JPH11265155A - 平面型表示装置用基板 - Google Patents
平面型表示装置用基板Info
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- JPH11265155A JPH11265155A JP10068971A JP6897198A JPH11265155A JP H11265155 A JPH11265155 A JP H11265155A JP 10068971 A JP10068971 A JP 10068971A JP 6897198 A JP6897198 A JP 6897198A JP H11265155 A JPH11265155 A JP H11265155A
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- plastic substrate
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- plastic
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 プラスチック基板を用いて平面型表示装置を
作成する際に、プラスチック基板とマトリックスアレイ
部を隔てるアンダーコート膜として、プラスチック基板
との界面での強い結合力を保持しつつ、可視光に対し透
明でかつ絶縁性の良いアンダーコート膜を得ることを目
的とする。 【解決手段】 プラスチック基板上にAl,Ti,Ta
等の金属被膜によって被覆した後、陽極酸化法等により
これらの金属被膜を酸化物に変化させた膜をアンダーコ
ート膜として用いる。段階的エッチングにより酸化物内
に金属被膜を残存させることもできる。プラスチック基
板上に透明導電膜を形成した上に上記アンダーコート膜
を設けることもできる。
作成する際に、プラスチック基板とマトリックスアレイ
部を隔てるアンダーコート膜として、プラスチック基板
との界面での強い結合力を保持しつつ、可視光に対し透
明でかつ絶縁性の良いアンダーコート膜を得ることを目
的とする。 【解決手段】 プラスチック基板上にAl,Ti,Ta
等の金属被膜によって被覆した後、陽極酸化法等により
これらの金属被膜を酸化物に変化させた膜をアンダーコ
ート膜として用いる。段階的エッチングにより酸化物内
に金属被膜を残存させることもできる。プラスチック基
板上に透明導電膜を形成した上に上記アンダーコート膜
を設けることもできる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶セルやEL
(エレクトロルミネッセンス)セル等の平面型表示装置
に用いられる基板に関する。
(エレクトロルミネッセンス)セル等の平面型表示装置
に用いられる基板に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、平面型の表示装置は、上下2
枚のガラス基板により形成された空間内に、液晶材料や
EL材料等を狭持させ、各基板上に作成した電極からこ
れらの材料に電界を印加して、その部分の光学特性を変
化させたり、あるいは発光を行わせて文字や画像の表示
を行っている。
枚のガラス基板により形成された空間内に、液晶材料や
EL材料等を狭持させ、各基板上に作成した電極からこ
れらの材料に電界を印加して、その部分の光学特性を変
化させたり、あるいは発光を行わせて文字や画像の表示
を行っている。
【0003】例えば液晶材料を用いた液晶表示装置は、
上下2枚の電極を有するガラス基板の間隙に、誘電異方
性を有する液晶材料を狭持させて、電極間に電圧を印加
して電界を形成することにより液晶分子の配向方向を制
御し、その部分の光の屈折率や旋光性などの光学特性を
変化させて文字や画像の表示を行っている。
上下2枚の電極を有するガラス基板の間隙に、誘電異方
性を有する液晶材料を狭持させて、電極間に電圧を印加
して電界を形成することにより液晶分子の配向方向を制
御し、その部分の光の屈折率や旋光性などの光学特性を
変化させて文字や画像の表示を行っている。
【0004】また、EL材料を用いた表示装置では、上
下2枚の電極を有するガラス基板の間隙にEL材料を狭
持させ、電極間に電圧を印加してEL材料に電界を印加
することにより、発光中心から導電帯に励起されたキャ
リアが再び発光中心に落ち込む際にエネルギーを光とし
て放出する現象を利用して文字や画像を表示する。
下2枚の電極を有するガラス基板の間隙にEL材料を狭
持させ、電極間に電圧を印加してEL材料に電界を印加
することにより、発光中心から導電帯に励起されたキャ
リアが再び発光中心に落ち込む際にエネルギーを光とし
て放出する現象を利用して文字や画像を表示する。
【0005】上述したごとく、従来の平面型の表示装置
では上下2枚の電極を有するガラス基板で形成される間
隙に、液晶材料やEL材料等を狭持させ、電界間に電圧
を印加することにより表示を行う構造となっている。
では上下2枚の電極を有するガラス基板で形成される間
隙に、液晶材料やEL材料等を狭持させ、電界間に電圧
を印加することにより表示を行う構造となっている。
【0006】従来の平面型表示装置用の2枚の平面基板
としてガラス基板を用いるのは、可視光に対する透明性
を確保するためであるが、ガラスは比重が大きいため、
このガラス基板が平面表示装置を重くする主たる原因と
なっていた。
としてガラス基板を用いるのは、可視光に対する透明性
を確保するためであるが、ガラスは比重が大きいため、
このガラス基板が平面表示装置を重くする主たる原因と
なっていた。
【0007】このような問題を回避するため、平面基板
としてガラスよりも比重の小さいアクリル樹脂、ポリエ
ステル、アリル樹脂等のプラスチック材料からなる基板
を用いて、その上に非晶質シリコンあるいは多結晶シリ
コンを用いた薄膜トランジスタ(TFT)などのスイッ
チング素子を形成してマトリクスアレイ基板を構成し、
この基板を用いて表示装置を作成する試みもなされてい
る。
としてガラスよりも比重の小さいアクリル樹脂、ポリエ
ステル、アリル樹脂等のプラスチック材料からなる基板
を用いて、その上に非晶質シリコンあるいは多結晶シリ
コンを用いた薄膜トランジスタ(TFT)などのスイッ
