JPH1127146A - アナログ入力信号の入力装置 - Google Patents
アナログ入力信号の入力装置Info
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- JPH1127146A JPH1127146A JP9177240A JP17724097A JPH1127146A JP H1127146 A JPH1127146 A JP H1127146A JP 9177240 A JP9177240 A JP 9177240A JP 17724097 A JP17724097 A JP 17724097A JP H1127146 A JPH1127146 A JP H1127146A
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- input signal
- signal
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】ソフトウエア処理にて修正をするアナログ入力
装置を提供する。 【解決手段】 調整、計測モードとの切替部130と、
複数の任意のアナログ入力信号を選択するマルチプレク
サ111と、入力信号用増幅回路113、増幅信号を変
換するA/D変換器114と、ディジタル信号を取り込
むプロセッサ116と、上位接続装置119へ伝送する
アナログ入力装置で、調整モードは、任意の各アナログ
入力信号に対する変換後の各ディジタル値を上下限の各
フルスケール値とし、計測モードは、任意のアナログ入
力信号に対応するディジタル値を、両フルスケール値を
補間して求めることを特徴とするものである。
装置を提供する。 【解決手段】 調整、計測モードとの切替部130と、
複数の任意のアナログ入力信号を選択するマルチプレク
サ111と、入力信号用増幅回路113、増幅信号を変
換するA/D変換器114と、ディジタル信号を取り込
むプロセッサ116と、上位接続装置119へ伝送する
アナログ入力装置で、調整モードは、任意の各アナログ
入力信号に対する変換後の各ディジタル値を上下限の各
フルスケール値とし、計測モードは、任意のアナログ入
力信号に対応するディジタル値を、両フルスケール値を
補間して求めることを特徴とするものである。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、アナログ入力信号
の入力方式に係り、特に、アナログ入力信号をA/D変
換器を介してディジタル信号に変換し、この変換信号を
外部へ出力するアナログ入力装置に関するものである。
の入力方式に係り、特に、アナログ入力信号をA/D変
換器を介してディジタル信号に変換し、この変換信号を
外部へ出力するアナログ入力装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図4を参照して、従来技術のアナログ入
力信号の入力方式を説明する。図4は、従来技術におけ
るアナログ入力装置の略示構成図である。アナログ入力
装置1には、各種センサやトランスデューサからのアナ
ログ入力信号(電流または電圧信号)(0)・・・
(n)が取り込まれる。
力信号の入力方式を説明する。図4は、従来技術におけ
るアナログ入力装置の略示構成図である。アナログ入力
装置1には、各種センサやトランスデューサからのアナ
ログ入力信号(電流または電圧信号)(0)・・・
(n)が取り込まれる。
【0003】入力したアナログ入力信号(0)・・・
(n)の内、マルチプレクサ11により選択された一の
入力信号12は、増幅回路13により増幅後、A/D変
換器14にてディジタル信号15に変換される。このよ
うな変換が入力信号の全点(0)・・・(n)について
行われる。前記全点の入力信号について変換されたディ
ジタル信号15は、CPU16にて各点の計測値17と
してメモリ18に格納される。前記計測値17は、接続
されている上位装置19へ伝送される。
(n)の内、マルチプレクサ11により選択された一の
入力信号12は、増幅回路13により増幅後、A/D変
換器14にてディジタル信号15に変換される。このよ
うな変換が入力信号の全点(0)・・・(n)について
行われる。前記全点の入力信号について変換されたディ
ジタル信号15は、CPU16にて各点の計測値17と
してメモリ18に格納される。前記計測値17は、接続
されている上位装置19へ伝送される。
【0004】アナログ入力信号(0)・・・(n)のフ
ルスケール値は、アナログ入力装置によって予め決めら
れており、4〜20mA等通常のトランスデューサの出
力信号に対応されている。
ルスケール値は、アナログ入力装置によって予め決めら
れており、4〜20mA等通常のトランスデューサの出
