JPH11266090A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPH11266090A JPH11266090A JP6637798A JP6637798A JPH11266090A JP H11266090 A JPH11266090 A JP H11266090A JP 6637798 A JP6637798 A JP 6637798A JP 6637798 A JP6637798 A JP 6637798A JP H11266090 A JPH11266090 A JP H11266090A
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- Japan
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- motherboard
- case
- semiconductor device
- ceramic substrate
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- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
- Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 複数の電子部品のうちのパワー素子からの発
熱を効率良く吸収・発散すること。 【解決手段】 発熱性を有する駆動トランジスタ21や
その他の電子部品22が実装されたセラミック基板10
がマザーボード60に実装される。そして、ケース70
からの壁部72がマザーボード60上のセラミック基板
10の近傍で平行、かつマザーボード60に当接しない
長さ寸法にて突設される。このため、ケース70側から
セラミック基板10やマザーボード60側に応力がかか
ることなく、セラミック基板10に実装されている駆動
トランジスタ21等から熱容量の大きなケース70側へ
の熱伝導性が向上される。
熱を効率良く吸収・発散すること。 【解決手段】 発熱性を有する駆動トランジスタ21や
その他の電子部品22が実装されたセラミック基板10
がマザーボード60に実装される。そして、ケース70
からの壁部72がマザーボード60上のセラミック基板
10の近傍で平行、かつマザーボード60に当接しない
長さ寸法にて突設される。このため、ケース70側から
セラミック基板10やマザーボード60側に応力がかか
ることなく、セラミック基板10に実装されている駆動
トランジスタ21等から熱容量の大きなケース70側へ
の熱伝導性が向上される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の電子部品を
実装する基板をマザーボードに実装してなる半導体装置
に関するもので、特に、パワー素子からの熱を効率良く
放熱できる半導体装置に関するものである。
実装する基板をマザーボードに実装してなる半導体装置
に関するもので、特に、パワー素子からの熱を効率良く
放熱できる半導体装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体装置に関連する先行技術文
献としては、特開平8−111575号公報にて開示さ
れたものが知られている。このものでは、金属基板上に
半導体チップそのものを直接実装する所謂、ベアチップ
実装し、その基板に設けられた位置決めピンをマザーボ
ード上の穴に挿入して組付けると共に、パワー素子から
の熱を放熱するための技術が示されている。
献としては、特開平8−111575号公報にて開示さ
れたものが知られている。このものでは、金属基板上に
半導体チップそのものを直接実装する所謂、ベアチップ
実装し、その基板に設けられた位置決めピンをマザーボ
ード上の穴に挿入して組付けると共に、パワー素子から
の熱を放熱するための技術が示されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述のもの
では、複数の電子部品が実装された基板は金属基板であ
るため、基板自身が放熱フィン(ヒートシンク)の機能
を備えてはいるが、自ずと基板の大きさには限界があ
り、基板に実装されたパワー素子からの熱を効率良く吸
収・発散させるに十分な熱容量が得られないという不具
合があった。
では、複数の電子部品が実装された基板は金属基板であ
るため、基板自身が放熱フィン(ヒートシンク)の機能
を備えてはいるが、自ずと基板の大きさには限界があ
