JPH11338625A

JPH11338625A - 抵抗膜タブレット

Info

Publication number: JPH11338625A
Application number: JP13940198A
Authority: JP
Inventors: Seiichi Senoo; 静一妹尾
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1998-05-21
Filing date: 1998-05-21
Publication date: 1999-12-10

Abstract

(57)【要約】【課題】既存のタブレットの構造に中端子を設けるこ
とで、従来の２層構造にて各種変化パラメータに対して
も吸収可能な補正値を、操作者の手を煩わすことなく得
ることを可能とする。【解決手段】装置電源投入時、外圧による抵抗膜押圧
時の座標算出する前、又は一定時間の周期において、表
示部に重ねて使用する抵抗膜方式タブレットの、Ｘ座標
抵抗膜とＹ座標抵抗膜の各々に設けられた中端子の電圧
を複数場所で測定し、各々の中端子が示す座標の基準電
圧値として値を取り込み、任意の座標に対してはこの基
準電圧値を元に算出して決める。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、各種情報処理装置
における表示部の上に重ねて使用される抵抗膜タブレッ
ト、もしくは表示部の上に重ねなくとも、入力座標の精
度が要求される抵抗膜タブレットに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の技術において、表示部に表示され
る情報をペンで選択するタブレット方式として、光座標
検出方式、静電結合方式、電磁誘導方式、抵抗膜方式な
どの方式が色々な情報処理装置に採用されている。

【０００３】これら方式の中で、抵抗膜方式は座標選択
時に、指で表示アイコンを選択したり、普通の鋭部を持
った部材で、図形や文字が入力できる唯一の座標入力方
式であって、他の方式は、専用のスタイラスペンを必要
とするものである。

【０００４】しかしながら、抵抗膜方式はその構造か
ら、指やペンでの押圧座標を算出するにあたり、抵抗膜
のばらつきや、端部での抵抗値非直線性や、引き出し電
極のばらつき、そして印加電圧の変化、温度／湿度の環
境の変化、そして、抵抗膜を形成しているパネル押圧頻
度によるパネルの劣化に伴う抵抗膜の経時変化などで、
その抵抗値の値は常に変化している。

【０００５】このために、特公平５−３１７６６号公報
では、表示部に基準座標を表示させて、操作者にその座
標をペンで押圧していただき、他の任意の入力される入
力座標のズレを補正する値を得る方法をとっている。

【０００６】また、他の方法として特開平４−３８５１
２号公報には、任意の位置にペンで押圧して、補正前の
仮座標を表示して、ペンをその表示している仮座標へド
ラッグして仮座標の上で押圧を止めて補正値を得る方法
も提案されている。

【０００７】表示が先か、ペン操作が先かの違いはある
が、何れにおいても、ペンを基準点に合わす操作にて補
正値を得て、後の座標補正を可能にしている。

【０００８】これに対し、特開平９−４４３０９号公報
や特開平９−１６０７７２号公報の自動補正方法も提案
されている。

【０００９】特開平９−４４３０９号公報は抵抗膜の端
に別の抵抗（トリミング抵抗と基準抵抗）を設けること
で、タブレットユニットの中で補正値を持たすものであ
り、特開平９−１６０７７２号公報はタッチ位置検出用
の抵抗膜と別に自動位置修正用の抵抗膜を設けて、基準
位置の補正値を得るものである。

【００１０】なお、両端電極以外に電極を生成するもの
としては特開平４−１８２８１３号公報がある。これは
抵抗膜電極を複数の領域に分割することで、検出座標の
制度を高めるもので、本発明の座標補正の概念は含まれ
ていなく、自動補正は行われていない。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】上記のように、特開平
９−４４３０９号公報は別の抵抗（トリミング抵抗と基
準抵抗）をタブレットの中に設けることで、電圧変化や
温度変化などの環境変化を吸収して、かつ各々の製造過
程の抵抗膜のばらつきを吸収することはできるが、この
別抵抗での補正値は固定的になり、タブレットを長期的
に使った時の経時変化を吸収することはできない。