チング素子を形成してマトリクスアレイ基板を構成し、
この基板を用いて表示装置を作成する試みもなされてい
る。
【0008】しかしながら、一般にプラスチック材料中
にはナトリウムのようなTFTに対して悪影響を及ぼす
不純物が含まれているため、プラスチック基板上に直接
TFTマトリクスアレイを作成すると、これらの不純物
がTFT部分に拡散していき、例えば、TFTのしきい
値電圧を変動させる等の不安定要因となるという問題が
ある。
にはナトリウムのようなTFTに対して悪影響を及ぼす
不純物が含まれているため、プラスチック基板上に直接
TFTマトリクスアレイを作成すると、これらの不純物
がTFT部分に拡散していき、例えば、TFTのしきい
値電圧を変動させる等の不安定要因となるという問題が
ある。
【0009】したがって、プラスチック基板を用いて表
示装置を作成する場合には、プラスチック基板上にいわ
ゆるアンダーコート膜を形成してプラスチック基板とT
FT部間とを絶縁し、TFT部分へのこれらの不純物の
拡散を防止する必要がある。このようなアンダーコート
膜は、この基板を平面型表示装置用に用いる場合には、
当然可視光に対する透明性を備えている必要があり、し
かも、その上に形成されるマトリクスアレイの各素子を
電気的に互いに分離する必要があるため、従来から、電
気絶縁性の良好なシリコン酸化物(SiO2 )が用いら
れていた。
示装置を作成する場合には、プラスチック基板上にいわ
ゆるアンダーコート膜を形成してプラスチック基板とT
FT部間とを絶縁し、TFT部分へのこれらの不純物の
拡散を防止する必要がある。このようなアンダーコート
膜は、この基板を平面型表示装置用に用いる場合には、
当然可視光に対する透明性を備えている必要があり、し
かも、その上に形成されるマトリクスアレイの各素子を
電気的に互いに分離する必要があるため、従来から、電
気絶縁性の良好なシリコン酸化物(SiO2 )が用いら
れていた。
【0010】しかしながら、スパッタリング法やCVD
法で、プラスチック基板上に直接堆積されたシリコン酸
化物膜は、その後の熱処理を含むマトリクスアレイの作
成プロセス中に往々にしてプラスチック基板から剥離し
てしまい製品歩留まりを低下させる大きな原因となって
いた。
法で、プラスチック基板上に直接堆積されたシリコン酸
化物膜は、その後の熱処理を含むマトリクスアレイの作
成プロセス中に往々にしてプラスチック基板から剥離し
てしまい製品歩留まりを低下させる大きな原因となって
いた。
【0011】これはプラスチック基板と酸化物から成る
アンダーコート膜の界面での結合力が弱く、しかもプラ
スチック基板とアンダーコート膜との間には大きな熱膨
張率差が存在するため、プロセス中の熱工程の際にプラ
スチック基板とアンダーコート膜の間で大きな変形差を
生じて、界面での剥脱が起こるためと考えられる。
アンダーコート膜の界面での結合力が弱く、しかもプラ
スチック基板とアンダーコート膜との間には大きな熱膨
張率差が存在するため、プロセス中の熱工程の際にプラ
スチック基板とアンダーコート膜の間で大きな変形差を
生じて、界面での剥脱が起こるためと考えられる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】上述したとおり、従来
の平面型の表示装置ではガラス基板を用いているため、
平面表示装置の重量が大きくなるという問題があった。
の平面型の表示装置ではガラス基板を用いているため、
平面表示装置の重量が大きくなるという問題があった。
【0013】軽量なプラスチック基板を用いることも検
討されたが、プラスチック材料中のナトリウムのような
不純物がTFTに対して悪影響を及ぼすという問題があ
る。このような不純物を遮断するため、プラスチック基
板上に不純物の拡散防止用の可視光を透過するシリコン
酸化物膜のようなアンダーコート膜を形成することも検
討されたが、基板上に直接堆積させた酸化物膜では、プ
ラスチック基板から剥離し易く製品歩留まりを低下させ
るという問題があった。
討されたが、プラスチック材料中のナトリウムのような
不純物がTFTに対して悪影響を及ぼすという問題があ
る。このような不純物を遮断するため、プラスチック基
板上に不純物の拡散防止用の可視光を透過するシリコン
酸化物膜のようなアンダーコート膜を形成することも検
討されたが、基板上に直接堆積させた酸化物膜では、プ
ラスチック基板から剥離し易く製品歩留まりを低下させ
るという問題があった。
【0014】本発明はかかる従来の問題を解消すべくな
されたもので、軽量なプラスチック基板を用いて表示装
置を作成する際に、プラスチック基板との界面における
結合力が強く、作成プロセス中での剥がれが生じにくい
アンダーコート膜を備えた平面型表示装置用基板を提供
することを目的とする。
されたもので、軽量なプラスチック基板を用いて表示装
置を作成する際に、プラスチック基板との界面における
結合力が強く、作成プロセス中での剥がれが生じにくい
アンダーコート膜を備えた平面型表示装置用基板を提供
することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の平面型表
示装置用基板は、少なくとも表面がプラスチックの基板
と、前記基板の少なくとも前記プラスチックが露出する
表面に被着された金属被膜の酸化処理により形成された
金属酸化物被膜とを具備することを特徴とする。 本発
明に使用されるプラスチックとしては、例えば、ガラス
よりも比重の小さいアクリル樹脂、ポリエステル、アリ
ル樹脂等が例示される。プラスチック基板上に非着され
る金属酸化物被膜としては、Al,Ti,Ta等の金属
被膜の酸化物が例示される。これらの金属酸化物被膜の
厚さは通常、50nm〜2μm程度である。
示装置用基板は、少なくとも表面がプラスチックの基板
と、前記基板の少なくとも前記プラスチックが露出する
表面に被着された金属被膜の酸化処理により形成された
金属酸化物被膜とを具備することを特徴とする。 本発
明に使用されるプラスチックとしては、例えば、ガラス
よりも比重の小さいアクリル樹脂、ポリエステル、アリ
ル樹脂等が例示される。プラスチック基板上に非着され
る金属酸化物被膜としては、Al,Ti,Ta等の金属
被膜の酸化物が例示される。これらの金属酸化物被膜の
