JPH11330906A - アナログフィルタ回路およびそれを用いた磁気ディスク装置 - Google Patents
アナログフィルタ回路およびそれを用いた磁気ディスク装置Info
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- JPH11330906A JPH11330906A JP13474598A JP13474598A JPH11330906A JP H11330906 A JPH11330906 A JP H11330906A JP 13474598 A JP13474598 A JP 13474598A JP 13474598 A JP13474598 A JP 13474598A JP H11330906 A JPH11330906 A JP H11330906A
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- analog filter
- circuit
- transconductance amplifier
- current
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 可変トランスコンダクタンスアンプの生産プ
ロセスタイプの制限を緩和し、設定データの大きさと、
カットオフ周波数との関係が線形特性となるアナログフ
ィルタ回路を提供する。 【解決手段】 外部から入力される信号を濾波するアナ
ログフィルタ10と、それを構成するトランスコンダク
タンスアンプ14と同じ特性のトランスコンダクタンス
アンプ21と、両アンプ14および21に同じ大きさの
制御電流を供給するための回路26〜28と、アンプ2
1のトランスコンダクスタンスに比例した大きさの信号
を生成するための回路20、22と、設定データの値に
応じた大きさの信号を生成する回路11、23と、両生
成信号の差が0に近づくように、前記制御電流の大きさ
を制御するための回路24、25とを有する。
ロセスタイプの制限を緩和し、設定データの大きさと、
カットオフ周波数との関係が線形特性となるアナログフ
ィルタ回路を提供する。 【解決手段】 外部から入力される信号を濾波するアナ
ログフィルタ10と、それを構成するトランスコンダク
タンスアンプ14と同じ特性のトランスコンダクタンス
アンプ21と、両アンプ14および21に同じ大きさの
制御電流を供給するための回路26〜28と、アンプ2
1のトランスコンダクスタンスに比例した大きさの信号
を生成するための回路20、22と、設定データの値に
応じた大きさの信号を生成する回路11、23と、両生
成信号の差が0に近づくように、前記制御電流の大きさ
を制御するための回路24、25とを有する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、トランスコンダク
タンスアンプを用いたアナログフィルタ回路に関し、特
に、設定データに応じてカットオフ周波数が変化するア
ナログフィルタ回路に関する。
タンスアンプを用いたアナログフィルタ回路に関し、特
に、設定データに応じてカットオフ周波数が変化するア
ナログフィルタ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図2は、従来のアナログフィルタ回路の
構成を示すブロック図である。図示のアナログフィルタ
回路は、アナログフィルタ10、アナログフィルタ10
のカットオフ周波数の制御信号を生成するDAC(Digi
tal to Analog Converter)11、アナログフィルタ1
0のカットオフ周波数を指定するデータが設定されるレ
ジスタ12、および、DAC11の基準電流を生成する
基準電流生成ブロック13からなる。
構成を示すブロック図である。図示のアナログフィルタ
回路は、アナログフィルタ10、アナログフィルタ10
のカットオフ周波数の制御信号を生成するDAC(Digi
tal to Analog Converter)11、アナログフィルタ1
0のカットオフ周波数を指定するデータが設定されるレ
ジスタ12、および、DAC11の基準電流を生成する
基準電流生成ブロック13からなる。
【0003】アナログフィルタ10は、トランスコンダ
クタンスアンプ14および容量15から構成される。ま
た、基準電流生成ブロック13は、基準電流源16と、
基準電流を伝えるトランジスタ17、18とから構成さ
れる。
クタンスアンプ14および容量15から構成される。ま
た、基準電流生成ブロック13は、基準電流源16と、
基準電流を伝えるトランジスタ17、18とから構成さ
れる。
【0004】DAC11は、基準電流生成ブロック13
で生成された一定レベルの基準電流と、レジスタ12の
設定値nとを入力され、基準電流をn倍した大きさの電
流を出力する。このDAC11の出力電流は、トランス
コンダクタンスの制御電流として、トランスコンダクタ
ンスアンプ14に入力される。
で生成された一定レベルの基準電流と、レジスタ12の
設定値nとを入力され、基準電流をn倍した大きさの電
流を出力する。このDAC11の出力電流は、トランス
コンダクタンスの制御電流として、トランスコンダクタ
ンスアンプ14に入力される。
【0005】ここで、トランスコンダクタンスアンプ1
4のトランスコンダクタンスをgm、容量15の容量値
をCとすると、アナログフィルタ10のカットオフ周波
数fcは、次の式(1)で表わすことができる。
4のトランスコンダクタンスをgm、容量15の容量値
をCとすると、アナログフィルタ10のカットオフ周波
数fcは、次の式(1)で表わすことができる。
【0006】 fc=gm/(2πC) …(1) このように、アナログフィルタ10のカットオフ周波数
fcは、トランスコンダクタンスgmに比例して変化す
る。このため、DAC11の設定値を変更することによ
り、アナログフィルタ10のカットオフ周波数fcを制
御することができる。
fcは、トランスコンダクタンスgmに比例して変化す
る。このため、DAC11の設定値を変更することによ
り、アナログフィルタ10のカットオフ周波数fcを制
御することができる。
【0007】以上のようなアナログフィルタについて
は、米国特許第5,572,163で述べられている。
は、米国特許第5,572,163で述べられている。
【0008】図3に、トランスコンダクタンスアンプに
おける制御電流とトランスコンダクタンスとの関係を示
す。図中、60はBiCMOSプロセスで構成した時の
特性、61はCMOSプロセスで構成した時の特性であ
る。図示のように、トランスコンダクタンスアンプの特
性は、BiCMOSやCMOSといった半導体の構成種
別(以下、生産プロセスタイプ)により異なる。