【００１２】また、特開平９−１６０７７２号公報は、
タッチ位置検出用の抵抗膜と別に自動位置修正用の抵抗
膜を設けることで、特定の物理座標における基準電圧を
知ることで、電圧変化や温度変化などの環境変化、製造
過程の抵抗膜のばらつき、及びタブレットを長期的に使
った時の経時変化を吸収することが可能となるが、タブ
レットの構造が４層構造になり、タブレットを安価に提
供することができない。

【００１３】本発明は、既存のタブレットの構造に中端
子を設けることで、従来の２層構造にて各種変化パラメ
ータに対しても吸収可能な補正値を、操作者の手を煩わ
すことなく得ることを可能とすることを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題の解決
を目的としてなされたものであって、請求項１記載の発
明は、抵抗膜に印加する二つの電極端子とは異なる中端
子を有し、前記中端子より他の端子間の印加電圧を測定
することにより、座標値の補正を行うことを特徴とする
抵抗膜タブレットである。

【００１５】また、請求項２記載の発明は、前記請求項
１記載の抵抗膜タブレットにおいて、前記中端子を、二
つの電極端子の設置位置とは異なる側面の特定位置に設
けたことを特徴する抵抗膜タブレットである。

【００１６】また、請求項３記載の発明は、前記請求項
１記載の抵抗膜タブレットにおいて、前記中端子を、Ｘ
座標抵抗膜およびＹ座標抵抗膜の各々に設けたことを特
徴とする抵抗膜タブレットである。

【００１７】また、請求項４記載の発明は、前記請求項
３記載の抵抗膜タブレットにおいて、前記中端子を、Ｘ
座標抵抗膜の４隅から一定距離の特定位置と、Ｙ座標抵
抗膜の４隅から一定距離の特定位置とに設けたことを特
徴とする抵抗膜タブレットである。

【００１８】また、請求項５記載の発明は、抵抗膜に設
けられた二つの電極端子に電圧を印加し、各々の中端子
の電圧を測定することで、当該中端子の座標が示す基準
電圧を定め、外圧による抵抗膜押圧時による測定電圧が
示す座標を算出することを特徴とする抵抗膜タブレット
である。

【００１９】また、請求項６記載の発明は、前記請求項
５記載の抵抗膜タブレットにおいて、前記基準電圧の測
定を外圧による抵抗膜押圧時による測定電圧が示す座標
の算出前に行うことを特徴とする抵抗膜タブレットであ
る。

【００２０】また、請求項７記載の発明は、前記請求項
５記載の抵抗膜タブレットにおいて、前記基準電圧の測
定を装置電源投入時に行うことを特徴とする抵抗膜タブ
レットである。

【００２１】また、請求項８記載の発明は、前記請求項
５記載の抵抗膜タブレットにおいて、前記基準電圧の測
定を一定時間の周期において行うことを特徴とする抵抗
膜タブレットである。

【００２２】

【発明の実施の形態】以下、図をもとに本発明について
説明する。なお、これによって本発明は限定されるもの
ではない。

【００２３】図１は本発明の表示一体型タブレットの概
念図であって、表示部とタブレットが重なって構成され
ている。

【００２４】ＬＣＤは表示部として液晶を示し、ＳＲ２
はタブレットの下抵抗膜を示し、ＳＲ１はタブレットの
上抵抗膜を示している。

【００２５】各々の上下の抵抗膜はシート状に構成さ
れ、図２の上シート（ＳＴ１）と下シート（ＳＴ２）の
各々の面の中にＳＲ１、ＳＲ２は蒸着技術などで生成さ
れる。

【００２６】図３はこの重ね合わせ構成の断面図であ
る。

【００２７】図３にて、液晶表示部（ＬＣＤ）の上に下
シート（ＳＴ２）が設けられ、その上面に下抵抗膜（Ｓ
Ｒ２）及び端子引き出し線（図２のＬ１、Ｌ５、Ｌ７、
Ｌ８、Ｌ９、Ｌ１２）などの導電性蒸着面（ＳＰ２）が
設けられ、その上に上シート（ＳＴ１）に、蒸着成型し
ている上抵抗膜（ＳＲ１）及び端子引き出し線（図２の
Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４、Ｌ６、Ｌ１０、Ｌ１１）などの導電
性蒸着面（ＳＰ１）が配置できるように下シートＳＴ２
に重ねられる。