力信号に対応されている。
【0005】ここで、分解能12ビット(000H〜F
FFH)のA/D変換器を用いた場合、理論的には下限
フルスケール値の4mAを入力した時には、(000
H)へ、上限フルスケール値の20mAを入力した時に
は、(FFFH)へディジタル変換されるように、増幅
回路13が構成されている。
FFH)のA/D変換器を用いた場合、理論的には下限
フルスケール値の4mAを入力した時には、(000
H)へ、上限フルスケール値の20mAを入力した時に
は、(FFFH)へディジタル変換されるように、増幅
回路13が構成されている。
【0006】前記増幅回路13は、構成する各電子部品
の精度によって装置毎の誤差が異なり、増幅されるアナ
ログ信号に誤差が生じる。前記増幅回路毎の増幅誤差を
補正するため、上限調整用可変抵抗器20および下限調
整用可変抵抗器21が設けられ、理論的には増幅回路の
増幅誤差がゼロに近づくように調整が行われていた。
の精度によって装置毎の誤差が異なり、増幅されるアナ
ログ信号に誤差が生じる。前記増幅回路毎の増幅誤差を
補正するため、上限調整用可変抵抗器20および下限調
整用可変抵抗器21が設けられ、理論的には増幅回路の
増幅誤差がゼロに近づくように調整が行われていた。
【0007】また、上記のような調整モードと通常の計
測モードを切り替えるための切替部30が設けられてい
る。更に、調整結果を外部に知らせる手段となる表示部
40も設けられていた。
測モードを切り替えるための切替部30が設けられてい
る。更に、調整結果を外部に知らせる手段となる表示部
40も設けられていた。
【0008】本来、複数の入力信号を取り込むアナログ
入力回路であれば、その入力点毎の調整回路が必要であ
る。したがって、前記入力点数が多いほど個々に前記調
整回路を設けることは、コストの面もしくはハードウエ
アの構成上、制限がある。そこで、この制限に配慮し、
従来例のアナログ入力装置では、複数の入力点に対して
調整回路を1系統だけ設け、許容範囲に幅を持たせて、
全点のフルスケール値がその許容範囲内におさまれば調
整完了としていた。
入力回路であれば、その入力点毎の調整回路が必要であ
る。したがって、前記入力点数が多いほど個々に前記調
整回路を設けることは、コストの面もしくはハードウエ
アの構成上、制限がある。そこで、この制限に配慮し、
従来例のアナログ入力装置では、複数の入力点に対して
調整回路を1系統だけ設け、許容範囲に幅を持たせて、
全点のフルスケール値がその許容範囲内におさまれば調
整完了としていた。
【0009】次に、上記従来技術のアナログ入力装置に
おける補正を行うためのソフトウエア処理を説明する。
図5は、図4のアナログ入力装置での手順を示すPAD
図、図6は、図4のアナログ入力装置のスケーリング図
である。
おける補正を行うためのソフトウエア処理を説明する。
図5は、図4のアナログ入力装置での手順を示すPAD
図、図6は、図4のアナログ入力装置のスケーリング図
である。
【0010】図4に示すように、S001において、図
4の切替部30の調整/計測切替部を確認し、調整モー
ドとする。S002において、さらに、切替部30の上
限/下限切替部を確認して下限調整モードに切り替え、
フルスケール値の下限調整が行われる。前記アナログ入
力信号の下限フルスケール値が、全点に入力されている
状態で以下の処理が行われる。
4の切替部30の調整/計測切替部を確認し、調整モー
ドとする。S002において、さらに、切替部30の上
限/下限切替部を確認して下限調整モードに切り替え、
フルスケール値の下限調整が行われる。前記アナログ入
力信号の下限フルスケール値が、全点に入力されている
状態で以下の処理が行われる。
【0011】S011において、表示部40に伝達する
表示情報の初期値として、図6に示す4mA:000H
の下限許容値内を示す表示情報をセットする。S012
において、入力信号を変換するA/D変換器14を起動
し、入力信号1〜nからマルチプレクサ11により入力
信号12を選択し、増幅器13を介して取り込み、A/
D変換される。
表示情報の初期値として、図6に示す4mA:000H
の下限許容値内を示す表示情報をセットする。S012
において、入力信号を変換するA/D変換器14を起動
し、入力信号1〜nからマルチプレクサ11により入力
信号12を選択し、増幅器13を介して取り込み、A/
D変換される。
【0012】S013において、CPU16にA/D変
換されたディジタル信号15が取り込まれる。S014
において、CPU16で取り込まれた変換値ディジタル
信号15が下限許容値より大であるかどうかを判断す
る。S015において、CPU16で取り込まれた変換
値:ディジタル信号15が下限許容値より小であるかど
