JPH1123630A - 電子部品の抵抗測定装置 - Google Patents

電子部品の抵抗測定装置

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JPH1123630A
JPH1123630A JP9348616A JP34861697A JPH1123630A JP H1123630 A JPH1123630 A JP H1123630A JP 9348616 A JP9348616 A JP 9348616A JP 34861697 A JP34861697 A JP 34861697A JP H1123630 A JPH1123630 A JP H1123630A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】容量が小さい電子部品でも、確実に接触検出が
行なえる電子部品の絶縁抵抗測定装置を提供する。 【解決手段】ターンテーブル２０の保持溝２１に被測定
電子部品（コンデンサ）５を保持し、保持溝２１の底面
に接触電極１３ａ，１３ｂを設けるとともに、ターンテ
ーブル２０の裏面に接触電極１３ａ，１３ｂと接続され
たダミーコンデンサ１２を固定する。測定端子７ａ，７
ｂをコンデンサ５の電極に接触させ、交流信号を印加し
てその出力から接触検出を行なう。接触検出後、測定端
子７ａ，７ｂから直流電圧を印加し、その漏れ電流を検
出することによりコンデンサ５の絶縁抵抗を求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は電子部品の抵抗測定
装置、特に小容量で大抵抗の電子部品の抵抗測定に適し
た装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】コンデンサ等の電子部品の抵抗を測定す
る際、測定端子を被検体である電子部品の電極に接触さ
せる必要があるが、測定端子と電子部品の電極との間に
接触不良があると、測定値は抵抗を正しく示さない。し
かし、電子部品の抵抗が非常に大きい場合には、正常時
と接触不良時とを区別することが困難である。
【０００３】そこで、図１に示すように、測定端子の接
触検出と絶縁抵抗の測定とを行なうことができる絶縁抵
抗測定装置が知られている（例えば特開平４−１３１７
７０号公報参照）。すなわち、１は正弦波発生器、２は
直流測定電源であり、それぞれの一端はアースされ、他
端はスイッチ３によって択一的に切り換えられる。スイ
ッチ３は電流制限抵抗４を介して被検体であるコンデン
サ５の一端に接続され、コンデンサ５の他端はアンプ６
の入力に接続される。なお、コンデンサ５の両端の電極
には測定端子７ａ，７ｂが接触している。アンプ６の出
力はスイッチ８を介してＡ／Ｄ変換器９に接続され、解
析装置（ＣＰＵ）１０と接続されている。また、アンプ
６の出力はＲＭＳ／ＤＣ変換器１１を介してスイッチ８
とも接続されている。スイッチ８をアンプ側へ切り換え
ると、アンプ６はそのままＡ／Ｄ変換器９と接続され、
スイッチ８をＲＭＳ／ＤＣ変換器側へ切り換えると、ア
ンプ６はＲＭＳ／ＤＣ変換器１１を介してＡ／Ｄ変換器
９と接続される。
【０００４】次に、上記測定装置を用いて被検体である
コンデンサ５の絶縁抵抗を測定する方法を説明する。ま
ず、コンデンサ５が正しく測定端子７ａ，７ｂに接触し
ているかを確認するため、スイッチ３を正弦波発生器１
側へ切り換え、周波数が例えば１ｋＨｚ程度の交流信号
を流す。同時に、スイッチ８をＲＭＳ／ＤＣ変換器１１
側へ切り換える。その結果、交流信号がコンデンサ５を
通り、アンプ６で増幅された後、ＲＭＳ／ＤＣ変換器１
１で実効値に対応した直流信号に変換される。そして、
この直流信号をＡ／Ｄ変換器９でデジタル化し、ＣＰＵ
１０で解析する。デジタル化された信号が基準以下であ
れば、接触不良である。
【０００５】接触が良好であれば、次にスイッチ３を直
流電源２側へ切り換えると同時に、スイッチ８をアンプ