【００２８】このときに、上シート（ＳＴ１）と下シー
ト（ＳＴ２）は絶縁性のあるシート間の間隙確保のため
の粒子物質（Ｄ）を挟み、端部は導電性接着剤（Ｔ）に
て引き出し線が引き出し易くするように上シート（ＳＴ
１）にまとめられる構造となる。

【００２９】これによって、上シート（ＳＴ１）の上抵
抗膜（ＳＲ１）と下シート（ＳＴ２）の下抵抗膜（ＳＲ
２）は２枚の抵抗膜に挟まれて、表示面である液晶（Ｌ
ＣＤ）の上に物理的に重なって構成することが可能とな
る。

【００３０】図２は上シート（ＳＴ１）及び下シート
（ＳＴ２）の詳細を示した図であって、説明上、上シー
ト（ＳＴ１）は裏に図のような抵抗膜及び引き出し線を
蒸着成型し、下シート（ＳＴ２）は表に図のような抵抗
膜及び引き出し線を蒸着成型した状態を示している。

【００３１】なお、図２の上シート（ＳＴ１）の中に書
いている抵抗膜（ＳＲ１）や電極（ＸＡ、ＸＢ、Ｘ１、
Ｘ２、Ｘ３、Ｘ４）及び引き出し線（Ｌ２、Ｌ３、Ｌ
４、Ｌ６、Ｌ１０、Ｌ１１）は本来破線で書くべき所、
見やすいように実線で説明している。

【００３２】図２にて、ＸＡ、ＸＢは上抵抗膜（ＳＲ
１）の電極端子であって、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、Ｘ４は本
発明の中端子である。

【００３３】各々の中端子には、その物理位置の電位の
測定のための引き出し線が設けられ、先の電極端子の引
き出し線とともに一カ所にまとめられる。

【００３４】また、ＹＡ、ＹＢは下抵抗膜（ＳＲ２）の
電極端子であって、Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４は本発明の
中端子である。

【００３５】各々の中端子には、その物理位置の電位の
測定のための引き出し線が設けられ、先の電極端子の引
き出し線とともに一カ所にまとめられる。

【００３６】そしてこれら引き出し線は図３の導電性接
着剤（Ｔ）にて一方のシートにまとめられ、情報処理装
置のタブレット制御回路へコネクターを通して接続され
る。

【００３７】普通、これら図の下シートは強度の関係か
らガラス板などを用いることもある。

【００３８】再び、図１にて本発明の表示一体型タブレ
ットの詳細説明を行うと、上抵抗膜（ＳＲ１）には電極
ＸＡ、ＸＢと中端子Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、Ｘ４が設けら
れ、電極ＸＡ、ＸＢは抵抗膜の各々両端に導電性部材で
線状構成され、電極ＸＡ、ＸＢとして引き出され、中端
子Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、Ｘ４はこれら電極の端から物理的
に決まる寸法ＬＸ１、ＬＸ２、ＬＸ３、ＬＸ４の位置に
設けられる。

【００３９】同じように下抵抗膜（ＳＲ２）には電極Ｙ
Ａ、ＹＢと中端子Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４が設けられ、
電極ＹＡ、ＹＢは抵抗膜の各々両端に導電性部材で線状
（帯状）構成され、電極ＹＡ、ＹＢとして引き出され、
中端子Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４はこれら電極の端から物
理的に決まる寸法ＬＹ１、ＬＹ２、ＬＹ３、ＬＹ４の位
置に設けられる。

【００４０】この中端子の位置は、表示部（ＬＣＤ）か
ら見ても、表示部に対するタブレットの重なり位置に精
度が確保できれば、ＸＬ１、ＸＬ２、ＹＬ１、ＹＬ２の
破線位置に物理的に定まる。

【００４１】表示部とタブレット部を精度良く重ね合わ
すことは、現在の技術では何ら問題なく、表示面から見
ても上シート（ＳＲ１）、下シート（ＳＲ２）の中端子
の物理的位置を精度良く配置することは可能である。

