JPH11312781A - ブリッジ型半導体装置及びその製造方法 - Google Patents

ブリッジ型半導体装置及びその製造方法

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JPH11312781A
JPH11312781A JP13449998A JP13449998A JPH11312781A JP H11312781 A JPH11312781 A JP H11312781A JP 13449998 A JP13449998 A JP 13449998A JP 13449998 A JP13449998 A JP 13449998A JP H11312781 A JPH11312781 A JP H11312781A
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JP
Japan
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semiconductor chip
die pad
lead frame
lead
bridge
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Application number
JP13449998A
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English (en)
Inventor
Koji Furusato
広治 古里
Mitsumasa Sasaki
光政 佐々木
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Shindengen Electric Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Shindengen Electric Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】電子機器等の小型、薄型、低コスト及び高信頼
性化に適合するブリッジ型半導体装置及びその製造方法
を提供する。 【解決手段】X方向とY方向に複数個マトリックスに半
導体チップを配置するダイパッド部と実装時に使用する
端子部を有するリードフレームを用いて、樹脂封止部の
一側面から交流入力(又は直流出力)用の第1及び第2
端子を配置し、その反対側の側面から直流出力(又は交
流入力)用の第3端子及び第4端子を配置し、各端子の
延長上にダイパッド部を有し、そのダイパッド部にブリ
ッジ回路に半導体チップを接続し、ブリッジ型半導体装
置を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】本発明は、電気及び電子機器等に適用され
るブリッジ型半導体装置の構造及びその製造方法に関す
る。 (2)
【0002】
【従来の技術】この種の従来装置の製法は、実用新案登
録第2566480号に詳述されているように、1枚の
リードフレーム(金属板)上の夫々ダイパッド部に各半
導体チップを導電極性(N側又はP側)を揃えて搭載
し、更に夫々チップ間に接続子を配置組み立て、これを
はんだ付けした後、トランスファーモールド法等により
樹脂封止している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来方法では半
導体チップの導電極性を揃えて組み込むことが可能なた
めこの点で組み立て工数を大幅に向上できる利点がある
が、夫々半導体チップ間を個々の接続子により接続する
工程を要するために同時大量生産方法としては問題があ
り、又、製品の形状が大きくなる難点がある。
【0004】本発明は上記の問題点に鑑み、近年の電子
機器の小型化、高信頼、低価格化に適応し得る安定且つ
量産に適した生産性の高い製造方法及び装置の提供を目
的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、X方向及びY
方向にブリッジ単位ユニットが連接された同一形状又は
略同一形状の2枚のリードフレーム間に半導体チップを
挟持する如く組み立てはんだ付けするようにしたもので
ある。また、半導体チップが組み立てられた状態で、リ
ードフレームの一部を除去することにより、1枚の状態
と同様の構造となり、生産性を高められる。除去方法は
レーザを用いることにより、半導体チップに機械的スト
レスを与えることなく、切断が可能となる。
【0006】(3)
【発明の実施の形態】請求項1の発明は、互いに平行状
態に配置されると共に、間隔を設けて2つの半導体チッ
プを搭載するスペースを持つダイパッド部と、これと一
体の端子部を備えた金属板ユニットをXY方向に複数個
連接した第1のリードフレーム及び第2のリードフレー
ムの夫々ダイパッド間に半導体チップを挟持してはんだ