６側へ切り換える。これにより、電流制限抵抗４で制限
された電流はコンデンサ５に充電される。充電後、コン
デンサ５の漏れ電流をアンプ６で増幅し、この出力をＡ
／Ｄ変換器９でデジタル化したものをＣＰＵ１０で解析
し、コンデンサ５の絶縁抵抗を計算する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記の接触検出方法で
は、コンデンサ５に交流信号を印加し、コンデンサ５の
容量を検出することで測定端子７ａ，７ｂとコンデンサ
５との接触検出を行なっている。しかしながら、上記の
ような容量検出による接触検出では、被検体５の容量が
微小な場合や容量を持たない場合には、確実な接触検出
を行なうことができないという欠点がある。
【０００７】そこで、本発明の目的は、被測定電子部品
の容量が小さい場合でも、確実に接触検出が行なえる電
子部品の抵抗測定装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、電子部品の電極に測定端子を接触させ、
電子部品に流れる電流を検出することにより電子部品の
抵抗値を測定する装置において、上記電子部品の電極
に、接触検出に必要な静電容量を持つダミーコンデンサ
の電極を接触可能とし、上記測定端子を電子部品の電極
に接触させると同時に、ダミーコンデンサの電極を電子
部品の電極に接触させ、電子部品とダミーコンデンサと
の並列回路に流れる電流を検出するものである。
【０００９】測定端子を電子部品の電極に押しつける
と、電子部品の電極はダミーコンデンサの電極とも接触
する。ここで、測定端子から直流信号または交流信号を
印加すると、この信号は電子部品とダミーコンデンサと
の並列回路に流れるので、並列回路の容量に対応した出
力信号が得られる。並列回路の容量は電子部品の容量と
ダミーコンデンサの容量との和で与えられるので、たと
え電子部品の容量が小さくても、ダミーコンデンサが十
分な容量を有すれば、並列回路から十分な出力を得るこ
とができ、確実に接触検出できる。
【００１０】また、測定端子が電子部品の電極とが接触
していない場合、ダミーコンデンサとも接触していない
ので、接触なしを確実に検出できる。さらに、測定端子
と電子部品の電極との接触が良好であっても、ダミーコ
ンデンサの電極と電子部品の電極との接触が不良である
場合が生じるが、その場合には、並列回路の出力は電子
部品の容量にのみ対応した出力となるので、非常に小さ
く、接触不良を容易に検出できる。
【００１１】上記のように接触検出を行なった後、電子
部品の電極と測定端子とを接触させたまま、ひき続いて
抵抗測定を行なえば、電子部品の抵抗を正確に測定する
ことができる。この場合、測定される抵抗は並列回路の
抵抗であるが、ダミーコンデンサの絶縁抵抗は既知であ
るから、所定の計算式により電子部品の抵抗を容易に求
めることができる。
【００１２】接触検出のために印加される信号として
は、直流または交流のいずれであってもよい。直流信号
を印加した場合には、印加初期に電子部品とダミーコン
デンサとの並列回路に突入電流が流れるので、この突入
電流を検出することで接触検出を行なうことが可能であ
る。また、交流信号を印加した場合には、電子部品とダ
ミーコンデンサとの並列回路に交流信号が流れるので、
この交流信号を検出することで接触検出を行なうことが
できる。いずれにしても、並列回路の容量に対応した出
力信号が得られるので、この出力信号から接触検出を行
なうことができる。
【００１３】実際の絶縁抵抗測定では、ターンテーブル
などの搬送治具を用いて測定を行うことが多い。本発明
はこのような搬送治具に適用することができる。すなわ
ち、請求項４では、一方向に周回駆動される搬送治具
と、上記搬送治具の上面に設けられた電子部品を収納保
持するための保持溝と、上記保持溝の底部に電子部品の
電極と接触可能に設けられた一対の接触電極とを備え、