【００４２】この物理的位置は、そのまま表示面の２次
元座標または、タブレットの２次元座標の一つとして扱
われる。

【００４３】今、このタブレットのＰ点をペンを用いて
押圧された場合を模式的に見ると、上シートにてＲＸ
１、ＲＸ２の抵抗がＰ点の両端に現れ、上シートと下シ
ートの接触抵抗（ＲＳ）を通して下シートにてＲＹ１、
ＲＹ２の抵抗が構成される結果となる。

【００４４】次に、この状態で表示面、若しくはタブレ
ット面の座標が検出される状態を説明する。

【００４５】図４はＸ座標を検出するための従来行われ
ている図であって、図５はＹ座標を検出するための従来
行われている図である。

【００４６】図４にて上シートのＸＡ端子には電源電圧
（ＶＰ）を印加し、ＸＢにはその接地電圧（ＧＮＤ）を
接続する。そして、下シートのＹＡ端子をＡ／Ｄコンバ
ータの入力に接続し、ＹＢ端子はオープンにする。

【００４７】このようにすることで、上シートの抵抗膜
の電極間に発生する模式抵抗ＲＸ１とＲＸ２の中点Ｐの
位置から上シートと下シートの接触抵抗（ＲＳ）を通し
て下シートのＲＹ１を通してＹＡの端子からＰ点電位を
測定することが可能となる。

【００４８】また、Ｙ座標は下シートのＹＡ端子には電
源電圧（ＶＰ）を印加し、ＹＢにはその接地電圧（ＧＮ
Ｄ）を接続する。そして、上シートのＸＡ端子をＡ／Ｄ
コンバータの入力に接続し、ＸＢ端子はオープンにす
る。

【００４９】このようにすることで、下シートの抵抗膜
の電極間に発生する模式抵抗ＲＹ１とＲＹ２の中点Ｐの
位置から上シートと下シートの接触抵抗（ＲＳ）を通し
て上シートのＲＸ１を通してＸＡの端子からＰ点電位を
測定することが可能となる。

【００５０】Ｐ点の電位、ＶＸＰとＶＹＰから対応す
る、Ｘ座標とＹ座標から２次元平面の中の座標（ＸＰ，
ＹＰ）を知ることが可能となる。

【００５１】この座標検出は、上シートと下シートの抵
抗膜が引き出し線の端から見て安定して初めて正確に定
まるものである。

【００５２】抵抗膜は４００オーム〜９００オームの低
い値で構成されるために、現実には引き出し線の引き出
し部の接触ばらつきや、抵抗膜が均一に作られないばら
つきによって製造工程における各々の座標値に対して検
出電圧は異なるものである。

【００５３】また、印加電圧と環境温度などによる条件
変動、及び抵抗膜を長期間使用する時に生じる抵抗膜の
経時変化によって、タブレットを使用中においても各々
の座標値に対する検出電圧は異なるものである。

【００５４】このことから、従来の製品においては特公
平５−３１７６６号公報や特開平４−３８５１２号公報
などの技術にて、表示座標とタブレット座標が異なる場
合には常に補正操作が求められていた。

【００５５】図６は図４のＸ座標検出説明図に上記製造
工程での抵抗値ばらつき、長期間使用中における抵抗値
ばらつきの要因を模式的に示した図である。

【００５６】図６において、ＲＸＡは電極端子ＸＡでの
接触抵抗など電源供給端子と抵抗膜との間に現れる抵抗
膜外部の抵抗分で、ＲＸＢは電極端子ＸＢでの接触抵抗
などＧＮＤとの間に現れる抵抗膜外部の抵抗分で、ＲＹ
Ａは電極端子ＹＡＢでの接触抵抗などＡ／Ｄコンバータ
との間に現れる抵抗膜外部の抵抗分である、またｒ１、
ｒ４、ｒ７はＲＸ１、ＲＸ２、ＲＹ１の基本抵抗値であ
って、ｒ２、ｒ５、ｒ８はこの基本抵抗値を大きく変化
させる要因による要素抵抗値であって、またｒ３、ｒ
６、ｒ９はこの基本抵抗値を小さくく変化させる要因に
よる要素抵抗値である。