おける制御電流とトランスコンダクタンスとの関係を示
す。図中、60はBiCMOSプロセスで構成した時の
特性、61はCMOSプロセスで構成した時の特性であ
る。図示のように、トランスコンダクタンスアンプの特
性は、BiCMOSやCMOSといった半導体の構成種
別(以下、生産プロセスタイプ)により異なる。
【0009】上記従来のアナログフィルタ回路は、アナ
ログフィルタ10を構成するトランスコンダクタンスア
ンプ14がBiCMOSプロセスで作られている。図示
のように、BiCMOSで構成されたトランスコンダク
タンスアンプの制御電流とトランスコンダクタンスとの
関係は線形特性となるため、上記従来のアナログフィル
タ回路では、レジスタ12の設定データの大きさと、フ
ィルタ10のカットオフ周波数fcとの関係が線形特性
となる。
ログフィルタ10を構成するトランスコンダクタンスア
ンプ14がBiCMOSプロセスで作られている。図示
のように、BiCMOSで構成されたトランスコンダク
タンスアンプの制御電流とトランスコンダクタンスとの
関係は線形特性となるため、上記従来のアナログフィル
タ回路では、レジスタ12の設定データの大きさと、フ
ィルタ10のカットオフ周波数fcとの関係が線形特性
となる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、例えば
磁気ディスク装置の一機能として用いられるアナログフ
ィルタ回路は、他の処理回路と共に同一の集積回路内に
実装されることがあり、このために、生産プロセスタイ
プをBiCMOSにできないことがある。
磁気ディスク装置の一機能として用いられるアナログフ
ィルタ回路は、他の処理回路と共に同一の集積回路内に
実装されることがあり、このために、生産プロセスタイ
プをBiCMOSにできないことがある。
【0011】図2の回路においてトランスコンダクタン
スアンプ14を例えばCMOSで構成した場合には、図
3に示すように、制御電流とトランスコンダクタンスと
の関係が非線型となるため、レジスタ12の設定データ
の大きさと、フィルタ10のカットオフ周波数fcとの
関係も、非線形特性となる。すなわち、設定データの単
位変化(1値の変化)に対するカットオフ周波数の変化
量が一定とならなくなるため、カットオフ周波数を精度
良く制御することが難しくなる。
スアンプ14を例えばCMOSで構成した場合には、図
3に示すように、制御電流とトランスコンダクタンスと
の関係が非線型となるため、レジスタ12の設定データ
の大きさと、フィルタ10のカットオフ周波数fcとの
関係も、非線形特性となる。すなわち、設定データの単
位変化(1値の変化)に対するカットオフ周波数の変化
量が一定とならなくなるため、カットオフ周波数を精度
良く制御することが難しくなる。
【0012】そこで、本発明は、トランスコンダクタン
スアンプの生産プロセスタイプの制限を緩和し、設定デ
ータの大きさと、カットオフ周波数との関係を線形特性
とすることができるアナログフィルタ回路を提供するこ
とを目的とする。
スアンプの生産プロセスタイプの制限を緩和し、設定デ
ータの大きさと、カットオフ周波数との関係を線形特性
とすることができるアナログフィルタ回路を提供するこ
とを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、設定データに応じてカットオフ周波数が
変化するアナログフィルタ回路において、可変トランス
コンダクタンスアンプおよびコンデンサからなり、外部
から入力される信号を濾波するアナログフィルタと、前
記アナログフィルタのトランスコンダクタンスを制御す
るための制御電流を生成する制御電流生成ブロックと、
設定データを保持するレジスタと、前記レジスタの設定
データに応じた大きさの電流を出力するDA変換器とを
備え、前記制御電流生成ブロックは、一定レベルの電圧
を出力する基準電圧源と、前記DA変換器の出力電流に
応じた大きさの電圧を生成する可変電圧源と、前記可変
トランスコンダクタンスアンプと同じ集積回路上に、同
じ回路構成、同じレイアウトで実装され、前記基準電圧
源の出力電圧を入力されるレプリカトランスコンダクタ
ンスアンプと、前記レプリカトランスコンダクタンスア
ンプの出力電流を電圧に変換する抵抗器と、前記抵抗器
の変換電圧、および、前記可変電圧源の出力電圧を入力
される差動アンプと、前記可変トランスコンダクタンス
アンプおよびレプリカトランスコンダクタンスアンプに
同じ大きさの電流を供給するための電流折返し回路と、
前記差動アンプの出力電圧に応じて前記制御電流の大き
さを制御する回路とを有することを特徴とするアナログ
フィルタ回路を提供する。
め、本発明は、設定データに応じてカットオフ周波数が
変化するアナログフィルタ回路において、可変トランス
コンダクタンスアンプおよびコンデンサからなり、外部
から入力される信号を濾波するアナログフィルタと、前
記アナログフィルタのトランスコンダクタンスを制御す
るための制御電流を生成する制御電流生成ブロックと、
設定データを保持するレジスタと、前記レジスタの設定
データに応じた大きさの電流を出力するDA変換器とを
備え、前記制御電流生成ブロックは、一定レベルの電圧
を出力する基準電圧源と、前記DA変換器の出力電流に
応じた大きさの電圧を生成する可変電圧源と、前記可変
トランスコンダクタンスアンプと同じ集積回路上に、同
じ回路構成、同じレイアウトで実装され、前記基準電圧
源の出力電圧を入力されるレプリカトランスコンダクタ
ンスアンプと、前記レプリカトランスコンダクタンスア
ンプの出力電流を電圧に変換する抵抗器と、前記抵抗器
の変換電圧、および、前記可変電圧源の出力電圧を入力
される差動アンプと、前記可変トランスコンダクタンス
アンプおよびレプリカトランスコンダクタンスアンプに
同じ大きさの電流を供給するための電流折返し回路と、
前記差動アンプの出力電圧に応じて前記制御電流の大き
さを制御する回路とを有することを特徴とするアナログ
フィルタ回路を提供する。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態に係る
アナログフィルタ回路について、図面を用いて説明す
る。
アナログフィルタ回路について、図面を用いて説明す
る。
【0015】図1は、本実施形態のアナログフィルタ回
路の構成を示すブロック図である。図示のように、この
アナログフィルタ回路は、アナログフィルタ10と、ア
ナログフィルタ10のカットオフ周波数が設定されるレ
ジスタ12と、レジスタ12の設定値をアナログ値に変
換するDAC11と、トランスコンダクタンスの制御電
流を生成する制御電流生成ブロック19とから構成され
る。これら全ての構成は、CMOSプロセスにより構成