上記測定端子は上記搬送治具の上方に昇降可能に配置さ
れ、上記搬送治具には上記ダミーコンデンサが一体に組
み込まれ、かつ上記接触電極とダミーコンデンサの電極
とが互いに接続されている。このように構成すれば、搬
送しながら抵抗測定を実施できるので、小型の装置で生
産性を向上させることができる。
【００１４】同様に、請求項５では、一方向に周回駆動
される搬送治具と、上記搬送治具の上面に設けられた電
子部品を収納保持する保持溝と、上記保持溝の底部に電
子部品の電極と接触可能に設けられ、かつ搬送治具の下
面に延設された一対の接触電極と、上記搬送治具の上方
に昇降可能に配置され、保持溝に収納された電子部品を
押圧して電子部品の電極を接触電極と接触させる押圧具
とを備え、上記測定端子は上記搬送治具の下方に、上記
接触電極と接触可能に配置され、上記ダミーコンデンサ
は押圧具に一体に組み込まれ、その端子が上記電子部品
の電極と接触可能であるものである。この場合には、押
圧具にダミーコンデンサを設けることで、請求項４と同
様な作用効果を奏する。
【００１５】本発明が対象とする電子部品は、コンデン
サに限らず容量を持たない部品、例えば抵抗器や、スイ
ッチやリレーのオープン状態の抵抗測定などにも用いる
ことができる。搬送治具としては、電子部品を保持する
保持溝を等ピッチ間隔で円周上に設けたターンテーブル
であってもよいし、電子部品を保持する保持溝を等ピッ
チ間隔で設けた無端ベルトであってもよい。
【００１６】
【発明の実施の形態】本発明の抵抗測定方法の原理を、
図２，図３にしたがって説明する。ここでは、説明を簡
単にするため、測定すべき電子部品としてチップコンデ
ンサ５を用いた。なお、図２において図１の回路と同一
部品には同一符号を付して重複説明を省略する。
【００１７】１２はダミーコンデンサであり、被測定コ
ンデンサ５より大きな容量Ｃｄを持つコンデンサが使用
される。ダミーコンデンサ１２は接触検出に必要な容量
を持つことが必要であり、例えば１ｐＦ以上の容量を持
つものが望ましい。ダミーコンデンサ１２の両端の電極
１２ａ，１２ｂには接触電極１３ａ，１３ｂが予め接続
されており、この接触電極１３ａ，１３ｂは被測定コン
デンサ５の電極５ａ，５ｂと接触可能である。また、測
定端子７ａ，７ｂは従来と同様に被測定コンデンサ５の
電極５ａ，５ｂと接触可能である。被測定コンデンサ５
の電極５ａ，５ｂが測定端子７ａ，７ｂと導通し、かつ
接触電極１３ａ，１３ｂとも導通した状態では、ダミー
コンデンサ１２と被測定コンデンサ５とが並列接続され
る。なお、コンデンサ５，１２は、図３の等価回路に示
すように、それぞれ絶縁抵抗Ｒｍと静電容量Ｃｍ、絶縁
抵抗Ｒｄと静電容量Ｃｄで構成されている。
【００１８】ここで、接触検出方法および抵抗測定方法
について説明する。まず、測定端子７ａ，７ｂを被測定
コンデンサ５の電極５ａ，５ｂに圧接させる。この圧接
力により、被測定コンデンサ５の電極５ａ，５ｂはダミ
ーコンデンサ１２の電極１２ａ，１２ｂと接続された接
触電極１３ａ，１３ｂとも接触する。ここで、スイッチ
３を正弦波発生器１側へ切り換え、例えば１ｋＨｚ程度
の周波数の交流信号を流す。同時に、スイッチ８をＲＭ
Ｓ／ＤＣ変換器１１側へ切り換える。これにより、交流
信号がコンデンサ５とダミーコンデンサ１２との並列回
路を通り、アンプ６で増幅された後、ＲＭＳ／ＤＣ変換
器１１で実効値に対応した直流信号に変換される。そし
て、この直流信号をＡ／Ｄ変換器９でデジタル化し、こ
の信号をＣＰＵ１０で解析することにより、測定端子７
ａ，７ｂと被測定コンデンサ５の電極５ａ，５ｂとの接
触が良好であるか否かを検出できる。
【００１９】接触が良好であれば、次にスイッチ３を直
流電源２側へ切り換えると同時に、スイッチ８をアンプ
６側へ切り換える。これにより、電流制限抵抗４で制限
された電流は被測定コンデンサ５とダミーコンデンサ１
２との並列回路に充電される。充電後、並列回路の漏れ
電流をアンプ６で増幅し、この出力をＡ／Ｄ変換器９で
