると共に被測定素子の端子と前記配線
基板５上の接続用端子との導通を図るための接続用コネ
クタが配置されるディスプレイ検査ジグ。（２）前記固定ブロック３は、前記窓部３１の周囲に
被測定素子に対応した形状の素子位置決め部３２を有す
る上記（１）のディスプレイ検査ジグ。（３）前記コネクタ配置部２２は、上下に貫通した長
孔であって、前記配線基板５が保持ブロック２の下部に
配置されると共に、この長孔内に接続用コネクタとして
異方性導電ゴムが配置される上記（１）または（２）の
ディスプレイ検査ジグ。（４）前記被測定素子は、扁平な長方形の外形を有
し、かつその両側部の下面側には端子が所定間隔で配列
している上記（１）〜（３）のいずれかのディスプレイ
検査ジグ。（５）前記異方性導電ゴムは、導電層の許容電流が５
０mA／mm² 以上である上記（１）〜（４）のいずれかの
ディスプレイ検査ジグ。（６）前記素子配置部２１には、被測定素子の端子に
対応して配列された複数の弾性を有する接点金属６が前
記配線基板５ａと一体化している接続用コネクタを有
し、かつこの接続用コネクタが被測定素子の両端子側に
それぞれ形成されているコネクタ配置部８４，８７，８
８に配置されている上記（１）〜（５）のいずれかのデ
ィスプレイ検査ジグ。（７）前記保持ブロック２と、固定ブロック３とは位
置決め機構２３，３４により位置決め固定される上記
（１）〜（６）のいずれかのディスプレイ検査ジグ。（８）さらに支持台１を有し、前記保持ブロック２お
よび固定ブロック３は前記係止機構４により支持台１上
に一体として固定される上記（１）〜（７）のいずれか
のディスプレイ検査ジグ。（９）前記支持台１は視野角測定装置に装着するため
の取り付け部を有する上記（１）〜（８）のいずれかの
ディスプレイ検査ジグ。（１０）前記支持台１は測定回路を内在する上記
（１）〜（９）のいずれかのディスプレイ検査ジグ。

【０００８】

【発明の実施の形態】本発明のディスプレイ検査ジグ
は、被測定素子を収容し載置可能な素子配置部２１を有
し、かつこの素子配置部２１には被測定素子の端子と対
応する部位に接続用コネクタを配置するためのコネクタ
配置部２２を有する保持ブロック２と、前記保持ブロッ
ク２上に配置され、被測定素子の表示部分と対応して設
けられた窓部３１を有すると共に、この窓部３１以外の
部位により被測定素子を位置決めし、固定する固定ブロ
ック３と、前記保持ブロック２と、固定ブロック３とを
着脱自在に固定する係止機構４とを有し、前記保持ブロ
ック２には、前記コネクタ配置部３２と対応する位置で
あって、少なくとも被測定素子の端子と同位置かつ同ピ
ッチとなるように配列された接続用端子とこの接続用端
子から測定回路へ接続するための回路パターンが形成さ
れた配線基板５を有し、かつ前記コネクタ配置部３２に
は被測定素子により押圧された結果、弾性変形して被測
定素子の端子と前記配線基板５上の接続用端子との導通
を図るための接続用コネクタが配置されるものである。

【０００９】このように、保持ブロック２と固定ブロッ
ク３により被測定素子であるディスプレイを保持すると
共に、ディスプレイにより接続用コネクタを押圧して弾
性変形させることで、配線基板と被測定素子の端子とを
接続用コネクタを介して確実に接続することができる。
また、２つのブロックにより被測定素子を上下から挟み
込むようにして導通を図り、検査するため、被測定素子
の着脱が容易であると共に、接続用コネクタのメンテナ
ンスも容易となる。

【００１０】また、被測定素子の端子はこれと略同ピッ
チに配列された配線基板上の端子パターンに接続用コネ
クターを介して接続され、測定回路と接続される。この
ため、高価なプローブを用いなくとも被測定素子と測定
回路とを接続することができ、極めて低コストな検査装
置が実現できる。

【００１１】接続用コネクタは、被測定素子の端子位置
に対応して被測定素子の下部側に配置され、それ自体で
被測定素子により押圧され、弾性変形し、その反作用で
被測定素子を上方に押し上げるようにして圧接しうるも
のである。このような接続用コネクタとしては、異方性
導電ゴム（エラスティックコネクタ）や、被測定素子の
端子に対応して配列された複数の弾性を有する金属から
なる接点金属等を好ましく挙げることができる。

