JPH11326450A - Ic測定用ハンドラ - Google Patents

Ic測定用ハンドラ

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Publication number
JPH11326450A
JPH11326450A JP10132866A JP13286698A JPH11326450A JP H11326450 A JPH11326450 A JP H11326450A JP 10132866 A JP10132866 A JP 10132866A JP 13286698 A JP13286698 A JP 13286698A JP H11326450 A JPH11326450 A JP H11326450A
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JP
Japan
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suction nozzle
suction
claws
nozzle
ring
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Pending
Application number
JP10132866A
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English (en)
Inventor
Hirobumi Iwasaki
岩崎  博文
Zenjiro Yamamoto
善二朗 山本
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 取り扱うICのサイズ変更に伴って、いちい
ち爪を交換する必要があるため段取りに時間がかかって
いた。 【解決手段】 上下方向に移動可能に支持された吸着ノ
ズル5と、この吸着ノズル5の先端部に装着され、吸着
ノズル5を通した真空引きによりICを吸着する吸着リ
ング7と、この吸着リング7に吸着されたICを位置決
めすべく開閉動作する4つの爪12とを備えたIC測定
用ハンドラにおいて、4つの爪12の開閉動作範囲を、
取り扱う各種サイズのICのうち、最小サイズのICの
位置決め基準幅と最大サイズのICの位置決め基準幅と
に対応して設定した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、組立の完了したI
Cを測定用のソケット等に供給するIC測定用ハンドラ
に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、組立の完了したICの電気的な
測定に際しては、被測定デバイスとなるICとテスト回
路とを電気的に接続するためにソケットが用いられてい
る。また、測定用のソケットへのICの供給や、ソケッ
トからのICの取り出しにはハンドラが用いられてい
る。
【0003】図10及び図11は従来におけるIC測定
用ハンドラの構造を説明する図であり、このうち、図1
0(a)はその正面図、10(b)はその底面図、図1
1はその側面図を示している。図において、チャックベ
ース51は平板状をなすもので、その上面中間部にはフ
レーム52が取り付けられている。フレーム52の両サ
イドには、それぞれチャッキング機構が設けられてい
る。なお、左右のチャッキング機構は同様の構成である
ため、ここでは一方のチャッキング機構の構成について
のみ説明する。
【0004】先ず、フレーム52の側部には直動ガイド
ユニット53及びスライダベース54を介して吸着ノズ
ル55が配設されている。この吸着ノズル55は、測定
対象物となるICを真空吸着するためのもので、そのノ
ズル下端部はチャックベース51の下方に突出して配置
されている。
【0005】吸着ノズル55の下端部には、図12
(a)に示すストッパーリング56と吸着リング57が
装着される。具体的な取付構造としては、図12(b)
に示すように、吸着ノズル55の先端にストッパーリン
グ56と吸着リング57を嵌め込んで、それぞれネジ
(セットスクリュー)58により固定する。また、スラ
イダベース54にはノズル上下用シリンダ59の出力ロ
ッドが接続され、このノズル上下用シリンダ59の駆動
により、スライダベース54と共に吸着ノズル55が上
下動する構成となっている。
【0006】一方、チャックベース51の下面側には、
ICを位置決めするための4つの爪60が配設されてい