うかを判断する。S016において、この結果が表示情
報として表示部40へ伝達される。
換されたディジタル信号15が取り込まれる。S014
において、CPU16で取り込まれた変換値ディジタル
信号15が下限許容値より大であるかどうかを判断す
る。S015において、CPU16で取り込まれた変換
値:ディジタル信号15が下限許容値より小であるかど
うかを判断する。S016において、この結果が表示情
報として表示部40へ伝達される。
【0013】その結果、全点の変換値:ディジタル信号
15が全て下限許容値内に入っていれば調整OK、1点
でも下限許容値外の点があれば、調整NGの旨を表示部
40へ伝達される。これに対して、外部から前記表示部
40の表示を確認しながらOK表示となるように、下限
調整用可変抵抗器20を調整し、図示太線矢印Bの如
く、フルスケール値の調整が正負の方向に行われ、下限
値が調整される。同様にして、S021〜S026にお
いて、同様に上限調整モードでも、図620mA:FF
FHの上限許容値内におさまるように、可変抵抗器21
による図示太線矢印Cの如く、上限フルスケール値の調
整が正負の方向に行われ、上限値が調整される。
15が全て下限許容値内に入っていれば調整OK、1点
でも下限許容値外の点があれば、調整NGの旨を表示部
40へ伝達される。これに対して、外部から前記表示部
40の表示を確認しながらOK表示となるように、下限
調整用可変抵抗器20を調整し、図示太線矢印Bの如
く、フルスケール値の調整が正負の方向に行われ、下限
値が調整される。同様にして、S021〜S026にお
いて、同様に上限調整モードでも、図620mA:FF
FHの上限許容値内におさまるように、可変抵抗器21
による図示太線矢印Cの如く、上限フルスケール値の調
整が正負の方向に行われ、上限値が調整される。
【0014】上記調整モードにて上限・下限の調整が行
われた後、計測モードに切り替えることによって、通常
の計測処理が行われる。S031〜S033において、
図6に示す如く、入力信号kに対してA/D変換値kH
が得られる。これを全点に対して行い、前記各点のA/
D変換値を各点の計測値として、メモリへ格納される。
われた後、計測モードに切り替えることによって、通常
の計測処理が行われる。S031〜S033において、
図6に示す如く、入力信号kに対してA/D変換値kH
が得られる。これを全点に対して行い、前記各点のA/
D変換値を各点の計測値として、メモリへ格納される。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】前記の従来技術では、
計測精度確保のため外部からの調整作業が必要である。
この場合、各点毎に調整できるようにすると調整回路が
増加し、コスト増となり、調整回路を1系統に集約する
と、最大公約数的に調整されるため、精度確保が困難と
なる欠点があった。
計測精度確保のため外部からの調整作業が必要である。
この場合、各点毎に調整できるようにすると調整回路が
増加し、コスト増となり、調整回路を1系統に集約する
と、最大公約数的に調整されるため、精度確保が困難と
なる欠点があった。
【0016】そこで、上記欠点を改善した技術が種々提
案されている。その一つとして、アナログ信号のハード
ウエアの変換誤差をソフトウエア処理にて吸収するため
補正係数を算出し、補正する機能をプロセツサにもたせ
ると共に、そのためのスイッチと前記補正係数を保存す
る不揮発性メモリとを設けたものがある。これに関連す
るものとして特開平05−324856号公報記載の技
術がある。この技術は、増幅回路の誤差調整用抵抗を省
くことができ優れた技術であるが、数個の切り替えスイ
ッチが必要であり、且つ手順が複雑であり、従来技術の
改善が十分とはいえないという問題点があった。
案されている。その一つとして、アナログ信号のハード
ウエアの変換誤差をソフトウエア処理にて吸収するため
補正係数を算出し、補正する機能をプロセツサにもたせ
ると共に、そのためのスイッチと前記補正係数を保存す
る不揮発性メモリとを設けたものがある。これに関連す
るものとして特開平05−324856号公報記載の技
術がある。この技術は、増幅回路の誤差調整用抵抗を省
くことができ優れた技術であるが、数個の切り替えスイ
ッチが必要であり、且つ手順が複雑であり、従来技術の
改善が十分とはいえないという問題点があった。
【0017】本発明の目的は、かかる上記従来技術の問
題点を解決するためになされたもので、簡単な構成で、
ソフトウエア処理にて計測値を上、下限値から補間する
ことにより求めることができ、外部からの調整作業を不
要とし、計測精度を上げるだけでなく、より多点,多種
入力にも対応できるアナログ入力方式のアナログ入力装
置を提供することにある。
題点を解決するためになされたもので、簡単な構成で、
