JPH11311643A - 電圧検出回路 - Google Patents
電圧検出回路Info
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- JPH11311643A JPH11311643A JP10378195A JP37819598A JPH11311643A JP H11311643 A JPH11311643 A JP H11311643A JP 10378195 A JP10378195 A JP 10378195A JP 37819598 A JP37819598 A JP 37819598A JP H11311643 A JPH11311643 A JP H11311643A
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Classifications
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- G—PHYSICS
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- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is DC
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/24—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
- G05F3/242—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
- G05F3/247—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a voltage or current as a predetermined function of the supply voltage
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Abstract
準電圧へつながる反転入力、非反転入力、出力を有する
第1差動増幅器349、第1差動増幅器出力へつながる
制御端子、電源へつながる第1電流端子、第1差動増幅
器非反転入力へつながる第2電流端子を有する第1トラ
ンジスタ356、第1トランジスタ第2電流端子へつな
がる第1端子と、第2端子とを有する第1負荷358、
第1負荷第2端子へつながる第1端子、第2基準電位へ
つながる第2端子を有する第2負荷360、反転入力、
第2負荷第1端子へつながる非反転入力、検出出力を有
する第2差動増幅器391、第1差動増幅器出力へつな
がる制御端子、電源へつながる第1電流端子、第2差動
増幅器反転入力へつながる第2電流端子を有する第2ト
ランジスタ382、第2差動増幅器反転入力へつながる
第1端子、電圧レベル検出地点へつながる第2端子を有
する第3負荷386、384を含む。
Description
出に関するものであって、更に詳細には、チップ上で発
生した電圧レベルの検出と、チップ上で発生したそれら
電圧の制御とに関する。
に数多くの電圧レベルが必要とされる。しかし、集積回
路の入力/出力接続システムを簡略化するために(すな
わち、ピン数を最小化するために)、顧客は1本のアー
スピンと1本の電力供給入力ピンとを備える非常に簡略
化された電源を要求する。集積回路の製造業者はこれに
応えて、要求特性を満足するためにチップ上で電圧を発
生する集積回路を提供するようになった。そのようなチ
ップ上での電圧発生器は、電圧を昇圧したり、または電
圧を適切なレベルに下げたりするために電流ポンプ等の
装置を使用する。そのような電圧発生器は、集積回路上
へ正しい電圧を提供できるために注意深く調整される必
要がある。
呼ばれる、電源電圧よりも高く昇圧される電圧の電圧レ
ベルを決定するための従来技術による電圧制御装置の模
式図である。VppはPチャンネルトランジスタ10のド
レインへつながれている。Pチャンネルトランジスタ1
0のゲートはPチャンネルトランジスタ10のソースへ
つながれている。Pチャンネルトランジスタ10のソー
スはPチャンネルトランジスタ12のドレインへつなが
れている。トランジスタ12のゲートは基準電位VREF
へつながれている。トランジスタ12のソースはPチャ
ンネルトランジスタ14のドレインへつながれ、後者の
ゲートはアース電位へ、またそれのソースもアース電位
へつながれている。この構成において、もしもトランジ
スタ12のソース電圧がVRE FよりもVt1個分以上高く
引き上げられれば、ノード16上の電圧は高レベルへプ
ルアップされるが、そうでなければ、ノード16の電圧
