JPH11312341A - 検査用ディスク - Google Patents
検査用ディスクInfo
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- JPH11312341A JPH11312341A JP10119041A JP11904198A JPH11312341A JP H11312341 A JPH11312341 A JP H11312341A JP 10119041 A JP10119041 A JP 10119041A JP 11904198 A JP11904198 A JP 11904198A JP H11312341 A JPH11312341 A JP H11312341A
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- JP
- Japan
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- disk
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- track
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は検査工程での検査時間を短縮するこ
とを課題とする。 【解決手段】 検査用ディスク11は、記録面に正弦波
信号記録トラックが形成されている。また、検査用ディ
スク11には、疑似的欠陥部としての欠陥パターン(デ
ィフェクトパターン)15が形成されている。欠陥パタ
ーン15は、インタラプション16、ブラックバンド1
7、フィンガプリント18の3種類の欠陥パターンから
なり、各パターンの夫々が周方向に離間して設けられて
いる。そのため、インタラプション16、ブラックバン
ド17、フィンガプリント18は、夫々、上記記録面1
1eに記録された同一の記録トラックと交差する位置に
形成されている。検査工程でピックアップ(図示せず)
をディスク半径方向に移動させずに複数種類の擬似的欠
陥部を連続して検出することができ、ピックアップの移
動操作を省略して検査時間を短縮することが可能とな
る。
とを課題とする。 【解決手段】 検査用ディスク11は、記録面に正弦波
信号記録トラックが形成されている。また、検査用ディ
スク11には、疑似的欠陥部としての欠陥パターン(デ
ィフェクトパターン)15が形成されている。欠陥パタ
ーン15は、インタラプション16、ブラックバンド1
7、フィンガプリント18の3種類の欠陥パターンから
なり、各パターンの夫々が周方向に離間して設けられて
いる。そのため、インタラプション16、ブラックバン
ド17、フィンガプリント18は、夫々、上記記録面1
1eに記録された同一の記録トラックと交差する位置に
形成されている。検査工程でピックアップ(図示せず)
をディスク半径方向に移動させずに複数種類の擬似的欠
陥部を連続して検出することができ、ピックアップの移
動操作を省略して検査時間を短縮することが可能とな
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は検査用ディスクに係
り、特に記録媒体としてのディスクが装着される再生装
置の再生能力の検査及び調整を行うのに使用される検査
用ディスクに関する。
り、特に記録媒体としてのディスクが装着される再生装
置の再生能力の検査及び調整を行うのに使用される検査
用ディスクに関する。
【0002】
【従来の技術】例えばコンパクトディスクの記録面に
は、ディスク成形時の異物の混入による黒点、ディスク
表面に付着した汚れ、ゴミ又は指紋、情報層(ピット
面)の欠落、傷等様々な物理的欠陥が生ずる可能性があ
る。このような、ディスクの欠陥に対するコンパクトデ
ィスクプレイヤの再生能力を測定するため、工場等で組
み立てられたコンパクトディスクプレイヤは、検査工程
において上記欠陥を疑似的に設けた検査用ディスクを再
生し、その再生信号に基づいて再生能力の検査及び調整
が行われる。
は、ディスク成形時の異物の混入による黒点、ディスク
表面に付着した汚れ、ゴミ又は指紋、情報層(ピット
面)の欠落、傷等様々な物理的欠陥が生ずる可能性があ
る。このような、ディスクの欠陥に対するコンパクトデ
ィスクプレイヤの再生能力を測定するため、工場等で組
み立てられたコンパクトディスクプレイヤは、検査工程
において上記欠陥を疑似的に設けた検査用ディスクを再
生し、その再生信号に基づいて再生能力の検査及び調整
が行われる。
【0003】この種の検査用ディスクには、次のような