る。各々の爪60は、相対向する2つの爪60同士が開
閉動作(接離動作)するよう、それぞれ爪取付板61を
介して直動ガイドユニット62に取り付けられている。
これに対して、チャックベース51の上面側には2枚の
リンク板63が設けられている。各々のリンク板63
は、爪開閉用シリンダ64のロッド先端に装着されたプ
ッシャー65に図示せぬバネの力をもって圧接状態に保
持されている。さらに、各々のリンク板63は、図示せ
ぬスタッドピンを介して上記爪取付板61に連結されて
いる。
【0007】この構成では、爪開閉用シリンダ64の駆
動により、その出力ロッドを押し出すようにすると、2
枚のリンク板63がプッシャー65に押されて回転す
る。このとき、各々のリンク板63は、吸着ノズル55
の軸心位置を中心に回転する。これにより、チャックベ
ース51下面側の4つの爪60は、それぞれ直動ガイド
ユニット62に案内されて移動する。このときの移動方
向は、相対向する爪60同士が接近する方向、つまり閉
じる方向となる。
【0008】これに対して、爪開閉用シリンダ64の駆
動を停止(または先程と逆方向に駆動)すると、図示せ
ぬバネ力によりプッシャー65が押し戻され、これに連
動して2枚のリンク板63が先程と逆方向に回転する。
これにより、4つの爪60はそれぞれ直動ガイドユニッ
ト62に案内されて、先程と反対方向に移動(戻る)す
る。このときの移動方向は、相対向する爪60同士が離
間する方向、つまり開く方向となる。
【0009】次に、上記構成からなるIC測定用ハンド
ラの動作について説明する。先ず、図示せぬ供給トレイ
に収納されたICに対しては、その直上位置に吸着ノズ
ル55が配置され、この状態からノズル上下用シリンダ
59の駆動により吸着ノズル55が下方に移動する。こ
のとき、吸着ノズル55の先端部に取り付けられた吸着
リング57(図12参照)がICに近接して配置され、
この状態で真空引きを行うことにより、吸着リング57
にICが真空吸着される。
【0010】次に、ノズル上下用シリンダ59の駆動に
より吸着ノズル55が上方に移動し、これに連動してI
Cが供給トレイ(不図示)から引き上げられる。このと
き、ICのモールド部分の4辺から延出しているリード
端子は、それぞれ爪60と対向した状態となる。
【0011】続いて、爪開閉用シリンダ64の駆動によ
り4つの爪60が閉じ動作する。これにより、図13に
示すように、吸着リング57にて真空吸着されたIC6
6のリード端子66aに各々の爪60が接近する。この
とき、各々の爪60は、ノズル先端部に取り付けられた
ストッパーリング56の外周面に突き当たる。ここで、
ストッパーリング56の直径は、左右のリード端子66
aを含めたIC66の全幅よりも僅かに(数μm程度)
小さく設定されている。よって、IC66の位置が正規
の位置からずれていても、4つの爪60がそれぞれに対
応するリード端子66aの先端に適宜当接することで、
IC66の位置決めがなされる。
【0012】その後、IC測定用ハンドラは図示せぬ水
平搬送装置によりIC測定部へと移動する。このとき、
吸着リング57にて保持されているIC66は、上記I
C測定部に設けられたソケットの直上位置に配置され
る。そうすると、爪開閉用シリンダ64により4つの爪
60が開いたのち、ノズル上下用シリンダ59の駆動に
より吸着ノズル55が下方に移動する。これにより、I
C66がソケット(不図示)に近接して配置され、この
状態で真空引きを解除することにより、IC66がソケ
ットに供給される。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】ところで従来において
は、測定対象となるIC66のサイズが変更になった場
合は、これに伴って4つの爪60を交換する必要があ
る。例えば、取り扱うIC66のサイズが大きくなる場
合は、その分だけ爪60の開き幅を大きく確保する必要
がある。そのため、図14に示すように、共通の取付位
置(図中二点鎖線で示す)に対して爪60aから爪60
bに交換することにより、交換前の爪60aの開き幅W
1に対して、交換後の爪60bの開き幅W2がそれより
も大きくなるように変更する。また、ストッパーリング
56は爪60の閉じ位置を規制してリード端子66aの
ダメージを最小限に抑え、吸着リング57はIC66の
サイズに応じて適切な吸着力を発生させることから、こ
れらの部品についてもIC66のサイズ変更に合わせて
交換する必要がある。