はアース近くへプルダウンされる。
ゲートへつながれている。ノード16の出力がN形トラ
ンジスタ20へつながれている。これらのトランジスタ
は差動増幅器の形に接続されており、トランジスタ22
および24のゲートへ供給される電圧によってスイッチ
オンおよびオフされる。P形トランジスタ26および2
8はこの差動増幅器のためのプルアップ電位を供給す
る。この差動増幅器の出力は、Pチャンネルトランジス
タ30およびNチャンネルトランジスタ31のゲートへ
供給される。トランジスタ30および31は相補型イン
バータを提供しており、それはP形トランジスタ34お
よび36によってプルアップされ、またNチャンネルト
ランジスタ38および40によってプルダウンされる。
トランジスタ22、38、および34は幅の狭い低電流
トランジスタである。トランジスタ24、36、および
40は幅の広い大電流の駆動トランジスタである。トラ
ンジスタ30および31を含むインバータのプルアップ
側では、トランジスタ36が強いプルアップを提供し、
トランジスタ34は弱いプルアップを提供する。インバ
ータの対トランジスタ30および31の出力が高レベル
の時は、それはトランジスタ20のゲート上の電圧が、
トランジスタ18のゲート上に供給されるVRE F2よりも
低いことを意味する。このことはVPPを適正な電圧レベ
ルへ戻すためにポンピングが必要であることを意味す
る。
される高電圧は低出力へ反転されて、それがNORゲー
ト44に高出力をもたらし、それが更にインバータ46
によって反転されて低出力を提供することになる。この
低出力は、トランジスタ36が高いプルアップ電流源を
提供し続けるように働く。インバータ46の出力はイン
バータ48によって反転されて高電圧を提供し、それが
トランジスタ34をオフにする。トランジスタ36はよ
り大きい駆動電流を提供する能力を有するので、このシ
ステムは、“オン”信号を提供するためのバイアスを回
路中に提供し、またそれによってVPPを発生する発生器
のためのポンピングを提供する。同様にして、トランジ
スタ24および40のゲートへ供給される許可信号(イ
ネーブル,ENABLE)は、その信号が提供される時
に、トランジスタ24および40がより強力なプルダウ
ン機能を提供し、それによってより高速な動作を提供で
きるようにする。
いて指示される各種状態のもとで、回路に対するオーバ
ーライドを提供する。VPUMPが高レベルの時は、インバ
ータ50の出力は低レベルであり、それはインバータ4
2によって提供される入力の如何に関わらず、NORゲ
ート44の出力を高レベルにする。
ルド電圧が図1の電圧検出器のトリガー点を決定する。
スレッショルド電圧は、図1の回路を含む集積回路の製
造時のプロセス変動によって変化するし、また回路の動
作温度によっても変化する。従って、トリガー点は正確
に設定できない。従って、図1の従来技術は、現代の高
密度、従って高感度の集積回路に対して必要とされるプ
ロセス変動および温度変動に直面して安定性を保てな
い。
式図である。VPPはPチャンネルトランジスタ110の
ソースへつながれている。トランジスタ110のゲート
は基準電圧VREFへつながれている。トランジスタ11
0のドレインはPチャンネルトランジスタ112のソー
スへつながれている。トランジスタ112のゲートは検
出許可信号へつながれている。検出は、許可信号が低レ
ベルへ移行してトランジスタ112をターンオンするこ
とによって許可される。更に、許可信号はNチャンネル
トランジスタ114のゲートへ供給されて、それをター
ンオフする。許可信号が高レベルで、検出が禁止されて
いることを示す時には、トランジスタ114がオンで、
トランジスタ116のゲートがアースへクランプされて
いる。
114がオフで、ノード115上の電圧レベルはVPPの
電圧レベルによって決まる。VPPがVREFよりもVt1個
分高く上昇すると、トランジスタ110がターンオンし
て、ノード115は高レベルへプルアップされる。ノー
ド115上の高電圧はトランジスタ116をターンオン
させる。トランジスタ116はプルアップトランジスタ
120と直列につながれており、後者はP形トランジス
タであって、それのゲートをアースへ、またそれのソー
スを電力供給2へつながれている。トランジスタ122
はプルダウントランジスタであって、それのソースはア
ースへ、またそれのゲートは電力供給2へつながれてい
る。これら2個のトランジスタは比較的高い抵抗を有
し、それによってプルアップおよびプルダウンの電流源
を提供するように設計される。こうして、ノード124
の電圧はトランジスタ116の状態だけで決まる。トラ
ンジスタ116がオンの時は、ノード124における電
圧点は低くプルダウンされ、それによってインバータ1
