JPH11322196A - 長手方向に運動するテスト品の特性を測定する装置 - Google Patents
長手方向に運動するテスト品の特性を測定する装置Info
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Abstract
簡単に顧客の要求に及び製造機械の特殊な状態に合わせ
ることができる装置を提供する。 【解決手段】 本発明は、測定セル内において長手方向
に運動するテスト品の特性を測定する装置に関する。長
手方向に移動するテスト品のために、一層簡単に顧客の
要求に及び製造機械の特殊な状態に合わせることができ
る装置を提供するために、測定セル(1)は、測定セル
だけに所属のプロセッサ(6)に接続されている。
Description
て長手方向に運動するテスト品の特性を測定する装置に
関する。
定のために設けられており、かつ紡績−及びボビン機械
に配置されている場合、導線によって結合された3つの
部分を有し、すなわち測定セルを有する測定ヘッド、評
価ユニット、及び制御装置を有する。その際、制御装置
に、1つ又は複数の評価ユニットが、かつそれぞれの評
価ユニットに、1つ又は複数の測定ヘッドが接続されて
いる。測定ヘッドは、処理されていないアナログ又はア
ナログ及びディジタル信号を評価ユニットに送出する。
しかし評価ユニットは、測定ヘッドに信号も送出する。
評価ユニットは、例えば信号を閾値と比較することによ
って信号を評価し、かつ処理されたかつ場合によっては
ディジタル化された信号を制御装置に送出する。通常紡
績機あたり又はボビン機械あたり1つの制御装置が考慮
される。
要とする。紡績−又はボビン機械において糸にできるだ
けわずかしか空間を必要としないようにするために、測
定ヘッドは、できるだけ簡単に構成されている。これ
は、1つの機能だけしか、すなわち測定だけしか行なう
ことができない。このことは、このような周知の装置が
多くの部分を有し、これらの部分が多くの導線及びプラ
グ接続を介して互いに接続されており、かつそれに相応
して調達において高価であるということを意味する。紡
績−及びボビン機械における取付けも手間がかかりかつ
複雑である。それぞれの測定ヘッドは、固有に、かつ取
付けようとする機械を考慮して構成されているので、こ
のことは、紡績−又はボビン機械のそれぞれの構成様式
に対して特殊な測定ヘッド及び独自の評価ユニットを製
造するという意味でもある。
囲に特徴を示したような本発明は、長手方向に移動する
テスト品のために、一層簡単に顧客の要求に及び製造機
械の特殊な状態に合わせることができる装置を提供する
という課題を解決する。
装置によって達成される。すなわち長手方向に運動する
テスト品のための測定セルが、この測定セルのためだけ
に設けられたかつ所属のプロセッサに直接接続されてい
る。測定セル及びプロセッサは、一緒になって取り外し
不可能に結合されており、かつ第1の支持体上に配置さ
れており、又は自身のハウジング内にまとめられてい
る。その際、ディジタル化されかつすでに第1の評価を
受けた信号を伝送する導線のために1つだけの出力端子
が存在する。このような装置は、種々の役割のために複
数の測定セルを有することができ、これらの測定セル
は、一緒になって再び別の支持体上に又は別のハウジン
グ内に配置されている。種々の役割とは、例えば異なっ
た種類の測定、例えばテスト品の横断面又は質量の光学
的な又は容量的な測定、異物の測定、糸における毛深さ
の測定等のことである。プロセッサは、なるべくいわゆ
るASIC−構成ブロックとして、したがって顧客固有
の集積構成部分として構成されている。これは、光学測
定用の測定セル、容量測定用のもの等に接続されている
かどうかには関係なく、常に同じに構成されており、か
つ同じ機能を実行することができる。とくにこれは、信
号の増幅及び変換のために使われる。それ故にASIC
−構成ブロックは、少なくとも1つのアナログ−ディジ
タル−変換器を有する。このASIC−構成ブロック
は、しばしばアナログ信号のための複数の入力端子、及
びディジタル信号のための1つの出力端子を有する。別
の支持体は、測定セルを有する1つ又は複数の支持体又
はハウジングの他に、プロセッサ、とくにディジタル動
作する信号プロセッサ(DSP)を有し、このプロセッ
サは、複数のASIC−構成ブロックに接続するために
複数の入力端子を有する。測定セルを有する第1の支持
体は、取り外し可能な結合部、例えばプラグを介して別
の支持体に接続されている。
は、とくに次の点にある。すなわち測定ヘッドに対して
いくらかの間隔を置いて設けられた分離した評価ユニッ
トを省略することができる。それにより紡績−又はボビ
ン機械において測定ヘッド、評価ユニット及び制御装置
の間に、著しくわずかな結合部しか存在せず、このこと
は、それにより多くのプラグ結合部及びプリント板も省
略されるので、動作の確実性を高める。装置は、ずっと
わずかな標準化した部分しか持たないので、製造業者に