【００５７】普通、印加電圧の変動や温度変化、及び抵
抗膜の経時変化によってこれらは変化する。

【００５８】なお、接触抵抗ＲＳは特開平６−３２４７
８７号公報で示すように別な回路などで測定する解決手
段があり、公知の該解決手段によって押圧抵抗が小さい
ときのみ有効とし、大きい時は無効とする判断が可能の
ため、Ａ／Ｄコンバータの入力インピーダンスと比較し
て問題となる値は無効値とすることが可能のため、本発
明では解決した問題として取り扱う。

【００５９】ここで、ＲＹ１を構成するｒ８、ｒ９、及
びＲＹＡは変化してもその変化比率はｒ７の数％であっ
て、Ａ／Ｄコンバータの入力インピーダンスより非常に
小さく座標決定に当たって影響は無い、しかしながらｒ
２、ｒ３、ｒ５、ｒ６及びＲＸＡ、ＲＸＢは印加電圧の
ＶＰとＧＮＤ間の中間電位Ｐへの変化分として直接影響
する。

【００６０】このために、特公平５−３１７６６号公報
や特開平４−３８５１２号公報のように表示面の定まっ
た座標における検出電位を測定して、その値を補正値と
して他の座標の電位を決める必要が発生してくる。

【００６１】本発明は、この解決策として図１のように
Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、Ｘ４、及びＹ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４
の中端子における電圧を測定することで改めてペンでタ
ブレットを押圧することなく、物理的基準座標位置の電
圧を知る手段を提供することにある。

【００６２】図７に本発明の中端子電圧検出の模式図を
示している。

【００６３】図７は上シートの中端子Ｘ１を測定する場
合の状態を示している。

【００６４】図７において、上抵抗膜（ＲＳ１）の印加
電極ＸＡ、ＸＢにＶＰとＧＮＤで電圧を加えた時は、そ
の電極端子周辺の接触抵抗ＲＸＡ、ＲＸＢが発生する。
また抵抗膜の内部抵抗値も、その時の印加電圧や温度、
及び経時変化による抵抗膜の抵抗値変動によってＲＸ
１、ＲＸ２は先の図６のように変化要因が加わり常に変
化する。

【００６５】そしてＸ１の中端子での接続抵抗ＲＴはＡ
／Ｄコンバータのインピーダンスより非常に小さいため
に無視でき、Ｘ１の位置はＲＸＡ、ＲＸ１の合成抵抗と
ＲＸ２、ＲＸＢの合成抵抗の分圧電位が現れる。

【００６６】ここで、このＸ１の物理的位置はＬＸ１と
ＬＸ１２＋ＬＸ２で決められるために、決められた物理
的位置の基準電圧を確定することが可能となる。

【００６７】同様に、Ｘ２、Ｘ３、Ｘ４各の中端子の基
準電圧も知ることが可能となる。

【００６８】また、下抵抗膜（ＲＳ２）のＹ１、Ｙ２、
Ｙ３、Ｙ４各々の物理的位置の基準電圧も同様に確定可
能である。

【００６９】図１にて、Ｘ１とＸ３、Ｘ２とＸ４、Ｙ１
とＹ３、Ｙ２とＹ４の両端電圧を測定する理由は抵抗値
変化分が両端で異なる可能性が考えられるためであり、
これら中端子は多く持つ方が結果的に基準電圧を多く持
つことが可能となり、タブレットの座標精度を高めるこ
とができるのは言うまでもない。

【００７０】次に、図８にてタブレットの周辺基準位置
の基準電圧が定まると、タブレットをペンや指で押圧し
た場合の中点の座標が如何に計算で定まるかを説明す
る。

【００７１】本発明のタブレットには中端子として物理
的に定まる位置に中端子Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、Ｘ４、Ｙ
１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ３が配置されていることは、これま
での説明で述べた通りである。