ソフトウエア処理にて計測値を上、下限値から補間する
ことにより求めることができ、外部からの調整作業を不
要とし、計測精度を上げるだけでなく、より多点,多種
入力にも対応できるアナログ入力方式のアナログ入力装
置を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係るアナログ入力方式のアナログ入力装置
の構成は、調整モードと計測モードとの切り替え部と、
複数の任意のアナログ入力信号から一の入力信号を選択
するマルチプレクサと、前記選択された一の入力信号を
増幅する増幅回路、前記増幅された入力信号をディジタ
ル信号に変換するA/D変換器と、前記変換されたディ
ジタル信号を取り込むプロセッサと、前記プロセッサよ
り上位接続装置へ伝送するアナログ入力装置において、
前記調整モードでは、前記任意のアナログ入力信号に対
応するA/D変換後の各ディジタル値を下限、上限の各
フルスケール値とし、前記計測モードでは、前記任意の
アナログ入力信号に対応するディジタル値を、前記両フ
ルスケール値から補間もしくは補外のいずれかで求める
ことを特徴とするものである。
め、本発明に係るアナログ入力方式のアナログ入力装置
の構成は、調整モードと計測モードとの切り替え部と、
複数の任意のアナログ入力信号から一の入力信号を選択
するマルチプレクサと、前記選択された一の入力信号を
増幅する増幅回路、前記増幅された入力信号をディジタ
ル信号に変換するA/D変換器と、前記変換されたディ
ジタル信号を取り込むプロセッサと、前記プロセッサよ
り上位接続装置へ伝送するアナログ入力装置において、
前記調整モードでは、前記任意のアナログ入力信号に対
応するA/D変換後の各ディジタル値を下限、上限の各
フルスケール値とし、前記計測モードでは、前記任意の
アナログ入力信号に対応するディジタル値を、前記両フ
ルスケール値から補間もしくは補外のいずれかで求める
ことを特徴とするものである。
【0019】前記記載のアナログ入力信号のアナログ入
力装置において、前記計測モードで、前記アナログ入力
信号の変化を前記両フルスケール値間では線型関数とし
たことを特徴とするものである。前記記載のアナログ入
力信号のアナログ入力装置において、前記計測モード
で、前記アナログ入力信号の変化を両フルスケール値間
では二次関数としたことを特徴とするものである。
力装置において、前記計測モードで、前記アナログ入力
信号の変化を前記両フルスケール値間では線型関数とし
たことを特徴とするものである。前記記載のアナログ入
力信号のアナログ入力装置において、前記計測モード
で、前記アナログ入力信号の変化を両フルスケール値間
では二次関数としたことを特徴とするものである。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る一実施の形態
を説明する。図1は、本発明の一実施形態に係るアナロ
グ入力装置の略示構成図、図2は、図1のアナログ入力
装置での手順を示すPAD図、図3は、図1のアナログ
入力装置のスケーリング図である。基本的な構成につい
ては、図4で説明した従来例のアナログ入力装置と共通
するので、再度の説明は煩瑣となるので簡単に説明す
る。
を説明する。図1は、本発明の一実施形態に係るアナロ
グ入力装置の略示構成図、図2は、図1のアナログ入力
装置での手順を示すPAD図、図3は、図1のアナログ
入力装置のスケーリング図である。基本的な構成につい
ては、図4で説明した従来例のアナログ入力装置と共通
するので、再度の説明は煩瑣となるので簡単に説明す
る。
【0021】アナログ入力装置1には、アナログ入力信
号(0)・・・(n)が取り込まれる。前記アナログ入
力信号(0)・・・(n)の内、マルチプレクサ111
により選択された一の入力信号112は、増幅回路11
3により増幅後、A/D変換器114にてディジタル信
号115に変換される。このような変換が入力信号の全
点(0)・・・(n)について行われる。前記ディジタ
ル信号115は、CPU116にて各点の計測値117
としてメモリ118に格納され、上位装置119へ伝送
される。
号(0)・・・(n)が取り込まれる。前記アナログ入
力信号(0)・・・(n)の内、マルチプレクサ111
により選択された一の入力信号112は、増幅回路11
3により増幅後、A/D変換器114にてディジタル信
号115に変換される。このような変換が入力信号の全
点(0)・・・(n)について行われる。前記ディジタ
ル信号115は、CPU116にて各点の計測値117
としてメモリ118に格納され、上位装置119へ伝送
される。
【0022】従来の増幅回路13では、当該増幅回路毎
の誤差を補正するため、上限調整用可変抵抗器20およ