された1チップの集積回路上に実装される。
路の構成を示すブロック図である。図示のように、この
アナログフィルタ回路は、アナログフィルタ10と、ア
ナログフィルタ10のカットオフ周波数が設定されるレ
ジスタ12と、レジスタ12の設定値をアナログ値に変
換するDAC11と、トランスコンダクタンスの制御電
流を生成する制御電流生成ブロック19とから構成され
る。これら全ての構成は、CMOSプロセスにより構成
された1チップの集積回路上に実装される。
【0016】アナログフィルタ10は、トランスコンダ
クタンスアンプ14と容量15とから構成される。ここ
で、アナログフィルタ10は、トランスコンダクタンス
アンプ14のコンダクタンスgmと、容量15の容量値
cとにより決るフィルタ特性を有し、式(1)により求
まるカットオフ周波数を有する。
クタンスアンプ14と容量15とから構成される。ここ
で、アナログフィルタ10は、トランスコンダクタンス
アンプ14のコンダクタンスgmと、容量15の容量値
cとにより決るフィルタ特性を有し、式(1)により求
まるカットオフ周波数を有する。
【0017】制御電流生成ブロック19は、基準電圧源
20と、レプリカトランスコンダクタンスアンプ21
と、可変電圧源23と、NMOSトランジスタ25と、
PMOSトランジスタ26、27、28とから構成され
る。
20と、レプリカトランスコンダクタンスアンプ21
と、可変電圧源23と、NMOSトランジスタ25と、
PMOSトランジスタ26、27、28とから構成され
る。
【0018】レプリカトランスコンダクタンスアンプ2
1は、アナログフィルタ10を構成するトランスコンダ
クタンスアンプ14と同じ特性を持つように構成され
る。両者の特性を一致させるため、トランスコンダクタ
ンスアンプ14およびレプリカトランスコンダクタンス
アンプ21は、同一チップ(集積回路)上に、同じ回路
構成、同じレイアウトで実装される。これにより、温
度、電源電圧、回路ばらつき等の変化に対する特性のず
れを小さくすることが可能となる。
1は、アナログフィルタ10を構成するトランスコンダ
クタンスアンプ14と同じ特性を持つように構成され
る。両者の特性を一致させるため、トランスコンダクタ
ンスアンプ14およびレプリカトランスコンダクタンス
アンプ21は、同一チップ(集積回路)上に、同じ回路
構成、同じレイアウトで実装される。これにより、温
度、電源電圧、回路ばらつき等の変化に対する特性のず
れを小さくすることが可能となる。
【0019】また、レプリカトランスコンダクタンスア
ンプ21は、入力に一定の電圧を出力する基準電圧源2
0を接続され、出力に外部抵抗22を接続される。
ンプ21は、入力に一定の電圧を出力する基準電圧源2
0を接続され、出力に外部抵抗22を接続される。
【0020】外部抵抗22は、レプリカトランスコンダ
クタンスアンプ21の出力電流を電圧に変換する。この
外部抵抗22は、外付けされる抵抗器であり、抵抗値の
温度変化が少ない、高い精度を有する。
クタンスアンプ21の出力電流を電圧に変換する。この
外部抵抗22は、外付けされる抵抗器であり、抵抗値の
温度変化が少ない、高い精度を有する。
【0021】DAC11は、レジスタ12の設定データ
に対応する大きさの電流を出力するものである。可変電
圧源23は、DAC11の出力電流に応じた大きさの電
圧を生成する。ここで、可変電圧源23の出力電圧は、
レジスタ12の設定データの増加に対して線形に増加す
る大きさとなる。
に対応する大きさの電流を出力するものである。可変電
圧源23は、DAC11の出力電流に応じた大きさの電
圧を生成する。ここで、可変電圧源23の出力電圧は、
レジスタ12の設定データの増加に対して線形に増加す
る大きさとなる。
【0022】可変電圧源23および基準電圧源20の温
度変化に対する特性を同じものにすることにより、温度
変化の影響の少ないトランスコンダクタンスgmの実現
が可能となる。
度変化に対する特性を同じものにすることにより、温度
変化の影響の少ないトランスコンダクタンスgmの実現
が可能となる。
【0023】差動アンプ24は、入力に外部抵抗22お
よび可変電圧源23を接続され、出力にNMOSトラン
ジスタ25のゲート端子を接続される。差動アンプ24
は、入力の差電圧を、十分に大きい一定のゲインで増幅
して出力する。
よび可変電圧源23を接続され、出力にNMOSトラン
ジスタ25のゲート端子を接続される。差動アンプ24
は、入力の差電圧を、十分に大きい一定のゲインで増幅
して出力する。
【0024】PMOSトランジスタ26、27、28
は、電流折返し回路(カレントミラー回路)を構成し、
ゲート端子をNMOSトランジスタ25のドレイン端子
に共通に接続され、ソース端子を共通に電源電圧Vcc
に接続される。PMOSトランジスタ27、28の各ド
レイン端子からは、それぞれ、レプリカトランスコンダ
クタンスアンプ21、コンダクタンスアンプ14の制御
電流が出力される。この構成により、PMOSトランジ
スタ26、27、28は、NMOSトランジスタ25の
ドレイン電流と同じ大きさのドレイン電流を出力するこ
とになる。
は、電流折返し回路(カレントミラー回路)を構成し、
ゲート端子をNMOSトランジスタ25のドレイン端子
に共通に接続され、ソース端子を共通に電源電圧Vcc
に接続される。PMOSトランジスタ27、28の各ド
レイン端子からは、それぞれ、レプリカトランスコンダ
クタンスアンプ21、コンダクタンスアンプ14の制御
電流が出力される。この構成により、PMOSトランジ
スタ26、27、28は、NMOSトランジスタ25の
ドレイン電流と同じ大きさのドレイン電流を出力するこ
とになる。
【0025】次に、アナログフィルタ回路の動作につい
て説明する。
て説明する。
【0026】基準電圧源20の出力電圧値をVref、
レプリカトランスコンダクタンスアンプ21のトランス
コンダクタンスをgm、外部抵抗22の抵抗値をRre
fとすると、抵抗22で生成される電圧値V1は、次の
式(2)により表される。
レプリカトランスコンダクタンスアンプ21のトランス
コンダクタンスをgm、外部抵抗22の抵抗値をRre
fとすると、抵抗22で生成される電圧値V1は、次の
式(2)により表される。
【0027】 V1=Vref×gm×Rref …(2) また、可変電圧源23の出力電圧値をV2、差動アンプ
24のゲインをαとすると、差動アンプ24の出力電圧
は、α(V2−V1)となる。この出力電圧により、N
MOSトランジスタ25のドレイン電流が制御され、同
じ大きさのドレイン電流がPMOSトランジスタ26、
27、28に流れる。そして、トランスコンダクタンス
gmが図3の特性61により変化し、差動アンプ24の