26が高出力を有し、インバータ128が低出力を有す
るようにされる。電圧変化はトランジスタ130によっ
て減衰するが、このトランジスタ130はゲートをイン
バータ126の入力へつながれ、またソースおよびドレ
インをアースへつながれている。これは容量性の機能を
提供し、それによってノード124における入力に対す
る時間遅延を提供する。インバータ126および128
はステップダウンラッチ132に対して信号を供給し、
このラッチは出力をインバータ134の入力へ供給する
が、この入力はインバータ126の入力からの非反転信
号である。インバータ134の出力はインバータ136
によって反転されて、完全にラッチおよびバッファされ
た回路出力が得られる。
トランジスタ110のスレッショルド電圧に大いに依存
する。この特性は、プロセス変動および温度条件に大い
に依存する。従って、図2の検出器は最新の高度に集積
された集積回路に対して許容できないプロセス変動を与
える。
板電圧検出器の図である。当該分野では、最も低い供給
電圧よりも更に低い基板電圧を提供するのことが普通に
行われる。高レベルの許可信号を提供することで、トラ
ンジスタ210および232をターンオフしながら、図
3の検出器が許可される。トランジスタ218のゲート
はアースへつながれている。Nチャンネルトランジスタ
222のゲートもまたアースへつながれている。トラン
ジスタ224および226はそれらのゲートをそれらの
ドレインへつながれているため、トランジスタ222の
ソースに対してVBBからVt2個分低下した電圧を供給
している。トランジスタ222のソースが、所望レベル
よりも低下するVBBによって所望レベルからアース下V
t1個分プルダウンされる時は、トランジスタ222が
オンして、トランジスタ228のゲートはアースへプル
ダウンされる。こうしてトランジスタ228がオフにな
る。この低レベルはまた、トランジスタ218を通って
トランジスタ230のゲートへ送られる。後者のトラン
ジスタはPチャンネルトランジスタである。これによっ
てPチャンネルトランジスタ230がオンする。
ンするレベルに達すると、インバータ250への入力は
低レベルへプルダウンされ、それによってインバータ2
50の出力は高レベルになる。トランジスタ230、2
48、228、および246はNANDゲートを構成す
る。出力をNOT化されたNANDゲートは機能的には
ORゲートと等価である。従って、インバータ250と
つながれたこのNANDゲートはORゲートを提供す
る。もし図3の回路が動作すれば、許可バー(ENAB
LEバー)信号は低レベルとなり、インバータ211の
出力は高レベルになる。インバータ250の高出力との
この組み合わせは、NANDゲート252に低出力を提
供させ、VBB電圧レベルを下げるためにVBBポンプが作
動すべきことを指示する。
重検出方式を採用している。許可バー信号がトランジス
タ232をターンオンする時は、第2の検出器が提供さ
れる。トランジスタ212はそれのゲートをトランジス
タ210のソースへつながれており、トランジスタ21
0、214、および216によって確立される、Vdd
からの電圧降下を提供している。VBBはNチャンネルト
ランジスタ234のソースへつながれており、後者のト
ランジスタのゲートおよびドレインはNチャンネルトラ
ンジスタ236のソースへつながれている。従って、ト
ランジスタ236のドレインはVBBよりもスレッショル
ド電圧2個分上にある。トランジスタ236および23
4は、トランジスタ224および226よりも高いスレ
ッショルド電圧を持つようにドープされる。VBBのレベ
ルがスレッショルド電圧降下3個分低下する時は、アー
スへつながれたトランジスタ238のゲートはトランジ
スタ238のドレインよりもスレッショルド電圧1個分
高くなる。VBBがこの電圧(それはトランジスタ236
および234の高いスレッショルド電圧のせいで、トラ
ンジスタ222のターンオン点よりも低い)よりも低下
すると、トランジスタ240はターンオンし、トランジ
スタ242はターンオフする。トランジスタ240、2
42、254、および256はNORゲートを構成し、
それの1入力はインバータ250の出力であり、他の入
力はトランジスタ234、236、および238によっ
て決まるVBBレベルである。
240がターンオフし、トランジスタ242がターンオ
ンする(トランジスタ234および236のスレッショ
ルド電圧がより高いので)電圧よりも高い(より負でな
い)電圧によって高出力へトリガーされるので、インバ
ータ250の出力が高レベルへ移行する時はトランジス
タ242は常にオンになる。こうして、インバータ24
4の入力は低レベルへプルダウンされて、トランジスタ