び下限調整用可変抵抗器21が設けられていたが、本実
施形態における増幅器130には省略されている。ま
た、上記調整モードと上記計測モードを切り替えるため
の切替部130が設けられるが、調整結果を外部に知ら
せる手段となる表示部は省略されている。上記切替部1
30の調整モードと上記計測モードの切り替えは、図示
しないが、切替部130内に設けられている一個の切り
替えスイッチ、すなわち調整モード/計測モード切り替
えスイッチで行われることになる。
の誤差を補正するため、上限調整用可変抵抗器20およ
び下限調整用可変抵抗器21が設けられていたが、本実
施形態における増幅器130には省略されている。ま
た、上記調整モードと上記計測モードを切り替えるため
の切替部130が設けられるが、調整結果を外部に知ら
せる手段となる表示部は省略されている。上記切替部1
30の調整モードと上記計測モードの切り替えは、図示
しないが、切替部130内に設けられている一個の切り
替えスイッチ、すなわち調整モード/計測モード切り替
えスイッチで行われることになる。
【0023】以下、本発明に係るアナログ入力方式の一
実施形態のソフトウエア処理を説明する。S101にお
いて、切替部130の調整モード/計測モード切替スイ
ッチが調整モードであれば、フルスケール値を取り込む
処理が行われる。S102において、調整モードであ
り、更に切替部130の上限調整/下限調整切替部を確
認し、下限調整モードにおいては、下限フルスケール値
を取り込む処理が行われる。
実施形態のソフトウエア処理を説明する。S101にお
いて、切替部130の調整モード/計測モード切替スイ
ッチが調整モードであれば、フルスケール値を取り込む
処理が行われる。S102において、調整モードであ
り、更に切替部130の上限調整/下限調整切替部を確
認し、下限調整モードにおいては、下限フルスケール値
を取り込む処理が行われる。
【0024】S111において、入力信号を変換するA
/D変換器114が起動される。S112において、下
限フルスケール値となる任意のアナログ入力信号が、各
点に入力されている状態で入力信号1〜nから、マルチ
プレクサ111により入力信号112を選択し、増幅器
113を介して取り込まれA/D変換され、ディジタル
信号115としてCPU16に取り込まれる。
/D変換器114が起動される。S112において、下
限フルスケール値となる任意のアナログ入力信号が、各
点に入力されている状態で入力信号1〜nから、マルチ
プレクサ111により入力信号112を選択し、増幅器
113を介して取り込まれA/D変換され、ディジタル
信号115としてCPU16に取り込まれる。
【0025】S113において、CPU116に取り込
まれたディジタル信号15を下限フルスケール値xkと
して格納する。これを入力信号1〜nの全てについて実
施し、下限フルスケール値xk:kは1からnまでとし
て、n個の下限フルスケール値が格納される。
まれたディジタル信号15を下限フルスケール値xkと
して格納する。これを入力信号1〜nの全てについて実
施し、下限フルスケール値xk:kは1からnまでとし
て、n個の下限フルスケール値が格納される。
【0026】次は、上限調整モードにおいて、同様にし
て、S121〜S123に従い、上限フルスケール値y
kとして、kは1からnまでとして、n個の上限フルス
ケール値が格納される。なお、下限調整モードと上限調
整モードの切り替えは、図示しないが、切替部130内
に設けられている一つの下限調整モード/上限調整モー
ド切り替えスイッチで行われる。
て、S121〜S123に従い、上限フルスケール値y
kとして、kは1からnまでとして、n個の上限フルス
ケール値が格納される。なお、下限調整モードと上限調
整モードの切り替えは、図示しないが、切替部130内
に設けられている一つの下限調整モード/上限調整モー
ド切り替えスイッチで行われる。
【0027】計測モードでは、S130において、調整
モードにて上限、下限フルスケール値の設定が行われた
ことを確認したのち、計測モードに切り替えられ、計測
処理が行われる。S131において、計測処理対象信号
1〜nに対して、A/D変換器114が起動され、当該
A/D変換器でディジタル信号に変換され、S132に
おいて、前記ディジタル信号がCPU116に取り込ま
れる。
モードにて上限、下限フルスケール値の設定が行われた
ことを確認したのち、計測モードに切り替えられ、計測
処理が行われる。S131において、計測処理対象信号
1〜nに対して、A/D変換器114が起動され、当該
A/D変換器でディジタル信号に変換され、S132に
おいて、前記ディジタル信号がCPU116に取り込ま
れる。
【0028】S133において、計測処理対象信号1〜
nにそれぞれ応じて、前記S113、前記S123で格