入力電圧V1が式(2)により変化する。
24のゲインをαとすると、差動アンプ24の出力電圧
は、α(V2−V1)となる。この出力電圧により、N
MOSトランジスタ25のドレイン電流が制御され、同
じ大きさのドレイン電流がPMOSトランジスタ26、
27、28に流れる。そして、トランスコンダクタンス
gmが図3の特性61により変化し、差動アンプ24の
入力電圧V1が式(2)により変化する。
【0028】このようにして、レプリカトランスコンダ
クタンスアンプ21のトランスコンダクタンスgmは、
差動アンプ24の出力電圧α(V2−V1)が0に近づ
くように、負帰還の制御をなされる。
クタンスアンプ21のトランスコンダクタンスgmは、
差動アンプ24の出力電圧α(V2−V1)が0に近づ
くように、負帰還の制御をなされる。
【0029】これにより、次の式(3)、(4)の関係
が成り立つことになる。
が成り立つことになる。
【0030】 Vref×gm×Rref=V2 …(3) gm=V2/(Vref×Rref) …(4) 式(4)から判るように、レプリカトランスコンダクタ
ンスアンプ21のトランスコンダクタンスgmは、可変
電圧源23の電圧値V2に比例して変化する。
ンスアンプ21のトランスコンダクタンスgmは、可変
電圧源23の電圧値V2に比例して変化する。
【0031】一方、アナログフィルタ10内のコンダク
タンスアンプ14は、レプリカトランスコンダクタンス
アンプ21と同じ大きさの制御電流を入力されるため、
トランスコンダクタンスgmがレプリカトランスコンダ
クタンスアンプ21と同じとなる。このため、コンダク
タンスアンプ14のトランスコンダクタンスgmも、可
変電圧源23の電圧値V2に比例して変化することにな
る。
タンスアンプ14は、レプリカトランスコンダクタンス
アンプ21と同じ大きさの制御電流を入力されるため、
トランスコンダクタンスgmがレプリカトランスコンダ
クタンスアンプ21と同じとなる。このため、コンダク
タンスアンプ14のトランスコンダクタンスgmも、可
変電圧源23の電圧値V2に比例して変化することにな
る。
【0032】ここで、可変電圧源23の出力である電圧
値V2がレジスタ12の設定データの増加により線形に
増加する値となるため、アナログフィルタ10のカット
オフ周波数は、式(1)より設定データの増加により線
形に増加することになる。
値V2がレジスタ12の設定データの増加により線形に
増加する値となるため、アナログフィルタ10のカット
オフ周波数は、式(1)より設定データの増加により線
形に増加することになる。
【0033】以上のように、本実施形態のアナログフィ
ルタ回路では、レジスタの設定データの大きさと、アナ
ログフィルタのカットオフ周波数との関係が線形特性と
なるフィルタをCMOSプロセスにより実現している。
また、これにより、設定データの単位変化に対するカッ
トオフ周波数の変化量が一定となるため、カットオフ周
波数を精度よく設定することができる。また、温度や電
源電圧等の変化に対するカットオフ周波数の変化が小さ
く抑えられる。
ルタ回路では、レジスタの設定データの大きさと、アナ
ログフィルタのカットオフ周波数との関係が線形特性と
なるフィルタをCMOSプロセスにより実現している。
また、これにより、設定データの単位変化に対するカッ
トオフ周波数の変化量が一定となるため、カットオフ周
波数を精度よく設定することができる。また、温度や電
源電圧等の変化に対するカットオフ周波数の変化が小さ
く抑えられる。
【0034】次に、アナログフィルタ10、可変電圧源
23、および、DAC11について、さらに詳しく説明
する。
23、および、DAC11について、さらに詳しく説明
する。
【0035】図4に、2次のローパスフィルタとする場
合のアナログフィルタ10の構成を示す。このアナログ
フィルタ10は、可変トランスコンダクタンスアンプ5
0、51、52、53と、容量54、55、56、57
とにより構成される。各可変トランスコンダクタンスア
ンプ50〜53には、制御電流生成ブロック19で生成
された制御電流が共通に入力される。
合のアナログフィルタ10の構成を示す。このアナログ
フィルタ10は、可変トランスコンダクタンスアンプ5
0、51、52、53と、容量54、55、56、57
とにより構成される。各可変トランスコンダクタンスア
ンプ50〜53には、制御電流生成ブロック19で生成
された制御電流が共通に入力される。
【0036】トランスコンダクタンスアンプ50、5
1、52、53のそれぞれのトランスコンダクタンスを
gm1、gm2、gm3、gm4とし、容量54、5
5、56、57の容量値をCとすると、このフィルタの
伝達関数H(s)は、次の式(5)により表わされる。
ここで、w0は2次ローパスフィルタのカットオフ周波
数、Q0はフィルタのQ値、Aはゲインを示している。
1、52、53のそれぞれのトランスコンダクタンスを
gm1、gm2、gm3、gm4とし、容量54、5
5、56、57の容量値をCとすると、このフィルタの
伝達関数H(s)は、次の式(5)により表わされる。
ここで、w0は2次ローパスフィルタのカットオフ周波
数、Q0はフィルタのQ値、Aはゲインを示している。
【0037】 H(s)=A×w02/(s2+w0/Q0s+w02) …(5) ただし、w0=sqrt(gm2×gm3)/C Q0=sqrt(gm2×gm3)/gm4 A=gm1/gm2 各可変トランスコンダクタンスアンプ50〜53に入力
される制御電流の大きさを調整する回路(図示せず)を
設けて、フィルタ特性の各種パラメータを制御するよう
にしてもよい。式(5)により、2次ローパスフィルタ
のカットオフ周波数w0は、トランスコンダクタンスg
m1、gm2、gm3、gm4を同じ比で制御すること
で、フィルタのQ値、ゲインAを一定にしたまま制御す
ることができる。また、フィルタのQ値は、式(5)よ
り、gm4を制御することで、カットオフ周波数w0、
ゲインAを一定にしたまま制御することができる。
される制御電流の大きさを調整する回路(図示せず)を
設けて、フィルタ特性の各種パラメータを制御するよう
にしてもよい。式(5)により、2次ローパスフィルタ
のカットオフ周波数w0は、トランスコンダクタンスg
m1、gm2、gm3、gm4を同じ比で制御すること
で、フィルタのQ値、ゲインAを一定にしたまま制御す
ることができる。また、フィルタのQ値は、式(5)よ
り、gm4を制御することで、カットオフ周波数w0、
ゲインAを一定にしたまま制御することができる。
【0038】図5に、CMOSで構成したトランスコン
ダクタンスアンプの構成を示す。
ダクタンスアンプの構成を示す。
【0039】図示のように、トランスコンダクタンスア
