JPH11312702A - ウエハに対する半田ボールマウント装置 - Google Patents

ウエハに対する半田ボールマウント装置

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JPH11312702A
JPH11312702A JP10132696A JP13269698A JPH11312702A JP H11312702 A JPH11312702 A JP H11312702A JP 10132696 A JP10132696 A JP 10132696A JP 13269698 A JP13269698 A JP 13269698A JP H11312702 A JPH11312702 A JP H11312702A
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Tatsuharu Kobayashi
樹治 小林
Hiroshi Kakigi
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ウエハ上の不良品チップに対する半田ボールの
マウントをキャンセルし、半田ボールの無駄を防止する
と共にウエハ上の複数個のチップに対して同時に半田ボ
ールをマウントすることを可能とする。 【解決手段】本発明は上記課題を解決するため、次の手
段を採用する。第1に、半田ボール吸着穴の配列パター
ンが同一である複数のマウントヘッドを設ける。第2
に、該複数のマウントヘッドを各々単独で昇降可能に保
持する。第3に、ウエハ上のチップ配置パターン又はウ
エハ上のチップ配置パターンと不良品チップ位置データ
に基づき上記複数のマウントヘッドの昇降を制御して、
半田ボールをウエハ上のチップにマウントする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップに用
いられる接合用微小半田ボールをマウントする装置の改
良に関するものであって、半田ボール吸着穴の配列パタ
ーンが同一の複数のマウントヘッドにより、ウエハ上の
半導体チップに直接半田ボールをマウントする装置であ
る。
【0002】
【従来の技術】従来、ウエハ状態でのバンプの形成では
メッキ法、印刷法等が主流であった。メッキ法や印刷法
の場合、ウエハ上に一括でバンプを形成するため、不良
品チップにも全てバンプを形成してしまっていた。
【0003】また、従来より半導体チップに接合用の半
田ボールをマウントする装置も存在した。しかし、従来
の半田ボールマウント装置は、半導体チップが単体ある
いは複数個を具備するフレームにより搬送されるため、
半導体チップ単体だけか、搬送フレーム中の半導体チッ
プ数に応じた個数のマウントヘッドを有するものであっ
た。
【0004】ところが、近年の半田ボールの使用普及に
伴い、生産向上が要求されるようになり、ウエハ上のチ
ップに直接半田ボールをマウントするニーズが高まって
きている。ウエハ上には同一のチップが多数配列されて
いるため、一度にいくつものチップにマウントできる可
能性がある。このチップを1個ずつマウントしていたの
では効率が悪い。このため、特許第2657356号特
許公報に記載された装置のように、例えばウエハ上の隣
接する4個のチップに対し一度にマウントすることが試
されている。
【0005】しかし、図5に示すようにウエハ1上には
良品チップ2以外に不良品チップ3(図5中×が付され
たチップ)も存在しており、特許2657356号に記
載された方法でマウントしていくと、不良品チップ3に
も半田ボールを搭載することとなり、半田ボールの無駄
が生じる。図6に示すウエハ1のように不良品チップ3
が少数の場合、この半田ボールの無駄はコスト的に問題
とならないが、多数存在するとコスト的に問題となる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、ウエハ1上
の不良品チップ3に対する半田ボールのマウントをキャ
ンセルし、半田ボールの無駄を防止すると共にウエハ上
の複数個のチップに対して同時に半田ボールをマウント
することを可能とするウエハに対する半田ボールマウン
ト装置を提供するものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するため、半田ボール吸着穴の配列パターンが同一であ
る複数のマウントヘッドを有し、該複数のマウントヘッ
ドを各々単独で昇降可能に保持し、ウエハ上のチップ配
置パターン又はウエハ上のチップ配置パターンと不良品
チップ位置データに基づき上記複数のマウントヘッドの
昇降を制御して、半田ボールをウエハ上のチップにマウ
ントするウエハに対する半田ボールマウント装置を提供
する。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、図示の実施例と共に本発明