【００７２】この中端子を座標面で説明したのが図８で
ある。

【００７３】図８において、各々の中端子の物理的座標
位置における本発明での検出基準電圧は、Ｘ１＝ＶＸ
１、Ｘ２＝ＶＸ２、Ｘ３＝ＶＸ３、Ｘ４＝ＶＸ４、Ｙ１
＝ＶＹ１、Ｙ２＝ＶＹ２、Ｙ３＝ＶＹ３、Ｙ４＝ＶＹ４
が検出されたとする。また、ペンや指で押圧下点Ｐから
はＶＩＮの電圧が測定されたとする。

【００７４】この場合のＰ点の正確な座標は下記の説明
にて求められる。説明をするにあたり、Ｘ１、Ｘ２及び
Ｘ３、Ｘ４の端子間の物理的距離はＸＴとし、Ｘ幅はＸ
Ｍとする。また、Ｙ１、Ｙ２及びＹ３、Ｙ４の端子間の
物理的距離はＹＴとし、Ｙ幅はＹＭとする。

【００７５】このとき、ＸＰ１は、（ＶＸ１−ＶＩＮ）／ＸＰ１＝（ＶＸ１−ＶＸ２）／Ｘ
Ｔの関係がなりたつ。

【００７６】これよりＸＰ１＝（（ＶＸ１−ＶＩＮ）×ＸＴ）／（ＶＸ１−Ｖ
Ｘ２）同じようにＸＰ２＝（（ＶＸ３−ＶＩＮ）×ＸＴ）／（ＶＸ３−Ｖ
Ｘ４）ＹＰ１＝（（ＶＹ１−ＶＩＮ）×ＹＴ）／（ＶＹ１−Ｖ
Ｙ２）ＹＰ２＝（（ＶＹ３−ＶＩＮ）×ＹＴ）／（ＶＹ３−Ｖ
Ｙ４）が成り立ち、ＸＰ１、ＸＰ２、ＹＰ１、ＹＰ２の４点の
座標が決定可能となる。

【００７７】この結果Ｐ点の座標、ＸＰ、ＹＰは図９の
２本の線分の交点であることから、ＸＰ＝（（ＸＰ１−ＸＰ２）／ＹＭ）＋ＸＰ１ＹＰ＝（（ＹＰ１−ＹＰ２）／ＸＭ）＋ＹＰ１となり、Ｐ点の座標、ＸＰ、ＹＰは容易に算出可能とな
る。

【００７８】次に、表示一体型タブレット装置における
座標補正タイミングについて述べる。

【００７９】図１０は表示一体型タブレット装置のシス
テム構成図である。

【００８０】図１０において、１０−１はＣＰＵで本装
置の制御を行う。１０−２はＲＯＭで本装置の制御プロ
グラムやフオント情報などを格納している。１０−３の
ＲＡＭは本装置で変化する情報を格納する部分であっ
て、本装置が文書処理装置である場合には、入力されて
いる文書情報が格納される。１０−４は本装置の電源ユ
ニットである。１０−５はその電源投入スイッチであ
る。１０−８は表示制御部であって、１０−９の表示部
を制御する。１０−５はタブレット制御部であって、１
０−７のタブレットからの入力情報を制御する部分であ
って、本発明の座標検出に当たるタブレットのＡ／Ｄコ
ンバータへの端子接続制御、及びＡ／Ｄコンバータが該
当する。

【００８１】この１０−９の表示部と１０−７のタブレ
ットは重ね合わさり一体化した構成になっている。

【００８２】１０−１０は本発明の自動補正タイミング
を発生するためのタイマー回路であって、１０−１のＣ
ＰＵに割り込みをかけて制御のための情報を与える。１
０−９はタブレットを押圧するためのペンであって、こ
れは指ででも可能である。

【００８３】図１１は、本発明の基準電圧の測定を電源
投入時に行うための説明用フローチャート図である。

【００８４】図１１にて、Ｓ１１−１で電源が投入され
るとＳ１１−２にてＸ１、Ｘ２、Ｘ３、Ｘ４及びＹ１、
Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４中端子電位の測定を行う。