【００１２】異方性導電ゴムは、弾性体であって導電性
を有する導電層と、弾性体であって導電性のない絶縁層
とを交互に配列した細長の四角い形状のものである。そ
して、導電層と絶縁層とのピッチが被測定素子の端子の
ピッチよりも小さいものとすることにより、これを被測
定素子の端子と配線基板上の端子パターンの間に配置す
ると、いずれかの導電層が被測定素子の端子と配線基板
上の端子パターン間との導通を取ることとなる。この異
方性導電ゴムのピッチとしては、必要とされる被測定素
子の端子間隔よりも狭いものであればよく、通常、０．
０５〜１mm、特に０．１〜０．３mm程度である。また、
その材質としてはシリコーンゴム等の弾性部材と、これ
に導電性を付与するためのカーボン、金属繊維、金属細
線等により構成されている。

【００１３】ところで、被測定素子が有機ＥＬディスプ
レイの場合、電流駆動素子であるため、比較的大きな電
流を必要とする。このため接続用コネクタに通常の異方
性導電ゴムを用いた場合電流容量が不足してしまう。そ
こで、導電層内部に金属線等を含有し、比較的電流容量
の大きな異方性導電ゴムを用いるとよい。この場合の電
流容量としては、５０mA／mm² 以上が好ましく、特に５
０〜１０００mA／mm²、さらには２００〜１０００mA／m
m² 程度が好ましい。

【００１４】異方性導電ゴムの大きさとしては、通常、
幅０．５〜１０mm、特に１〜３mm程度、長さ０．５〜３
０cm、特に１〜１２cm程度である。また、その高さとし
ては、素子配置部２１に被測定素子を載置した場合に僅
かに被測定素子が浮き上がる程度、つまり、固定ブロッ
クを装着したときに被測定素子を上方に付勢するような
高さに調節される。なお、この高さは、保持ブロックの
厚み等を調節することにより調整可能である。

【００１５】また、接点金属は、被測定素子の端子に対
応して配列されている複数の弾性を有する金属材であっ
て配線基板やその接続用端子と一体化している。このよ
うな接点金属は、通常のプロ−ブに比べ非常に安価であ
り、また、基板上に配列させているため任意のピッチ間
隔に配列させることができる。このような接点部材とし
ては、リン青銅、ベリリウム銅、バネ性ステンレス鋼等
が挙げられるが、好ましくはリン青銅である。そして、
これが接続用コネクタとして被測定素子の両端子側にそ
れぞれ配置されることとなる。

【００１６】このように、接続用コネクタと配線基板と
を用いているため、狭ピッチの素子であったり、異なる
端子数やピッチの素子にも基板を取り替えたりするだけ
で容易に対応できる。なお、基板上のパターン（端子）
は、公知の技術（エッチング等）により任意の大きさや
形状、あるいはピッチのものを容易に得ることができ
る。

【００１７】保持ブロック２は、被測定素子の厚みより
厚い部材であって、通常、四角い平板状に形成されてい
る。そのほぼ中央部位には被測定素子を収容し、配置す
るための素子配置部２１が形成されている。この素子配
置部２１は、保持ブロック２に好ましくは被測定素子の
大きさより大きな凹部を設けたもので、その深さは、好
ましくは後述の固定ブロック３の素子位置決め部３２に
被測定素子の一部が収容されるため、被測定素子の厚み
より多少浅くなるようになっている。素子配置部を被測
定素子の大きさより大きな凹部とすることにより、被測
定素子と固定ブロック３の着脱が容易となる。

【００１８】素子配置部２１内には、被測定素子の端子
と対応する部位に接続用コネクタを配置するためのコネ
クタ配置部２２を有する。このコネクタ配置部２２は、
被測定素子を素子配置部２１上に載置したときに、少な
くともその端子と対向する位置に形成されている。

【００１９】コネクタ配置部２２は、例えば接続コネク
タに異方性導電ゴムを用いる場合、この異方性導電ゴム
の形状に対応し、上下に貫通した長孔となる。そして、
このコネクタ配置部２２内に異方性導電ゴムを挿入する
ことにより、その下部に配置されている配線基板の端子
と、被測定素子の端子とが異方性導電ゴムを介して電気
的に接続される（導通される）ことになる。また、異方
性導電ゴムは弾性を有し、素子配置部２１上に被測定素
子が配置されると押圧されるような高さに設定されてい
るため、保持ブロック２を装着すると異方性導電ゴムが
弾性変形して上下に加圧して圧接し、これにより導電性
を確保できるようになっている。