の実施の形態について説明する。図1は、本発明に係る
半田ボールマウント装置の一実施例を示す平面概略図で
あり、半田ボールマウント装置は、独立して昇降する4
つのマウントヘッドを有するマウントユニット4、ボー
ル供給ユニット5、ボール吸着確認ユニット6、ボール
排出ボックス7、ウエハステージ8、ウエハマガジン
9、10、マウントヘッド及びマウントユニットを駆動
する駆動装置11、12から構成される。
【0009】マウントユニット4には、半田ボール吸着
穴の配列パターンの同一である複数のマウントヘッドが
設けられる。図2に示されるマウントユニット4では、
図3に略図的に示されるように4個のマウントヘッド1
4、15、24、25を有している。1つのマウントヘ
ッド14の下面には、1個のチップ分の半田ボールだけ
を搬送し、マウントすることができる半田ボール吸着穴
の配列パターンが形成されている。他のマウントヘッド
15、24、25の下面にも同一配列パターンの半田ボ
ール吸着穴が形成されている。
【0010】マウントユニット4は、駆動装置12によ
り上下に昇降自在のヘッド保持部13を有し、ヘッド保
持部13には4つのマウントヘッド14、15、24、
25が取り付けられている。尚、個々のマウントヘッド
14、15、24、25には、マウントユニット4とは
別個に昇降するためのエアシリンダ20が設けられてい
る。
【0011】半田ボールマウント装置では、マウントヘ
ッド14、15、24、25の移動は、駆動装置11、
12によりマウントユニット4の移動と一体に行われ
る。まず、マウントユニット4は、ボール供給ユニット
5上方へ駆動装置11により移動し、駆動装置12によ
り下降してマウントヘッド14、15、24、25下面
に形成された吸着穴で半田ボール16を吸着する。
【0012】4つのマウントヘッド14、15、24、
25の全部に半田ボールを吸着する場合には、上記のよ
うにマウントユニット4の昇降によるのみでよい。3つ
のマウントヘッド14、24、25でのみ半田ボールを
吸着する場合には、図3に示すように半田ボールを吸着
しないマウントヘッド15のエアシリンダ20が作動
し、図3に示すように該マウントヘッド15のみを上方
へ位置させ、その後にマウントヘッド15のみ真空吸引
装置への接続を切断した状態で、半田ボール吸着のた
め、マウントユニット4を下降させ、3つのマウントヘ
ッド14、24、25に半田ボールを吸着させるのであ
る。尚、半田ボール16の吸着は図示されていない別設
の真空吸引装置で行なわれており、図2中符号21は、
マウントヘッド14、15と真空吸引装置とを接続する
連結管である。
【0013】2つのマウントヘッド14、24及び1つ
のマウントヘッド14へ半田ボールを吸着させる場合に
も、半田ボールを吸着しないマウントヘッドをエアシリ
ンダ20により上方へ退避させ、真空吸引装置への接続
を切断して半田ボールの吸着を行う。
【0014】次にマウントユニット4はボール吸着確認
ユニット6へ移動し半田ボール16の吸着漏れと余分に
吸着している半田ボール16のチェックを行う。吸着漏
れがあった場合には再度ボール供給ユニット5へ戻り吸
着作業を行う。余分なものがあった場合にはボール排出
ボックス7へと移動し排出する。
【0015】その後、マウントユニット4は図4に示す
ウエハステージ8へと移動する。ウエハステージ8では
ウエハ1が、あらかじめ位置決めされて待機している。
ウエハ1は、未マウントのウエハ1が収納されたウエハ
マガジン9より取り出され、図示されていないフラック
ス供給装置にてフラックスを塗布されて、ウエハステー
ジ8へと供給される。
【0016】ウエハステージ8上でウエハ1全体の画像
を、図示されていない画像認識カメラにて取り込み、ウ
エハ1の位置決めと良品チップ2及び不良品チップ3の
ウエハ1内ポジションの確認を行う。この時、画像認識
カメラを用いることなく、前工程であるウエハ検査にて
認識した不良品チップ3の位置データを伝送して用いる
こともできる。この良品チップ2、不良品チップ3の位
置データから、効率よく半田ボールのマウントができる
パターンを演算する。
【0017】このとき4つのマウントヘッド全てを用い
てマウントできる位置データの個数が変数Fに代入され
る(便宜的に4個取りヘッドのマウント数と称する)。
次に、4つのマウントヘッドの内、例えば図3の右下の
マウントヘッドを除いた3つのマウントヘッドを用いて
マウントできる位置データの個数が変数T1に代入され
る(便宜的に、くの字3個取りヘッドのマウント数と称
する)。
【0018】4つのマウントヘッドの内、例えば図3で
左上のマウントヘッドを除いた3つのマウントヘッドを
用いてマウントできる位置データの個数が変数T2に代
入される(便宜的に、逆くの字3個取りヘッドのマウン