【００８５】この詳細は図１４にて説明してあるが、Ｓ
１４−１からＳ１４−８にて各々の中端子の電位を図７
の回路構成で測定する。

【００８６】そして、図８のＶＸ１、ＶＸ２、ＶＸ３、
ＶＸ４、ＶＹ１、ＶＹ２、ＶＹ３、ＶＹ４の中端子電位
を測定して基準値がＳ１１−３にて決まる。

【００８７】いま、Ｓ１１−４にてっぺんの押圧が発生
するとＳ１１−５にて図４、図５の回路で入力電圧を測
定し、先の述べた図９での説明に相当する計算にてＳ１
１−６で押圧座標を計算する。そして、その押圧座標に
対応するイベントをＳ１１−７で実行処理して、Ｓ１１
−８で電源が切れるまで、Ｓ１１−４に戻り、これらペ
ン入力に対応する処理を実行する。

【００８８】図１２は、この基準値設定を図１０の１０
−１０のタイマーにて管理して、周期的に再設定するフ
ローチャート図である。

【００８９】図１２にて、電源がＳ１２−１で投入さ
れ、Ｓ１２−２にて該タイマーの値が設定されると、Ｓ
１２−５にて周期的にタイマーの割り込みが発生し、そ
の都度Ｓ１２−３にて中端子の電位が測定され、Ｓ１２
−４にて基準値が設定される。これによって、長時間電
源が投入される情報処理機器における基準値の変動を吸
収することが可能となり、Ｓ１２−６でのペン入力にお
ける座標の入力電圧をＳ１２−７にて測定した後、Ｓ１
２−８にて誤差の少ない基準値で座標を計算することが
可能となる。そして、Ｓ１２−９にてイベントの処理を
行う。この動作はＳ１２−１０で電源がＯＦＦされるま
で周期的に行われるために、常に正確な基準値でタブレ
ットの入力座標を管理することが可能となっている。

【００９０】図１３は別な基準値測定タイミングの実施
例の方法であって、Ｓ１３−１にてペン入力が行われる
都度Ｓ１３−２で中端子の電位を測定してＳ１３−３に
て基準値を設定し、その後Ｓ１３−４にて入力電圧を測
定してＳ１３−５にて座標を計算し、Ｓ１３−６にてイ
ベント処理を行う。

【００９１】このために、ペン入力時の処理時間は図１
２よりは長くなるために、座標の精度は図１２の方法よ
り良くなるが、ペン入力座標認識の速度が遅くなり、タ
ブレット上でのペンの軌跡入力などの場合には好ましく
ない。

【００９２】よって、時と場合によって、図１１、図１
２、図１３の方法は混在して使う。

【００９３】タブレットの補正には、表示部とタブレッ
トの厚みから発生する視差補正も存在するが、視差補正
については物理的に補正値が予測できるため、この基準
値から入力座標を算出する時に、この予測値を調整値と
して加えることで可能となる。

【００９４】以上のように、本発明の中端子を持つタブ
レットによって、改めて表示された基準点に対してペン
で補正することなく、装置側でプログラムされているタ
イミングで補正する基準値を入手することが可能であ
り、タブレットの抵抗膜に経時変化や印加電圧／環境温
度の変動が多発しても操作者に負担を掛けずに自動的に
正しい基準値を自動抽出して座標補正可能なために、操
作性が大幅に向上する。

【００９５】

【発明の効果】本発明の請求項１乃至８記載の発明によ
れば、タブレットの製造にあたっては、信号の引き出し
線の印刷パターンの変更で対応可能であり、従来の製造
工程を変更することなく生産可能であり量産性が高い。

【００９６】また、情報処理装置への組み込みにおいて
は、各々の中端子への電圧検出のための信号線の切り替
え回路が必要であるが、最近のＬＳＩ集積技術の進歩に
より、集積回路の中に含めることも可能であり、大きな
コストアップには至らない。

【００９７】また、製造過程での各々のタブレットの押
圧点に対する抵抗膜測定値のばらつきは、本発明の中端
子で同じく計測できるために、簡単な補正計算が可能と
なる。また、経時変化においても同様中端子で同じく計
測可能である。

【００９８】特に、特定押圧座標の抵抗膜の物理的変形
などによる局部的抵抗値の経時変化も、抵抗膜の両端の
座標の線上にターゲット座標が位置すると算出されるた
めに、定期的に中端子の計測を行うことで最新の補正値
が確保でき、座標検出誤差の吸収が可能になる。