【００２０】コネクタ配置部２２に上記接点金属６を用
いる場合、この接点金属の可動性を確保し得るような構
造が必要となる。このような構造は、例えば所定の大き
さの孔として形成される。この孔は、各接点金属に対応
して形成された小孔でもよいし、全ての接点金属を包含
し得るような大きさの孔でもよい。各接点金属に対応し
た小孔とする場合、この孔が接点金属のガイドとして機
能するようにしてもよい。また、各接点金属は、通常、
配線基板および接続用端子と一体化し、配線基板上に直
接取り付けられている。このため、コネクタ配置部２２
としての基板の取り付け部位は被測定素子の両端子側に
それぞれ形成されることになる。つまり、この場合のコ
ネクタ配置部２２の形状は接点金属と一体化した配線基
板の配置が可能なようになっている。なお、この接点金
属も弾性を有し、素子配置部上の被測定素子を上方に付
勢するような高さに設定されているため、保持ブロック
２を装着すると接点金属が変形して上方に加圧、圧接
し、導電性を確保できるようになっている。

【００２１】固定ブロック３には、前記素子配置部２１
に載置される素子に対応して窓部３１が形成されてい
る。この窓部３１は被測定素子であるディスプレイの形
状に対応した形状（通常ほぼ相似形となる）であり、デ
ィスプレイの表示面が外部から確認できるようになって
いる。また、固定ブロック３の厚みが厚い場合には、視
野角を確保するために窓部３１の周囲をテーパー状にし
てもよい。

【００２２】窓部３１の被測定素子と対応する側には、
好ましくは被測定素子を位置決め固定するための素子位
置決め部３２が設けられている。この素子位置決め部３
２は、被測定素子の形状と対応した形状の凹部を有して
いて、この凹部に被測定素子の一部（周縁部）を収納す
ることにより位置決め、固定する。そして、保持ブロッ
ク２上に固定ブロック３を配置した場合に素子配置部２
１上に素子位置決め部３２に固定された被測定素子が丁
度収まることになる。これにより、被測定素子は所定の
位置に位置決めされ、固定される。

【００２３】保持ブロック２と固定ブロック３とは、好
ましくは位置決め機構により位置決めされる。この位置
決め機構は保持ブロック２と固定ブロック３とを常に同
じ状態で固定するためのものであり、両者の位置関係を
一定に保持しうるものであれば特にその形態は限定され
るものではない。このような位置決め機構として、例え
ば位置決めピン、位置決めガイド等を用いてもよいし、
アジャスト機構を有するものであってもよい。また、単
に目盛り等の目印を設けただけでもよい場合もある。位
置決め機構を設けることにより、配線基板と被測定素子
との導通を確実にすることができる。

【００２４】保持ブロック２および固定ブロック３の大
きさは、それぞれ同じでもよいし、異なっていてもよ
い。大きさが異なる場合、固定ブロック３が多少大きく
なるようにすると、指を掛けたり、ハンドリング機構を
掛けることができ便利である。具体的な寸法としては特
に規制されるのもではないが、例えば、縦５〜４０cm、
横１０〜５０cm、厚さ３〜１５mm程度である。また、有
機ＥＬ素子を搭載し、視野角等を測定する場合には、縦
１０〜１６cm、特に１４〜１５．５cm、横１４〜２０c
m、特に１６〜１９．５cm、厚さ４〜８mm、特に５〜６m
m程度である。なお、これらの寸法は被測定素子の大き
さや、搭載される視野角測定装置の大きさ等により変動
する。

【００２５】保持ブロック２と固定ブロック３とは、係
止機構４により着脱自在に固定される。この係止機構４
は保持ブロック２と固定ブロック３とを着脱自在に固定
可能なものであればその形態は特に限定されるものでは
なく、公知の固定手段の中から選択すればよい。このよ
うな係止機構４として、例えばネジ状のもの、クリップ
状のもの等が挙げられる、また、セミ型蓋止めのように
ワンタッチで脱着ができるものを用いてもよい。さら
に、ネジ止めする場合にはローレットつまみを設けた
り、蝶ネジ等を用いて着脱が容易なようにしてもよい。

【００２６】保持ブロック２と固定ブロック３とは、さ
らに支持台１上に固定してもよい。この支持台１は保持
ブロック２、固定ブロック３を安定に支持し、測定が容
易なように支持しうるものであればその形状や大きさは
特に限定されるものではない。保持ブロック２と固定ブ
ロック３は、前記係止機構４により一体として支持台１
上に固定するようにすればよい。

【００２７】支持台１内には測定用の回路を内蔵しても
よい。この支持台１内に測定用の回路を内蔵することに
より、検査装置がコンパクトになる。測定用の回路と前
記配線基板とは、多芯ケーブル、フラットケーブル、フ
レキシブルプリント基板、ヒートシルコネクタ等の接続
手段を介して着脱自在に接続するようにすればよい。