種類の異なる欠陥パターン(ディフェクトパターン)が
設けられている。 インタラプション:情報層(ピット面)の欠落、及
び傷等をシュミレーションするための欠陥パターン。 ブラックバンド:ディスク成形時にできる黒点及
び、ディスク表面に付着した汚れ、ゴミ等をシュミレー
ションするための欠陥パターン。 フィンガプリント:ディスク表面に付着した指紋を
シュミレーションするための欠陥パターン。
種類の異なる欠陥パターン(ディフェクトパターン)が
設けられている。 インタラプション:情報層(ピット面)の欠落、及
び傷等をシュミレーションするための欠陥パターン。 ブラックバンド:ディスク成形時にできる黒点及
び、ディスク表面に付着した汚れ、ゴミ等をシュミレー
ションするための欠陥パターン。 フィンガプリント:ディスク表面に付着した指紋を
シュミレーションするための欠陥パターン。
【0004】例えば、特開平7−44897号公報にみ
られるように、この擬似的欠陥部としてのインタラプシ
ョン、ブラックバンド、フィンガプリントは、夫々検査
用ディスクの半径方向にずらして形成されている。ま
た、上記のように各種の欠陥パターンが形成された検査
用ディスクには、通常、記録信号として音楽信号が記録
されているが、なかには、音楽信号のみならず正弦波信
号が記録されているものもある。
られるように、この擬似的欠陥部としてのインタラプシ
ョン、ブラックバンド、フィンガプリントは、夫々検査
用ディスクの半径方向にずらして形成されている。ま
た、上記のように各種の欠陥パターンが形成された検査
用ディスクには、通常、記録信号として音楽信号が記録
されているが、なかには、音楽信号のみならず正弦波信
号が記録されているものもある。
【0005】このような検査用ディスクには、音楽信号
が記録された音楽信号記録トラックと、正弦波信号が記
録された正弦波信号記録トラックとが交互に形成されて
おり、コンパクトディスクプレイヤに検査用ディスクを
装着して連続的に再生する場合、音楽信号記録トラック
が再生された後に正弦波信号記録トラックが再生され、
続いて次の音楽信号記録トラックが再生されるといった
具合に音楽信号記録トラックと正弦波信号記録トラック
とが交互に再生される。
が記録された音楽信号記録トラックと、正弦波信号が記
録された正弦波信号記録トラックとが交互に形成されて
おり、コンパクトディスクプレイヤに検査用ディスクを
装着して連続的に再生する場合、音楽信号記録トラック
が再生された後に正弦波信号記録トラックが再生され、
続いて次の音楽信号記録トラックが再生されるといった
具合に音楽信号記録トラックと正弦波信号記録トラック
とが交互に再生される。
【0006】検査員は上記検査用ディスクを組み立て完
了したコンパクトディスクプレイヤに装着し、再生され
た音楽信号をヘッドホンなどを使用して聴覚により検査
用ディスクに形成された欠陥パターンに対するコンパク
トディスクプレイヤの再生能力を検査して調整したり、
あるいは再生された正弦波信号をオシロスコープ等の波
形測定器を使用して電気的に計測することにより検査用
ディスクに形成された欠陥パターンに対するコンパクト
ディスクプレイヤの再生能力を検査して調整していた。
了したコンパクトディスクプレイヤに装着し、再生され
た音楽信号をヘッドホンなどを使用して聴覚により検査
用ディスクに形成された欠陥パターンに対するコンパク
トディスクプレイヤの再生能力を検査して調整したり、
あるいは再生された正弦波信号をオシロスコープ等の波
形測定器を使用して電気的に計測することにより検査用
ディスクに形成された欠陥パターンに対するコンパクト
ディスクプレイヤの再生能力を検査して調整していた。
【0007】このように、コンパクトディスクプレイヤ
の再生能力を検査する場合、上記のような疑似的欠陥パ
ターンを有する検査用ディスクが使用されており、疑似
的欠陥パターンを再生することによりコンパクトディス
クプレイヤの再生能力をシュミレーションすることがで
きる。
の再生能力を検査する場合、上記のような疑似的欠陥パ
ターンを有する検査用ディスクが使用されており、疑似
的欠陥パターンを再生することによりコンパクトディス
クプレイヤの再生能力をシュミレーションすることがで
きる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
検査用ディスクでは、種類の異なる欠陥パターンとして
のインタラプション、ブラックバンド、フィンガプリン
トが半径方向にずらして形成されているので、この検査
