JPH11284191A5 - - Google Patents

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【発明の名称】薄膜トランジスタおよびその製造方法
【0011】
このような構成の薄膜トランジスタの製造方法では、たとえば、前記チャネル形成領域を形成するためのアモルファス半導体膜に結晶化処理を行って前記基板の面外方向に柱軸を向ける柱状構造の多結晶半導体膜を形成した後、該多結晶半導体膜をパターニングして柱軸に略平行な側端面を露出させ、しかる後に、前記ゲート絶縁膜および前記ゲート電極を順次形成する(請求項5)。

Claims (8)

  1. 基板上にソース・ドレイン領域の一方となる第1領域と他方となる第2領域との間にチャネルを形成するチャネル形成領域、および該チャネル形成領域に対してゲート絶縁膜を介して対峙するゲート電極を有する薄膜トランジスタであって、
    前記チャネル形成領域は、アモルファス半導体膜に対する結晶化処理により形成されて前記基板の面外方向に柱軸を向ける柱状構造の多結晶半導体膜から構成され、
    前記ゲート電極は、前記チャネル形成領域を構成する多結晶半導体膜の柱軸に略平行な側端面に対して前記ゲート絶縁膜を介して対峙していることを特徴とする薄膜トランジスタ。
  2. 請求項1において、前記第1領域および前記第2領域は、前記チャネル形成領域を構成する多結晶半導体膜の下層側および上層側にそれぞれ形成された下層側半導体膜および上層側半導体膜から構成されていることを特徴とする薄膜トランジスタ。
  3. 請求項2において、前記チャネル形成領域を構成する多結晶半導体膜と前記上層側半導体膜とは、同一のパターニング形状を有していることを特徴とする薄膜トランジスタ。
  4. 請求項1ないし3のいずれかにおいて、前記チャネル形成領域を構成する多結晶半導体膜は、チャネルを形成する側端面が前記下層側半導体膜の形成領域上に位置し、
    当該多結晶半導体膜の側端面と前記下層側半導体膜との間には、これらの膜間にわずかに割り込む絶縁膜を有していることを特徴とする薄膜トランジスタ。
  5. 請求項1または2に規定する薄膜トランジスタの製造方法であって、前記チャネル形成領域を形成するためのアモルファス半導体膜に結晶化処理を行って前記基板の面外方向に柱軸を向ける柱状構造の多結晶半導体膜を形成した後、該多結晶半導体膜をパターニングして柱軸に略平行な側端面を露出させ、しかる後に、前記ゲート絶縁膜および前記ゲート電極を順次形成することを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。
  6. 請求項3に規定する薄膜トランジスタの製造方法であって、前記チャネル形成領域および前記上層側半導体膜を形成するための各半導体膜をこの順に形成した後、該2つの半導体膜を一括してパターニングすることを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。
  7. 請求項4に規定する薄膜トランジスタの製造方法であって、前記下層側半導体膜および前記絶縁膜をこの順に形成した後、該絶縁膜を所定の形状にパターニングした後に、前記基板の全面に前記チャネル形成領域を形成する前記多結晶半導体膜を形成し、しかる後に、当該多結晶半導体膜をパターニングすることを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。
  8. 基板上にソース・ドレイン領域の一方となる第1領域と他方となる第2領域との間にチャネルを形成するチャネル形成領域、および該チャネル形成領域に対してゲート絶縁膜を介して対峙するゲート電極を有する薄膜トランジスタであって、
    前記チャネル形成領域は、前記基板の面外方向に柱軸を向ける柱状構造の多結晶半導体膜から構成され、
    前記ゲート電極は、前記チャネル形成領域を構成する多結晶半導体膜の柱軸に略平行な側端面に対して前記ゲート絶縁膜を介して対峙していることを特徴とする薄膜トランジスタ。
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