【００９９】つまり、既存の技術にて大きな仕様の改善
が見込まれる。

【０１００】ここでの仕様の改善とは、従来の操作者に
よる座標補正操作が、自動的に行われるために、全く不
要となり、操作者は座標補正の必要性を全く意識するこ
となく装置に対してペンや指を用いてタブレットに対し
て情報入力が可能となる。

【０１０１】この自動に行われる基準値取得は、電源が
投入された場合、周期的なタイミング、及び座標入力を
行う場合など、必要に応じて装置の正確に合わしてあら
かじめ設定可能のために、環境の変化が大きい場所でも
柔軟に補正値を得ることが可能となり、常時、座標入力
時の精度を高めて装置提供を行うことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のタブレット概念図である。

【図２】本発明のタブレットシートの詳細図である。

【図３】タブレット断面図である。

【図４】Ｘ座標検出回路図である。

【図５】Ｙ座標検出回路図である。

【図６】座標検出要因模式図である。

【図７】中端子電圧検出模式図である。

【図８】本発明の中端子電位説明図である。

【図９】本発明の押圧点の座標説明図である。

【図１０】本発明搭載システム構成図である。

【図１１】電源投入時に基準値設定するフローチャート
図である。

【図１２】周期タイマーにて基準値設定するフローチャ
ート図である。

【図１３】ペン入力都度基準値設定するフローチャート
図である。

【図１４】中端子電位測定の説明フローチャート図であ
る。

【符号の説明】

ＳＴ１タブレットの上シートＳＴ２タブレットの下シートＳＲ１上抵抗膜ＳＲ２下抵抗膜ＸＡＸ座標電極ＸＢＸ座標電極ＹＡＹ座標電極ＹＢＹ座標電極Ｘ１上抵抗膜の中端子Ｘ２上抵抗膜の中端子Ｘ３上抵抗膜の中端子Ｘ４上抵抗膜の中端子Ｙ１下抵抗膜の中端子Ｙ２下抵抗膜の中端子Ｙ３下抵抗膜の中端子Ｙ４下抵抗膜の中端子

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】抵抗膜に印加する二つの電極端子とは異
なる中端子を有し、前記中端子より他の端子間の印加電
圧を測定することにより、座標値の補正を行うことを特
徴とする抵抗膜タブレット。
【請求項２】前記請求項１記載の抵抗膜タブレットに
おいて、前記中端子を、二つの電極端子の設置位置とは異なる側
面の特定位置に設けたことを特徴する抵抗膜タブレッ
ト。
【請求項３】前記請求項１記載の抵抗膜タブレットに
おいて、前記中端子を、Ｘ座標抵抗膜およびＹ座標抵抗膜の各々
に設けたことを特徴とする抵抗膜タブレット。
【請求項４】前記請求項３記載の抵抗膜タブレットに
おいて、前記中端子を、Ｘ座標抵抗膜の４隅から一定距離の特定
位置と、Ｙ座標抵抗膜の４隅から一定距離の特定位置と
に設けたことを特徴とする抵抗膜タブレット。
【請求項５】抵抗膜に設けられた二つの電極端子に電
圧を印加し、各々の中端子の電圧を測定することで、当
該中端子の座標が示す基準電圧を定め、外圧による抵抗
膜押圧時による測定電圧が示す座標を算出することを特
徴とする抵抗膜タブレット。
【請求項６】前記請求項５記載の抵抗膜タブレットに
おいて、前記基準電圧の測定を外圧による抵抗膜押圧時による測
定電圧が示す座標の算出前に行うことを特徴とする抵抗
膜タブレット。
【請求項７】前記請求項５記載の抵抗膜タブレットに
おいて、前記基準電圧の測定を装置電源投入時に行うことを特徴
とする抵抗膜タブレット。
【請求項８】前記請求項５記載の抵抗膜タブレットに
おいて、前記基準電圧の測定を一定時間の周期において行うこと
を特徴とする抵抗膜タブレット。