り、基板に実装されたパワー素子からの熱を効率良く吸
収・発散させるに十分な熱容量が得られないという不具
合があった。
【0004】そこで、この発明はかかる不具合を解決す
るためになされたもので、複数の電子部品が実装された
基板をマザーボード上に実装し筐体に収容した半導体装
置であって、複数の電子部品のうちのパワー素子からの
発熱を効率良く吸収・発散させることが可能な半導体装
置の提供を課題としている。
るためになされたもので、複数の電子部品が実装された
基板をマザーボード上に実装し筐体に収容した半導体装
置であって、複数の電子部品のうちのパワー素子からの
発熱を効率良く吸収・発散させることが可能な半導体装
置の提供を課題としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1の半導体装置に
よれば、発熱性を有する電子部品を含む複数の電子部品
が実装された基板がマザーボードに実装され、筐体から
壁部がマザーボード上の基板の近傍で平行、かつマザー
ボード面に当接しないように突設される。このため、筐
体側から基板やマザーボード側に応力をかけることな
く、基板に実装されている複数の電子部品から熱容量の
大きな筐体側への熱伝導性を向上することができる。
よれば、発熱性を有する電子部品を含む複数の電子部品
が実装された基板がマザーボードに実装され、筐体から
壁部がマザーボード上の基板の近傍で平行、かつマザー
ボード面に当接しないように突設される。このため、筐
体側から基板やマザーボード側に応力をかけることな
く、基板に実装されている複数の電子部品から熱容量の
大きな筐体側への熱伝導性を向上することができる。
【0006】請求項2の半導体装置では、壁部がコネク
タ部材の近傍に配置されることで、基板の実装された電
子部品とコネクタ部材との距離を最短の長さにできる。
このため、電子部品からの大電流を効率良くコネクタ部
材側に流すことができる。また、筐体に突設された壁部
がコネクタ部材の近傍に配置されることで、コネクタ部
材部分から内部に侵入しようとする電磁波等の外部ノイ
ズを遮断することができる。
タ部材の近傍に配置されることで、基板の実装された電
子部品とコネクタ部材との距離を最短の長さにできる。
このため、電子部品からの大電流を効率良くコネクタ部
材側に流すことができる。また、筐体に突設された壁部
がコネクタ部材の近傍に配置されることで、コネクタ部
材部分から内部に侵入しようとする電磁波等の外部ノイ
ズを遮断することができる。
【0007】請求項3の半導体装置では、筐体側にマザ
ーボードをねじ止めする際、筐体のねじ穴部に対応して
マザーボードに穿設された長穴を利用して、筐体に突設
された壁部が基板から離れた位置で組合わせられ仮止め
されたのち、筐体の壁部がマザーボードの長穴を利用し
てマザーボードに接続された基板側に移動され、壁部が
基板側への接触状態となった位置でねじ止めによる結合
が完了される。このため、筐体とマザーボードとの組合
わせが容易であり、結合完了状態での壁部と基板側との
接触状態が補償されると共に、マザーボード等における
製造上の寸法公差を吸収することもできる。
ーボードをねじ止めする際、筐体のねじ穴部に対応して
マザーボードに穿設された長穴を利用して、筐体に突設
された壁部が基板から離れた位置で組合わせられ仮止め
されたのち、筐体の壁部がマザーボードの長穴を利用し
てマザーボードに接続された基板側に移動され、壁部が
基板側への接触状態となった位置でねじ止めによる結合
が完了される。このため、筐体とマザーボードとの組合
わせが容易であり、結合完了状態での壁部と基板側との
接触状態が補償されると共に、マザーボード等における
製造上の寸法公差を吸収することもできる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を実施
例に基づいて説明する。
例に基づいて説明する。
【0009】図1は本発明の実施の形態の一実施例にか
かる半導体装置の全体構成を示す分解斜視図であり、図
2は図1における要部構成を示す部分断面図である。な
お、以下の図中、同様の構成または相当部分からなるも
のについては同一符号及び同一記号を付し、その詳細な
説明を省略する。
かる半導体装置の全体構成を示す分解斜視図であり、図
2は図1における要部構成を示す部分断面図である。な
お、以下の図中、同様の構成または相当部分からなるも
のについては同一符号及び同一記号を付し、その詳細な
説明を省略する。
【0010】図1及び図2において、本実施例の半導体