246および248のゲートへ供給される電圧を高レベ
ルへ移行させる。このことは、トランジスタ228およ
び230の状態の如何に関わらずインバータ250に高
出力を提供させるため、ラッチ効果を与えることにな
る。一旦このラッチ効果が生ずると、トランジスタ23
4、236、および238によって与えられるレベル検
出が制御できるようになる。VBBがトランジスタ238
をターンオンするのに十分低く(十分負に)なった時だ
け、“ラッチ”は状態を変化させるであろう。
て検出される電圧レベルの如何に関わらず、すべての状
況において基板ポンプを遮断しなければならなくなる。
そのような状況では、許可バーが高レベルへ持ち上げら
れて、インバータ250によって供給される入力信号の
如何に関わらず、NANDゲート252によって提供さ
れるVBBストップ出力信号を高レベルへ引き上げる。
うに、この回路はトランジスタ222、224、22
6、236、234、および238のスレッショルド電
圧に大いに依存する。このような特性上の振る舞いはプ
ロセス変動に大いに依存し、従って現代の高密度集積回
路の高感度回路において許容できない。
施例は集積回路中の電圧レベルを検出するための回路を
含み、その回路には、第1基準電圧、前記第1基準電圧
へつながれた反転入力端子、非反転入力端子、および出
力端子を有する第1の差動増幅器、前記第1の差動増幅
器の出力端子へつながれた制御端子を有し、電圧供給端
子へつながれた第1の電流ハンドリング端子を有し、更
に前記第1の差動増幅器の非反転入力端子へつながれた
第2の電流ハンドリング端子を有する第1トランジス
タ、前記第1トランジスタの第2電流ハンドリング端子
へつながれた第1端子と、第2端子とを有する第1負荷
デバイス、前記第1負荷デバイスの第2端子へつながれ
た第1端子と、第2基準電位へつながれた第2端子とを
有する第2負荷デバイス、反転入力端子、前記第2負荷
デバイスの第1端子へつながれた非反転入力端子、およ
び電圧検出出力信号を供給する出力端子を有する第2の
差動増幅器、前記第1の差動増幅器の出力端子へつなが
れた制御端子を有し、前記電圧供給端子へつながれた第
1電流ハンドリング端子を有し、更に前記第2の差動増
幅器の反転入力端子へつながれた第2電流ハンドリング
端子を有する第2トランジスタ、前記第2の差動増幅器
の反転入力端子へつながれた第1端子を有し、電圧レベ
ルが検出されるべき場所へつながれた第2端子を有する
第3負荷デバイスが含まれている。これによって高度に
安定な電圧検出システムが得られる。
である。図4は、PNPトランジスタ310および31
2、抵抗314、およびNチャンネルトランジスタ31
6および318によって提供されるバンドギャップ電流
レベル設定機構を含んでいる。トランジスタ312は、
同じスレッショルド電圧レベルにおいてトランジスタ3
10よりもずっと大きい電流容量を有するように選ばれ
る。トランジスタ310および312のコレクターは基
板VBB電位へつながれている。トランジスタ310およ
び312のVBE電圧がトランジスタ310および312
を流れる電流を設定する。キルヒホッフ則に従えば、閉
じた経路に沿っての電圧の合計はゼロに等しい。従っ
て、トランジスタ310および312のVBEに抵抗31
4両端での電圧降下を加え、更にトランジスタ318お
よび316のVGSを加えるとゼロにならなければならな
い。また、トランジスタ310のVBEおよびトランジス
タ316のV GSと、これらのトランジスタを流れる電流
との間には一定の関係がある。同様に、トランジスタ3
12のVBE、抵抗314両端の電圧降下、およびトラン
ジスタ316のVGSと、これらのトランジスタおよび抵
抗を流れる電流との間にも一定の関係がある。これらの
方程式を解くことで単一解が求まる。このように、この
バンドギャップ回路は、トランジスタ310および31
2を流れる高度に安定した電流を提供する。
た電流はまた、抵抗330および332中をも流れる。
この電流はトランジスタ338および340に対してミ
ラー複製(mirror)される。ミラー複製された電
流は抵抗322両端に電圧降下をもたらし、それはトラ
ンジスタ320のVBE電圧降下と一緒になってノード3
24における電圧を設定する。
4と322との相対的抵抗値レベルに依存するため、高
度に安定している。プロセス変動は抵抗314と322
とで同じように作用するため、ノード324に設定され
る電圧レベルは非常に安定である。例えば、もし抵抗3
14の抵抗値が下がれば、トランジスタ312を流れる
電流が増えて、トランジスタ338および340へミラ
ー複製される電流も増大する。しかし、抵抗322の抵
抗値もまた抵抗314と同じプロセス変動に従って変動
するので、それの抵抗値も低下しているであろう。従っ