付けするようにしたことを特徴とするブリッジ型半導体
装置の製造方法を提供するもので、これによりブリッジ
ダイオードの量産を可能にする。
【0007】請求項2の発明は、樹脂封止工程を付加す
ることにより樹脂封止型ブリッジダイオードの量産を可
能にした。請求項3の発明は、樹脂封止工程に先立って
一方のリードフレームの一部をレーザ切断で除去する工
程を含むブリッジ型半導体装置の製造方法を提供するも
ので、これによりトランスファーモールド時の樹脂流れ
をスムーズにして樹脂の充填漏れを防ぎ、製品信頼性の
向上を図る。
【0008】請求項4の発明は、半導体チップのはんだ
付け後、第1及び第2リードフレームをブリッジ単位ユ
ニットに分割する切断工程を含むブリッジ型半導体装置
の製造方法を提供するもので、これにより分割時の半導
体チップへのダメージを防止する。
【0009】請求項5の発明は、一方の平行配置された
ダイパッド部に導電極性を異にして搭載された第1第2
の半導体チップ及び第3第4の半導体チップと、該半導
体チップ上に該ダイパッド部と略直角方向に平行配置さ
れた他方のダイパッド部と、該一方のダイパッド部から
伸張する第1、第2のリード端子と、他方のダイパッド
部から該リード端子と反対方向に伸張する第3、第4の
リード端子と、該ダイパッド部及び半導体チップと、該
リード端子の一部を封止する樹脂部を (4) 備えたブリッジ型半導体装置を提供する。
【0010】
【実施例】図1、図2及び図3は本発明の一実施例を示
すブリッジ型半導体装置の平面図、側面図及び電気的等
価回路図で、各図においてD1〜D4は半導体(ダイオ
ード)チップ、1〜4はリード端子、16は樹脂部であ
る。又、リード端子3、4及びこれと夫々一体化された
ダイパッド部3a、4aは略斜め方向に平行状態に配置
され、各ダイパッド部3a、4aには間隔を設けて2つ
の半導体チップD1、D4又はD2、D3を搭載するス
ペースを持ち、後述する一方のリードフレームから分割
される。又、装置の裏面側のリード端子1、2も同様な
ダイパッド部1a、2aを有し、他方のリードフレーム
から分割される。そして各ダイパッド3a、4a及び1
a、2a間には導電極性(P又はN)の異なる如く半導
体チップD1〜D4が挟持されており、この構造は所謂
小型薄型の表面実装タイプ(SMD)を示す。因みにこ
の実施例構造は、縦が約5mm、横が約4mm、高さが約
1.5mmの形状を持つ。
【0011】図4、図5は本発明に適用するリードフレ
ームの構造を示し、各(a)図は平面図、(b)図は部分的
拡大図である。図中Aは一方のリードフレーム、Bは他
方のリードフレームで一方のリードフレームAにおいて
5及び5aは、枠体を兼ねたサイドレール、6及び6a
はパイロット穴、又AUは該枠体内の電極板単位ユニット
でリード端子1及び2と略平行配置されたダイパッド部
1a、1bを持つ。そしてこの単位ユニットは枠体内で
X方向(矢印)及びY方向に複数個連接されている。
【0012】次に図5の他方のリードフレームBもフレ
ームAと同等サイドレール7、7aとパイロット穴8、
8aと単位ユニットBUを有する。尚、ユニットBUに
おいてダイパッド部3a、4bは略水平方向に平行状態
に配置されている。
【0013】(5)次に本発明装置の製造方法につい
て、図4、図5、図6及び図7を参照して説明 する。先ず、ダイパッド部に予めはんだ等が印刷された
リードフレームAを図示しない治具等に置き、次いで該
ダイパッド部1a、2aにダイオードチップD2、D3
及びD1、D4を夫々極性を異にして組み込む。次いで
リードフレームBのダイパッド部3a、4aが該ダイパ
ッド部1a、2aと直交する如く該リードフレームBを
載置する。この状態でブリッジ回路が形成され、これを
加熱によるはんだ付けで接合し一体化する。図6はこの
状態を示す。(a)図は平面図、(b)図は側面図である。
因みにリードフレームA、Bは、半導体装置を複数個同
時に組み立てる為に、例えばX方向に25個でY方向に
5個の125個分を有する構造となっている。
【0014】次の工程では、半導体装置は信頼性及び機
械的強度の確保等の目的で、トランスファーモールド法
等により樹脂部16を形成するが、2枚のリードフレー
ムA、Bを重ね合わせたサイドレール切断前の状態で
は、サイドレールが二重(7、5)になっており、トラ
ンスファーモールド法で樹脂部を形成時固定しにくい、
サイドレール間に樹脂が入り込んでしまう恐れがあり、
その為、組み立て後にサイドレールの一方7を除去する
必要がある。プレス等を用いて金型で切断すると、半導
体チップに機械的ストレスを与えて接続部のはんだに亀
裂を生じるので、レーザを用いてサイドレールの一方7
を除去する。図7はこの状態を示し(a)図は平面図、
(b)図は側面図である。
【0015】次に樹脂封止工程でトランスファーモール
ド法等により樹脂部16を夫々ユニット部に形成し、切
断装置等により露出する不要な枠体を除去し、個々のブ