用ディスクを用いてコンパクトディスクプレイヤの再生
能力を検査する場合、ピックアップを半径方向に移動さ
せて異なるトラック上に形成された各欠陥パターンを検
出するように操作する必要がある。そのため、上記3種
類の欠陥パターンについて検査する場合には、ピックア
ップを3回移動させる操作が必要となる。
検査用ディスクでは、種類の異なる欠陥パターンとして
のインタラプション、ブラックバンド、フィンガプリン
トが半径方向にずらして形成されているので、この検査
用ディスクを用いてコンパクトディスクプレイヤの再生
能力を検査する場合、ピックアップを半径方向に移動さ
せて異なるトラック上に形成された各欠陥パターンを検
出するように操作する必要がある。そのため、上記3種
類の欠陥パターンについて検査する場合には、ピックア
ップを3回移動させる操作が必要となる。
【0009】そのため、従来の検査用ディスクを用いた
検査工程では、一の欠陥パターンの検査が終了する度に
ピックアップをディスク半径方向に移動させる操作が面
倒であるばかりか、各欠陥パターンについて検査するの
にピックアップ移動時間が余計にかかり、全欠陥パター
ンの検査終了までにかかる検査時間を短縮することが難
しかった。
検査工程では、一の欠陥パターンの検査が終了する度に
ピックアップをディスク半径方向に移動させる操作が面
倒であるばかりか、各欠陥パターンについて検査するの
にピックアップ移動時間が余計にかかり、全欠陥パター
ンの検査終了までにかかる検査時間を短縮することが難
しかった。
【0010】そこで、本発明は上記課題を解決した検査
用ディスクを提供することを目的とする。
用ディスクを提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は以下のような特徴を有する。上記請求項1
記載の発明は、検査用信号が記録された検査用信号記録
トラックと、該検査用信号記録トラックと交差するよう
に形成された複数種類の擬似的欠陥部とを記録面に形成
された検査用ディスクにおいて、前記複数種類の擬似的
欠陥部を周方向に離間させて配置したことを特徴とする
ものである。
め、本発明は以下のような特徴を有する。上記請求項1
記載の発明は、検査用信号が記録された検査用信号記録
トラックと、該検査用信号記録トラックと交差するよう
に形成された複数種類の擬似的欠陥部とを記録面に形成
された検査用ディスクにおいて、前記複数種類の擬似的
欠陥部を周方向に離間させて配置したことを特徴とする
ものである。
【0012】従って、請求項1記載の発明によれば、複
数種類の擬似的欠陥部を周方向に離間させて配置したた
め、検査工程でピックアップをディスク半径方向に移動
させずに複数種類の擬似的欠陥部を連続して検出するこ
とができ、ピックアップの移動操作を省略して検査時間
を短縮することができる。これにより、検査工程の検査
効率を高めることができる。
数種類の擬似的欠陥部を周方向に離間させて配置したた
め、検査工程でピックアップをディスク半径方向に移動
させずに複数種類の擬似的欠陥部を連続して検出するこ
とができ、ピックアップの移動操作を省略して検査時間
を短縮することができる。これにより、検査工程の検査
効率を高めることができる。
【0013】また、上記請求項2記載の発明は、検査用
信号が記録された検査用信号記録トラックと、該検査用
信号記録トラックと交差するように形成された複数種類
の擬似的欠陥部とを記録面に形成された検査用ディスク
において、前記複数種類の擬似的欠陥部を同一トラック
上に離間させて配置したことを特徴とするものである。
信号が記録された検査用信号記録トラックと、該検査用
信号記録トラックと交差するように形成された複数種類
の擬似的欠陥部とを記録面に形成された検査用ディスク
において、前記複数種類の擬似的欠陥部を同一トラック
上に離間させて配置したことを特徴とするものである。
【0014】従って、請求項2記載の発明によれば、複
数種類の擬似的欠陥部を同一トラック上に離間させて配
置したため、ディスクが1回転すると全部の擬似的欠陥
部を検出することが可能であり、検査工程でピックアッ
プをディスク半径方向に移動させずに複数種類の擬似的
欠陥部を連続して検出することができる。そのため、ピ
ックアップの移動操作を省略して検査時間を短縮するこ
とができ、これにより、検査工程の検査効率を高めるこ
とができる。
数種類の擬似的欠陥部を同一トラック上に離間させて配
置したため、ディスクが1回転すると全部の擬似的欠陥
部を検出することが可能であり、検査工程でピックアッ
プをディスク半径方向に移動させずに複数種類の擬似的