て、トランジスタ338および340を流れるより大き
い電流は抵抗322の低下した抵抗値によってうち消さ
れよう。
流はトランジスタ344を流れる。この電流はトランジ
スタ346へミラー複製され、後者のトランジスタはト
ランジスタ348および350で構成される差動増幅器
349を駆動する。トランジスタ348は、それのゲー
トへの入力として、ノード324に設定された高度に安
定な電圧レベルを受け取る。トランジスタ348および
350で構成される差動増幅器対は、トランジスタ35
2および354によってプルアップ電流を供給される。
抵抗358、360、および370を流れる電流がトラ
ンジスタ350のゲートへの入力電圧を設定する。これ
らの抵抗を流れる電流はトランジスタ356によって設
定される。もしもトランジスタ350のゲート電圧がト
ランジスタ348のゲート電圧を越えれば、トランジス
タ346を流れる電流はトランジスタ350を通るよう
に迂回することによって、トランジスタ356のゲート
をトランジスタ352によって供給される電流を通して
より高レベルへプルアップさせる。これによって抵抗3
60および370両端の電圧降下は、ノード372の電
圧がノード324へ供給されるものと正確に等しくなる
まで低下する。こうして、トランジスタ348および3
50によって構成される差動増幅器は、正確に等価な電
圧を供給しながら、ノード324をノード372から分
離する。この分離によって、抵抗370両端の電圧降下
によって提供されるVREFに関連する活動が、ノード3
24によって確立される正確な電圧に影響を及ぼすこと
が防止される。更に、差動増幅器349に影響するプロ
セスおよび温度の変動も、以下に説明するように、図5
の差動増幅器391または図6の差動増幅器421に影
響する同じ変動によって正確にうち消される。
な電流を流すゲート電圧レベルがトランジスタ374の
ゲートへ供給されて、後者のトランジスタはトランジス
タ374およびバイアストランジスタ376を通してほ
ぼ同様な電流を流すように働く。トランジスタ374の
ゲートからの出力は、図5および図6の回路においてP
形プルアップトランジスタをバイアスするためのVPB
IASを提供し、トランジスタ376のゲート電圧は同
じくプルダウントランジスタをバイアスするためのVN
BIASを提供する。
であって、それはVBBの電圧レベルを検出するための検
出器を含んでいる。図4からのVNBIASおよびVP
BIASがそれぞれ、トランジスタ380および382
のゲートへ供給される。VNBIASおよびVPBIA
Sはそれらのトランジスタに対してバイアスを供給し、
それによってそれらは流れる電流を図4のトランジスタ
374および376中へミラー複製する。VBBは抵抗3
84および386へつながれている。製造しやすいよう
に(それが本当の理由だろうか?)、VBBとノード38
8との間の抵抗は2つの抵抗に分割される。VPBIA
Sを通して電流レベルが固定レベルに設定されるため、
ノード388の電圧は抵抗386および384両端の電
圧降下分だけVBBよりも高いレベルに固定されよう。こ
れは、電圧降下が抵抗384および386を流れる固定
電流とそれらの固定された直列抵抗値との積であるから
である。抵抗370(図4)と、抵抗386および38
4に影響するプロセス変動は、温度またはその他のプロ
セス変動によるものとほとんど等しい変動を与えるであ
ろう。従って、それらのプロセス変動はこの電圧検出器
の動作において打ち消し合う傾向を持つであろう。
のゲートへ送られる。VREFがトランジスタ392のゲ
ートへつながるゲートへ送られる。トランジスタ390
および392は差動増幅器を構成し、それによってノー
ド388の電圧がトランジスタ392のノードの電圧レ
ベルよりも低下する時には、トランジスタ390がター
ンオフし始めて、インバータ394へ供給される電圧が
プルアップトランジスタ396によってプルアップされ
るのを許容するようになっている。高電圧はインバータ
394の出力を0へ移行させて、VBBが低レベルへポン
ピングされたこと、そしてVBBポンプはターンオフすべ
きことを表示する。もしもノード388の電圧が上昇し
すぎれば、インバータ394の入力電圧がトランジスタ
390を介して低レベルへプルダウンされて逆の効果が
もたらされ、VBBポンプはターンオンされよう。
回路から供給される同じ基準電圧を用いてVPPの検出が
可能となっている。図4からのVNBIASがトランジ
スタ410および412のゲートへ送られる。VPPは抵
抗414および416へつながれて、それらの抵抗はト
ランジスタ410を流れる電流のためにVPPからノード
418への電圧降下を引き起こす。ノード418の電圧