【0014】このように従来のIC測定用ハンドラにお
いては、取り扱うIC66のサイズ変更に伴ってて4つ
の爪60を交換する必要があるため、段取り替えに時間
がかかるという問題があった。また、ストッパーリング
56と吸着リング57の交換に際しても、その構造上、
いちいちネジ58を緩めたり締めつけたりする必要があ
るため、交換作業に時間がかかるという問題があった。
【0015】さらに従来では、ノズル上下用シリンダ5
9の最大ストローク量をもって吸着ノズル55の上限位
置及び下限位置を規制する方式を採用しているため、シ
リンダ自体のヘタリによって吸着ノズル55の動作位置
(上限、下限)が経時的に変化してしまうという問題も
あった。特に、吸着ノズル55の下限位置が変化した場
合は、IC66をソケットに落とし込む際の高さが高く
なってリード曲がりが発生したり、吸着リング57でI
C66を吸着できずにエラーが発生するなどの不具合を
招くことになる。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、上下方向に移
動可能に支持された吸着ノズルと、この吸着ノズルの先
端部に装着され、吸着ノズルを通した真空引きによりI
Cを吸着する吸着リングと、この吸着リングに吸着され
たICを位置決めすべく開閉動作する複数の爪とを備え
たIC測定用ハンドラにおいて、複数の爪の開閉動作範
囲を、取り扱う各種サイズのICのうち、最小サイズの
ICの位置決め基準幅と最大サイズのICの位置決め基
準幅とに対応して設定したものである。
【0017】このIC測定用ハンドラにおいては、吸着
リングに吸着されたICを位置決めする複数の爪の開閉
動作範囲が、取り扱う各種サイズのICのうち、最小サ
イズのICの位置決め基準幅と最大サイズのICの位置
決め基準幅とに対応して設定されているため、取り扱う
ICが如何なるサイズに変更になっても、共通の爪で対
応できるようになる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しつつ詳細に説明する。図1及び図2は本
発明に係るIC測定用ハンドラの一実施形態を説明する
図であり、このうち、図1(a)はその正面図、図1
(b)はその底面図、図2はその側面図を示している。
【0019】図において、チャックベース1は平板状を
なすもので、その上面中間部にはフレーム2が取り付け
られている。フレーム2の両サイドには、それぞれチャ
ッキング機構が設けられている。なお、左右のチャッキ
ング機構は同様の構成であるため、ここでは一方のチャ
ッキング機構の構成についてのみ説明する。
【0020】先ず、フレーム2の側部には直動ガイドユ
ニット3及びスライダベース4を介して吸着ノズル5が
配設されている。直動ガイドユニット3は、固定のガイ
ドレール3aと該ガイドレール3aに移動自在に組付け
られた可動部材3bから成るものである。このうち、ガ
イドレール3aはフレーム2の側面に垂直に固定されて
いる。また、可動部材3bにはスライダベース4が固定
され、このスライダベース4に支持ブラケット6を介し
て吸着ノズル5が支持されている。吸着ノズル5は、測
定対象となるICを真空吸着するためのもので、そのノ
ズル先端部はチャックベース1の下方に突出して配置さ
れている。
【0021】吸着ノズル5の下端部には吸着リング7が
装着されている。吸着リング7は、吸着ノズル5を通し
た真空引きにより実際にICを吸着するものである。吸
着リング7の中心には、図3(a)に示すように、その
軸心に沿って嵌合孔7aが貫通して設けられている。こ
の嵌合孔7aの孔径は吸着ノズル5の外径よりも僅かに
大きく設定されている。また、吸着リング7にはつば部
7bが一体に形成され、さらにつば部7bには上記取付
孔7aに連通する3つのネジ孔7c,7c,7dが設け
られている。このうち、2つのネジ孔7c,7cは吸着
リング7の高さ方向(軸心方向)において互いに同じ位
置に設けられ、もう一つのネジ孔7dだだけが若干下方
にずれた状態で設けられている。
【0022】これに対して、吸着ノズル5の先端(吸着
リング7の取付位置)には、図3(b)に示すように、
その外周面上に縦溝5aと横溝5bが形成されている。
また、吸着リング7のつば部7bに設けられた3つのネ
ジ孔7c,7c,7dにはそれぞれボールプランジャ8
a,8a,8bが組み込まれている。これらのボールプ
ランジャ8a,8a,8bはそれぞれの先端部に小径の
ボールを有し、このボールが常にプランジャ先端から突