デジタル化したものをＣＰＵ１０で解析し、被測定コン
デンサ５の絶縁抵抗Ｒｍを計算する。
【００２０】図３から明らかなように、コンデンサ５，
１２は互いに並列接続されているので、並列回路の容量
Ｃおよび抵抗Ｒは次の通りである。 Ｃ＝Ｃｍ＋Ｃｄ ・・・（１） Ｒ＝Ｒｍ・Ｒｄ／（Ｒｍ＋Ｒｄ） ・・・（２） （１）式から明らかなように、ダミーコンデンサ１２は
接触検出に必要な容量Ｃを確保する働きがあり、被測定
コンデンサ５の容量Ｃｍが小さくても、確実な接触検出
を行なうことができる。（２）式を変形すると、被測定
コンデンサ５の絶縁抵抗Ｒｍは次式で求められる。 Ｒｍ＝Ｒ・Ｒｄ／（Ｒｄ−Ｒ） ・・・（３） （２）式または（３）式において、ＲｍとＲｄとが同程
度、またはＲｍ≪Ｒｄの場合には、測定値Ｒから被測定
コンデンサ５の絶縁抵抗Ｒｍを求めることができるが、
Ｒｍ≫Ｒｄの場合には、絶縁抵抗Ｒｍを精度よく求める
ことが困難となる。そのため、ダミーコンデンサ１２に
は十分大きな絶縁抵抗Ｒｄを持つコンデンサを用いる必
要がある。例えば、ダミーコンデンサ１２の絶縁抵抗Ｒ
ｄは、被測定コンデンサ５の絶縁抵抗Ｒｍの例えば１／
１０以上であるのが望ましい。
【００２１】図４〜図６は抵抗測定装置の具体例を示
す。２０は搬送治具の一例であるターンテーブルであ
り、ターンテーブル２０は矢印方向に一定ピッチ間隔で
間欠的に回転駆動される。ターンテーブル２０の外周部
には、図５のように被検体であるチップ型コンデンサ５
を１個ずつ保持できる凹状の保持溝２１が上記駆動ピッ
チと同一ピッチ間隔で設けられている。ターンテーブル
２０の各保持溝２１の底面には、図６のように２個の接
触電極１３ａ，１３ｂが形成されており、これら接触電
極１３ａ，１３ｂはスルーホール電極２２ａ，２２ｂを
介して裏面電極２３ａ，２３ｂに接続されている。そし
て、裏面電極２３ａ，２３ｂにはダミーコンデンサ１２
が架け渡して固定され、半田や導電性接着剤２４等によ
って裏面電極２３ａ，２３ｂと電極１２ａ，１２ｂとが
接続されている。
【００２２】各保持溝２１の内周面には、図６に示すよ
うに空気穴２５が設けられており、各空気穴２５は切替
弁２６を介して負圧源２７および正圧源２８と接続され
ている。保持溝２１にコンデンサ５が収容されている間
は、空気穴２５と負圧源２７とが接続されており、保持
溝２１の内周面にコンデンサ５を吸着保持している。そ
のため、コンデンサ５の電極５ａ，５ｂに対する測定端
子７ａ，７ｂの接触位置が一定となり、安定した特性測
定が可能となるとともに、ターンテーブル２０の回転に
伴う遠心力によってコンデンサ５が保持溝２１から脱落
するのを防止できる。また、保持溝２１からコンデンサ
５を取り出す際には、切替弁２６が正圧源２８側に切り
替わり、エアーを吹き出してコンデンサ５を保持溝２１
から排出するようになっている。
【００２３】ターンテーブル２０の周囲には、コンデン
サ５を保持溝２１へ供給する供給部３０、容量を測定す
る容量測定部３１、コンデンサ５に直流電圧を印加する
予備充電部３２、ＩＲ測定部３３、不良品排出部３４、
良品取出部３５等が設けられている。供給部３０に対応
する位置には、コンデンサ５を１個ずつターンテーブル
２０へ送り込むパーツフィーダなどの供給装置３６が配
置されている。また、容量測定部３１から予備充電部３
２を経てＩＲ測定部３３に至る経路の上部には、図６に
示されるような昇降可能な測定端子がそれぞれ配置され
ている。容量測定部３１で測定された容量Ｃは被測定コ
ンデンサ５とダミーコンデンサ１２との並列回路の容量
であるから、（１）式により被測定コンデンサ５の容量
Ｃｍを計算で容易に求めることができる。
【００２４】また、予備充電部３２を経て予備充電を終
了した後、ＩＲ測定部３３で測定端子７ａ，７ｂを被測
定コンデンサ５の電極５ａ，５ｂに接触させる。ここ
で、図２に示される回路を用いて、まず接触検出を行な
う。接触が良好であると判断された場合には、続いて絶