欠陥部を連続して検出することができる。そのため、ピ
ックアップの移動操作を省略して検査時間を短縮するこ
とができ、これにより、検査工程の検査効率を高めるこ
とができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下図面と共に発明の実施の形態
について説明する。図1は本発明になる検査用ディスク
の一実施例を示す平面図である。また、図2は検査用デ
ィスクの縦断面図である。図1及び図2に示されるよう
に、検査用ディスク11は、コンパクトディスクプレイ
ヤ(図示せず)の再生能力を検査する際、コンパクトデ
ィスクプレイヤの所定再生位置に装着されて使用され
る。この検査用ディスク11は、一般に使用されるコン
パクトディスクと同一サイズ(直径12cm)に製作さ
れており、上面が情報読み取り面11aで、下面がタイ
トル印刷面11bである。そして、検査用ディスク11
はポリカーボネイト樹脂製のディスク11cの下面にア
ルミを蒸着させた反射膜11dが記録面11eに形成さ
れ、記録面11eの下面には合成樹脂製の保護膜11f
が接合されている。
について説明する。図1は本発明になる検査用ディスク
の一実施例を示す平面図である。また、図2は検査用デ
ィスクの縦断面図である。図1及び図2に示されるよう
に、検査用ディスク11は、コンパクトディスクプレイ
ヤ(図示せず)の再生能力を検査する際、コンパクトデ
ィスクプレイヤの所定再生位置に装着されて使用され
る。この検査用ディスク11は、一般に使用されるコン
パクトディスクと同一サイズ(直径12cm)に製作さ
れており、上面が情報読み取り面11aで、下面がタイ
トル印刷面11bである。そして、検査用ディスク11
はポリカーボネイト樹脂製のディスク11cの下面にア
ルミを蒸着させた反射膜11dが記録面11eに形成さ
れ、記録面11eの下面には合成樹脂製の保護膜11f
が接合されている。
【0016】検査用ディスク11の記録面11eには、
正弦波信号記録トラックが形成されている。また、検査
用ディスク11の読み取り面11a,記録面11eに
は、疑似的欠陥部としての欠陥パターン(ディフェクト
パターン)15が形成されている。欠陥パターン15
は、異なる3種類のパターンから構成されており、夫々
が周方向にずらして形成されている。尚、本実施例で
は、各パターンが120°間隔で形成されている。
正弦波信号記録トラックが形成されている。また、検査
用ディスク11の読み取り面11a,記録面11eに
は、疑似的欠陥部としての欠陥パターン(ディフェクト
パターン)15が形成されている。欠陥パターン15
は、異なる3種類のパターンから構成されており、夫々
が周方向にずらして形成されている。尚、本実施例で
は、各パターンが120°間隔で形成されている。
【0017】欠陥パターン15は、インタラプション1
6、ブラックバンド17、フィンガプリント18の3種
類の欠陥パターンからなり、各パターンの夫々が周方向
に離間して設けられている。そのため、インタラプショ
ン16、ブラックバンド17、フィンガプリント18
は、夫々、上記記録面11eに記録された同一の記録ト
ラックと交差するように形成されている。尚、ブラック
バンド17、フィンガプリント18は、ディスク半径方
向にずらして一対ずつ設けられている。
6、ブラックバンド17、フィンガプリント18の3種
類の欠陥パターンからなり、各パターンの夫々が周方向
に離間して設けられている。そのため、インタラプショ
ン16、ブラックバンド17、フィンガプリント18
は、夫々、上記記録面11eに記録された同一の記録ト
ラックと交差するように形成されている。尚、ブラック
バンド17、フィンガプリント18は、ディスク半径方
向にずらして一対ずつ設けられている。
【0018】例えばコンパクトディスクプレイヤを組み
立てる工場では、検査工程において組み立て完了したコ
ンパクトディスクプレイヤに上記検査用ディスク11を
装着して再生能力を検査して調整する。その際、検査員
は、再生信号の欠陥による音飛びの状態を聴覚によりチ
ェックする。その場合、上記検査用ディスク11に記録
された音楽信号のなかから任意の番号を指定して再生
し、その再生音をヘッドホン等で聞きながらノイズを除
去する回路の感度を調整したり、トラックずれが発生し
ないかどうかをチェックする。
立てる工場では、検査工程において組み立て完了したコ
ンパクトディスクプレイヤに上記検査用ディスク11を
装着して再生能力を検査して調整する。その際、検査員
は、再生信号の欠陥による音飛びの状態を聴覚によりチ