【００２８】測定用の回路としては、測定に必要な表示
を行わせるため、ディスプレイを駆動し、制御するため
の回路が必要となる。また、リーク電流、短絡、駆動電
圧等を検出する回路を設けてもよい。このような回路と
しては、ディスプレイコントローラ、ドライバＩＣとし
て市販されているものを適宜選択して使用してもよい
し、汎用のプロセッサとその周辺素子、および駆動用の
電圧電流変化素子や、各種ゲート、フリップフロップ、
デーコーダ等を適宜組み合わせて必要な機能を有するも
のを構成してもよい。これらの回路は、プリント基板上
にコンパクトに構成でき、支持台１内に収納することが
可能である。なお電源などは外部から供給するようにし
てもよい。

【００２９】さらに、支持台１には他の測定装置に容易
に取り付けられるような取り付け部を設けてもよい。こ
の取り付け部は、例えば視野角の測定等のように本発明
のジグのみでは測定が困難な性能を評価する際、他の測
定装置に本発明のジグを取り付けることにより、容易に
測定できるようにするものである。この取り付け部は、
例えば所定の取り付けネジ孔としてもよいし、特別な取
り付けのための機構を設けてもよい。支持台の大きさと
しては、前記保持ブロック２および固定ブロック３と同
等程度とすればよい。

【００３０】このように、保持ブロック２と固定ブロッ
ク３とを別体とし、これらにより被測定素子を挟み込む
ようにして保持しているので、被測定素子の着脱が容易
になる。また、異方性導電ゴムのような接続コネクタを
被測定素子の端子に押圧した状態で固定するので、簡単
な構造で被測定素子、接続用コネクタおよび配線基板間
の導通を確保し、被測定素子を測定用の回路と接続する
ことができる。また、劣化した異方性導電ゴムの交換な
ど、メンテナンスも容易になる。

【００３１】本発明に使用される各種部材の材質として
は、特に限定されるものではなく、上記で特に指示され
たもの以外はその機能や必要とされる性能などに応じて
適宜最適なものを使用すればよい。特に、支持台１、保
持ブロック２および固定ブロック３等は、鉄、アルミニ
ウム、真鍮およびこれらの合金材や、アクリル、塩化ビ
ニール、ベークライト等の樹脂材等を用いて製造するこ
とができる。また、接点金属等の導電性材料と接触する
部分は絶縁性を有する樹脂材や、絶縁処理を施したもの
などが好ましく、耐摩耗性や耐久性を必要とする部位に
はハードクローム、ハードアルマイト処理等、摩耗・腐
食防止のための表面処理を施してもよい。

【００３２】なお、保持ブロック２上に固定ブロック３
を配置する手段として、作業者のハンドリングにより行
わせてもよいし、チャッキング等のハンドリング機構に
より自動的に行わせてもよい。この場合、被測定素子の
着脱や、保持ブロック２と固定ブロック３との固定動作
等もハンドリング機構や、エアシリンダー、サーボモー
タ、パルスモータ等を使用した機構により行わせるよう
にしてもよい。このように、自動化することにより、製
造ラインの最終工程に検査用のラインとして組み込むこ
とができ、生産効率が向上する。

【００３３】

【実施例】次に、実施例を示し本発明をより具体的に説
明する。図１および図２は、本発明のディスプレイ検査
ジグの一実施例を示す組立斜視図および組立後の状態を
示した外観斜視図である。図示例のディスプレイ検査ジ
グは、支持台１上に保持ブロック２と固定ブロック３と
が係止機構４により一体として着脱自在に固定されるよ
うになっている。この例では、支持台１、保持ブロック
２および固定ブロック３は、いずれもその外形が四角い
板状のものであって、ほぼ同一の大きさとなっている。
また、保持ブロック２は素子配置部２１を設けるため、
多少厚くなっている。

【００３４】支持台１の四隅には、円柱状の支柱１２が
あり、この支柱１２の上部には支柱１２の外周よりも小
さい径の挿入突起部が段違い状に形成されている。この
挿入突起部は保持ブロック２に設けられている取り付け
孔２４内に挿入されると共に、この取り付け孔の周囲が
支柱１２の段違いの外周部分に当接して所定の高さに保
持固定され、位置決めされるようになっている。また、
挿入突起部にはネジ孔が形成されており、また取り付け
孔２４は上部が所謂ザグリ孔加工されているため、支持
柱１２を固定する止めネジを、保持ブロックの面位置よ
り出ないようにして固定することができるようになって
いる。

【００３５】保持ブロック２には、被測定素子の大きさ
よりも大きな凹部の素子配置部２１が形成されている。
この素子配置部２１は、被測定素子であるディスプレイ
の形状に即して概長方形状に形成されると共に、被測定
素子の装着を容易にするためと、多種類の被測定素子に
対応可能なように大きく設定されている。この素子配置
部２１の深さは、固定ブロック３に固定されている被測
定素子１０を配置したときに後述の素子固定部３２によ
り固定された被測定素子１０により接続用コネクタを押
圧可能なような深さに設定されている。また、配線基板
５にハンダ付けされているコネクタの端子部分を逃がす
ための逃げ孔２７が設けられている。