縁抵抗の測定を行なう。この絶縁抵抗値Ｒは被測定コン
デンサ５とダミーコンデンサ１２との並列回路の絶縁抵
抗であるから、（３）式により被測定コンデンサ５の絶
縁抵抗Ｒｍを計算で求めることができる。
【００２５】上記のようにして求めた被測定コンデンサ
５の容量Ｃｍと絶縁抵抗Ｒｍの何れか一方が基準範囲外
であれば、不良品排出部３４から排出され、容量Ｃｍと
絶縁抵抗Ｒｍとが共に基準範囲内であれば、良品取出部
３５より取り出される。
【００２６】図７はＩＲ測定部３３の他の実施例を示
す。この実施例では、保持溝２１の底部に形成した接触
電極１３ａ，１３ｂを、ターンテーブル２０の底面まで
延設し、この接触電極１３ａ，１３ｂに下方から測定端
子７ａ，７ｂを接触させる。また、保持溝２１に収納さ
れたコンデンサ５の電極５ａ，５ｂに対して、上方から
押圧具４０が押圧可能となっている。押圧具４０にはダ
ミーコンデンサ１２が埋め込んで固定されており、この
ダミーコンデンサ１２の端子１２ａ，１２ｂは押圧具４
０の下面に突出する端子４１，４２と接続されている。
【００２７】測定に際しては、測定端子７ａ，７ｂを上
昇させると同時に、押圧具４０を下降させる。これによ
って、測定端子７ａ，７ｂが接触電極１３ａ，１３ｂに
接触すると同時に、押圧具４０の端子４１，４２がコン
デンサ５の電極５ａ，５ｂに接触する。このように上下
からは挟み付けることによって、確実な接触性を得るこ
とができる。なお、接触検出と絶縁抵抗測定の方法は先
の実施例で説明した通りである。
【００２８】なお、本発明のダミーコンデンサとしては
実施例のようなチップ型コンデンサに限らず、リード付
きコンデンサを用いてもよい。したがって、本発明でい
う電極とは端子を含む概念である。さらに、ダミーコン
デンサは別付部品である必要はなく、搬送治具（例えば
ターンテーブル）自体でダミーコンデンサを構成しても
よい。例えば、図８に示すように、搬送テーブル２０を
所定の誘電率を有する材料で形成し、その保持溝２１の
底面に一定間隔をあけて接触電極１３ａ，１３ｂを形成
することで、接触電極１３ａ，１３ｂ間にダミーコンデ
ンサ１２’を形成してもよい。なお、この場合、接触電
極１３ａ，１３ｂを省略することも可能である。
【００２９】また、本発明にかかる抵抗測定装置は、図
２に示される回路に限るものでなく、他の公知の回路を
用いることができることは勿論である。例えば、図２で
は２個のスイッチで交流回路（接触検出回路）と直流回
路（ＩＲ測定回路）とを切り換えたが、交流信号を直流
回路に重畳して流すことにより、接触検出を行なうよう
にしてもよい。また、接触検出の際、交流出力信号をそ
の実効値に対応した直流信号に変換するためＲＭＳ／Ｄ
Ｃ変換器を用いたが、これに限るものではない。さら
に、接触検出のために交流信号を用いるものに限らず、
直流信号を用い、その突入電流を検出することで接触検
出を行なってもよい。
【００３０】上記実施例では、一対の測定端子を用いた
が、電子部品との接触を確実にするため２対以上の測定
端子を用いてもよい。同様に接触電極も２対以上設けて
もよい。
【００３１】図４では、予め予備充電を行なった後、絶
縁抵抗測定（接触検出を含む）を別のステップで行なう
ようにしたが、これに限るものではなく、特開平４−２
５４７６９号公報のように充電と絶縁抵抗測定（接触検
出を含む）とを同時に行なってもよい。
【００３２】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、被測定電子部品とダミーコンデンサとの並列回
路の容量を検出することで、測定端子の接触検出を行な
うようにしたので、たとえ電子部品の容量が小さくて
も、ダミーコンデンサが接触検出に必要な容量を有すれ
ば、電子部品とダミーコンデンサとの並列回路から十分
な出力を得ることができるので、確実に接触検出でき
る。したがって、従来では困難であった小容量のコンデ