厚さは通常、50nm〜2μm程度である。
【0016】請求項2記載の平面型表示装置用基板は、
少なくとも表面がプラスチックの基板と、前記基板の少
なくとも前記プラスチックが露出する表面に形成された
金属被膜の酸化処理により形成された金属酸化物被膜
と、前記金属酸化物被膜内に選択的に残存された金属被
膜パターンとを具備することを特徴とする。
少なくとも表面がプラスチックの基板と、前記基板の少
なくとも前記プラスチックが露出する表面に形成された
金属被膜の酸化処理により形成された金属酸化物被膜
と、前記金属酸化物被膜内に選択的に残存された金属被
膜パターンとを具備することを特徴とする。
【0017】上記金属被膜パターンの例としては、金属
酸化物被膜内に形成される、例えば配線、電極等が挙げ
られる。この場合の金属酸化物被膜の厚さは通常、50
nm〜2μm程度、この酸化物被膜の中に残存する金属
被膜の厚さは通常、50nm〜500nm程度である。
酸化物被膜内に形成される、例えば配線、電極等が挙げ
られる。この場合の金属酸化物被膜の厚さは通常、50
nm〜2μm程度、この酸化物被膜の中に残存する金属
被膜の厚さは通常、50nm〜500nm程度である。
【0018】請求項3記載の平面型表示装置用基板は、
少なくとも表面がプラスチックの基板と、前記基板の少
なくとも前記プラスチックが露出する表面に被着された
透明導電性被膜と、前記透明導電性被膜上に形成された
金属被膜の酸化処理により形成された金属酸化物被膜と
を具備することを特徴とする。
少なくとも表面がプラスチックの基板と、前記基板の少
なくとも前記プラスチックが露出する表面に被着された
透明導電性被膜と、前記透明導電性被膜上に形成された
金属被膜の酸化処理により形成された金属酸化物被膜と
を具備することを特徴とする。
【0019】上記透明導電性被膜としては、ITOや酸
化スズ等が例示される。透明導電性被膜の厚さは通常、
100nm〜1μm程度である。
化スズ等が例示される。透明導電性被膜の厚さは通常、
100nm〜1μm程度である。
【0020】請求項4記載の平面型表示装置用基板は、
少なくとも表面がプラスチックの基板と、前記基板の少
なくともプラスチックが露出する表面に被着された金属
被膜の酸化処理により形成された金属酸化物被膜と、前
記金属酸化物被膜上にマトリクス状に形成された走査
線、信号線およびスイッチング素子を具備することを特
徴とする。
少なくとも表面がプラスチックの基板と、前記基板の少
なくともプラスチックが露出する表面に被着された金属
被膜の酸化処理により形成された金属酸化物被膜と、前
記金属酸化物被膜上にマトリクス状に形成された走査
線、信号線およびスイッチング素子を具備することを特
徴とする。
【0021】
【作 用】前述したごとく、プラスチック基板を用いて
平面型表示装置を作成する場合には、プラスチック基板
とTFT部を隔て、TFT部分への不純物拡散を防止す
るいわゆるアンダーコート膜を形成する必要があるが、
アンダーコート膜としてシリコン酸化物等の絶縁体材料
膜を直接堆積させた場合には、これらの絶縁体材料膜は
その後のマトリクスアレイの作成プロセス中に往々にし
てプラスチック基板から剥がれてしまう。
平面型表示装置を作成する場合には、プラスチック基板
とTFT部を隔て、TFT部分への不純物拡散を防止す
るいわゆるアンダーコート膜を形成する必要があるが、
アンダーコート膜としてシリコン酸化物等の絶縁体材料
膜を直接堆積させた場合には、これらの絶縁体材料膜は
その後のマトリクスアレイの作成プロセス中に往々にし
てプラスチック基板から剥がれてしまう。
【0022】これはシリコン酸化物等は、それぞれの構
成原子の電子軌道が化学結合により既に満たされた状態
となっており、新たな結合に寄与する結合手がほとんど
残されていないためプラスチック基板との界面での結合
力が弱く、プラスチック基板とアンダーコート膜の間で
大きな変形差が生じた場合に簡単に界面での剥離が起こ
るためと考えられる。
成原子の電子軌道が化学結合により既に満たされた状態
となっており、新たな結合に寄与する結合手がほとんど
残されていないためプラスチック基板との界面での結合
力が弱く、プラスチック基板とアンダーコート膜の間で
大きな変形差が生じた場合に簡単に界面での剥離が起こ
るためと考えられる。
【0023】一方、プラスチック基板上をAl,Ti,
Ta等の金属被膜によって被覆した場合には、その後に
プラスチック基板が軟化等の致命的な影響を受けない程
度、すなわち200℃以下程度の熱処理を施した場合に
も剥がれが生じないことが実験的に確かめられた。これ
は金属原子には未結合手が多いため、プラスチック基板
上を被覆した金属原子がプラスチック基板表面の原子を
も取り込んだ形で金属結合を構成して、プラスチック基
板と金属被膜との界面で強い結合力が生ずるためと考え
られる。
Ta等の金属被膜によって被覆した場合には、その後に
プラスチック基板が軟化等の致命的な影響を受けない程
度、すなわち200℃以下程度の熱処理を施した場合に
も剥がれが生じないことが実験的に確かめられた。これ
は金属原子には未結合手が多いため、プラスチック基板
上を被覆した金属原子がプラスチック基板表面の原子を
も取り込んだ形で金属結合を構成して、プラスチック基
板と金属被膜との界面で強い結合力が生ずるためと考え
られる。
【0024】請求項1の発明では、プラスチック基板上
に、スパッタリングその他の方法により、Al,Ta等
の金属被膜によって被覆した後、陽極酸化法等の公知の
方法でこれらの金属被膜を酸化物被膜に変化させること
により、プラスチック基板との界面での強い結合力を保
持しつつ、可視光に対し透明でかつ電気絶縁性の良いア
ンダーコート膜が得られる。
に、スパッタリングその他の方法により、Al,Ta等
の金属被膜によって被覆した後、陽極酸化法等の公知の
方法でこれらの金属被膜を酸化物被膜に変化させること
により、プラスチック基板との界面での強い結合力を保
持しつつ、可視光に対し透明でかつ電気絶縁性の良いア
ンダーコート膜が得られる。
【0025】請求項2の発明では、プラスチック基板上
に、スパッタリングその他の方法により、Al,Ta等
の金属被膜によって被覆した後、陽極酸化法その他の公