ト数と称する)。4つのマウントヘッドの内、隣接する
上下又は左右の2個のマウントヘッドを除いた2個のマ
ウントヘッドを用いてマウントできる位置データの個数
が変数Dに代入される(便宜的に、2個取りヘッドのマ
ウント数と称する)。
【0019】4つのマウントヘッドの内、1個のマウン
トヘッドを用いてマウントできる位置データの個数が変
数Sに代入される(便宜的に、シングルヘッドのマウン
ト数と称する)。
【0020】次に、マウント動作に移り、4個取りヘッ
ドの使用が可能な場所に、4チップ分の半田ボールをマ
ウントする。4個取りヘッド使用可能な場所を、すべて
マウントし終わると、図3に示すように1つのマウント
ヘッド15の昇降装置であるエアシリンダ20が作動
し、1つのマウントヘッド15が上方へ退避する。この
退避動作は、くの字3個取りヘッドでのマウントの際
に、既にウエハ上にマウントされている半田ボールとマ
ウントヘッド15の干渉を避けるためである。尚、この
上方への退避動作は他の場合においても同様の意味を持
つ。
【0021】続いて、くの字3個取りヘッド、逆くの字
3個取りヘッドでのマウントを行う。その後更に、1個
のマウントヘッドが上方へ退避し、2個取りヘッドにて
マウントを行う。これが終了した時点で更に1個のマウ
ントヘッドを上昇退避させ、シングルヘッドによりマウ
ントする。
【0022】ボール供給ユニット5及びマウント時のボ
ール吸着のための動作及びマウント動作としてのマウン
トヘッド14、15、24、25の下降は、マウントユ
ニット4の駆動装置12にて一体的に行われる。
【0023】尚、ウエハ1上でのマウント対象チップ間
の移動、すなわち平面での移動(X軸、Y軸、θ軸への
移動)は、ウエハステージ8の、XYテーブル17及び
回転テーブル18にて行う。
【0024】以下本実施例の制御例について図9に従っ
て説明する。半田ボールマウント装置スタート後、ウエ
ハ1上の不良品チップ3の位置データの取り込みを行
う。ウエハ1上の不良品チップ3の位置データは、前工
程での検査の際のデータを一括外部入力してもよく、又
は本装置における画像認識装置による不良品チップ3の
位置データの取り込みであってもよい。
【0025】次に、ウエハ1上の不良品チップ3をスキ
ップし、かつ最適なボールマウント順序を計算する。マ
ウントユニット4のマウントヘッド14、15、24、
25によるマウント数の内、4個取りヘッドマウント数
が変数Fに、くの字3個取りヘッドマウント数が変数T
1に、逆くの字3個取りヘッドマウント数が変数T2
に、2個取りヘッドマウント数が変数Dに、シングルヘ
ッドマウント数が変数Sに代入される。
【0026】ここで、ボールマウント動作がスタート
し、まず、4個取りヘッドによるボールマウントが行わ
れる。図7において隣接するチップ4個を連結する四角
形が4個取りヘッドによるボールマウント位置である。
1回のマウント動作で、F=F−1の計算がなされ、F
=0かどうかのチェックが行われる。F=0でない間
は、4個取りヘッドによるボールマウントが行われる。
変数Fに代入された回数が終了し、F=0が成立したと
き、くの字3個取りヘッドによるボールマウントへ移行
する。
【0027】図7において、くの字形に隣接する3個の
チップを連結するくの字図形が、くの字3個取りヘッド
によるボールマウント位置である。くの字3個取りヘッ
ドによるボールマウントでは、1回のマウント動作で、
T1=T1−1の計算がなされる。T1=0か否かのチ
ェックが行われ、T1=0でない間は、くの字3個取り
ヘッドによるボールマウントが行われる。変数T1に代
入された回数が終了し、T1=0が成立したとき、逆く
の字3個取りヘッドによるボールマウントへ移行する。
【0028】図7において、逆くの字形に隣接する3個
のチップを連結する逆くの字図形が、逆くの字3個取り
ヘッドによるボールマウント位置である。逆くの字3個
取りヘッドによるボールマウントでは、1回のマウント
動作で、T2=T2−1の計算がなされ、T2=0か否
かのチェックが行われ、T2=0でない間は逆くの字3
個取りヘッドによるボールマウントが行われる。変数T
2に代入された回数が終了し、T2=0が成立したと
き、2個取りヘッドによるボールマウントへ移行する。
尚、逆くの字3個取りヘッドによるマウントはウエハス
テージ8の回転テーブル18のΘ軸を180度回転させ
ることによって、くの字3個取りヘッドで実施すること
も可能である。
【0029】図7において、横又は縦に隣接する2個の
チップを連結する棒状図形が2個取りヘッドによるボー
ルマウント位置である。2個取りヘッドによるボールマ
ウントでは、1回のマウント動作で、D=D−1の計算
がなされる。D=0か否かのチェックが行われ、D=0
でない間は2個取りヘッドによるボールマウントが行わ