はトランジスタ420のゲートへ供給されて、また図4
からのVREFがトランジスタ422のゲートへ供給され
ている。VPPが、ノード418の電圧によって示される
ように、所望レベル以上に上昇した時は、トランジスタ
420がより多くの電流を引き出すことで、インバータ
424の入力を低レベルへ移行させる。こうして、イン
バータ424の出力は高レベルへ移行して過電圧状態を
表示し、VPPを供給している電圧ポンプを停止すべきこ
とを表示する。ノード418の電圧が電圧基準以下に低
下して、VPPが低すぎることを表示する時は、トランジ
スタ420の電流引き出しの強さが低下して、インバー
タ424の入力はトランジスタ426を介してプルアッ
プされることが許容される。トランジスタ428は差動
増幅器の他方の入力に対する負荷として機能する。
自己修正機構よりも幾分複雑である。もしプロセス変動
または温度変動によってトランジスタ414および41
6の抵抗値が低下すれば、抵抗358、360、および
370の抵抗値も、同じプロセスおよび温度変動が同じ
ように影響するため低下しているはずである。こうし
て、図4のノード372の同じ固定電圧で以て、トラン
ジスタ356を流れる電流はより大きくなるであろう。
このより大きい電流はトランジスタ374(図4)へミ
ラー複製されて、それはトランジスタ376(図4)か
らトランジスタ410(図6)へミラー複製される。ト
ランジスタ410を流れるより大きい電流は抵抗414
および416のより低い抵抗値をうち消して、抵抗41
4および416両端の電圧降下を適正な値とし、トラン
ジスタ420のゲートにおける正しい電圧レベルを表示
する。
0ボルトから、アース以下の−2ボルトまで変化させ
た。この図は、VBBが変化するとノード388の電圧が
この電圧とともに線形に変化することを示している。こ
の図はまた、ノード388の電圧がVREFを通過する時
に、ノード395における出力が1値から0値へと変化
し、また逆に、ノード388の電圧が再びVREF以上へ
移行する時には、0値から1値へと変化することを示し
ている。この図は図5の回路の動作を示している。
構の動作を示している。この実験において、VPPは2.
4ボルトから3.8ボルトへ上昇し、再び2.4ボルト
へ戻ることを許容されている。2.4ボルトはこの集積
回路の供給電圧にほぼ等しい。この図から分かるよう
に、ノード418の電圧はVPPの電圧を線形に追尾して
おり、ノード418の電圧がVREFを通過する時に、ノ
ード425におけるインバータ424からの出力が0ボ
ルト状態から1値を示す2.4ボルト状態へ変化するこ
とを示している。更に、ノード418の電圧がVREFを
通過してVREF以下へ低下する時には、ノード425に
おける出力は1電圧から0電圧へと変化して、そうする
ことによってVPPの電圧の正しい電圧検出を提供してい
る。
施例が複数の差動増幅器を含んでおり、そこにおいて、
回路中の2個の差動増幅器の同一機能入力に対して電圧
基準入力が供給されることである。例えば、図4のノー
ド324は差動増幅器349の反転入力へつながれ、ま
た図5のノード388は差動増幅器391の反転入力へ
つながれている。更に、VREFは差動増幅器349およ
び391の非反転入力を介して転送されている。この構
成において、このシステムの一方の差動増幅器の特性を
変更するプロセス変動または温度効果は、他方の差動増
幅器に対する同じ変動または効果によってうち消され
る。これによって最新の超大規模集積回路の要求に応え
る高度に安定な回路を提供することができる。
たが、本発明のその他の実施例が当業者には明らかであ
ろう。例えば、本発明の開示実施例は、VPPおよびVBB
を検出するための検出器を示しているが、電圧検出とい
うのは幅広く利用される技術であって、適当な回路で与
えられる任意の電圧を検出するために使用しても構わな
い。本発明はここに開示する本発明の特許請求の範囲に
よってのみ制約される。
部分の模式図。
実施例のVPP検出器部分の模式図。
ジスタ 222,224,226,228 Nチャンネルトラン
ジスタ 230,232 Pチャンネルトランジスタ 234,236,238 Nチャンネルトランジスタ 240 Pチャンネルトランジスタ 242 Nチャンネルトランジスタ 244 インバータ 246 Nチャンネルトランジスタ 248 Pチャンネルトランジスタ 250 インバータ 252 NANDゲート 254 Pチャンネルトランジスタ 256 Nチャンネルトランジスタ 310,312 PNPトランジスタ 314 抵抗 316,318 Nチャンネルトランジスタ 320 PNPトランジスタ 322 抵抗 328 Nチャンネルトランジスタ 330,332,334,336,338,340,3