知の酸化処理法でこれらの金属被膜を酸化させて酸化物
被膜とする際に、マスクを使用して金属薄膜全体が酸化
する領域と金属薄膜の上部の部分のみが酸化されて下部
に金属薄膜が残存する領域を形成して、金属酸化物被膜
の中に、プラスチック基板に密着した金属被膜を選択的
に残存させている。この金属被膜は、配線や電極として
用いられる。
に、スパッタリングその他の方法により、Al,Ta等
の金属被膜によって被覆した後、陽極酸化法その他の公
知の酸化処理法でこれらの金属被膜を酸化させて酸化物
被膜とする際に、マスクを使用して金属薄膜全体が酸化
する領域と金属薄膜の上部の部分のみが酸化されて下部
に金属薄膜が残存する領域を形成して、金属酸化物被膜
の中に、プラスチック基板に密着した金属被膜を選択的
に残存させている。この金属被膜は、配線や電極として
用いられる。
【0026】さらに、請求項3の発明では、酸化スズ、
ITO膜等の透明導電性被膜の上に金属酸化物被膜を形
成させている。酸化スズやITOには、Al,Ti,T
a等の金属被膜と同様に未結合手が多いため、プラスチ
ック基板表面の原子をも取り込んだ形で被膜を構成し、
プラスチック基板との界面で強い結合力が得られる。ま
た、この透明導電性被膜は、その上に形成される金属被
膜を陽極酸化により酸化処理する場合の電極として用い
ることができる。すなわち、金属薄膜を陽極酸化する際
に、金属被膜に直接電極を接続した場合には、電流路か
ら外れた部分の金属被膜が酸化されずに残りアンダーコ
ート膜の透明度を低下させるといった問題があるが、透
明導電性被膜をプラスチック基板に被覆した後、その上
に金属被膜を形成して陽極酸化を行った場合には、透明
導電性被膜が導電路となって均一に陽極酸化を行うこと
ができる。
ITO膜等の透明導電性被膜の上に金属酸化物被膜を形
成させている。酸化スズやITOには、Al,Ti,T
a等の金属被膜と同様に未結合手が多いため、プラスチ
ック基板表面の原子をも取り込んだ形で被膜を構成し、
プラスチック基板との界面で強い結合力が得られる。ま
た、この透明導電性被膜は、その上に形成される金属被
膜を陽極酸化により酸化処理する場合の電極として用い
ることができる。すなわち、金属薄膜を陽極酸化する際
に、金属被膜に直接電極を接続した場合には、電流路か
ら外れた部分の金属被膜が酸化されずに残りアンダーコ
ート膜の透明度を低下させるといった問題があるが、透
明導電性被膜をプラスチック基板に被覆した後、その上
に金属被膜を形成して陽極酸化を行った場合には、透明
導電性被膜が導電路となって均一に陽極酸化を行うこと
ができる。
【0027】また、この透明導電性被膜はプラスチック
絶縁体に帯電した電荷を除電するための電気導体として
も用いることができる。すなわち、プラスチック基板
は、一般にガラスに比ベて2〜3桁程度大きい電気抵抗
率を持った良好な絶縁体であるため、プラスチック基板
を用いて作成された表示装置では取扱い時の摩擦等によ
り基板中に局部的な帯電が生じた場合、ガラス基板を用
いて作成された表示装置に比べて帯電した電荷を除去す
ることが容易でなく、帯電した電荷の影響によって近傍
の表示状態が不安定になるといった問題があるが、請求
項3の発明では、透明導電性被膜を除電のための電極と
して用いることができる。
絶縁体に帯電した電荷を除電するための電気導体として
も用いることができる。すなわち、プラスチック基板
は、一般にガラスに比ベて2〜3桁程度大きい電気抵抗
率を持った良好な絶縁体であるため、プラスチック基板
を用いて作成された表示装置では取扱い時の摩擦等によ
り基板中に局部的な帯電が生じた場合、ガラス基板を用
いて作成された表示装置に比べて帯電した電荷を除去す
ることが容易でなく、帯電した電荷の影響によって近傍
の表示状態が不安定になるといった問題があるが、請求
項3の発明では、透明導電性被膜を除電のための電極と
して用いることができる。
【0028】請求項4記載の発明は、アクティブマトリ
ックス型液晶表示装置に用いられるマトリックス基板で
ある。この基板もアンダーコート膜が、プラスチック基
板上に、金属被膜を被覆した後、酸化物に変化させた絶
縁膜であるので、プラスチック基板との界面での強い結
合力を保持しつつ、可視光に対し透明でかつ電気絶縁性
が良好である。したがって、プラスチック基板の上にI
TOなどにより共通電極を形成した対向基板と電極面を
向い合わせに並行配置して液晶組成物を基板間に保持さ
せることにより、軽量で信頼性の高い液晶表示装置を構
成することができる。
ックス型液晶表示装置に用いられるマトリックス基板で
ある。この基板もアンダーコート膜が、プラスチック基
板上に、金属被膜を被覆した後、酸化物に変化させた絶
縁膜であるので、プラスチック基板との界面での強い結
合力を保持しつつ、可視光に対し透明でかつ電気絶縁性
が良好である。したがって、プラスチック基板の上にI
TOなどにより共通電極を形成した対向基板と電極面を
向い合わせに並行配置して液晶組成物を基板間に保持さ
せることにより、軽量で信頼性の高い液晶表示装置を構
成することができる。
【0029】本発明の平面型表示装置用基板は、プラス
チック基板上に形成するアンダーコート膜として、一旦
プラスチック基板上に、Al,Ti,Taその他の金属
被膜を形成し、これを酸化処理した金属酸化物の被覆を
用いたので、プラスチック基板との界面において強い結
合力を保持しつつ、可視光に対し透明でかつ絶縁性の良
いアンダーコート膜を得ることができる。
チック基板上に形成するアンダーコート膜として、一旦
プラスチック基板上に、Al,Ti,Taその他の金属
被膜を形成し、これを酸化処理した金属酸化物の被覆を
用いたので、プラスチック基板との界面において強い結
合力を保持しつつ、可視光に対し透明でかつ絶縁性の良
いアンダーコート膜を得ることができる。
【0030】したがって、この上に非晶質シリコンある
いは多結晶シリコンを堆積してTFTを作成し、マトリ
クスアレイを構成することができる。また、透明絶縁膜
の一部に電極取り出し窓を設け、この電極取り出し窓を
介して透明導電膜を任意の電位に設定することにより、
プラスチック基板中に局部的な帯電が生じた場合におい
ても、透明導電膜のシールド効果により帯電状態がTF
Tのしきい値電圧に及ぼす影響や、液晶材料、EL材料