れる。変数Dに代入された回数が終了し、D=0が成立
したとき、シングルヘッドによるボールマウントへ移行
する。
【0030】図7において○図形がシングルヘッドによ
るボールマウント位置である。シングルヘッドによるボ
ールマウントでは、1回のマウント動作で、S=S−1
の計算がなされ、S=0か否かのチェックが行われ、S
=0でない間はシングルヘッドによるボールマウントが
行われる。変数Sに代入された回数が終了し、S=0が
成立したとき、ボウルマウントは終了する。
【0031】以上の制御例は、ボールマウントに必要な
マウントヘッドに半田ボールを吸着させてマウント動作
を行う場合である。しかし、半田ボール吸着時には全て
のマウントヘッド14、15、24、25を下降させて
おき、半田ボールを吸着させ、マウント時にチップパタ
ーンに合わせてマウント不要な位置のマウントヘッドを
上昇退避させ、必要部分のみをマウントし、その後にマ
ウントしなかった残りのマウントヘッドを端数チップ部
分に移動した後、降下させ、マウントを終了したマウン
トヘッドを上昇退避させてマウントする制御例も考えら
れる。
【0032】本実施例及び上記例は、不良品チップ3
が、ある程度多数存在する場合について説明するが、図
6に示すウエハ1のように不良品チップ3(図6中×記
号で明示された部分)が、少数の場合、すなわち半田ボ
ールの無駄が無視できる程度に少数の場合、不良品チッ
プ3の位置データを取り込むことなく、図8に示すよう
にチップ配置パターンにのみ基づいてボールマウントす
ることもできる。
【0033】
【発明の効果】本発明は、第1に、半田ボール吸着穴の
配列パターンが同一である複数のマウントヘッドにて、
同時にウエハ上の複数のチップに対して半田ボールをマ
ウントするものであるため、半田ボールマウントに要す
る時間が減少する。
【0034】第2に、該複数のマウントヘッドを各々単
独で昇降可能に保持し、ウエハ上のチップ配置パターン
又はウエハ上のチップ配置パターンと不良品チップ位置
データに基づき上記複数のマウントヘッドの昇降を制御
するので、不良品チップへのボールマウントが避けら
れ、半田ボールの無駄が省ける。
【図面の簡単な説明】
【図1】半田ボールマウント装置の一実施例を示す平面
概略図
【図2】マウントユニットの断面説明図
【図3】複数マウントヘッドの昇降状態を示す概略斜視
図
【図4】ウエハステージの斜視図
【図5】不良品チップの比率の高いウエハの平面説明図
【図6】不良品チップの比率の低いウエハの平面説明図
【図7】ウエハ上でのマウントの一例を示す正面説明図
【図8】ウエハ上でのマウントの他例を示す平面説明図
【図9】制御例を示す説明図
【符号の説明】
1............ウエハ 2............良品チップ 3............不良品チップ 4............マウントユニット 5............ボール供給ユニット 6............ボール吸着確認ユニット 7............ボール排出ボックス 8............ウエハステージ 9、10.........ウエハマガジン 11、12........駆動装置 13...........ヘッド保持部 14、15、24、25..マウントヘッド 16...........半田ボール 17...........XYテーブル 18...........回転テーブル 20...........エアシリンダ 21...........連結管

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半田ボール吸着穴の配列パターンが同一で
    ある複数のマウントヘッドを有し、該複数のマウントヘ
    ッドを各々単独で昇降可能に保持し、ウエハ上のチップ
    配置パターン又はウエハ上のチップ配置パターンと不良
    品チップ位置データに基づき上記複数のマウントヘッド
    の昇降を制御して、半田ボールをウエハ上のチップにマ
    ウントするウエハに対する半田ボールマウント装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003051668A (ja) * 2001-08-06 2003-02-21 Tdk Corp 電子部品の製造方法と製造装置
KR100482810B1 (ko) * 2001-12-28 2005-04-14 동부아남반도체 주식회사 솔더볼 공급장치

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JP2003051668A (ja) * 2001-08-06 2003-02-21 Tdk Corp 電子部品の製造方法と製造装置
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