【００３６】素子配置部２１には、コネクタ配置部２２
が形成されている。コネクタ配置部２２は、被測定素子
の端子と対向する位置、つまり被測定素子の両脇に設け
られている端子と同じ間隔で２列の平行な長孔状に形成
されている。また、コネクタ配置部２２は、異方性導電
ゴム７を挿入可能なよう、これより僅かに大きな上下に
貫通した長孔状となっている。このコネクタ配置部２２
の下側には、例えば図３に示すように、保持ブロック２
の下部にある補助ブロック９により異方性導電ゴム７が
保持されている。補助ブロック９は、止めネジ１０４に
より、止め孔９１を介して保持ブロック２のネジ孔２６
に固定される。そして、後述するように、コネクタ配置
部２２の長孔部分に配線基板５の接続用端子が配置され
るような位置関係となっている。前記接続用端子は配線
基板上に形成され、少なくとも、被測定素子の端子と同
じピッチ（間隔）となるように形成されている。これに
より、異方性導電ゴム７を介して配線基板５の接続用端
子と被測定素子の端子とが電気的に接続されるようにな
っている。

【００３７】異方性導電ゴム７は、前記コネクタ配置部
２２内に配置したときに、素子配置部２１の面位置から
多少高くなるように配置されている。そして、素子配置
部２１上に被測定素子１０を配置したときに、被測定素
子１０の端子が形成されている部分に当接し、固定ブロ
ック３に保持されている被測定素子１０を素子配置部２
１の面位置から僅かに浮き上がらせるような位置になっ
ている。これにより、保持ブロック２上に固定ブロック
３を配置し、固定した際に、被測定素子１０を介して異
方性導電ゴム７が押圧されて弾性変形し、上下に圧接し
て導電性を確保できるようになっている。さらに、劣化
した異方性導電ゴム７は、固定ブロック３を取り外すこ
とにより外部に露出する素子配置部２１上やその下部か
ら容易に取り外し、交換することができる。

【００３８】保持ブロック２には、位置決め機構として
の位置決めピン２３が設けられている。位置決めピン２
３は素子配置部２１以外の部位であればその位置は特に
限定されるものではないが、位置決めのためには２個以
上設けることが好ましい。位置決めピン２３は、保持ブ
ロック２の固定孔２９に圧入されていて、その頭部が固
定ブロック３に形成されている位置決め孔３４内に挿入
され、保持ブロック２と固定ブロック３とを所定の位置
関係に位置決めする。位置決め機構（２３，３４）は図
示例では円柱状の丸ピンとしているが、これをテーパー
状としたり、凹部と凸部を用いた嵌合形状のもの等とし
てもよい。

【００３９】さらに、保持ブロック２には、例えば図
３，４に示すように、配線基板５を搭載した基板保持ブ
ロック８を固定するためのネジ孔２８が形成されてい
て、配線基板５を着脱自在に固定できるようになってい
る。この配線基板５は、通常、プリント基板として用い
られているエポキシ、紙エポキシ、ガラスエポキシ等の
基板上に、被測定素子に対応した接続用端子のパターン
と、これから測定回路へ接続するためのパターンとが形
成されるが、この例では基板コネクタ５ａに接続され、
固定されている。

【００４０】基板保持ブロック８にはこの基板保持ブロ
ック８の面位置より基板の厚さ分低くなった基板載置部
８１が、略基板の形状に即して形成され、この部分に配
線基板５を収納、固定できるようになっている。すなわ
ち、基板５は止めネジ１０５により、止め孔５１を介し
て基板載置部８１のネジ孔８２にネジ止めされ、２つの
基板５が所定の位置に配置されるようになっている。さ
らに、この基板保持ブロック８は、上記のように蝶ネジ
１０６により、止め孔８３を介して保持ブロック２のネ
ジ孔２８に着脱自在に固定され、位置決めされる。この
ように、蝶ネジ１０６等を用いて、基板保持ブロック８
を着脱自在としているので、異なるピッチや大きさの被
測定素子でも、この基板保持ブロック８を、そのような
ピッチに形成された配線基板５が搭載されたものと交換
するだけで容易に対応することができる。なお、蝶ネジ
１０６はローレットつまみを有するものや、バイヨネッ
ト機構を有するもの等、着脱が容易であって、確実に固
定できる機構のものにしてもよい。