ンプは、NMOSトランジスタ110、111、112
と、電流源114、115、116、117と、電流電
圧変換として機能する抵抗119とから構成される。
ンプは、NMOSトランジスタ110、111、112
と、電流源114、115、116、117と、電流電
圧変換として機能する抵抗119とから構成される。
【0040】このトランスコンダクタンスアンプでは、
濾波対象である入力信号118がNMOSトランジスタ
110および111のゲート端子に入力され、濾波結果
である出力電流IOUTがNMOSトランジスタ110
および111のドレイン端子から出力される。
濾波対象である入力信号118がNMOSトランジスタ
110および111のゲート端子に入力され、濾波結果
である出力電流IOUTがNMOSトランジスタ110
および111のドレイン端子から出力される。
【0041】ここで、NMOSトランジスタ110、1
11による抵抗成分rsは、電流源114、115の電
流値I1によって決まる。また、NMOSトランジスタ
112のオン抵抗ronは、NMOSトランジスタ11
2のゲートにかかる電圧Vgで決まる。この電圧Vg
は、制御電流120の電流値Igmと抵抗119の抵抗
値Rgmとにより、次の式(6)により決まる。
11による抵抗成分rsは、電流源114、115の電
流値I1によって決まる。また、NMOSトランジスタ
112のオン抵抗ronは、NMOSトランジスタ11
2のゲートにかかる電圧Vgで決まる。この電圧Vg
は、制御電流120の電流値Igmと抵抗119の抵抗
値Rgmとにより、次の式(6)により決まる。
【0042】 Vg=Igm×Rgm …(6) この回路の差動入力信号118に対するトランスコンダ
クタンスをgmとすると、gmは、次の式(7)で表わ
される。
クタンスをgmとすると、gmは、次の式(7)で表わ
される。
【0043】 gm=1/(ron+rs) …(7) ここで、制御電流120でronを制御することでトラ
ンスコンダクタンスgmを制御することが可能となる。
CMOSトランジスタにおいてrsを小さくするには、
電流源114、115の電流値I1を大きくすることで
可能であるが、消費電力を考えた場合現実的ではない。
そのため、制御電流120とトランスコンダクタンスg
mとの関係は、図3の特性61のように非線形の関係に
なる。
ンスコンダクタンスgmを制御することが可能となる。
CMOSトランジスタにおいてrsを小さくするには、
電流源114、115の電流値I1を大きくすることで
可能であるが、消費電力を考えた場合現実的ではない。
そのため、制御電流120とトランスコンダクタンスg
mとの関係は、図3の特性61のように非線形の関係に
なる。
【0044】図8に、可変電圧源23およびDAC11
の回路構成を示す。
の回路構成を示す。
【0045】可変電圧源23は、基準電圧源30、差動
アンプ31、NMOSトランジスタ32、および、抵抗
33、36により構成される。この構成では、基準電圧
源30の電圧値Vkを抵抗33の抵抗値Rkで割った値
の電流がNMOSトランジスタ32のドレイン電流(基
準電流)として、DAC11に出力される。
アンプ31、NMOSトランジスタ32、および、抵抗
33、36により構成される。この構成では、基準電圧
源30の電圧値Vkを抵抗33の抵抗値Rkで割った値
の電流がNMOSトランジスタ32のドレイン電流(基
準電流)として、DAC11に出力される。
【0046】DAC11は、PMOSトランジスタ3
4、35と、スイッチ37とにより構成される。複数あ
るPMOSトランジスタ35は、ドレイン端子をそれぞ
れスイッチ37に接続され、PMOSトランジスタ34
と共に電流折り返し回路を構成する。各スイッチ37
は、レジスタ12の設定データの値に対応する数だけオ
ン状態となるように制御される。
4、35と、スイッチ37とにより構成される。複数あ
るPMOSトランジスタ35は、ドレイン端子をそれぞ
れスイッチ37に接続され、PMOSトランジスタ34
と共に電流折り返し回路を構成する。各スイッチ37
は、レジスタ12の設定データの値に対応する数だけオ
ン状態となるように制御される。
【0047】DAC11では、可変電圧源23の出力す
る基準電流がPMOSトランジスタ34に入力され、こ
れと同じ大きさのドレイン電流が、オン状態のスイッチ
37に対応する各PMOSトランジスタ35から出力さ
れる。この出力電流は、可変電圧源23の抵抗36に入
力されて、可変電圧源23の出力電圧V2に変換され
る。このようにして、可変電圧源23では、設定データ
の値と線形の関係となる出力電圧V2が生成される。
る基準電流がPMOSトランジスタ34に入力され、こ
れと同じ大きさのドレイン電流が、オン状態のスイッチ
37に対応する各PMOSトランジスタ35から出力さ
れる。この出力電流は、可変電圧源23の抵抗36に入
力されて、可変電圧源23の出力電圧V2に変換され
る。このようにして、可変電圧源23では、設定データ
の値と線形の関係となる出力電圧V2が生成される。
【0048】なお、以上で説明した本実施形態では、ア
ナログフィルタ回路をCMOSプロセスにより構成する
例を示したが、他の生産プロセスタイプにより構成する
場合にも同様の特性が実現可能である。また、本実施形
態では、アナログフィルタ10としてローパスフィルタ
を示したが、バンドパスフィルタやハイパスフィルタと
いった、他のフィルタへの適用も可能である。
ナログフィルタ回路をCMOSプロセスにより構成する
例を示したが、他の生産プロセスタイプにより構成する
場合にも同様の特性が実現可能である。また、本実施形
態では、アナログフィルタ10としてローパスフィルタ
を示したが、バンドパスフィルタやハイパスフィルタと
いった、他のフィルタへの適用も可能である。
【0049】次に、本発明のアナログフィルタ回路を用
いた磁気ディスク装置の実施形態について説明する。
いた磁気ディスク装置の実施形態について説明する。
【0050】図6は、この磁気ディスク装置の構成を示
すブロック図である。図中、磁気ディスク装置は、信号
処理回路70、磁気ディスク円盤650、磁気ヘッド6
51、リードライトアンプ(R/Wamp)652、ボ
イスコイルモータ(VCM)653、ボイスコイルモー
タ制御回路654、ハードディスクコントローラ(HD
C)657、インターフェイス(I/F)656、およ
び、マイコン658を有する。さらに、図示は省略して
いるが、磁気ディスク円盤650を回転させるスピンド
ルモータと、その制御を行うスピンドル制御回路とを有
する。
すブロック図である。図中、磁気ディスク装置は、信号
処理回路70、磁気ディスク円盤650、磁気ヘッド6