装置100では、厚膜用基板として放熱性が高い複数の
セラミック基板10が用いられている。これら複数のセ
ラミック基板10には、発熱性を有するパワー素子とし
ての駆動トランジスタ(パワートランジスタ)21やそ
の他の電子部品22が実装されている。また、複数のセ
ラミック基板10は、更に駆動トランジスタ21で発生
する熱を吸収・発散させるためアルミニウム材料等で形
成された1つの放熱フィン40の所望の位置に熱伝導性
が良好な例えば、シリコン系の接合剤を介して接合され
ている。そして、放熱フィン40はマザーボード60に
ビス49を用いて固定されていると共に、セラミック基
板10からのリード端子31はマザーボード60に穿設
された所定の穴60aに挿入されはんだ付けされてい
る。
装置100では、厚膜用基板として放熱性が高い複数の
セラミック基板10が用いられている。これら複数のセ
ラミック基板10には、発熱性を有するパワー素子とし
ての駆動トランジスタ(パワートランジスタ)21やそ
の他の電子部品22が実装されている。また、複数のセ
ラミック基板10は、更に駆動トランジスタ21で発生
する熱を吸収・発散させるためアルミニウム材料等で形
成された1つの放熱フィン40の所望の位置に熱伝導性
が良好な例えば、シリコン系の接合剤を介して接合され
ている。そして、放熱フィン40はマザーボード60に
ビス49を用いて固定されていると共に、セラミック基
板10からのリード端子31はマザーボード60に穿設
された所定の穴60aに挿入されはんだ付けされてい
る。
【0011】更に、マザーボード60の1辺の周縁近傍
には、コネクタ50がビス59を用いて固定されている
と共に、コネクタ50のリード端子51がはんだ付けさ
れ電気的に接続されている。このように構成されたマザ
ーボード60は、図1に示すような、熱伝導性が高い例
えば、アルミニウム材料等で形成されたケース70内に
収容されたのち、図示しないアルミニウム材料等で形成
されたカバーが被せられ、ねじ止めされることで半導体
装置100が構成される。
には、コネクタ50がビス59を用いて固定されている
と共に、コネクタ50のリード端子51がはんだ付けさ
れ電気的に接続されている。このように構成されたマザ
ーボード60は、図1に示すような、熱伝導性が高い例
えば、アルミニウム材料等で形成されたケース70内に
収容されたのち、図示しないアルミニウム材料等で形成
されたカバーが被せられ、ねじ止めされることで半導体
装置100が構成される。
【0012】このとき、半導体装置100のマザーボー
ド60上で略垂直方向となるように実装されたセラミッ
ク基板10が接合された放熱フィン40の裏面に接触
し、かつマザーボード60面に当接しないように隙間を
有してケース70内側の上面から壁部72が突設されて
いる。このため、マザーボード60側がケース70側か
ら組付けによる応力を受けることがなく、駆動トランジ
スタ21等からの熱がセラミック基板10及び放熱フィ
ン40を介して壁部72から熱容量の大きなケース70
側へ吸収・発散される。
ド60上で略垂直方向となるように実装されたセラミッ
ク基板10が接合された放熱フィン40の裏面に接触
し、かつマザーボード60面に当接しないように隙間を
有してケース70内側の上面から壁部72が突設されて
いる。このため、マザーボード60側がケース70側か
ら組付けによる応力を受けることがなく、駆動トランジ
スタ21等からの熱がセラミック基板10及び放熱フィ
ン40を介して壁部72から熱容量の大きなケース70
側へ吸収・発散される。
【0013】また、半導体装置100のケース70内に
収容されたマザーボード60に固定されたコネクタ50
はその接続端子側のみがケース70の開口部71から外
部に臨むこととなる。このため、本実施例の構成におけ
る半導体装置100では、ケース70内部にコネクタ5
0に略平行に並べて衝立状に放熱フィン40が配置さ
れ、その裏面となる内部側に壁部72が配置されること
となる。つまり、アルミニウム材料等からなるケース7
0及びカバー(図示略)、更には開口部71側も同じ材
料からなる壁部72及び放熱フィン40で囲まれること
で、半導体装置100内部は電磁的に遮蔽されることと
なる。
収容されたマザーボード60に固定されたコネクタ50
はその接続端子側のみがケース70の開口部71から外
部に臨むこととなる。このため、本実施例の構成におけ
る半導体装置100では、ケース70内部にコネクタ5
0に略平行に並べて衝立状に放熱フィン40が配置さ
れ、その裏面となる内部側に壁部72が配置されること