ェックする。その場合、上記検査用ディスク11に記録
された音楽信号のなかから任意の番号を指定して再生
し、その再生音をヘッドホン等で聞きながらノイズを除
去する回路の感度を調整したり、トラックずれが発生し
ないかどうかをチェックする。
【0019】また、波形測定器を使用して電気的に計測
する場合は、上記検査用ディスク11に記録された正弦
波信号のなかから任意の番号を指定して再生し、その再
生信号波形の変化をチェックする。尚、検査用ディスク
11を用いてディスク装置のピックアップを検査する検
査装置及び検査方法については、例えば本出願人が先に
提出した特開平7−254210号公報に開示されてい
るので、ここでは、その説明を省略する。
する場合は、上記検査用ディスク11に記録された正弦
波信号のなかから任意の番号を指定して再生し、その再
生信号波形の変化をチェックする。尚、検査用ディスク
11を用いてディスク装置のピックアップを検査する検
査装置及び検査方法については、例えば本出願人が先に
提出した特開平7−254210号公報に開示されてい
るので、ここでは、その説明を省略する。
【0020】図3はインタラプション16を拡大して示
す平面図である。図3に示されるように、インタラプシ
ョン16は、記録面11eに形成された情報層(ピット
面)の欠落、及び傷等をシュミレーションするための欠
陥パターンで、情報層(ピット面)に傷を入れて凹凸パ
ターンを潰している。尚、インタラプション16は、図
2に示されるように検査用ディスク11の内部に形成さ
れるため、検査用ディスク11を成形する際のスタンパ
により成形される。
す平面図である。図3に示されるように、インタラプシ
ョン16は、記録面11eに形成された情報層(ピット
面)の欠落、及び傷等をシュミレーションするための欠
陥パターンで、情報層(ピット面)に傷を入れて凹凸パ
ターンを潰している。尚、インタラプション16は、図
2に示されるように検査用ディスク11の内部に形成さ
れるため、検査用ディスク11を成形する際のスタンパ
により成形される。
【0021】また、インタラプション16の幅寸法は、
1〜4トラックが600μm、5〜7トラックが700
μm、8〜10トラックが800μm、11〜13トラ
ックが900μmといったように階段状に設定されてい
る。即ち、インタラプション16は、内側から外側に移
るにつれて周方向の幅寸法が階段状に幅広となる。尚、
本実施例の各トラックには、1kHzの正弦波が1分3
0秒間記録されている。
1〜4トラックが600μm、5〜7トラックが700
μm、8〜10トラックが800μm、11〜13トラ
ックが900μmといったように階段状に設定されてい
る。即ち、インタラプション16は、内側から外側に移
るにつれて周方向の幅寸法が階段状に幅広となる。尚、
本実施例の各トラックには、1kHzの正弦波が1分3
0秒間記録されている。
【0022】図4はブラックバンド17を拡大して示す
平面図である。図4に示されるように、ブラックバンド
17は、ディスク成形時にできる黒点及び、ディスク表
面に付着した汚れ、ゴミ等をシュミレーションするため
の欠陥パターンであり、黒色の被膜が検査用ディスク1
1の読み取り面11aに印刷されている。
平面図である。図4に示されるように、ブラックバンド
17は、ディスク成形時にできる黒点及び、ディスク表
面に付着した汚れ、ゴミ等をシュミレーションするため
の欠陥パターンであり、黒色の被膜が検査用ディスク1
1の読み取り面11aに印刷されている。
【0023】ブラックバンド17は、上記インタラプシ
ョン16と略同様な形状であり、記録トラックと交差す
る位置に設けられている。従って、ブラックバンド17
は、周方向の幅寸法が同一アドレス番号では等しく、ア
ドレス番号が増すごとに段階的に広くなる形状となって
いる。本実施の形態においては、ブラックバンド17の
幅寸法は、2,5,8,11トラックが400μm、
3,6,9,12トラックが500μm、4,7,1
0,13トラックが600μmに設定されている。
ョン16と略同様な形状であり、記録トラックと交差す
る位置に設けられている。従って、ブラックバンド17
は、周方向の幅寸法が同一アドレス番号では等しく、ア
ドレス番号が増すごとに段階的に広くなる形状となって
いる。本実施の形態においては、ブラックバンド17の
幅寸法は、2,5,8,11トラックが400μm、
3,6,9,12トラックが500μm、4,7,1
0,13トラックが600μmに設定されている。
【0024】尚、図4では、7トラックと8トラックの