【００４１】固定ブロック３の各側部には、そのほぼ中
央にフック４１ａが設けられてる。このフック４１ａ
は、支持台１上の対応する位置にある係止具４１ｂと共
に係止機構４を形成している。係止具４１ｂは、支持台
１上にある係止具固定台１１に所定の高さとなるよう固
定されている。そして、上下方向に動作するレバーと、
このレバーの回転軸に対して僅かに下方にずれた位置に
回動自在に固定されている四角い係止リングとを有し、
前記レバーを引き上げた状態で係止リングをフック４１
ａに引っかけた後、このレバーを引き下げると、係止リ
ングの固定軸がレバーの固定軸より下方に位置すること
となり、フック４１ａを係止リングが強く引きつけた状
態で固定できるようになっている。すなわち、フック４
１ａと係止具４１ｂとでワンタッチで着脱可能な、所謂
セミ型蓋止めを形成している。これにより、支持台１の
支柱１２上に保持ブロック２が位置決め・固定され、保
持ブロック２の位置決めピンにより固定ブロック３が位
置決め・固定されると共に、これらを一体として係止機
構４（４１ａ、４１ｂ）が固定することとなる。

【００４２】また、保持ブロック２と固定ブロック３と
は、ネジ孔２５と孔３５によりネジ止めすることができ
るようにもなっている。これにより、保持ブロック２と
固定ブロック３とをより強固に安定して固定することが
できる。

【００４３】固定ブロック３のほぼ中央部には、窓部３
１が形成されている。この窓部３１は被測定素子よりも
多少小さい形状を成し、しかも被測定素子の表示領域
（表示部）が外部から認識可能な大きさとなっている。
また、その周囲は外方に向かってテーパー状に形成され
たテーパー部３３を有し、視野角を確保できるようにな
っている。

【００４４】窓部３１には、例えば図５に示すように、
保持ブロック２と対向する側の周囲に、被測定素子を保
持固定するための素子位置決め部３２が形成された対置
決めブロック３７ａ，３７ｂ，３８，３９が、止めネジ
１０１により止め孔１０２、長孔３８ａを介してネジ孔
３６に固定されている。なお、止めネジ１０１を収納す
る止め孔１０２、長孔３８ａの下側は、ザグリ孔等とな
っていて、この部分に止めネジを収納することにより、
保持ブロック２等と接触しないようになっている。

【００４５】この素子位置決め部３２は、位置決めブロ
ック３７ａｂ，３８，３９により形成される窓部３１ａ
周縁の下部が被測定素子の形状に即した形状、すなわ
ち、被測定素子の形状と対応した凹部として形成されて
いて、この部分に被測定素子の周縁部位や、端部の一部
が収納され、固定されるようになっている。

【００４６】すなわち、一対の位置決めブロック３７
ａ、３７ｂの下側には被測定素子１０に応じた段部が形
成され、位置決めブロック３９には同様な段部とその上
に被測定素子１０の厚みと対応した高さに爪部が形成さ
れている。そして、固定ブロック３を裏返した状態で、
被測定素子１０を同様に裏返し、位置決めブロック３７
ａ、３７ｂの段部上に乗せ、さらに少し動かして位置決
めブロック３９の段部と爪部の間に挿入する。そして、
位置決めブロック３８を長孔３８ａに止めネジ１０１を
差し込んだ状態で移動させ、位置決めブロック３９と同
様に形成されている段部と爪部の間に被測定素子を挿入
し、さらに固定されるまでスライドさせた後ネジ止め
し、固定する。これにより、被測定素子が素子位置決め
部３２内に収納され、位置決め固定されると共に、保持
ブロック２上に固定ブロック３を配置したときに、被測
定素子に押し当てるように配置されている接続用コネク
タを押圧することになる。なお、位置決めブロック３８
はバネ等によりブロック３９方向に付勢されて長孔３８
ａ方向に自由にスライドするような機構としてもよい。

【００４７】なお、支持台１には取り付け部としての止
め孔１３が有り、この止め孔１３により視野角測定装置
等の他の測定装置に固定できるようになっている。ま
た、そのような装置に固定する場合、支持台１単独で固
定した後、保持ブロック２および固定ブロック３を取り
付ければよく、極めて簡単にとりつけ作業を行うことが
できる。

【００４８】本発明のディスプレイ検査ジグに用いられ
る被測定素子１０の一例を図６に示す。図示例のディス
プレイ１０は有機ＥＬディスプレイの一例であって、基
板１１１と、封止板１１２と、基板の両側部に形成され
ている端子１１３とを有する。封止板１１２内には図示
しない有機ＥＬ構造体（電極および有機物層からなる発
光体）がマトリクス状やセグメント状に形成され、これ
らの電極が端子１１３と接続されている。端子１１３は
基板の両側部、つまり封止板１１２が存在しない領域に
所定のピッチで平面状に配列され、下面側（図示例の状
態では上面）に僅かに突出している。そして、この端子
１１３に前記接続用コネクタが接触することとなる。従
って、図示例の被測定素子は、裏返した状態でディスプ
レイ検査用ジグに配置される。