となる。つまり、アルミニウム材料等からなるケース7
0及びカバー(図示略)、更には開口部71側も同じ材
料からなる壁部72及び放熱フィン40で囲まれること
で、半導体装置100内部は電磁的に遮蔽されることと
なる。
【0014】このように、本実施例の半導体装置100
は、発熱性を有する電子部品としての駆動トランジスタ
21を含む複数の電子部品21,22を実装するセラミ
ック基板10と、セラミック基板10を略垂直方向に電
気的に接続するマザーボード60と、マザーボード60
を収容する筐体としてのケース70と、ケース70から
マザーボード60上のセラミック基板10の近傍で平
行、かつマザーボード60面とに隙間を有して突設する
壁部72とを具備するものである。
は、発熱性を有する電子部品としての駆動トランジスタ
21を含む複数の電子部品21,22を実装するセラミ
ック基板10と、セラミック基板10を略垂直方向に電
気的に接続するマザーボード60と、マザーボード60
を収容する筐体としてのケース70と、ケース70から
マザーボード60上のセラミック基板10の近傍で平
行、かつマザーボード60面とに隙間を有して突設する
壁部72とを具備するものである。
【0015】つまり、複数の電子部品21,22が実装
されたセラミック基板10がマザーボード60に実装さ
れる。そして、ケース70から壁部72がマザーボード
60上のセラミック基板10の近傍で平行、かつマザー
ボード60面に当接しない長さ寸法にて突設される。こ
のため、ケース70側からセラミック基板10やマザー
ボード60側に応力がかかることなく、セラミック基板
10に実装されている発熱性を有する駆動トランジスタ
21等から熱容量の大きなケース70側への熱伝導性を
向上することができる。
されたセラミック基板10がマザーボード60に実装さ
れる。そして、ケース70から壁部72がマザーボード
60上のセラミック基板10の近傍で平行、かつマザー
ボード60面に当接しない長さ寸法にて突設される。こ
のため、ケース70側からセラミック基板10やマザー
ボード60側に応力がかかることなく、セラミック基板
10に実装されている発熱性を有する駆動トランジスタ
21等から熱容量の大きなケース70側への熱伝導性を
向上することができる。
【0016】また、本実施例の半導体装置100は、更
に、マザーボード60が外部配線と電気的に接続するコ
ネクタ部材としてのコネクタ50を具備し、壁部72を
コネクタ50の近傍で略平行に並べて配置するものであ
る。つまり、壁部72がコネクタ50の近傍に配置され
ることで、セラミック基板10の駆動トランジスタ21
とコネクタ50との距離を最短の長さにできる。このた
め、駆動トランジスタ21等のパワー素子からの大電流
を効率良くコネクタ50側に流すことができる。また、
ケース70に突設された壁部72がコネクタ50の近傍
に配置されることで、コネクタ50部分から内部に侵入
しようとする電磁波等の外部ノイズを遮断することがで
きる。
に、マザーボード60が外部配線と電気的に接続するコ
ネクタ部材としてのコネクタ50を具備し、壁部72を
コネクタ50の近傍で略平行に並べて配置するものであ
る。つまり、壁部72がコネクタ50の近傍に配置され
ることで、セラミック基板10の駆動トランジスタ21
とコネクタ50との距離を最短の長さにできる。このた
め、駆動トランジスタ21等のパワー素子からの大電流
を効率良くコネクタ50側に流すことができる。また、
ケース70に突設された壁部72がコネクタ50の近傍
に配置されることで、コネクタ50部分から内部に侵入
しようとする電磁波等の外部ノイズを遮断することがで
きる。
【0017】次に、本発明の実施の形態の一実施例にか
かる半導体装置の要部構成における変形例を示す図3を
参照して説明する。
かる半導体装置の要部構成における変形例を示す図3を
参照して説明する。
【0018】図3では、セラミック基板10とケース7
0から突設された壁部72との間に、図2に示すセラミ
ック基板10が接合されている放熱フィン40に代え
て、熱伝導性シート73を介在させたものである。この
ような構成によれば、組付結合時において弾性変形自在
な熱導電性シート73を利用して製造上における複数の
部品の寸法公差を吸収させ、マザーボード60に接続さ
れたセラミック基板10を熱導電性シート73を介して
ケース70に突設された壁部72に確実に接触させるこ
とができる。これにより、熱導電性シート73に比べて
高価な放熱フィン40が不要となり組付工数も削減され
ることでコスト低減を図ることができる。