51、リードライトアンプ(R/Wamp)652、ボ
イスコイルモータ(VCM)653、ボイスコイルモー
タ制御回路654、ハードディスクコントローラ(HD
C)657、インターフェイス(I/F)656、およ
び、マイコン658を有する。さらに、図示は省略して
いるが、磁気ディスク円盤650を回転させるスピンド
ルモータと、その制御を行うスピンドル制御回路とを有
する。
【0051】信号処理回路70は、上述の実施形態で説
明したレジスタ12、DAC11、制御電流生成ブロッ
ク(gm制御)19、および、アナログフィルタ10を
有する。この信号処理回路70は、CMOSプロセスに
よる1チップの集積回路として実現される。ここで、ア
ナログフィルタ10は、リード信号のノイズ除去および
波形等化を行うためのローパスフィルタである。
明したレジスタ12、DAC11、制御電流生成ブロッ
ク(gm制御)19、および、アナログフィルタ10を
有する。この信号処理回路70は、CMOSプロセスに
よる1チップの集積回路として実現される。ここで、ア
ナログフィルタ10は、リード信号のノイズ除去および
波形等化を行うためのローパスフィルタである。
【0052】磁気ヘッド651から読みだされた信号
(リード信号)は、磁気ディスク円盤650での書き込
み位置(トラック)が最外周に近づくにつれて速度が上
昇する。各トラックにおいて良好な雑音除去を行えるよ
うにするため、アナログフィルタ10は、リードデータ
のトラックが最外周に近づくにつれてカットオフ周波数
が高くなるように制御される。
(リード信号)は、磁気ディスク円盤650での書き込
み位置(トラック)が最外周に近づくにつれて速度が上
昇する。各トラックにおいて良好な雑音除去を行えるよ
うにするため、アナログフィルタ10は、リードデータ
のトラックが最外周に近づくにつれてカットオフ周波数
が高くなるように制御される。
【0053】以下、磁気ディスク装置のリード動作につ
いて説明する。
いて説明する。
【0054】ホスト装置80からリード命令を受けたハ
ードディスクコントローラ657は、リード対象のトラ
ックを求め、そのトラックに対応するカットオフ周波数
を指定するデータを、信号処理回路70内のレジスタ1
2に設定する。そして、マイコン658に位置情報を出
力すると共に、リードゲート信号37を有効レベルにし
て信号処理回路70のリード処理を起動する。レジスタ
12の設定により、アナログフィルタ10のカットオフ
周波数は、リード対象のトラックに合ったものとなる。
ードディスクコントローラ657は、リード対象のトラ
ックを求め、そのトラックに対応するカットオフ周波数
を指定するデータを、信号処理回路70内のレジスタ1
2に設定する。そして、マイコン658に位置情報を出
力すると共に、リードゲート信号37を有効レベルにし
て信号処理回路70のリード処理を起動する。レジスタ
12の設定により、アナログフィルタ10のカットオフ
周波数は、リード対象のトラックに合ったものとなる。
【0055】ボイスコイルモータ制御回路654および
マイコン658の制御により、ボイスコイルモータ65
3は、磁気ヘッド651をリード対象のトラックに移動
する。また、スピンドル制御回路およびマイコン658
の制御により、スピンドルモータの回転が制御される。
これにより磁気ヘッド651で読み出されたリード信号
は、リードライトアンプ652で増幅された後、信号処
理回路70のリード処理によりデータに再生され、ハー
ドディスクコントローラ657、インターフェイス65
6を介して、ホスト80に送られる。
マイコン658の制御により、ボイスコイルモータ65
3は、磁気ヘッド651をリード対象のトラックに移動
する。また、スピンドル制御回路およびマイコン658
の制御により、スピンドルモータの回転が制御される。
これにより磁気ヘッド651で読み出されたリード信号
は、リードライトアンプ652で増幅された後、信号処
理回路70のリード処理によりデータに再生され、ハー
ドディスクコントローラ657、インターフェイス65
6を介して、ホスト80に送られる。
【0056】信号処理部70に入力されたリード信号
は、AGCアンプ71で振幅を一定にされた後、アナロ
グフィルタ10でノイズを除去され、サンプルホールド
回路82でサンプルされる。このサンプルは、PLL7
6で生成されたタイミングクロックに同期して行われ
る。サンプルされた信号は、データ検出器81でデータ
に変換された後、エンコーダ/デコーダ74で復号化さ
れ、スクランブラ/デスクランブラ回路75でデスクラ
ンブルされて、入出力回路(I/O)73を通してハー
ドディスクコントローラ657に送られる。
は、AGCアンプ71で振幅を一定にされた後、アナロ
グフィルタ10でノイズを除去され、サンプルホールド
回路82でサンプルされる。このサンプルは、PLL7
6で生成されたタイミングクロックに同期して行われ
る。サンプルされた信号は、データ検出器81でデータ
に変換された後、エンコーダ/デコーダ74で復号化さ
れ、スクランブラ/デスクランブラ回路75でデスクラ
ンブルされて、入出力回路(I/O)73を通してハー
ドディスクコントローラ657に送られる。
【0057】なお、ハードディスクコントローラ657
は、レジスタ12への設定データをシリアル信号により
出力する。このシリアル信号はシリアルインターフェイ
ス(I/F)72を介して信号処理部70に取り込ま
れ、レジスタ12に複数ビットのパラレルデータとして
設定される。
は、レジスタ12への設定データをシリアル信号により
出力する。このシリアル信号はシリアルインターフェイ
ス(I/F)72を介して信号処理部70に取り込ま
れ、レジスタ12に複数ビットのパラレルデータとして
設定される。
【0058】一方、データライト動作において、ホスト
80からのライトデータは、ハードディスクコントロー
ラ657および入出力回路73を通して転送され、スク
ランブラ/デスクランブラ回路75で擬似ランダムデー
タ化された後、エンコーダ/デコーダ74で符号化さ
れ、リードライトアンプ652およびヘッド651を通
して書き込まれる。また、書込みが適正な位置になされ
るように、ボイスコイルモータ653およびスピンドル
モータはリード動作時と同様の制御をなされる。
80からのライトデータは、ハードディスクコントロー
ラ657および入出力回路73を通して転送され、スク
ランブラ/デスクランブラ回路75で擬似ランダムデー
タ化された後、エンコーダ/デコーダ74で符号化さ
れ、リードライトアンプ652およびヘッド651を通
して書き込まれる。また、書込みが適正な位置になされ
るように、ボイスコイルモータ653およびスピンドル
モータはリード動作時と同様の制御をなされる。