間でブラックバンド17が途切れているが、これは製造
上の都合であり、もちろん連続して形成されていても良
い。図5はフィンガープリント18を拡大して示す平面
図である。図5に示されるように、フィンガープリント
18は、ディスク表面に付着した指紋をシュミレーショ
ンするための欠陥パターンで、ブラックバンド17と同
様に黒色の被膜が検査用ディスク11の読み取り面11
aに印刷されている。
間でブラックバンド17が途切れているが、これは製造
上の都合であり、もちろん連続して形成されていても良
い。図5はフィンガープリント18を拡大して示す平面
図である。図5に示されるように、フィンガープリント
18は、ディスク表面に付着した指紋をシュミレーショ
ンするための欠陥パターンで、ブラックバンド17と同
様に黒色の被膜が検査用ディスク11の読み取り面11
aに印刷されている。
【0025】また、フィンガープリント18は、ドット
径が75μm、半径方向のピッチが0.25mm、円周
方向のピッチが0.125mmに設定されている。尚、
図5では、7トラックと8トラックとの間でフィンガー
プリント18が途切れているが、これは製造上の都合で
あり、もちろん連続して形成されていても良い。
径が75μm、半径方向のピッチが0.25mm、円周
方向のピッチが0.125mmに設定されている。尚、
図5では、7トラックと8トラックとの間でフィンガー
プリント18が途切れているが、これは製造上の都合で
あり、もちろん連続して形成されていても良い。
【0026】このように、検査用ディスク11において
は、異なる種類の疑似的欠陥部であるインタラプション
16、ブラックバンド17、フィンガープリント18が
周方向に離間して設けられており、上記記録面11eに
記録された同一の記録トラックと交差するように形成さ
れているため、検査工程でピックアップ(図示せず)を
ディスク半径方向に移動させずに複数種類の擬似的欠陥
部を連続して検出することができ、ピックアップの移動
操作を省略して検査時間を短縮することが可能となる。
これにより、検査工程の検査効率を高めることができ
る。
は、異なる種類の疑似的欠陥部であるインタラプション
16、ブラックバンド17、フィンガープリント18が
周方向に離間して設けられており、上記記録面11eに
記録された同一の記録トラックと交差するように形成さ
れているため、検査工程でピックアップ(図示せず)を
ディスク半径方向に移動させずに複数種類の擬似的欠陥
部を連続して検出することができ、ピックアップの移動
操作を省略して検査時間を短縮することが可能となる。
これにより、検査工程の検査効率を高めることができ
る。
【0027】また、検査用ディスク11では、同一トラ
ック上に3種類の欠陥パターンであるインタラプション
16、ブラックバンド17、フィンガープリント18が
120°毎に設けられているので、従来の検査用ディス
クを使用する場合に比べてピックアップにとってはより
厳しい条件で検査されることとなる。したがって、この
点を考慮して各欠陥パターンの周方向の幅寸法を通常よ
り短くするようにしても良い。
ック上に3種類の欠陥パターンであるインタラプション
16、ブラックバンド17、フィンガープリント18が
120°毎に設けられているので、従来の検査用ディス
クを使用する場合に比べてピックアップにとってはより
厳しい条件で検査されることとなる。したがって、この
点を考慮して各欠陥パターンの周方向の幅寸法を通常よ
り短くするようにしても良い。
【0028】ここで、本発明の変形例について説明す
る。図6に示されるように、3種類の欠陥パターン15
(16〜18)は、上記実施例の如くディスク径方向に
一直線に並べる、すなわち等角度間隔で配置するだけで
なく、各トラックにおいて周方向で等距離間隔に配置す
るようにしてもよい。この場合、内周側トラックでも外
周側トラックでも各欠陥パターン15(16〜18)間
の周方向の距離が同一に設定されているので、トラック
位置に拘わらず同一の条件で検査することができる。
る。図6に示されるように、3種類の欠陥パターン15
(16〜18)は、上記実施例の如くディスク径方向に
一直線に並べる、すなわち等角度間隔で配置するだけで
なく、各トラックにおいて周方向で等距離間隔に配置す
るようにしてもよい。この場合、内周側トラックでも外
周側トラックでも各欠陥パターン15(16〜18)間
の周方向の距離が同一に設定されているので、トラック
位置に拘わらず同一の条件で検査することができる。
【0029】図7に示されるように、3種類の欠陥パタ