納した下限フルスケール値xk、上限フルスケール値y
kを用いて補間もしくは補外される。いま、前記補間方
法について図3を参照して詳しく説明する。いま、計測
処理対象信号1〜nの内、k回路にアナログ入力信号k
が入力したものとする。
nにそれぞれ応じて、前記S113、前記S123で格
納した下限フルスケール値xk、上限フルスケール値y
kを用いて補間もしくは補外される。いま、前記補間方
法について図3を参照して詳しく説明する。いま、計測
処理対象信号1〜nの内、k回路にアナログ入力信号k
が入力したものとする。
【0029】前記S113、S123で格納したk回路
のアナログ信号kに対応する下限フルスケール値、上限
フルスケール値xk、ykがそれぞれ呼出される。前記
呼出された両フルスケール値xk、yk間を直線で結
び、補間法で前記入力信号kに対する変換値kHを、下
記式(1)の補間式に、A/D変換されたディジタル変
換値を代入して計測値を算出する。この計測値をメモリ
へ格納する。
のアナログ信号kに対応する下限フルスケール値、上限
フルスケール値xk、ykがそれぞれ呼出される。前記
呼出された両フルスケール値xk、yk間を直線で結
び、補間法で前記入力信号kに対する変換値kHを、下
記式(1)の補間式に、A/D変換されたディジタル変
換値を代入して計測値を算出する。この計測値をメモリ
へ格納する。
【数1】 なお、上記は補間について説明したが、補外についても
同様であり、補間と補外の場合では、上式の(変換値−
xk)の正負の符号がことなる。
同様であり、補間と補外の場合では、上式の(変換値−
xk)の正負の符号がことなる。
【0030】なお、上式における誤差を検討すると、下
限,上限フルスーケルとなるアナログ信号は、同一の増
幅回路を経由するため、 上記式(1)における下記 (変換値−xk)/(yk−xk) の誤差は、相互に相殺となり零となり、高精度で変換す
ることができる。
限,上限フルスーケルとなるアナログ信号は、同一の増
幅回路を経由するため、 上記式(1)における下記 (変換値−xk)/(yk−xk) の誤差は、相互に相殺となり零となり、高精度で変換す
ることができる。
【0031】また、上記説明においては、両フルスケー
ル値xk、yk間を一次線型関数とし、補間法もしくは
補外法を適用したが、回路部品の温度特性の誤差等を考
慮して、前記一次線型関数を二次関数f(x)として、
補間法もしくは補外法を適用しても差し支えない。この
場合には、二次関数f(x)をf(x1)、・・・f
(xn)を通る多項式で近似する。
ル値xk、yk間を一次線型関数とし、補間法もしくは
補外法を適用したが、回路部品の温度特性の誤差等を考
慮して、前記一次線型関数を二次関数f(x)として、
補間法もしくは補外法を適用しても差し支えない。この
場合には、二次関数f(x)をf(x1)、・・・f
(xn)を通る多項式で近似する。
【0032】
【発明の効果】以上説明した如く、本発明の構成によれ
ば、ソフトウエア処理にて計測値の修正を行うことによ
り、外部からの調整作業が不要となるため、外部からの
調整手段である可変抵抗器,表示部等が不要となる。ま
た、調整モードでの上限,下限のアナログ入力値をその
ままフルスケール値として個別に設定して取り込み、こ
のフルスケール値から補間により、各入力点に対し、個
別に各ハードウエアの誤差を調整したと同様の精度を有
する計測値が得られる効果がある。また、各点調整が可
能となり、さらに多点,多種のアナログ入力が可能とな
る。
ば、ソフトウエア処理にて計測値の修正を行うことによ
り、外部からの調整作業が不要となるため、外部からの
調整手段である可変抵抗器,表示部等が不要となる。ま
た、調整モードでの上限,下限のアナログ入力値をその
ままフルスケール値として個別に設定して取り込み、こ
のフルスケール値から補間により、各入力点に対し、個
別に各ハードウエアの誤差を調整したと同様の精度を有
する計測値が得られる効果がある。また、各点調整が可
能となり、さらに多点,多種のアナログ入力が可能とな
る。
【図1】本発明の一実施形態に係るアナログ入力装置の
略示構成図である。
略示構成図である。
【図2】図1のアナログ入力装置での手順を示すPAD
図である。
図である。
【図3】図1のアナログ入力装置のスケーリング図であ
る。
る。
【図4】従来技術におけるアナログ入力装置の略示構成
図である。
図である。
【図5】図4のアナログ入力装置での手順を示すPAD
図である。
図である。
【図6】図4のアナログ入力装置のスケーリング図であ
る。
る。
1,101…アナログ入力装置、11,111…マルチ
プレクサ、12,112…入力信号、13,113…増
幅回路、14,114…A/D変換器、15,115…