【００４９】次に、本発明の装置の他の実施例について
説明する。図７は本発明の基板保持ブロック８ａの他の
構成例を示す一部外観斜視図、図８はその概略断面図で
ある。この基板保持ブロック８ａは、図４に示される基
板保持ブロック８に代えて使用される。この場合、前記
補助ブロック９および異方性導電ゴムは使用されず、コ
ネクタ配置部２２として記載されている２つの長孔間は
大きく開口した孔となる。

【００５０】図示例の基板保持ブロック８ａは、基板保
持ブロック８ａ上に設けられた配線基板５ａと一体とな
って配列されている接点金属６と、この接点金属６およ
び配線基板５ａを固定し保護する押さえ板８６とを有す
る。

【００５１】基板保持ブロック８ａにはネジ孔８２ａが
形成されていて、配線基板５ａおよび押さえ板８６をネ
ジ止め、固定できるようになっている。配線基板５ａに
は、弾性を有し、導電性を有する金属片をへ字状に形成
した接点金属６が複数個配列されている。なお、図示例
では紙面の手前側の部分は配線基板５ａおよび押さえ板
８６を省略し一部の接点金属６のみを表示している。

【００５２】また、押さえ板８６は接点金属６の基板取
り付け部分を押さえ、固定すると共に、接点金属６の動
作を確保できるように、接点金属６の立ち上がり部分か
ら上端部分を逃がすための切欠部８７が形成されてい
る。

【００５３】接点金属６はへ字状の上方に立ち上がった
上端部分で被測定素子の端子と接触し、下方から水平方
向に延びている一方の端部が配線基板５ａに固定されて
いる。これにより上下方向に容易に撓み、かつ、弾性部
材であるため押された方向と逆方向に付勢し、圧接して
接触が確保される。また、接点金属６は、被測定素子の
端子配列と対応して形成されている配線基板のパターン
（接続用端子）に従って取り付けられる。このため、煩
雑な位置決め操作が不要であり、また異なったピッチの
端子を有する被測定素子にはそれに応じたパターンを有
する配線基板を作成するだけで容易に対応することがで
きる。

【００５４】接点金属６自体は弾性を有し、かつ導電性
を有する金属であればよく、構造が簡単なため、例えば
リン青銅等を用いて容易に得ることが可能であり、プロ
ーブに比べ格段に安く入手することができる。

【００５５】基板保持ブロック８ａには、接点金属６の
他の端部を摺動自在に収納し、かつこれをガイドするた
めのガイド孔８８が、接点金属６に対応した位置と大き
さ（形状）に形成されている。このガイド孔８８によ
り、接点金属同士が接触することなく上下方向に可動
し、被測定素子の接点と接触を確保できるようになって
いる。接点金属６の一方の端部はさらに折り曲げられて
配線基板５ａの取り付け孔内に収納されるが、この部分
の配線構造やその他の引き回し線が基板保持ブロック８
ａと接触しないように基板保持ブロック８ａには切欠部
８４ａが形成されている。そしてこの切欠部８４や上記
切欠部８７およびガイド孔８８等により、コネクタ配置
部が形成されている。

【００５６】また、基板保持ブロック８ａには、配線基
板５ａおよび押さえ板８６を収納するための基板載置部
８１ａが形成されている。この基板載置部８１ａは、配
線基板５ａおよび押さえ板５４を取り付けた際に、配線
基板５ａの上面が基板保持ブロック８ａの上面とほぼ同
位置となるような深さに設定されている。

【００５７】このように、接点金属６と配線基板５ａと
が一体として構成され、基板保持ブロック８ａと配線基
板５ａの寸法関係により、被測定素子の端子と対応した
位置に自動的に配置されるため、細かな位置決め操作が
不要であり、異なったピッチの端子配列を有する被測定
素子にも基板を交換するだけで容易に対応することがで
きる。また、接点金属自体安価であるため、検査用ジグ
も低コストに作製することができる。

【００５８】本発明のディスプレイ検査ジグを用いて有
機ＥＬディスプレイの視野角を測定する場合、例えば有
機ＥＬディスプレイを本発明の検査ジグに取り付け、さ
らにこれを安定して角度調整ができる視野角測定装置に
取り付ける。そして、正面での輝度を測定した後、これ
を所定の角度（例えば８０度±４０度）回転させ、その
角度の輝度が、正面の輝度を１００とした場合、５０以
上のものを良品とすればよい。また、輝度が半減する角
度を求めてもよい。