等に及ほす影響を防ぎ、表示状態の不安定性を抑制する
ことができる。
いは多結晶シリコンを堆積してTFTを作成し、マトリ
クスアレイを構成することができる。また、透明絶縁膜
の一部に電極取り出し窓を設け、この電極取り出し窓を
介して透明導電膜を任意の電位に設定することにより、
プラスチック基板中に局部的な帯電が生じた場合におい
ても、透明導電膜のシールド効果により帯電状態がTF
Tのしきい値電圧に及ぼす影響や、液晶材料、EL材料
等に及ほす影響を防ぎ、表示状態の不安定性を抑制する
ことができる。
【0031】
【発明の実施の形態】以下に、図面を参照して本発明の
実施形態を説明する。なお、以下の図においては、各図
共通する部分には同一符号を付して重複する説明は省略
する。
実施形態を説明する。なお、以下の図においては、各図
共通する部分には同一符号を付して重複する説明は省略
する。
【0032】(実施の形態1)図1(a)〜(c)は本
発明の一実施例の構造を得るための工程を説明する工程
断面図である。
発明の一実施例の構造を得るための工程を説明する工程
断面図である。
【0033】まず、所定の厚さのプラスチック基板11
を用意し、スパッタリング法を用いてプラスチック基板
11の表面に、厚さ50nmのAl膜12を堆積させた
(図1(a))。
を用意し、スパッタリング法を用いてプラスチック基板
11の表面に、厚さ50nmのAl膜12を堆積させた
(図1(a))。
【0034】次に、Al膜12を堆積させたプラスチッ
ク基板11を、AI2 O3 を溶解させない非浸食性電解
液13を収容する電解槽14中に、対向電極15と向い
合わせに浸漬し、対向電極15に対してAl膜12に正
電圧を印加することによりAl膜12に陽極化成を施し
た(図1(b))。
ク基板11を、AI2 O3 を溶解させない非浸食性電解
液13を収容する電解槽14中に、対向電極15と向い
合わせに浸漬し、対向電極15に対してAl膜12に正
電圧を印加することによりAl膜12に陽極化成を施し
た(図1(b))。
【0035】その結果、プラスチック基板11上のAl
膜12は陽極化成によりAl2 O3膜に変成され、表面
を,Al2 O3 膜16により被覆されたプラスチック基
板が得られた(図1(c))。
膜12は陽極化成によりAl2 O3膜に変成され、表面
を,Al2 O3 膜16により被覆されたプラスチック基
板が得られた(図1(c))。
【0036】このようにして得られた図1(c)に示ス
プラスチック基板において、Al2O3 膜16は可視光
に対して透明であり、絶縁性に優れているとともに、ナ
トリウム等の不純物の拡散に対する優れた阻止能を持っ
ていた。
プラスチック基板において、Al2O3 膜16は可視光
に対して透明であり、絶縁性に優れているとともに、ナ
トリウム等の不純物の拡散に対する優れた阻止能を持っ
ていた。
【0037】したがって、このプラスチック基板11の
上に非晶質シリコンあるいは多結晶シリコンを堆積して
マトリクスアレイを構成する際に優れたアンダーコート
膜として機能した。
上に非晶質シリコンあるいは多結晶シリコンを堆積して
マトリクスアレイを構成する際に優れたアンダーコート
膜として機能した。
【0038】また、この実施例で作成されたAI2 O3
膜16は、プラスチック基板11上を被覆したAl膜が
プラスチック基板11の表面の原子を取り込んだ形で金
属結合を構成した後、その状態を保ったままAl2 O3
膜に変化しているため、その後にプラスチック基板が軟
化等の致命的な影響を受けない程度、すなわち200℃
以下程度の熱処理を施した場合にもプラスチック基板1
1との間で剥がれを生じることがなかった。
膜16は、プラスチック基板11上を被覆したAl膜が
プラスチック基板11の表面の原子を取り込んだ形で金
属結合を構成した後、その状態を保ったままAl2 O3
膜に変化しているため、その後にプラスチック基板が軟
化等の致命的な影響を受けない程度、すなわち200℃
以下程度の熱処理を施した場合にもプラスチック基板1
1との間で剥がれを生じることがなかった。
【0039】(実施形態2)図2は、プラスチック基板
11の表面および裏面の両方にAl2 O3 膜16を形成
させた平面型表示装置用基板である。
11の表面および裏面の両方にAl2 O3 膜16を形成
させた平面型表示装置用基板である。
【0040】このように両面にAl2 O3 膜16を有す
る平面型表示装置用基板は、実施例1の図1(a)の工
程において、プラスチック基板11の表面にAl膜12
を堆積させると共にプラスチック基板11の裏面にも同
様にAl膜12を堆積させ、図1(b)の工程において
表面および裏面の双方のAl膜12に正電圧を印加し、
陽極化成によりAl2 O3 膜に変成させることにより得
られる。
る平面型表示装置用基板は、実施例1の図1(a)の工
程において、プラスチック基板11の表面にAl膜12
を堆積させると共にプラスチック基板11の裏面にも同
様にAl膜12を堆積させ、図1(b)の工程において
表面および裏面の双方のAl膜12に正電圧を印加し、
陽極化成によりAl2 O3 膜に変成させることにより得
られる。
【0041】この実施例の平面型表示装置用基板におい
ては、Al2 O3 膜16がプラスチック基板11の表面
および裏面の両方に作成されているため、基板の熱伸縮
に対する対称性が増し、プロセス中の熱工程の際等にプ
ラスチック基板11とアンダーコート膜16との熱膨張
率差に基づく反り等のウエハの変形の発生を防止する効
果がある。
ては、Al2 O3 膜16がプラスチック基板11の表面
および裏面の両方に作成されているため、基板の熱伸縮
に対する対称性が増し、プロセス中の熱工程の際等にプ
ラスチック基板11とアンダーコート膜16との熱膨張
率差に基づく反り等のウエハの変形の発生を防止する効
果がある。
【0042】(実施形態3)図3(a)〜(e)は本発
明の他の実施例の平面型表示装置用基板を得るための工
程を説明する工程図である。
明の他の実施例の平面型表示装置用基板を得るための工
程を説明する工程図である。
【0043】まず、プラスチック基板11を用意し、ス
プッタリング法を用いてプラスチック基板11表面にl
00nm厚のAl膜12を堆積させた(図3(a))。