0から突設された壁部72との間に、図2に示すセラミ
ック基板10が接合されている放熱フィン40に代え
て、熱伝導性シート73を介在させたものである。この
ような構成によれば、組付結合時において弾性変形自在
な熱導電性シート73を利用して製造上における複数の
部品の寸法公差を吸収させ、マザーボード60に接続さ
れたセラミック基板10を熱導電性シート73を介して
ケース70に突設された壁部72に確実に接触させるこ
とができる。これにより、熱導電性シート73に比べて
高価な放熱フィン40が不要となり組付工数も削減され
ることでコスト低減を図ることができる。
【0019】次に、本発明の実施の形態の一実施例にか
かる半導体装置におけるケース70とマザーボード60
との結合状態を示す図4を参照して説明する。なお、図
4(a)におけるセラミック基板10が接合された放熱
フィン40とケース70に突設された壁部72とは、図
2と同様の構成であるため同一符号及び同一記号を付
し、その詳細な説明を省略する。また、図4(b)は図
4(a)のマザーボード60に穿設された長穴形状部分
を示す底面図である。
かる半導体装置におけるケース70とマザーボード60
との結合状態を示す図4を参照して説明する。なお、図
4(a)におけるセラミック基板10が接合された放熱
フィン40とケース70に突設された壁部72とは、図
2と同様の構成であるため同一符号及び同一記号を付
し、その詳細な説明を省略する。また、図4(b)は図
4(a)のマザーボード60に穿設された長穴形状部分
を示す底面図である。
【0020】図4(a)及び図4(b)において、ケー
ス70とマザーボード60とを結合するには、まず、ケ
ース70側の壁部72がマザーボード60側の放熱フィ
ン40に当接しない離れた位置で組合わせられる。次
に、ケース70の側壁74等に設けられているねじ穴部
75に対応しマザーボード60側に穿設された長穴65
を利用しビス79にてマザーボード60がケース70側
に仮止めされる。そして、ケース70とマザーボード6
0とが相対的に移動され、壁部72が放熱フィン40側
に寄せられ接触状態となった位置でマザーボード60が
ケース70側のねじ穴部75にビス79によって結合完
了される。
ス70とマザーボード60とを結合するには、まず、ケ
ース70側の壁部72がマザーボード60側の放熱フィ
ン40に当接しない離れた位置で組合わせられる。次
に、ケース70の側壁74等に設けられているねじ穴部
75に対応しマザーボード60側に穿設された長穴65
を利用しビス79にてマザーボード60がケース70側
に仮止めされる。そして、ケース70とマザーボード6
0とが相対的に移動され、壁部72が放熱フィン40側
に寄せられ接触状態となった位置でマザーボード60が
ケース70側のねじ穴部75にビス79によって結合完
了される。
【0021】このように、本実施例の半導体装置100
は、更に、筐体としてのケース70にはマザーボード6
0をねじ止めするねじ穴部75と、マザーボード60に
はケース70のねじ穴部75に対応しセラミック基板1
0と壁部72とが接近する方向に穿設した長穴65とを
具備するものである。これにより、ケース70側にマザ
ーボード60をねじ止めする際には、まず、ケース70
のねじ穴部75に対応してマザーボード60に長穴65
が穿設されていることを利用して、ケース70に突設さ
れた壁部72がセラミック基板10から離れた位置で組
合わせられビス79によって仮止めされる。こののち、
ケース70即ち、壁部72がマザーボード60に穿設さ
れた長穴65を利用してマザーボード60に接続された
セラミック基板10側に移動され、壁部72がセラミッ
ク基板10側への接触状態となった位置でビス79によ
るねじ止め結合が完了される。このため、ケース70と
マザーボード60との組合わせが容易であり、結合完了
状態での壁部72とセラミック基板10側との接触状態
が補償されると共に、マザーボード60等における製造
上の寸法公差を吸収することもできる。
は、更に、筐体としてのケース70にはマザーボード6
0をねじ止めするねじ穴部75と、マザーボード60に
はケース70のねじ穴部75に対応しセラミック基板1
0と壁部72とが接近する方向に穿設した長穴65とを
具備するものである。これにより、ケース70側にマザ
ーボード60をねじ止めする際には、まず、ケース70
のねじ穴部75に対応してマザーボード60に長穴65
が穿設されていることを利用して、ケース70に突設さ
れた壁部72がセラミック基板10から離れた位置で組
合わせられビス79によって仮止めされる。こののち、