【0059】図7に、上記の磁気ディスク装置の実装構
成を示す。なお、図中、図6に対応する構成要素には、
図6と同じ符号を付している。
成を示す。なお、図中、図6に対応する構成要素には、
図6と同じ符号を付している。
【0060】磁気ディスク装置の内部構成680は、磁
気ディスク円盤650、スピンドルモータ682、ヘッ
ド651、ヘッド651を支えるアーム683、ボイス
コイルモータ653、および、リードライトアンプ65
2からなる。
気ディスク円盤650、スピンドルモータ682、ヘッ
ド651、ヘッド651を支えるアーム683、ボイス
コイルモータ653、および、リードライトアンプ65
2からなる。
【0061】また、磁気ディスク装置の電子回路部68
1は、ホスト等の情報処理装置に接続するためのインタ
ーフェイス684、インターフェイス684の入出力を
制御するインターフェイス制御回路656、データの受
け渡しおよびフォーマット等の制御を行うハードディス
クコントローラ657、マイコン658、信号処理回路
70、スピンドルモータ制御回路685、および、ボイ
スコイルモータ制御回路654からなる。
1は、ホスト等の情報処理装置に接続するためのインタ
ーフェイス684、インターフェイス684の入出力を
制御するインターフェイス制御回路656、データの受
け渡しおよびフォーマット等の制御を行うハードディス
クコントローラ657、マイコン658、信号処理回路
70、スピンドルモータ制御回路685、および、ボイ
スコイルモータ制御回路654からなる。
【0062】以上のように、本実施形態の磁気ディスク
装置では、リード信号の速度に合ったカットオフ周波数
でリード信号の雑音除去および波形等化を行うことがで
きる。また、アナログフィルタ回路を含む信号処理回路
70全体を、CMOSプロセスの1チップLSI内に実
装することができる。
装置では、リード信号の速度に合ったカットオフ周波数
でリード信号の雑音除去および波形等化を行うことがで
きる。また、アナログフィルタ回路を含む信号処理回路
70全体を、CMOSプロセスの1チップLSI内に実
装することができる。
【0063】
【発明の効果】以上で説明したように、本発明によれ
ば、トランスコンダクタンスアンプの生産プロセスタイ
プの制限を緩和し、設定データの大きさと、カットオフ
周波数との関係を線形特性とすることができるアナログ
フィルタ回路を提供することができる。
ば、トランスコンダクタンスアンプの生産プロセスタイ
プの制限を緩和し、設定データの大きさと、カットオフ
周波数との関係を線形特性とすることができるアナログ
フィルタ回路を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係るアナログフィルタ回路
の構成図である。
の構成図である。
【図2】従来のアナログフィルタ回路の構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図3】制御電流とトランスコンダクタンスとの関係を
示すグラフである。
示すグラフである。
【図4】アナログフィルタの構成図である。
【図5】CMOSトランスコンダクタンスアンプの回路
図である。
図である。
【図6】本発明のアナログフィルタ回路を用いた磁気デ
ィスク装置の構成を示すブロック図である。
ィスク装置の構成を示すブロック図である。
【図7】本発明を用いた磁気ディスク装置の実装構成を
示す図である。
示す図である。
【図8】可変電圧源の構成例を示す回路図である。
10:アナログフィルタ 11:ディジタルアナログ変換回路 12:アナログフィルタカットオフ周波数設定レジスタ 14:トランスコンダクタンスアンプ 15:容量 19:トランスコンダクタンス制御電流生成ブロック 20:基準電圧源 21:レプリカトランスコンダクタンスアンプ 22:外部抵抗 23:可変電圧源 24:差動アンプ 25、26、27、28:MOSトランジスタ
フロントページの続き (72)発明者 奈良 孝 東京都小平市上水本町五丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内 (72)発明者 三田 誠一 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所ストレージシステム事業部内
Claims (8)
- 【請求項1】設定データに応じてカットオフ周波数が変
化するアナログフィルタ回路において、 可変トランスコンダクタンスアンプおよびコンデンサか
らなり、外部から入力される信号を濾波するアナログフ
ィルタと、前記アナログフィルタのトランスコンダクタ
ンスを制御するための制御電流を生成する制御電流生成
ブロックと、設定データを保持するレジスタと、前記レ
ジスタの設定データに応じた大きさの電流を出力するD
A変換器とを備え、 前記制御電流生成ブロックは、 前記DA変換器の出力電流に応じた大きさの電圧を生成
する可変電圧源と、 前記可変トランスコンダクタンスアンプと同じ集積回路
上に実装され、基準電圧源の出力電圧が入力されるレプ
リカトランスコンダクタンスアンプと、 前記レプリカトランスコンダクタンスアンプの出力電流
を電圧に変換する抵抗器と、 前記抵抗器の変換電圧、および、前記可変電圧源の出力
電圧が入力される差動アンプと、 前記可変トランスコンダクタンスアンプおよびレプリカ
トランスコンダクタンスアンプに同じ大きさの電流を供
給するための電流折返し回路と、 前記差動アンプの出力電圧に応じて前記制御電流の大き
さを制御する回路とを有することを特徴とするアナログ
フィルタ回路。 - 【請求項2】請求項1記載のアナログフィルタ回路おい
て、 前記レプリカトランスコンダクタンスアンプは、前記可
変トランスコンダクタンスアンプと同じ回路構成および
同じレイアウトで実装されていることを特徴とするアナ
ログフィルタ回路。 - 【請求項3】請求項1または2記載のアナログフィルタ
回路おいて、 前記アナログフィルタ、電流生成ブロック、レジスタ、
および、DA変換器は、同一集積回路内に実装され、 前記レプリカトランスコンダクタンスアンプの出力電流
を電圧に変換する抵抗器は、前記集積回路に外付けにす
ることを特徴とするアナログフィルタ回路。 - 【請求項4】請求項1、2または3記載のアナログフィ
ルタ回路において、 全ての回路をCMOSプロセスで構成することを特徴と
するアナログフィルタ回路。 - 【請求項5】磁気ヘッドで読み出されたリード信号の処
理機能を持つ信号処理部を有する磁気ディスク装置にお
いて、 前記信号処理部は、リード信号の雑音除去および波形等
化を行うためのアナログフィルタとして、前記請求項1
または2記載のアナログフィルタ回路を有することを特
徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項6】請求項5記載の磁気ディスク装置におい
て、 ホスト装置からのリード命令を受けて、読み出し対象の
データが記録されている磁気ディスク円盤のトラック位
置により定まるデータを、前記アナログフィルタ回路の
レジスタに設定する制御回路をさらに有することを特徴
とする磁気ディスク装置。 - 【請求項7】請求項5記載の磁気ディスク装置におい
て、 前記アナログフィルタ回路を構成するアナログフィル
タ、電流生成ブロック、レジスタ、および、DA変換器
は、同一集積回路内に実装され、 前記レプリカトランスコンダクタンスアンプの出力電流
を電圧に変換する抵抗器は、前記集積回路の外付けとす
ることを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項8】設定データに応じてカットオフ周波数が変
化するアナログフィルタ回路において、 可変トランスコンダクタンスアンプおよびコンデンサか
らなり、外部から入力される信号を濾波するアナログフ
ィルタと、 制御電流とカットオフ周波数との関係が前記可変トラン
スコンダクタンスアンプと同じ特性となるレプリカトラ
ンスコンダクタンスアンプと、 前記可変トランスコンダクタンスアンプおよびレプリカ
トランスコンダクタンスアンプに同じ大きさの制御電流
を供給するための回路と、 前記レプリカトランスコンダクタンスアンプに接続さ
れ、そのトランスコンダクタンスに比例した大きさの信
号を生成するための回路と、 前記設定データの値に応じた大きさの信号を生成する回
路と、 前記2つの生成信号の大きさの差が0に近づくように、
前記制御電流の大きさを制御するための回路とを有する
ことを特徴とするアナログフィルタ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13474598A JPH11330906A (ja) | 1998-05-18 | 1998-05-18 | アナログフィルタ回路およびそれを用いた磁気ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13474598A JPH11330906A (ja) | 1998-05-18 | 1998-05-18 | アナログフィルタ回路およびそれを用いた磁気ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11330906A true JPH11330906A (ja) | 1999-11-30 |
Family
ID=15135598
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13474598A Pending JPH11330906A (ja) | 1998-05-18 | 1998-05-18 | アナログフィルタ回路およびそれを用いた磁気ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11330906A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002057534A (ja) * | 2000-08-09 | 2002-02-22 | Asahi Kasei Microsystems Kk | 増幅回路 |
| JP2003087097A (ja) * | 2001-09-10 | 2003-03-20 | Rohm Co Ltd | アクティブフィルタ回路及びこれを用いたディスク装置 |
| GB2396761A (en) * | 2002-12-27 | 2004-06-30 | Samsung Electro Mech | A linearly variable voltage-controlled filter for IF frequencies |
| JP2005538597A (ja) * | 2002-09-05 | 2005-12-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 連続時間フィルタの自己キャリブレーション、およびかかるフィルタを備えるシステム |
| KR101080560B1 (ko) | 2003-09-12 | 2011-11-04 | 소니 주식회사 | 트랜스컨덕턴스 조정 회로 |
| CN102668373A (zh) * | 2009-11-30 | 2012-09-12 | 意法半导体股份有限公司 | 用于获得跨导放大器的增益线性变化的驱动方法和相对应的驱动电路 |
-
1998
- 1998-05-18 JP JP13474598A patent/JPH11330906A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002057534A (ja) * | 2000-08-09 | 2002-02-22 | Asahi Kasei Microsystems Kk | 増幅回路 |
| JP2003087097A (ja) * | 2001-09-10 | 2003-03-20 | Rohm Co Ltd | アクティブフィルタ回路及びこれを用いたディスク装置 |
| JP2005538597A (ja) * | 2002-09-05 | 2005-12-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 連続時間フィルタの自己キャリブレーション、およびかかるフィルタを備えるシステム |
| GB2396761A (en) * | 2002-12-27 | 2004-06-30 | Samsung Electro Mech | A linearly variable voltage-controlled filter for IF frequencies |
| GB2396761B (en) * | 2002-12-27 | 2005-12-14 | Samsung Electro Mech | Linear channel select filter |
| KR101080560B1 (ko) | 2003-09-12 | 2011-11-04 | 소니 주식회사 | 트랜스컨덕턴스 조정 회로 |
| CN102668373A (zh) * | 2009-11-30 | 2012-09-12 | 意法半导体股份有限公司 | 用于获得跨导放大器的增益线性变化的驱动方法和相对应的驱动电路 |
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