ディジタル信号、16,116…CPU、17,117
…計測値、18,118…メモリ、19,119…上位
装置、20,21…可変抵抗器、30,130…切替
部、40…表示部
プレクサ、12,112…入力信号、13,113…増
幅回路、14,114…A/D変換器、15,115…
ディジタル信号、16,116…CPU、17,117
…計測値、18,118…メモリ、19,119…上位
装置、20,21…可変抵抗器、30,130…切替
部、40…表示部
Claims (3)
- 【請求項1】 調整モードと計測モードとの切り替え部
と、複数の任意のアナログ入力信号から一の入力信号を
選択するマルチプレクサと、前記選択された一の入力信
号を増幅する増幅回路と、前記増幅された入力信号をデ
ィジタル信号に変換するA/D変換器と、前記変換され
たディジタル信号を取り込むプロセッサと、前記プロセ
ッサより上位接続装置へ伝送するアナログ入力装置にお
いて、 前記調整モードでは、前記任意のアナログ入力信号に対
応するA/D変換後の各ディジタル値を下限、上限の各
フルスケール値とし、 前記計測モードでは、前記任意のアナログ入力信号に対
応するディジタル値を、前記両フルスケール値から補間
もしくは補外のいずれかで求めることを特徴とするアナ
ログ入力信号の入力装置。 - 【請求項2】 請求項1記載のアナログ入力信号のアナ
ログ入力装置において、 前記計測モードで、前記アナログ入力信号の変化を前記
両フルスケール値間では線型関数としたことを特徴とす
るアナログ入力信号の入力装置。 - 【請求項3】 請求項1記載のアナログ入力信号のアナ
ログ入力装置において、 前記計測モードで、前記アナログ入力信号の変化を両フ
ルスケール値間では二次関数としたことを特徴とするア
ナログ入力信号の入力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9177240A JPH1127146A (ja) | 1997-07-02 | 1997-07-02 | アナログ入力信号の入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9177240A JPH1127146A (ja) | 1997-07-02 | 1997-07-02 | アナログ入力信号の入力装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1127146A true JPH1127146A (ja) | 1999-01-29 |
Family
ID=16027608
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9177240A Pending JPH1127146A (ja) | 1997-07-02 | 1997-07-02 | アナログ入力信号の入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1127146A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015125020A (ja) * | 2013-12-25 | 2015-07-06 | 株式会社東芝 | 電流センサ、電流測定モジュール及びスマートメータ |
| CN114659545A (zh) * | 2022-04-29 | 2022-06-24 | 东风电驱动系统有限公司 | 一种双量程自适应测量方法及装置 |
-
1997
- 1997-07-02 JP JP9177240A patent/JPH1127146A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015125020A (ja) * | 2013-12-25 | 2015-07-06 | 株式会社東芝 | 電流センサ、電流測定モジュール及びスマートメータ |
| US10254315B2 (en) | 2013-12-25 | 2019-04-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Current sensor, current measuring module, and smart meter |
| CN114659545A (zh) * | 2022-04-29 | 2022-06-24 | 东风电驱动系统有限公司 | 一种双量程自适应测量方法及装置 |
| CN114659545B (zh) * | 2022-04-29 | 2024-01-09 | 东风电驱动系统有限公司 | 一种双量程自适应测量方法及装置 |
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