ケース70即ち、壁部72がマザーボード60に穿設さ
れた長穴65を利用してマザーボード60に接続された
セラミック基板10側に移動され、壁部72がセラミッ
ク基板10側への接触状態となった位置でビス79によ
るねじ止め結合が完了される。このため、ケース70と
マザーボード60との組合わせが容易であり、結合完了
状態での壁部72とセラミック基板10側との接触状態
が補償されると共に、マザーボード60等における製造
上の寸法公差を吸収することもできる。
【0022】次に、本発明の実施の形態の一実施例にか
かる半導体装置におけるケース70とマザーボード60
との結合状態の変形例を示す図5を参照し図4と比較し
て説明する。なお、図中、上述の実施例と同様の構成ま
たは相当部分からなるものについては同一符号及び同一
記号を付し、その詳細な説明を省略する。
かる半導体装置におけるケース70とマザーボード60
との結合状態の変形例を示す図5を参照し図4と比較し
て説明する。なお、図中、上述の実施例と同様の構成ま
たは相当部分からなるものについては同一符号及び同一
記号を付し、その詳細な説明を省略する。
【0023】図5において、図4との相違点は、マザー
ボード60をケース70側にねじ止めする際、ケース7
0の側壁74等に設けられているねじ穴部75に対応し
マザーボード60側に穿設された穴が長穴形状でなく丸
穴であって、放熱フィン40とケース70に突設された
壁部72との間に所定厚寸法の弾性変形自在な熱伝導性
シート73が介在されていることである。これにより、
ケース70とマザーボード60との組合わせが容易であ
り、マザーボード60等における製造上の寸法公差が熱
伝導性シート73の弾性変形によって吸収される。ま
た、マザーボード60とケース70との結合完了状態で
の壁部72とセラミック基板10側との接触状態が補償
される。
ボード60をケース70側にねじ止めする際、ケース7
0の側壁74等に設けられているねじ穴部75に対応し
マザーボード60側に穿設された穴が長穴形状でなく丸
穴であって、放熱フィン40とケース70に突設された
壁部72との間に所定厚寸法の弾性変形自在な熱伝導性
シート73が介在されていることである。これにより、
ケース70とマザーボード60との組合わせが容易であ
り、マザーボード60等における製造上の寸法公差が熱
伝導性シート73の弾性変形によって吸収される。ま
た、マザーボード60とケース70との結合完了状態で
の壁部72とセラミック基板10側との接触状態が補償
される。
【0024】ところで、上記実施例では、複数の電子部
品を実装する基板として厚膜用基板の主流である放熱性
に優れたセラミック基板10を用いているが、本発明を
実施する場合には、これに限定されるものではなく、金
属基板等を用いて構成することもできる。
品を実装する基板として厚膜用基板の主流である放熱性
に優れたセラミック基板10を用いているが、本発明を
実施する場合には、これに限定されるものではなく、金
属基板等を用いて構成することもできる。
【0025】また、上記実施例では、ケース70に突設
された壁部72が1列だけであるが、本発明を実施する
場合には、これに限定されるものではなく、セラミック
基板10に対応した位置に必要列数だけ突設することが
できる。
された壁部72が1列だけであるが、本発明を実施する
場合には、これに限定されるものではなく、セラミック
基板10に対応した位置に必要列数だけ突設することが
できる。
【図1】 図1は本発明の実施の形態の一実施例にかか
る半導体装置の概略構成を示す斜視図である。
る半導体装置の概略構成を示す斜視図である。
【図2】 図2は図1における要部構成を示す部分断面
図である。
図である。
【図3】 図3は本発明の実施の形態の一実施例にかか
る半導体装置における要部構成の変形例を示す部分断面
図である。
る半導体装置における要部構成の変形例を示す部分断面
図である。
【図4】 図4は本発明の実施の形態の一実施例にかか
る半導体装置におけるケースとマザーボードとの結合状
態を示す説明図である。
る半導体装置におけるケースとマザーボードとの結合状
態を示す説明図である。
【図5】 図5は本発明の実施の形態の一実施例にかか
る半導体装置におけるケースとマザーボードとの結合状
態の変形例を示す説明図である。
る半導体装置におけるケースとマザーボードとの結合状
態の変形例を示す説明図である。