プッタリング法を用いてプラスチック基板11表面にl
00nm厚のAl膜12を堆積させた(図3(a))。
【0044】次に、Al膜12を堆積させたプラスチッ
ク基板11を非浸食性電解液(図示せず)中に浸漬し、
電解液中の対向電極(図示せす)に対して正電圧を印加
することによりAl膜12に陽極化成を施し、表面より
50nm分の厚みのAl膜12をAl2 O3 膜16に変
成させた(図3(b))。
ク基板11を非浸食性電解液(図示せず)中に浸漬し、
電解液中の対向電極(図示せす)に対して正電圧を印加
することによりAl膜12に陽極化成を施し、表面より
50nm分の厚みのAl膜12をAl2 O3 膜16に変
成させた(図3(b))。
【0045】さらに、フォトリソグラフィ法を用いてA
l2 O3 膜16上にフォトレジスト膜のマスクパターン
17を作成し(図3(c))、再び非浸食性電解液(図
示せず)中に浸し、電解液中の対向電極(図示せず)に
対して正電圧を印加して陽極化成を行い、マスクパター
ン17に被覆されていない部分のAl膜12をAl2O
3 膜16に変成させた(図3(d))。
l2 O3 膜16上にフォトレジスト膜のマスクパターン
17を作成し(図3(c))、再び非浸食性電解液(図
示せず)中に浸し、電解液中の対向電極(図示せず)に
対して正電圧を印加して陽極化成を行い、マスクパター
ン17に被覆されていない部分のAl膜12をAl2O
3 膜16に変成させた(図3(d))。
【0046】このとき、マスクパターン17により被覆
されていた部分のAl膜12では陽極化成が進まずAl
膜のまま残った。次いでマスクパターン17を除去する
ことにより、表面を一部にAl膜パターン12を含んだ
Al2 O3 膜16により被覆されたプラスチック基板が
得られた(図3(e))。
されていた部分のAl膜12では陽極化成が進まずAl
膜のまま残った。次いでマスクパターン17を除去する
ことにより、表面を一部にAl膜パターン12を含んだ
Al2 O3 膜16により被覆されたプラスチック基板が
得られた(図3(e))。
【0047】図3(e)に示されるプラスチック基板に
おいて、Al2 O3 膜16は図1(c)における場合と
同様に優れたアンダーコート膜として用いることがで
き、この基板の上に非晶質シリコンあるいは多結晶シリ
コンを堆積してマトリクスアレイを構成することができ
た。
おいて、Al2 O3 膜16は図1(c)における場合と
同様に優れたアンダーコート膜として用いることがで
き、この基板の上に非晶質シリコンあるいは多結晶シリ
コンを堆積してマトリクスアレイを構成することができ
た。
【0048】このとき、一部陽極化成させずに残したA
l膜パターンの部分は、その上のAl2 O3 膜16の一
部をエッチング除去し、非晶質シリコンあるいは多結晶
シリコンにより作成されたTFTのドレイン領域等に接
続する配線層として、また光を透過しないことを利用し
て例えは隣接した画素間の境界部分にこのAl膜パター
ンを残すことにより、いわゆるブラックマトリクス層と
して用いることができる。
l膜パターンの部分は、その上のAl2 O3 膜16の一
部をエッチング除去し、非晶質シリコンあるいは多結晶
シリコンにより作成されたTFTのドレイン領域等に接
続する配線層として、また光を透過しないことを利用し
て例えは隣接した画素間の境界部分にこのAl膜パター
ンを残すことにより、いわゆるブラックマトリクス層と
して用いることができる。
【0049】(実施形態4)図4(a)〜(d)は本発
明のさらに他の実施例の平面型表示装置用基板を得るた
めの工程を説明する工程図である。
明のさらに他の実施例の平面型表示装置用基板を得るた
めの工程を説明する工程図である。
【0050】まず、プラスチック基板11を用意し、ス
パッタリング法によりアクリル基板11表面に150n
m厚のITO膜18を堆積させ、続いてスパッタリング
法によりITO膜18上に100nm厚のAl膜12を
堆積させた(図3(a))。次いで、通常のPEP法を
用いてAl膜12の一部をエッチングにより除去してそ
の部分のITO膜18を露出させ、ITO膜18に対す
る電極取り出し窓14を作成した(図3(b))。
パッタリング法によりアクリル基板11表面に150n
m厚のITO膜18を堆積させ、続いてスパッタリング
法によりITO膜18上に100nm厚のAl膜12を
堆積させた(図3(a))。次いで、通常のPEP法を
用いてAl膜12の一部をエッチングにより除去してそ
の部分のITO膜18を露出させ、ITO膜18に対す
る電極取り出し窓14を作成した(図3(b))。
【0051】この状態で全体を、Al2 O3 を溶解させ
ない非浸食性電解液13中に浸し、電解液中の対向電極
15に対してITO膜18に電極取り出し窓19を介し
て正電圧を印加することによりAl膜12に陽極化成を
施し(図3(c))、Al膜12をAl2 O3 膜16に
変成させることにより、表面をITO膜18およびAl
2 O3 膜16で被覆されたプラスチック基板を得た(図
3(d))。
ない非浸食性電解液13中に浸し、電解液中の対向電極
15に対してITO膜18に電極取り出し窓19を介し
て正電圧を印加することによりAl膜12に陽極化成を
施し(図3(c))、Al膜12をAl2 O3 膜16に
変成させることにより、表面をITO膜18およびAl
2 O3 膜16で被覆されたプラスチック基板を得た(図
3(d))。
【0052】上記の方法では、対向電極15に対する正
電圧をITO膜18に印加することにより、Al膜12
を陽極化成しているために、陽極化成が進んで大部分の
Al膜12がAl2 O3 膜16に変成せられた後も電流
路が確保され、Al膜12を完全にAl2 O3 膜16に
変成させることができる。
電圧をITO膜18に印加することにより、Al膜12
を陽極化成しているために、陽極化成が進んで大部分の
Al膜12がAl2 O3 膜16に変成せられた後も電流
路が確保され、Al膜12を完全にAl2 O3 膜16に
変成させることができる。
【0053】図3(d)に示されるプラスチック基板に
おいて、ITO膜18およびAl2O3 膜16は可視光
に対して透明であり、かつAl2 O3 膜16は絶縁性に
優れているため、この構造の上に非晶質シリコンあるい