ンサや容量を全く持たない電子部品の接触検出を確実に
行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来のコンデンサの絶縁抵抗測定装置の一例の
回路図である。
【図２】本発明にかかる抵抗測定装置の一例の回路図で
ある。
【図３】図２の抵抗測定装置の要部の等価回路図であ
る。
【図４】本発明にかかる抵抗測定装置の一例の概略平面
図である。
【図５】図４の抵抗測定装置に用いられるターンテーブ
ルの斜視図である。
【図６】図４の抵抗測定装置のＩＲ測定部の断面図であ
る。
【図７】抵抗測定装置のＩＲ測定部の他の実施例の断面
図である。
【図８】ターンテーブルの他の実施例の断面図である。
【符号の説明】
１ 正弦波発生器 ２ 直流測定電源 ５ 被測定コンデンサ ７ａ，７ｂ 測定端子 １２ ダミーコンデンサ １３ａ，１３ｂ 接触電極 ２０ ターンテーブル ２１ 保持溝

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】電子部品の電極に測定端子を接触させ、電
    子部品に流れる電流を検出することにより電子部品の抵
    抗値を測定する装置において、 上記電子部品の電極に、接触検出に必要な静電容量を持
    つダミーコンデンサの電極を接触可能とし、 上記測定端子を電子部品の電極に接触させると同時に、
    ダミーコンデンサの電極を電子部品の電極に接触させ、
    電子部品とダミーコンデンサとの並列回路に流れる電流
    を検出するようにした電子部品の抵抗測定装置。
  2. 【請求項２】上記測定端子から電子部品とダミーコンデ
    ンサとの並列回路に交流または直流の信号を印加し、そ
    の出力から電子部品の電極と測定端子との接触検出を行
    なう接触検出回路が設けられていることを特徴とする請
    求項１に記載の電子部品の抵抗測定装置。
  3. 【請求項３】上記測定端子から電子部品とダミーコンデ
    ンサとの並列回路に直流電圧を印加し、その漏れ電流か
    ら並列回路の抵抗Ｒを測定するＩＲ測定回路が設けら
    れ、 上記抵抗Ｒとダミーコンデンサの絶縁抵抗Ｒｄとから、
    次式を用いて電子部品の抵抗Ｒｍを求めることを特徴と
    する請求項１または２に記載の電子部品の抵抗測定装
    置。 Ｒｍ＝Ｒ・Ｒｄ／（Ｒｄ−Ｒ）
  4. 【請求項４】一方向に周回駆動される搬送治具と、 上記搬送治具の上面に設けられた電子部品を収納保持す
    るための保持溝と、 上記保持溝の底部に電子部品の電極と接触可能に設けら
    れた一対の接触電極とを備え、 上記測定端子は上記搬送治具の上方に昇降可能に配置さ
    れ、 上記搬送治具には上記ダミーコンデンサが一体に組み込
    まれ、かつ上記接触電極とダミーコンデンサの電極とが
    互いに接続されていることを特徴とする請求項１ないし
    ３のいずれかに記載の電子部品の抵抗測定装置。
  5. 【請求項５】一方向に周回駆動される搬送治具と、 上記搬送治具の上面に設けられた電子部品を収納保持す
    る保持溝と、 上記保持溝の底部に電子部品の電極と接触可能に設けら
    れ、かつ搬送治具の下面に延設された一対の接触電極
    と、 上記搬送治具の上方に昇降可能に配置され、保持溝に収
    納された電子部品を押圧して電子部品の電極を接触電極
    と接触させる押圧具とを備え、 上記測定端子は上記搬送治具の下方に、上記接触電極と
    接触可能に配置され、 上記ダミーコンデンサは押圧具に一体に組み込まれ、そ
    の電極が上記電子部品の電極と接触可能であることを特
    徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の電子部品
    の抵抗測定装置。
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