出するように付勢されている。そして、ネジ孔7c,7
cに組み込まれたボールプランジャ8a,8aのボール
は上記付勢力によりそれぞれ吸着ノズル5の横溝5bに
係合し、ネジ孔7dに組み込まれたボールプランジャ8
bのボール部は上記付勢力により吸着ノズル5の縦溝5
aに係合している。さらに、吸着ノズル5の先端部は段
付状に外径が変化しており、これに対応して吸着リング
7の嵌合孔7aも段付状に内径が変化している。そし
て、互いの段付部を突き合わせるようにして吸着ノズル
5の先端部に吸着リング7が装着されている。
【0023】こうした構成により、吸着ノズル5に吸着
リング7を取り付ける場合は、つば部7bの3つのネジ
孔7c,7c,7dに組み込まれたボールプランジャ8
a,8a,8bの各ボールを、吸着ノズル5の縦溝5a
及び横溝5bにそれぞれ係合させるだけで取り付け完了
となる。また、吸着ノズル5から吸着リング7を取り外
す場合は、ボールプランジャ8a,8a,8bの各ボー
ルの付勢力に抗して吸着リング7を下方に引き込むだけ
で取り外し完了となる。つまり、吸着リング7の取り付
け作業と取り外し作業をそれぞれワンタッチで行えるよ
うになっている。
【0024】一方、フレーム2の背面側にはブラケット
9を用いてノズル上下用シリンダ10が取り付けられて
いる(図2参照)。ノズル上下用シリンダ10の出力ロ
ッドの先端部は先述したスライダベース4に連結され、
このノズル上下用シリンダ10の駆動により、スライダ
ベース4と共に吸着ノズル5が上下動する構成となって
いる。
【0025】また、チャックベース1の下面側には、I
Cを位置決めするための4つの爪12が配設されてい
る。各々の爪12は、相対向する2つの爪12同士が開
閉動作(接離動作)するよう、それぞれ爪取付板13を
介して直動ガイドユニット14に取り付けられている。
直動ガイドユニット14は、固定のガイドレール14a
と該ガイドレール14aに移動自在に組付けられた可動
部材14bから成るものである。このうち、ガイドレー
ル14aはチャックベース1の下面に固定されている。
また、可動部材14bには、爪取付板13を介してIC
位置決め用の爪12が取り付けられている。
【0026】これに対して、チャックベース1の上面側
には、2枚のリンク板15a,15bが上・下に重ねて
設けられている。各々のリンク板15a,15bは、爪
開閉用シリンダ16のロッド先端に装着されたプッシャ
ー17に図示せぬバネの力をもって圧接状態に保持され
ている。さらに図4を用いて詳述すると、上側のリンク
板15aは平面視略I字形に成形され、下側のリンク板
15bは平面視略T字形に成形されている。また、これ
ら2枚のリンク板15a,15bは平面視略十字形をな
すように上,下に重ねられ、且つ抜け止め用のリング部
材18により上下方向(吸着ノズル5の軸方向)への動
きが規制されている。上側のリンク板15aの両端部
は、それぞれ連結アーム19とスタッド20を介して爪
取付板13に連結されている。また、下側のリンク板1
5bの両端部も、それぞれ連結アーム19とスタッド2
0を介して爪取付板13に連結されている。
【0027】この構成では、爪開閉用シリンダ16の駆
動により、その出力ロッドを押し出すようにすると、2
枚のリンク板15a,15bがプッシャー17により同
時に押されて回転する。このとき、各々のリンク板15
a,15bは、吸着ノズル5の軸心位置を中心にして回
転する。これにより、チャックベース1下面側の4つの
爪12は、それぞれ直動ガイドユニット14に案内され
て移動する。このときの移動方向は、相対向する2つの
爪12同士が接近する方向、つまり閉じる方向となる。
【0028】これに対して、爪開閉用シリンダ16の駆
動を停止(または先程と逆方向に駆動)すると、図示せ
ぬバネの力をもってプッシャー17がリンク板15a,
15bにより押し戻される。このとき、2枚のリンク板
15a,15bは先程と反対方向に回転しながらプッシ
ャー17を押し戻す。これにより、4つの爪12はそれ
ぞれ直動ガイド14に案内されて、先程と反対方向に移
動(戻る)する。このときの移動方向は、相対向する2
つの爪12同士が離間する方向、つまり開く方向とな
る。
【0029】このように爪開閉用シリンダ16の駆動に
よって4つの爪12が開閉動作するメカ機構において、
本実施形態では、4つの爪12の開閉動作範囲を、取り
扱う各種サイズのICのうち、最小サイズのICの位置
決め基準幅と最大サイズのICの位置決め基準幅とに対
応して設定している。