おけるこれらの部分の製造及び在庫管理が、同様に簡単
になる。それぞれの部分のさらに多くの個数が達成され
るので、これらは、さらに正確にかつさらに多くの手間
をかけてテストすることができる。なぜならそのために
独自のテスト装置が引合うからである。したがって“イ
ンテリジェンス”は、測定ヘッドに移されており、かつ
分散されているので、なお測定ヘッドから製造位置への
ケーブルを設けるだけでよく、かつこのケーブルは、デ
ィジタル信号を送り、このことは、妨害に対するシステ
ムの安全性を高める。ソフトウエアは、すでに測定ヘッ
ド内に蓄積されており、かつ必要に応じてもはやここに
ロードする必要はない。
つ添付の図面を引用して詳細に説明する。
セル2によって長手方向に運動するテスト品における特
性を測定する装置を示している。例えば第1の測定セル
は、すでに周知の糸清掃器において使用されているよう
な、光学的又は容量的に動作するセンサであることがで
き、かつテスト品の横断面又は質量を測定する。第2の
測定セル2は、例えばテスト品における異物を検出し又
は例えば毛深さ、着色、より等のようなテスト品の別の
特性を測定するセンサとして構成することができる。そ
の際、測定セル1及び測定セル2は、それぞれ第1の支
持体3又は4上に取付けられている。第1の支持体3、
4は、例えばプリント板として構成されている。第1の
支持体3上に別の構成部分が取付けられており、すなわ
ちそれぞれ1つのプロセッサ5及び6、及び計算機7が
取付けられている。プロセッサ5は、いわゆるASIC
として構成されており、かつ測定セル1から送出された
信号を増幅する。このプロセッサ5は、測定セル1に同
調されており、かつアナログ信号を処理する。プロセッ
サ6は、同様にASIC(顧客固有の集積回路)として
構成されているが、混合された信号に対して構成されて
いる。すなわちこれは、アナログ及びディジタル信号を
処理する。計算機7は、ディジタル信号プロセッサ(い
わゆるDSP)として構成されている。したがって計算
機7は、両方のプロセッサ5及び6を介しかつ導線8、
9及び10を介して測定セル1に取り外し不可能に結合
されている。なぜならこれらすべて及びその他の要素
も、通常の方法にしたがってプリント板として構成され
た第1の支持体3上に固定的に取付けられているからで
ある。さらに計算機7は、導線11を介してプラグ結合
部12に接続されている。導線8及び9は、アナログ信
号を伝送するが、一方プロセッサ6及び計算機7のため
の出力端子を形成する導線10及び11は、ディジタル
信号を伝送する。
様にプロセッサ13を有し、このプロセッサは、導線1
4を介して測定セル2に接続されている。プロセッサ1
3は、プロセッサ6と同じに構成されている。とくにプ
ロセッサ6及び13に対して、同一の構成部分が利用さ
れる。この第1の支持体4も、なるぺくプリント板とし
て構成されている。加えてプロセッサ13は、別の出力
端子15を有し、この出力端子は、プラグ結合部16に
連通されており、このプラグ結合部は、両方の第1の支
持体3と4の間に設けられており、かつこのプラグ結合
部に第1の支持体3上において導線17が連通してお
り、この導線は、計算機7に接続されている。
の他に、別の支持体18が設けられており、この支持体
は、ここでは2つの部分19、20からなり、かつ測定
セル1、2を有する両方の第1の支持体3、4のための
ハウジングを形成している。両方の第1の支持体3、4
は、ねじ結合を介して両方の部分19、20に固定され
ている。それ故にここには、ねじ結合21、22の一部
が認められる。両方の部分19、20は、同様にねじ結
合22、23を介して互いに固定されている。他方にお
いて別の支持体18は、結合部を介して例えば紡績−又
はボビン機械に取付けられている。別の支持体は、とく
にテスト品のための開口24も有し、かつこの開口内
に、他方において案内要素25が挿入でき、ここではこ
の案内要素は、離して示されている。別の案内要素2
6、27は、開口24内へのテスト品の挿入を容易にす
るために設けられており、かつ同様に別の支持体18に
取付けられている。
7、テスト品のための開口24及び別の部分18を有す
るまとめられた装置を示している。
ある:まとめられた装置において、テスト品が測定セル
1の開口29内に挿入され、かつこの中においてそれ自
体周知のようにその長手方向に動かされると、測定セル
1においてアナログ信号が発生され、これらのアナログ
信号は、導線8を介してプロセッサ6に供給され、この
プロセッサは、これらの信号をディジタル信号に変換す
る。処理は、例えば測定セルのプロセッサ5が、支持体
信号を供給し、この支持体信号が、テスト品によって変
調されることにあり、その際、変調された信号は、プロ
セッサ5において復調され、かつ増幅される。プロセッ
サ6においてテスト品の信号はディジタル化され、かつ
フィルタ処理される。しかしその際、プロセッサ6は、
例えば開口内の汚れの作用を補償し、又は消去するため