10 セラミック基板 21 駆動トランジスタ(発熱性を有する電子部品) 50 コネクタ(コネクタ部材) 60 マザーボード 65 長穴 70 ケース(筐体) 72 壁部 75 ねじ穴部 100 半導体装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 若田 秀雄 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内
Claims (3)
- 【請求項1】 発熱性を有する電子部品を含む複数の電
子部品を実装する基板と、 前記基板を略垂直方向に電気的に接続するマザーボード
と、 前記マザーボードを収容する筐体と、 前記筐体から前記マザーボード上の前記基板の近傍で平
行、かつ前記マザーボード面とに隙間を有して突設する
壁部とを具備することを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】 更に、前記マザーボードは外部配線と電
気的に接続するコネクタ部材を具備し、 前記壁部は前記コネクタ部材の近傍で略平行に並べて配
置することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 【請求項3】 更に、前記筐体には前記マザーボードを
ねじ止めするねじ穴部と、 前記マザーボードには前記筐体の前記ねじ穴部に対応し
前記基板と前記壁部とが接近する方向に穿設した長穴と
を具備することを特徴とする請求項1に記載の半導体装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6637798A JPH11266090A (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6637798A JPH11266090A (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11266090A true JPH11266090A (ja) | 1999-09-28 |
Family
ID=13314087
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6637798A Pending JPH11266090A (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11266090A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002271068A (ja) * | 2001-03-14 | 2002-09-20 | Denso Corp | 電子装置 |
| JP2002359448A (ja) * | 2001-06-01 | 2002-12-13 | Nec Corp | 電子回路の実装構造およびその製造方法 |
| US6731001B2 (en) | 2000-08-10 | 2004-05-04 | Denso Corporation | Semiconductor device including bonded wire based to electronic part and method for manufacturing the same |
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| JP2007288211A (ja) * | 2007-06-22 | 2007-11-01 | Aisin Seiki Co Ltd | プリント配線板収納用ケース |
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| JP2018093030A (ja) * | 2016-12-01 | 2018-06-14 | 三菱電機株式会社 | 電子機器および電子機器の製造方法 |
| CN108573941A (zh) * | 2017-03-13 | 2018-09-25 | 欧姆龙株式会社 | 电力转换装置以及电源装置 |
-
1998
- 1998-03-17 JP JP6637798A patent/JPH11266090A/ja active Pending
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| JP2018152993A (ja) * | 2017-03-13 | 2018-09-27 | オムロン株式会社 | 電力変換装置および電源装置 |
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