ーン15(16〜18)すべてを同一トラック上に配置
するだけでなく、そのうち2種類だけを同一トラックに
配置して、他の1種類の欠陥パターンは別のトラック上
に配置して、個別に検査できるようにしても良い。図8
に示されるように、検査ディスク11の情報読み取り面
11aを内周側の領域20と、外周側の領域21の2つ
の領域に分けて、そのうち外周側の領域21には3種類
の欠陥パターン15(16〜18)を同一トラック上に
配置し、内周側の領域20にはそのうちの1種類だけの
欠陥部、例えばインタラプション16を配置するように
してもよい。
ーン15(16〜18)すべてを同一トラック上に配置
するだけでなく、そのうち2種類だけを同一トラックに
配置して、他の1種類の欠陥パターンは別のトラック上
に配置して、個別に検査できるようにしても良い。図8
に示されるように、検査ディスク11の情報読み取り面
11aを内周側の領域20と、外周側の領域21の2つ
の領域に分けて、そのうち外周側の領域21には3種類
の欠陥パターン15(16〜18)を同一トラック上に
配置し、内周側の領域20にはそのうちの1種類だけの
欠陥部、例えばインタラプション16を配置するように
してもよい。
【0030】尚、検査ディスク11は、音楽用のディス
ク再生装置だけでなくCD−ROM再生装置やDVD再
生装置、MD(ミニディスク)装置のような光磁気ディ
スク装置等にも適用できるのは勿論である。また、検査
ディスク11は、直径12cmのディスクに限らず、例
えば直径8cmのディスクとすることができるのは勿論
である。
ク再生装置だけでなくCD−ROM再生装置やDVD再
生装置、MD(ミニディスク)装置のような光磁気ディ
スク装置等にも適用できるのは勿論である。また、検査
ディスク11は、直径12cmのディスクに限らず、例
えば直径8cmのディスクとすることができるのは勿論
である。
【0031】
【発明の効果】上述の如く、請求項1記載の発明によれ
ば、複数種類の擬似的欠陥部を周方向に離間させて配置
したため、検査工程でピックアップをディスク半径方向
に移動させずに複数種類の擬似的欠陥部を連続して検出
することができ、ピックアップの移動操作を省略して検
査時間を短縮することができる。これにより、検査工程
の検査効率を高めることができる。
ば、複数種類の擬似的欠陥部を周方向に離間させて配置
したため、検査工程でピックアップをディスク半径方向
に移動させずに複数種類の擬似的欠陥部を連続して検出
することができ、ピックアップの移動操作を省略して検
査時間を短縮することができる。これにより、検査工程
の検査効率を高めることができる。
【0032】また、請求項2記載の発明によれば、複数
種類の擬似的欠陥部を同一トラック上に離間させて配置
したため、ディスクが1回転すると全部の擬似的欠陥部
を検出することが可能であり、検査工程でピックアップ
をディスク半径方向に移動させずに複数種類の擬似的欠
陥部を連続して検出することができる。そのため、ピッ
クアップの移動操作を省略して検査時間を短縮すること
ができ、これにより、検査工程の検査効率を高めること
ができる。
種類の擬似的欠陥部を同一トラック上に離間させて配置
したため、ディスクが1回転すると全部の擬似的欠陥部
を検出することが可能であり、検査工程でピックアップ
をディスク半径方向に移動させずに複数種類の擬似的欠
陥部を連続して検出することができる。そのため、ピッ
クアップの移動操作を省略して検査時間を短縮すること
ができ、これにより、検査工程の検査効率を高めること
ができる。
【図1】本発明になる検査用ディスクの一実施例の平面
図である。
図である。
【図2】検査用ディスクを拡大して示す縦断面図であ
る。
る。
【図3】インタラプション16を拡大して示す平面図で
ある。
ある。
【図4】ブラックバンド17を拡大して示す平面図であ
る。
る。
【図5】フィンガープリント18を拡大して示す平面図
である。
である。
【図6】検査用ディスクの変形例1の平面図である。
【図7】検査用ディスクの変形例2の平面図である。
【図8】検査用ディスクの変形例3の平面図である。
【符号の説明】 11 検査用ディスク 15 欠陥パターン 16 インタラプション 17 ブラックバンド 18 フィンガープリント
Claims (2)
- 【請求項1】 検査用信号が記録された検査用信号記録
トラックと、該検査用信号記録トラックと交差するよう
に形成された複数種類の擬似的欠陥部とを記録面に形成
された検査用ディスクにおいて、 前記複数種類の擬似的欠陥部を周方向に離間させて配置