リッジダイオードに分割する。
【0016】図8は、本発明に適用するリードフレーム
の他の実施例を示す平面図で、(a)図 (6) はリードフレームA、(b)図はリードフレームB、(c)
図は半導体チップを挟持した状態を示す。この実施例で
フレームAは前記実施例(図4)と同一形状であり(b)
図において、フレームBもAを同一形状にしたことであ
る。この構造では同一フレーム二枚(A、B)の組み合わ
せて構成される為、フレーム自体が作り易く、生産性が
向上する。尚、完成後のブリッジダイオードは平面形状
が略菱形になり、半導体チップからの発熱を均等に分散
できる。
【0017】
【発明の効果】以上、本発明のブリッジ型半導体装置に
ついて説明したが、端子部が4端子以外の半導体装置で
も同様の効果が得られる。また、本発明のリードフレー
ム長さは、長尺なほど生産性が高まり、一定の長さに限
定するものではなく応用範囲が広い。又、半導体チップ
と、接続のはんだ及び略同一形状の2枚のリードフレー
ムのみで、複数個同時に組み立てでき、生産性の高いブ
リッジ型半導体装置を提供できる。樹脂部形成前の機械
的に弱い状態のリードフレームをレーザにより、ストレ
スを与えることなく、不要な部分を容易に除去できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す平面図
【図2】本発明の一実施例を示す側面図
【図3】電気的等価回路図
【図4】本発明に適用するリードフレームAの構造図
【図5】本発明に適用するリードフレームBの構造図
【図6】本発明の製法を説明する工程図 (7)
【図7】本発明の製法を説明する工程図
【図8】本発明に適用するリードフレームの他の実施例
【符号の説明】
1、2,3,4 リード端子 1a、2a、3a、4a ダイパッド部 5、5a、7、7a サイドレール 6、6a、8、8a パイロット穴 AU、BU 単位ユニット D1、D2、D3、D4 半導体(ダイオード)チップ 16 樹脂

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに平行状態に配置されると共に、間
    隔を設けて2つの半導体チップを搭載するスペースを持
    つダイパッド部と、これと一体の端子部を備えた金属板
    ユニットをXY方向に複数個連接した第1のリードフレ
    ーム及び第2のリードフレームの夫々のダイパッド間に
    半導体チップを挟持してはんだ付けするようにしたこと
    を特徴とするブリッジ型半導体装置の製造方法。
  2. 【請求項2】 はんだ付けした後、樹脂封止する工程を
    含む請求項1のブリッジ型半導体装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 樹脂封止工程に先立って一方のリードフ
    レームの一部を除去する工程を含む請求項1又は請求項
    2のブリッジ型半導体装置の製造方法。
  4. 【請求項4】 半導体チップのはんだ付け後、第1及び
    第2リードフレームをブリッジ単位ユニットに分割する
    工程を含む請求項1,請求項2,又は請求項3のブリッ
    ジ型半導体装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 一方の平行配置されたダイパッド部に導
    電極性を異にして搭載された第1、2第2の半導体チッ
    プ及び第3、第4の半導体チップと、該半導体チップ上
    に該ダイパッド部と略直角方向に平行配置された他方の
    ダイパッド部と、該一方のダイパッド部から伸張する第
    1、第2のリード端子と、他方のダイパッド部から該リ
    ード端子と反対方向に伸張する第3、第4のリード端子
    と、該ダイパッド部及び半導体チップと、該リード端子
    の一部を封止する樹脂部を備えたブリッジ型半導体装
    置。
JP13449998A 1998-04-28 1998-04-28 ブリッジ型半導体装置及びその製造方法 Pending JPH11312781A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6762067B1 (en) * 2000-01-18 2004-07-13 Fairchild Semiconductor Corporation Method of packaging a plurality of devices utilizing a plurality of lead frames coupled together by rails
US8922015B2 (en) 2012-04-05 2014-12-30 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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