42 Pチャンネルトランジスタ 344,346,348 Nチャンネルトランジスタ 349 差動増幅器 350 Nチャンネルトランジスタ 352,354,356 Pチャンネルトランジスタ 360,370 抵抗 374 Pチャンネルトランジスタ 376 Nチャンネルトランジスタ 380 Nチャンネルトランジスタ 382 Pチャンネルトランジスタ 384,386 抵抗 390 Nチャンネルトランジスタ 391 差動増幅器 392 Nチャンネルトランジスタ 394 インバータ 396,397 Pチャンネルトランジスタ 410,412 Nチャンネルトランジスタ 414,416 抵抗 420 Nチャンネルトランジスタ 421 差動増幅器 422 Nチャンネルトランジスタ 424 インバータ 426,428 Pチャンネルトランジスタ
Claims (9)
- 【請求項1】 集積回路中の電圧レベルを検出するため
の回路であって、 第1基準電圧、 前記第1基準電圧へつながれた反転入力端子、非反転入
力端子、および出力端子を有する第1差動増幅器、 前記第1差動増幅器の前記出力端子へつながれた制御端
子を有し、電圧供給端子へつながれた第1電流ハンドリ
ング端子を有し、更に前記第1差動増幅器の前記非反転
入力端子へつながれた第2電流ハンドリング端子を有す
る第1トランジスタ、 前記第1トランジスタの前記第2電流ハンドリング端子
へつながれた第1端子と、第2端子とを有する第1負荷
デバイス、 前記第1負荷デバイスの前記第2端子へつながれた第1
端子と、第2基準電位へつながれた第2端子とを有する
第2負荷デバイス、 反転入力端子、前記第2負荷デバイスの前記第1端子へ
つながれた非反転入力端子、および電圧検出出力信号を
供給する出力端子を有する第2差動増幅器、 前記第1差動増幅器の前記出力端子へつながれた制御端
子を有し、前記電圧供給端子へつながれた第1電流ハン
ドリング端子を有し、更に前記第2差動増幅器の前記反
転入力端子へつながれた第2電流ハンドリング端子を有
する第2トランジスタ、および前記第2差動増幅器の前
記反転入力端子へつながれた第1端子を有し、電圧レベ
ルを検出すべき場所へつながれた第2端子を有する第3
負荷デバイスを含む電圧検出回路。 - 【請求項2】 請求項1記載の電圧検出回路であって、
ここにおいて、前記第1負荷デバイスが抵抗である電圧
検出回路。 - 【請求項3】 請求項1記載の電圧検出回路であって、
ここにおいて、前記第2負荷デバイスが抵抗である電圧
検出回路。 - 【請求項4】 請求項1記載の電圧検出回路であって、
ここにおいて、前記第3負荷デバイスが抵抗である電圧
検出回路。 - 【請求項5】 請求項1記載の電圧検出回路であって、
ここにおいて、前記第1トランジスタが電界効果トラン
ジスタである電圧検出回路。 - 【請求項6】 請求項1記載の電圧検出回路であって、
ここにおいて、前記第2トランジスタが電界効果トラン
ジスタである電圧検出回路。 - 【請求項7】 請求項1記載の電圧検出回路であって、
ここにおいて、前記第1基準電圧が、回路であって バンドギャップ電流発生器、 前記バンドギャップ電流発生器へつながれたカレントミ
ラーであって、前記バンドギャップ電流発生器中で発生
した電流に比例する電流を電流出力端子へ供給するカレ
ントミラー、および前記電流出力端子へつながれた第1
端子と、第3基準電位へつながれた第2端子とを有する
負荷デバイス、を含む回路から供給されるようになった
電圧検出回路。 - 【請求項8】 請求項1記載の電圧検出回路であって、
ここにおいて、前記第3基準電位が、バイポーラトラン
ジスタのベースを前記第2基準電圧へつなぎ、前記バイ
ポーラトランジスタのエミッターを前記負荷デバイスの
前記第2端子へつなぐことによって供給されるようにな
った電圧検出回路。 - 【請求項9】 請求項1記載の電圧検出回路であって、
ここにおいて、前記負荷デバイスが抵抗である電圧検出
回路。
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|---|---|---|---|
| US6817697P | 1997-12-19 | 1997-12-19 | |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP (1) | JPH11311643A (ja) |
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- 1998-12-17 US US09/213,524 patent/US6037762A/en not_active Expired - Lifetime
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