したことを特徴とする検査用デイスク。 - 【請求項2】 検査用信号が記録された検査用信号記録
トラックと、該検査用信号記録トラックと交差するよう
に形成された複数種類の擬似的欠陥部とを記録面に形成
された検査用ディスクにおいて、 前記複数種類の擬似的欠陥部を同一トラック上に離間さ
せて配置したことを特徴とする検査用デイスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10119041A JPH11312341A (ja) | 1998-04-28 | 1998-04-28 | 検査用ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10119041A JPH11312341A (ja) | 1998-04-28 | 1998-04-28 | 検査用ディスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11312341A true JPH11312341A (ja) | 1999-11-09 |
Family
ID=14751488
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10119041A Pending JPH11312341A (ja) | 1998-04-28 | 1998-04-28 | 検査用ディスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11312341A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100462285B1 (ko) * | 2001-06-13 | 2004-12-17 | 티아크 가부시키가이샤 | 검사용 광디스크 및 그 제조방법 |
| KR100464434B1 (ko) * | 2002-10-23 | 2005-01-03 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크 드라이브의 디펙트 마킹 방법 및 이에 적합한기록 매체 |
| WO2008062628A1 (en) * | 2006-11-24 | 2008-05-29 | Sony Computer Entertainment Inc. | Method for generating pattern with pseudo-stain and optical test disk |
| JP2010165402A (ja) * | 2009-01-14 | 2010-07-29 | Almedio Inc | 光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク及び評価方法 |
-
1998
- 1998-04-28 JP JP10119041A patent/JPH11312341A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100462285B1 (ko) * | 2001-06-13 | 2004-12-17 | 티아크 가부시키가이샤 | 검사용 광디스크 및 그 제조방법 |
| KR100464434B1 (ko) * | 2002-10-23 | 2005-01-03 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크 드라이브의 디펙트 마킹 방법 및 이에 적합한기록 매체 |
| WO2008062628A1 (en) * | 2006-11-24 | 2008-05-29 | Sony Computer Entertainment Inc. | Method for generating pattern with pseudo-stain and optical test disk |
| JP5427413B2 (ja) * | 2006-11-24 | 2014-02-26 | 株式会社ソニー・コンピュータエンタテインメント | 擬似汚れ付着パターン生成方法および光検査用ディスク |
| JP2010165402A (ja) * | 2009-01-14 | 2010-07-29 | Almedio Inc | 光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク及び評価方法 |
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