は多結晶シリコンを堆積してTFTを作成し、マトリク
スアレイを構成することができる。またITO膜18は
10〜50Ωcm程度の優れた導電性を示し、そのシー
ルド効果によりプラスチック基板中に帯電が生じた場合
についても、帯電状態がTFTのしきい値電圧、および
液晶材料、EL材料内部の電界等に及ぼす影響を除去し
て、表示状態が不安定となることを避けることができ
る。
おいて、ITO膜18およびAl2O3 膜16は可視光
に対して透明であり、かつAl2 O3 膜16は絶縁性に
優れているため、この構造の上に非晶質シリコンあるい
は多結晶シリコンを堆積してTFTを作成し、マトリク
スアレイを構成することができる。またITO膜18は
10〜50Ωcm程度の優れた導電性を示し、そのシー
ルド効果によりプラスチック基板中に帯電が生じた場合
についても、帯電状態がTFTのしきい値電圧、および
液晶材料、EL材料内部の電界等に及ぼす影響を除去し
て、表示状態が不安定となることを避けることができ
る。
【0054】上記の工程において、陽極化成を行う際、
正電圧を印加するための電極をITO膜18の端面より
取り出すようにすれば、必ずしも電極取り出し窓19を
作成する必要はなく(図3(b))の工程は省略するこ
とができる。しかし電極取り出し窓19を作成しておく
ことにより、将来的にその電極取り出し窓を利用して、
ITO膜18を任意の電位に固定できる。このようにす
ることにより、プラスチック基板中に多量の電荷量の帯
電が生じた場合についても、この電荷の影響によりIT
O膜18自身の電位が変動させられることがなく、プラ
スチック基板中の帯電状態が表示状態が不安定とするこ
とを有効に避けることができる。
正電圧を印加するための電極をITO膜18の端面より
取り出すようにすれば、必ずしも電極取り出し窓19を
作成する必要はなく(図3(b))の工程は省略するこ
とができる。しかし電極取り出し窓19を作成しておく
ことにより、将来的にその電極取り出し窓を利用して、
ITO膜18を任意の電位に固定できる。このようにす
ることにより、プラスチック基板中に多量の電荷量の帯
電が生じた場合についても、この電荷の影響によりIT
O膜18自身の電位が変動させられることがなく、プラ
スチック基板中の帯電状態が表示状態が不安定とするこ
とを有効に避けることができる。
【0055】(実施形態5)図5は本実施例の一つの応
用例を概略的に示す断面図である。
用例を概略的に示す断面図である。
【0056】図5はプラスチック基板11の表面を被覆
するITO膜18およびAl2 O3膜16の上にゲート
電極21を形成し、ゲート絶縁膜22を介してスイッチ
ング素子である非晶質シリコンTFT23を作成すると
共に、ITO膜を用いて画素電極24を作成してマトリ
クスアレイを構成した状態を示している。ここでTFT
23のドレイン部と画素電極24の一部が金属配線26
により電気的に接続されている。
するITO膜18およびAl2 O3膜16の上にゲート
電極21を形成し、ゲート絶縁膜22を介してスイッチ
ング素子である非晶質シリコンTFT23を作成すると
共に、ITO膜を用いて画素電極24を作成してマトリ
クスアレイを構成した状態を示している。ここでTFT
23のドレイン部と画素電極24の一部が金属配線26
により電気的に接続されている。
【0057】図5の実施例では、Al2 O3 膜16の一
部をエッチング除去して設けられた電極取り出し窓14
からITO膜18に対する配線26が取り出され、配線
26の先端はAl2 O3 膜16の上に作成されたマトリ
クスアレイの基準電位(アース電位)に接続している。
この構造では、ITO膜18はプラスチック基板中に帯
電が生した場合に表示状態が不安定となることを避ける
ためのシールドとして用いられていると共に、画素電極
24に対する付加容量として利用され、画素電極24の
電位を安定させるために用いられている。
部をエッチング除去して設けられた電極取り出し窓14
からITO膜18に対する配線26が取り出され、配線
26の先端はAl2 O3 膜16の上に作成されたマトリ
クスアレイの基準電位(アース電位)に接続している。
この構造では、ITO膜18はプラスチック基板中に帯
電が生した場合に表示状態が不安定となることを避ける
ためのシールドとして用いられていると共に、画素電極
24に対する付加容量として利用され、画素電極24の
電位を安定させるために用いられている。
【0058】なお、以上の実施例においては陽極化成の
工程を、Al2 O3 を溶解させない非浸食性電解液中で
行ったが、このような方法においては作成されるAl2
O3膜厚が印加電圧に比例するため、作成される膜厚が
制限される。より厚いAl2O3 膜厚を必要とする場合
には、僅かにAl2 O3 を溶解させる性質を持つ浸食性
電解液中にて一旦陽極化成を行い、しかる後に非浸食性
電解液中で再度陽極化成を行うことにより得られる。ま
た上記実施例においてはアンダーコート膜を作成するた
めにプラスチック基板上に堆積する金属としてAlを用
いているが、これに限らずTi,Ta,Zr等の他の金
属を用いることができる。またアンダーコート膜を作成
する手段として陽極化成の他、プラズマ酸化法等を用い
ることもできる。
工程を、Al2 O3 を溶解させない非浸食性電解液中で
行ったが、このような方法においては作成されるAl2
O3膜厚が印加電圧に比例するため、作成される膜厚が
制限される。より厚いAl2O3 膜厚を必要とする場合
には、僅かにAl2 O3 を溶解させる性質を持つ浸食性
電解液中にて一旦陽極化成を行い、しかる後に非浸食性
電解液中で再度陽極化成を行うことにより得られる。ま
た上記実施例においてはアンダーコート膜を作成するた
めにプラスチック基板上に堆積する金属としてAlを用
いているが、これに限らずTi,Ta,Zr等の他の金
属を用いることができる。またアンダーコート膜を作成
する手段として陽極化成の他、プラズマ酸化法等を用い
ることもできる。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の平面型表
示装置用基板は、プラスチック基板上をAl,Ti,T
a等の金属被膜によって被覆した後、陽極酸化法等によ
りこれらの金属被膜を酸化物に変化させた膜をアンダー