【0030】さらに詳述すると、ICを位置決めする際
の基準がリード端子(リード基準)である場合は、その
リード端子を含むICの全幅が位置決め基準幅となる。
そこで、上述のように4つの爪12を開閉動作させたと
きに、相対向する2つの爪12同士が最も接近した状態
の最小閉じ幅については、取り扱う各種サイズのICの
中で、最小サイズのICの位置決め基準幅と同一若しく
はそれよりも僅かに(数μmほど)小さくなるように設
定している。これに対して、4つの爪12を開閉動作さ
せたときに、相対向する2つの爪12同士が最も離間し
た状態の最大開き幅については、取り扱う各種サイズの
ICの中で、最大サイズのICの位置決め基準幅よりも
数mm程度大きくなるように設定している。
【0031】ちなみに、4つの爪12の開閉動作範囲
(最小閉じ幅,最大開き幅)については、各々の爪12
に対応する直動ガイドユニット14のガイドレール14
aの長さや、爪開閉用シリンダ16のストローク量など
をパラメータとして任意に設定可能である。
【0032】これに加えて、本実施形態のIC測定用ハ
ンドラにおいては、吸着ノズル5の上下方向の移動範囲
を規制する突き当てストッパーが設けられている。具体
的には、図5に示すように、フレーム2の上端部に上限
ストッパー21が取り付けられ、同下端部に下限ストッ
パー22が取り付けられている。なお、フレーム2の側
面には、上限ストッパー21と下限ストッパー22の間
に位置して2つのネジ孔23,23が設けられ、これら
のネジ孔23,23を用いて直動ガイドユニット3のガ
イドレール3aがフレーム2に固定されるようになって
いる。また、ノズル上下用シリンダ10とスライダベー
ス4とは、ノズル上下用シリンダ10側に設けられた連
結リング24の周溝にスライダベース4側の連結片25
の切欠を嵌め込むことで、互いに連結されるようになっ
ている。
【0033】ここで、上限ストッパー21は、棒状の雄
ネジ(例えば、セットスクリュー)21aを有してい
る。そして、ノズル上下用シリンダ10の駆動によって
吸着ノズル5を上方に移動させた際には、上記雄ネジ2
1aの下端部にスライダベース4の上端面が突き当たる
ことで、吸着ノズル5の上限位置が規制される構成とな
っている。これに対して、下限ストッパー22は、L字
形のプレート構造をなしている。そして、ノズル上下用
シリンダ10の駆動によって吸着ノズル5を下方に移動
させた際には、スライダベース4に設けられた突き当て
ネジ26の下端部が下限ストッパー22の上面に突き当
たることで、吸着ノズル5の下限位置が規制される構成
となっている。
【0034】さらに、吸着ノズル5の上限位置について
は、上限ストッパー21の雄ネジ21aを回転操作する
ことで容易に調整可能となっており、また吸着ノズル5
の下限位置については、スライダベース4の突き当てネ
ジ26を回転操作することで容易に調整可能となってい
る。
【0035】続いて、本実施形態におけるIC測定用ハ
ンドラの動作について説明する。先ず、図示せぬ供給ト
レイに収納されたICに対しては、その直上位置に吸着
ノズル5が配置され、この状態からノズル上下用シリン
ダ10の駆動により吸着ノズル5が下方に移動する。そ
の際、ノズル上下用シリンダ59の駆動中に突き当てネ
ジ26が下限ストッパー22に突き当たり、これによっ
て吸着ノズル5の下限位置が規制される。このとき、吸
着ノズル5の先端部に装着された吸着リング7がICに
近接して配置され、この状態で吸着ノズル5を通した真
空引きを行うことにより、図6(a)に示すように吸着
リング7にIC27が真空吸着される。
【0036】次に、ノズル上下用シリンダ10の駆動に
より吸着ノズル5が上方に移動し、これに連動してIC
が供給トレイ(不図示)から引き上げられる。そして、
ノズル上下用シリンダ10の駆動中にスライダベース4
が上限ストッパー21(雄ネジ21a)に突き当たり、
これによって吸着ノズル5の上限位置が規制される。こ
のとき、ICのモールド部分の4辺から延出しているリ
ード端子は、それぞれ爪12と対向した状態となる。
【0037】続いて、爪開閉用シリンダ16の駆動によ
り、図6(b)に示すように各々の爪12が直動ガイド
ユニット14に案内されて矢印方向に同時に移動し、こ
れによって4つの爪12が閉じ動作する。これにより、
図7に示すように、吸着リング7にて真空吸着されたI
C27に各々の爪12が接近する。このとき、4つの爪
12は、図8(a)に示すようにノズル先端部に装着さ