に、制御信号もプロセッサ5に送出する。導線10を介
してディジタル化された信号は、計算機7に送出され、
この計算機は、これを例えば閾値と比較し、かつ例えば
誤りアルゴリズムの適用のような処理ステップ、及び別
の評価を実行する。導線11及び出力端子又はプラグ結
合部12を介して、処理されかつ評価された信号は、例
えばこの装置を取付けた機械の中央制御部に到達する。
プロセッサ5も省略し、かつ測定セル1をプロセッサ6
に直接接続することは可能である。しかしこのことは、
利用された測定セル1の様式、及びこれが送出する信号
に従う。測定セル1が光学基本方式にしたがって動作す
る場合、このことが当てはまる。これが容量基本方式に
したがって動作する場合、プロセッサはきわめて望まし
い。
この測定セルは、同様にテスト品を測定し、又は操作す
る。これは、導線14を介してその信号をプロセッサ1
3に送出し、このプロセッサは、信号を増幅し、かつデ
ィジタル信号に変換する。この時、この信号は、出力端
子15、プラグ結合部16及び導線17を介して、計算
機7に到達し、ここにおいてこれは、同様に処理され、
かつ評価される。ここでは計算機7は、両方の測定セル
1、2からの信号を一緒に評価し、かつ両方の信号から
組合わせによって計算された値を導線11を介して送出
する。
いてプロセッサに取り外し不可能に結合されており、か
つ一緒になってモジュールを形成している。ハウジング
又は別の支持体は、複数の第1の支持体又はモジュール
を収容することができる。これらすべてのモジュール
は、そのすでにディジタル化された信号を1つの計算機
7に送出し、この計算機は、主モジュールに、ここでは
第1の支持体3に存在する。ただし複数のモジュールに
又はそれどころかすべてのモジュールに計算機を設ける
ことも考えることができる。しかしなるべく装置全体又
は測定ヘッドに対して、評価された信号のための1つの
出力端子12が明らかであり、これらの信号は、機械制
御部に供給することができる。利用されたプロセッサ
5、6、13は、すべて同じ構成を有し、かつすべて同
じ機能を実行することができる。しかし常に全ての機能
が利用されるわけではない。例えばプロセッサ5及び6
は、異なった処理を実行し、これらの処理は、他方にお
いてプロセッサ13における処理に正確に一致するわけ
ではない。したがってプロセッサ5、6及び13は、ア
ナログ信号のために考慮された処理に応じて割当てられ
る複数の入力端子30を有するが、ディジタル信号のた
めには1つだけの出力端子10を有する。このようにし
てそれぞれの測定セルに、多くの機能に対して構成され
た同じ構成ブロック5、6、13が所属しており、かつ
分離不可能にこれに結合されている。
の図である。
Claims (9)
- 【請求項1】 測定セル(1,2)が、測定セルだけに
所属のプロセッサ(6,13)に接続されていることを
特徴とする、測定セル内において長手方向に運動するテ
スト品の特性を測定する装置。 - 【請求項2】 測定セル及びプロセッサが、一緒になっ
て第1の支持体(3,4)上に配置されており、かつプ
ロセッサ(6,13)が、ディジタル信号のための出力
端子(10,15)を有することを特徴とする、請求項
1に記載の装置。 - 【請求項3】 別の支持体(18)が設けられており、
この支持体上に、測定セル(1)を有する少なくとも1
つの第1の支持体(3)が取付けられていることを特徴
とする、請求項2に記載の装置。 - 【請求項4】 別の支持体(18)上に、測定セル
(1,2)を有する第1の支持体(3,4)が配置され
ており、これらの測定セルが、異なった種類の測定を行
なうことができることを特徴とする、請求項3に記載の
装置。 - 【請求項5】 測定として、横断面の光学測定、質量の
容量測定及び異物の測定からなるグループのうちのそれ
ぞれ1つが考慮されていることを特徴とする、請求項4
に記載の装置。 - 【請求項6】 それぞれの測定セル(1,2)にプロセ
ッサとして、いわゆるASIC−構成ブロックが所属し
ており、この構成ブロックが、測定セル及びその測定と
は関係なく、同じ構成を有し、かつ同じ機能を実行する
ことができることを特徴とする、請求項1に記載の装
置。 - 【請求項7】 ASIC−構成ブロックが、アナログ信
号のための入力端子(30)、及びディジタル信号のた
めの出力端子(10,15)を有することを特徴とす
る、請求項6に記載の装置。 - 【請求項8】 第1の支持体(3)が、ディジタル動作
する信号プロセッサとして構成された計算機(7)を有
し、この計算機が、別の支持体上における測定セル
(1,2)からの信号のために1つの出力端子(11)
を有することを特徴とする、請求項3に記載の装置。 - 【請求項9】 測定セル及びASIC−構成ブロック
が、互いに取り外し不可能に結合されていることを特徴
とする、請求項6に記載の装置。
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