コート膜として用いているので、プラスチック基板との
界面での強い結合力を保持しつつ、可視光に対し透明で
かつ絶縁性が良好で、不純物の拡散を有効に抑制できる
アンダーコート膜を得ることができる。
示装置用基板は、プラスチック基板上をAl,Ti,T
a等の金属被膜によって被覆した後、陽極酸化法等によ
りこれらの金属被膜を酸化物に変化させた膜をアンダー
コート膜として用いているので、プラスチック基板との
界面での強い結合力を保持しつつ、可視光に対し透明で
かつ絶縁性が良好で、不純物の拡散を有効に抑制できる
アンダーコート膜を得ることができる。
【0060】また、プラスチック基板上に透明導電膜を
形成した後、その上に上記アンダーコート膜を形成した
場合には、プラスチック基板上に透明導電膜および金属
被膜を堆積し、電解液中で対向電極に対する正電圧を透
明導電膜に印加して金属被膜の陽極化成を行うため、陽
極化成が進んで大部分の金属被膜が絶縁膜に変成せられ
た後も電流路が確保され、金属被膜を完全に絶縁膜に変
成させることができる。またこのような構造を用いるこ
とにより、透明導電膜のシールド効果によりプラスチッ
ク基板中に帯電が生した場合でも、その帯電状態がTF
Tのしきい値電圧、および液晶材料、EL材料内部の電
界等に及ぼす影響を除去して表示状態が不安定となるこ
とを避けることができる。
形成した後、その上に上記アンダーコート膜を形成した
場合には、プラスチック基板上に透明導電膜および金属
被膜を堆積し、電解液中で対向電極に対する正電圧を透
明導電膜に印加して金属被膜の陽極化成を行うため、陽
極化成が進んで大部分の金属被膜が絶縁膜に変成せられ
た後も電流路が確保され、金属被膜を完全に絶縁膜に変
成させることができる。またこのような構造を用いるこ
とにより、透明導電膜のシールド効果によりプラスチッ
ク基板中に帯電が生した場合でも、その帯電状態がTF
Tのしきい値電圧、および液晶材料、EL材料内部の電
界等に及ぼす影響を除去して表示状態が不安定となるこ
とを避けることができる。
【図1】本発明の第1の実施例の平面型表示装置用基板
を製造する工程を示す工程図。
を製造する工程を示す工程図。
【図2】本発明の第2の実施例の平面型表示装置用基板
を示す断面図。
を示す断面図。
【図3】本発明の第3の実施例の平面型表示装置用基板
を製造する工程を示す工程図。
を製造する工程を示す工程図。
【図4】本発明の第4の実施例の平面型表示装置用基板
を製造する工程を示す工程面図。
を製造する工程を示す工程面図。
【図5】本発明の第5の実施例の平面型表示装置用基板
を示す断面図。
を示す断面図。
11……プラスチック基板、12……Al膜、13……
電解液、14……電解槽、15……対向電極、16……
Al2 O3 膜、17……レジストパターン、18……I
TO膜、19……電極取り出し窓、21……ゲート電
極、22……ゲート絶縁膜、23……TFT、24……
画素電極、25,26……金属配線
電解液、14……電解槽、15……対向電極、16……
Al2 O3 膜、17……レジストパターン、18……I
TO膜、19……電極取り出し窓、21……ゲート電
極、22……ゲート絶縁膜、23……TFT、24……
画素電極、25,26……金属配線
Claims (4)
- 【請求項1】 少なくとも表面がプラスチックの基板
と、前記基板の少なくとも前記プラスチックが露出する
表面に被着された金属被膜の酸化処理により形成された
金属酸化物被膜とを具備することを特徴とする平面型表
示装置用基板。 - 【請求項2】 少なくとも表面がプラスチックの基板
と、前記基板の少なくとも前記プラスチックが露出する
表面に形成された金属被膜の酸化処理により形成された
金属酸化物被膜と、前記金属酸化物被膜内に選択的に残
存された金属被膜パターンとを具備することを特徴とす
る平面型表示装置用基板。 - 【請求項3】 少なくとも表面がプラスチックの基板
と、前記基板の少なくとも前記プラスチックが露出する
表面に被着された透明導電性被膜と、前記透明導電性被
膜上に形成された金属被膜の酸化処理により形成された
金属酸化物被膜とを具備することを特徴とする平面型表
示装置用基板。 - 【請求項4】 少なくとも表面がプラスチックの基板
と、前記基板の少なくともプラスチックが露出する表面
に被着された金属被膜の酸化処理により形成された金属
酸化物被膜と、前記金属酸化物被膜上にマトリクス状に
形成された走査線、信号線およびスイッチング素子を具
備することを特徴とする平面型表示装置用基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10068971A JPH11265155A (ja) | 1998-03-18 | 1998-03-18 | 平面型表示装置用基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10068971A JPH11265155A (ja) | 1998-03-18 | 1998-03-18 | 平面型表示装置用基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11265155A true JPH11265155A (ja) | 1999-09-28 |
Family
ID=13389077
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10068971A Withdrawn JPH11265155A (ja) | 1998-03-18 | 1998-03-18 | 平面型表示装置用基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11265155A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1998
- 1998-03-18 JP JP10068971A patent/JPH11265155A/ja not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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