れた吸着リング7のつば部7bの外周面に突き当たる。
ここで、つば部7bの直径は、左右のリード端子27a
を含めたIC27の全幅、即ち位置決め基準幅よりも僅
かに(数μm程度)小さく設定されている。よって、I
C27の位置が正規の位置からずれていても、4つの爪
12がそれぞれに対応するリード端子27aの先端に適
宜当接することで、IC27の位置決めがなされる。
【0038】その後、IC測定用ハンドラは図示せぬ水
平搬送装置によりIC測定部へと移動する。このとき、
吸着リング7にて保持されているIC27は、上記IC
測定部に設けられたソケットの直上位置に配置される。
そうすると、爪開閉用シリンダ16の駆動により4つの
爪12が開いたのち、ノズル上下用シリンダ10の駆動
により吸着ノズル5が下方に移動する。これにより、図
8(b)に示すようにIC27がソケット28に近接し
て配置され、この状態で真空引きを解除することによ
り、IC27がソケット28に供給される。
【0039】以降は、上記同様の手順によって次のIC
27がソケット28に供給されることになる。ちなみ
に、フレーム2の両サイドに同様のチャッキング機構を
備えている理由は、次のIC27をソケット28に供給
する際に、測定済(前回供給)のIC27をソケット2
8からピックアップするためである。
【0040】ここで、取り扱うICのサイズが変更にな
る場合、従来では変更後のICサイズに合わせて爪交換
を行う必要があったが、本実施形態においては、IC2
7を位置決めする4つの爪12の開閉動作範囲が、取り
扱う各種サイズのICのうち、最小サイズのICの位置
決め基準幅と最大サイズのICの位置決め基準幅とに対
応して設定されているため、取り扱うIC27が如何な
るサイズに変更になっても、共通の爪12をもって対応
できるようになる。これにより、取り扱うICのサイズ
が変更になっても、いちいち爪交換を行う必要がなくな
るため、ICのサイズ変更に伴う段取り時間を大幅に短
縮することが可能となる。
【0041】また、吸着ノズル5に対する吸着リング7
の取付構造としても、先の図3に示したように、吸着ノ
ズル5側に縦溝5a及び横溝5bを設け、これに係合す
るプランジャ8a,8bを吸着リング7に設けた構成を
採用したことで、吸着リング7の交換に伴う取り付け及
び取り外し作業をそれぞれワンタッチで行うことができ
る。これにより、ICのサイズ変更に伴う段取り時間
を、より一層短縮することが可能となる。
【0042】さらに、吸着ノズル5の上下方向の移動範
囲を上限ストッパー21と下限ストッパー22によるメ
カ的な突き当てで規制する構成を採用しているため、吸
着ノズル5の動作位置(上限、下限)が経時的に変化す
ることがなくなる。これにより、上下方向に対する吸着
ノズル5の移動動作が長期にわたって安定的に行われる
ようになる。その結果、ノズル下限位置の経時変化に起
因したリード曲がりや吸着エラーの発生を確実に防止す
ることが可能となる。また、上限ストッパー21と下限
ストッパー22の追加により、吸着ノズル5の上限位置
及び下限位置の調整を容易に行えるようにしたので、ノ
ズル交換やシリンダ交換に伴う調整時間を短縮すること
ができる。
【0043】ところで、上述のようにリード端子27a
を基準にIC27を位置決めする方式では、リード端子
27aに爪12が接触することでリード曲がりが発生す
る虞れがある。また、IC27を製造するうえでは、リ
ード端子27aの寸法にバラツキが生じやすく、またモ
ールド部分との相対的なセンターズレも生じるため、リ
ード端子27aを基準にIC27を位置決めしても、高
い位置決め精度をもってIC27をソケット28に供給
できないという不具合がある。
【0044】この対策としては、図9(a)に示すよう
に、IC27のモールド部分27bを位置決め基準とし
て、そのモールド部分の各辺部に4つの爪12をそれぞ
れ突き当ててIC27を位置決めする方式を採用すれば
よい。この方式では、IC位置決め用の爪12がリード
端子27aに接触しないため、リード曲がりの発生を確
実に回避することができる。また、IC27の製造上、
モールド部分27bの寸法精度はリード端子27aのそ
れよりも高いため、図9(b)のようにIC27をソケ
ット28に供給する際には、高い位置決め精度をもって
IC27を供給できるようになる。
【0045】ちなみに、IC27の位置決め基準をリー
ド端子27aからモールド部分27bに変更するに際し
ては、各々の爪12の高さ寸法を短くしたり、或いは吸