【００５９】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、極めて低
コストで、狭ピッチのディスプレイにも対応可能であ
り、異なる端子数やピッチにも容易に適応でき、しかも
コンパクトで視野角等の測定にも容易に対応可能なディ
スプレイ検査ジグを提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のディスプレイ検査ジグの一実施例を示
す組立斜視図である。

【図２】本発明のディスプレイ検査ジグの組立後の状態
を示した外観斜視図である。

【図３】本発明のディスプレイ検査ジグの部分組立て図
である。

【図４】本発明のディスプレイ検査ジグの部分組立て図
である。

【図５】本発明のディスプレイ検査ジグの部分組立て図
である。

【図６】本発明のディスプレイ検査ジグに使用される被
測定素子として有機ＥＬディスプレイの一例を示した平
面図である。

【図７】本発明の他の実施例である接点ブロックの構成
例を示す一部外観斜視図である。

【図８】図７４接点ブロックの概略断面図である。

【符号の説明】

１支持台２保持ブロック３固定ブロック４係止機構５配線基板６接点部材７異方性導電ゴム８基板保持ブロック９補助ブロック１０被測定素子１１係止具固定台１２支柱１３止め孔２１素子配置部２２コネクタ配置部２３位置決めピン２４取り付け孔２５ネジ孔２６ネジ孔２７逃げ孔３１窓部３２素子位置決め部３３テーパー部３４位置決め孔

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被測定素子を収容可能な素子配置部（２
１）を有し、かつこの素子配置部（２１）には被測定素
子の端子と対応する部位に接続用コネクタを配置するた
めのコネクタ配置部（２２）を有する保持ブロック
（２）と、前記保持ブロック（２）上に配置され、被測定素子の表
示部分と対応して設けられた窓部（３１）を有すると共
に、この窓部（３１）以外の部位により被測定素子を位
置決め、固定する固定ブロック（３）と、前記保持ブロック（２）と、固定ブロック（３）とを着
脱自在に固定する係止機構（４）とを有し、前記保持ブロック（２）には、前記コネクタ配置部（２
２）と対応する位置であって、少なくとも被測定素子の
端子と同位置かつ同ピッチに配列された接続用端子とこ
の接続用端子から測定回路へ接続するための回路パター
ンが形成された配線基板（５）を有し、かつ前記コネク
タ配置部（２２）には、被測定素子により押圧されると
共に被測定素子の端子と前記配線基板（５）上の接続用
端子との導通を図るための接続用コネクタが配置される
ディスプレイ検査ジグ。
【請求項２】前記固定ブロック（３）は、前記窓部
（３１）の周囲に被測定素子に対応した形状の素子位置
決め部（３２）を有する請求項１のディスプレイ検査ジ
グ。
【請求項３】前記コネクタ配置部（２２）は、上下に
貫通した長孔であって、前記配線基板（５）が保持ブロ
ック（２）の下部に配置されると共に、この長孔内に接
続用コネクタとして異方性導電ゴムが配置される請求項
１または２のディスプレイ検査ジグ。
【請求項４】前記被測定素子は、扁平な長方形の外形
を有し、かつその両側部の下面側には端子が所定間隔で
配列している請求項１〜３のいずれかのディスプレイ検
査ジグ。
【請求項５】前記異方性導電ゴムは、導電層の許容電
流が５０mA／mm² 以上である請求項１〜４のいずれかの
ディスプレイ検査ジグ。
【請求項６】前記素子配置部（２１）には、被測定素
子の端子に対応して配列された複数の弾性を有する接点
金属（６）が前記配線基板（５ａ）と一体化している接
続用コネクタを有し、かつこの接続用コネクタが被測定
素子の両端子側にそれぞれ形成されているコネクタ配置
部（８４，８７，８８）に配置されている請求項１〜５
のいずれかのディスプレイ検査ジグ。
【請求項７】前記保持ブロック（２）と、固定ブロッ
ク（３）とは位置決め機構（２３，３４）により位置決
め固定される請求項１〜６のいずれかのディスプレイ検
査ジグ。
【請求項８】さらに支持台（１）を有し、前記保持ブ
ロック（２）および固定ブロック（３）は前記係止機構
（４）により支持台（１）上に一体として固定される請
求項１〜７のいずれかのディスプレイ検査ジグ。
【請求項９】前記支持台（１）は視野角測定装置に装
着するための取り付け部を有する請求項１〜８のいずれ
かのディスプレイ検査ジグ。
【請求項１０】前記支持台（１）は測定回路を内在す
る請求項１〜９のいずれかのディスプレイ検査ジグ。