着ノズル5の下限位置を突き当てネジ26(図5参照)
にて調整したりすることで容易に対応できる。また、I
C27のモールド部分27bを位置決め基準に設定した
場合は、そのモールド部分27bの幅が位置決め基準幅
となる。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように本発明のIC測定用
ハンドラによれば、吸着リングに吸着されたICを位置
決めする複数の爪の開閉動作範囲を、取り扱う各種サイ
ズのICのうち、最小サイズのICの位置決め基準幅と
最大サイズのICの位置決め基準幅とに対応して設定し
たことで、ICのサイズ変更に伴う爪交換が不要となる
ため、段取り時間を大幅に短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るIC測定用ハンドラの一実施形態
を説明する図(その1)である。
【図2】本発明に係るIC測定用ハンドラの一実施形態
を説明する図(その2)である。
【図3】実施形態におけるIC測定用ハンドラの部分的
な構造説明図である。
【図4】爪を開閉動作させるためのメカ機構を説明する
図である。
【図5】突き当てストッパーの具体的な構造説明図であ
る。
【図6】実施形態におけるIC測定用ハンドラの動作説
明図(その1)である。
【図7】実施形態におけるIC測定用ハンドラの動作説
明図(その2)である。
【図8】実施形態におけるIC測定用ハンドラの動作説
明図(その3)である。
【図9】ICのモールド部分を位置決め基準とした場合
の動作を示す図である。
【図10】従来のIC測定用ハンドラを説明する図(そ
の1)である。
【図11】従来のIC測定用ハンドラを説明する図(そ
の2)である。
【図12】従来のIC測定用ハンドラの部分的な構造説
明図である。
【図13】従来のIC測定用ハンドラの動作説明図であ
る。
【図14】爪交換前後における開き幅の違いを説明する
図である。
【符号の説明】
5…吸着ノズル、5a…縦溝、5b…横溝、7…吸着リ
ング、8a,8b…ボールプランジャ、12…爪、21
…上限ストッパー、22…下限ストッパー

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上下方向に移動可能に支持された吸着ノ
    ズルと、 前記吸着ノズルの先端部に装着され、前記吸着ノズルを
    通した真空引きによりICを吸着する吸着リングと、 前記吸着リングに吸着されたICを位置決めすべく開閉
    動作する複数の爪とを備えたIC測定用ハンドラにおい
    て、 前記複数の爪の開閉動作範囲を、取り扱う各種サイズの
    ICのうち、最小サイズのICの位置決め基準幅と最大
    サイズのICの位置決め基準幅とに対応して設定してな
    ることを特徴とするIC測定用ハンドラ。
  2. 【請求項2】 前記吸着ノズルの先端部に係合溝を設け
    るとともに、 前記係合溝に係脱自在な係合部材を前記吸着リングに設
    けてなることを特徴とする請求項1記載のIC測定用ハ
    ンドラ。
  3. 【請求項3】 前記吸着ノズルの上下方向の移動範囲を
    規制する突き当てストッパーを設けてなることを特徴と
    する請求項1記載のIC測定用ハンドラ。
  4. 【請求項4】 前記ICのモールド部分を位置決め基準
    に設定してなることを特徴とする請求項1記載のIC測
    定用ハンドラ。
JP10132866A 1998-05-15 1998-05-15 Ic測定用ハンドラ Pending JPH11326450A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113423534A (zh) * 2019-02-13 2021-09-21 普罗阔德罗责任有限公司 配备有用于安装在待加工的夹持零件或型材上的装置的加工中心

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113423534A (zh) * 2019-02-13 2021-09-21 普罗阔德罗责任有限公司 配备有用于安装在待加工的夹持零件或型材上的装置的加工中心
CN113423534B (zh) * 2019-02-13 2023-11-17 泰科诺洛奇卡有限责任公司 配备有用于安装在待加工的夹持零件或型材上的装置的加工中心

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