JPH11353996A - 薄型温度ヒュ−ズ及び薄型温度ヒュ−ズの製造方法 - Google Patents

薄型温度ヒュ−ズ及び薄型温度ヒュ−ズの製造方法

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JPH11353996A
JPH11353996A JP10179675A JP17967598A JPH11353996A JP H11353996 A JPH11353996 A JP H11353996A JP 10179675 A JP10179675 A JP 10179675A JP 17967598 A JP17967598 A JP 17967598A JP H11353996 A JPH11353996 A JP H11353996A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】良好な作動性を保証できる薄型温度ヒュ−ズを
提供する。 【解決手段】樹脂ベ−スフィルム11の片面上に一対の
帯状リ−ド導体2,2の先端部を固着し、帯状リ−ド導
体の先端間に低融点可溶合金片3を接続し、低融点可溶
合金片3にフラックス4を塗布し樹脂ベ−スフィルム1
1の片面上に樹脂カバ−フィルム12を配し、両樹脂フ
ィルム周辺のフィルム間及び樹脂カバ−フィルムと帯状
リ−ド導体との間を封止してなり、帯状リ−ド導体先端
間の距離L、低融点可溶合金片の体積V、樹脂ベ−スフ
ィルムの片面と樹脂カバ−フィルムの内面との間隔dと
の間に(V/L)1/2/d≦1.8の関係を付与した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は薄型温度ヒュ−ズ及
びその製造方法に関し、例えばリチウムイオン二次電池
を過充電や過放電から保護するのに用いる温度ヒュ−ズ
の製造に有用なものである。
【0002】
【従来の技術】近来、携帯用電気機器の電源としてリチ
ウムイオン二次電池等の大容量電池が使用されている。
かかる大容量電池では充電時や放電時に相当に大きな電
流が流れる可能性があり、過充電や本体機器の故障によ
り異常発熱する畏れがある。そこで、この異常発熱を温
度ヒュ−ズで感知し、電池を充電用電源から遮断し、ま
たは電池と本体機器との間を遮断することが検討されて
いる。
【0003】この電池保護用温度ヒュ−ズにおいては薄
型であることが要求され、樹脂ベ−スフィルムの片面上
に一対の帯状リ−ド導体の先端部を固着し、帯状リ−ド
導体の先端間に低融点可溶合金片を接続し、樹脂ベ−ス
フィルムの片面上に樹脂カバ−フィルムを配し、両樹脂
フィルム周辺のフィルム間及び樹脂カバ−フィルムと帯
状リ−ド導体との間を接着剤で封止した薄型温度ヒュ−
ズが知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記薄
型温度ヒュ−ズでは、帯状リ−ド導体の(表面積/断面
積)比が円形リ−ド導体に較べて著しく大であり、低融
点可溶合金片をリ−ド導体に溶接する際の放熱が多過ぎ
溶接不良が生じ易いこと(この溶接不良は濡れ拡がった
溶融金属の1ヶ所で点状に溶着され、他の部分が単に接
触されるだけの状態であり、抵抗値測定でも検出困難で
ある)、合金型温度ヒュ−ズにおいては溶融された低融
点可溶合金片が表面張力による球状化で分断作動される
が、上記薄型温度ヒュ−ズでは、溶融合金が薄厚の空間
の内面に円板状で接して表面張力の作用する表面積が僅
かな形状に賦形されてしまい上記球状化分断に較べて分
断機能が本質的に劣ること等のために作動不良が生じ易
い。
【0005】そこで、本発明者においては、上記薄型温
度ヒュ−ズの作動性を向上すべく鋭意検討した結果、後
述するように、帯状リ−ド導体先端間の距離L、低融点
可溶合金片の体積V、樹脂ベ−スフィルムの片面と樹脂
カバ−フィルムの内面との間隔dとの間に(V/L)1/
2/d≦1.8の関係を付与すれば、動作不良の発生率
を実質上零にできることを知った。しかしながら、上記
薄型温度ヒュ−ズの従来の製造方法では、上記関係を充
足する薄型温度ヒュ−ズを製造することは容易ではな
い。
【0006】本発明の目的は、良好な作動性を保証でき
る薄型温度ヒュ−ズを容易に製造できる薄型温度ヒュ−
ズの製造方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係る一の薄型温
度ヒュ−ズは、樹脂ベ−スフィルムの片面上に一対の帯
状リ−ド導体の先端部を固着し、帯状リ−ド導体の先端
間に低融点可溶合金片を接続し、低融点可溶合金片にフ
ラックスを塗布し樹脂ベ−スフィルムの片面上に樹脂カ
バ−フィルムを配し、両樹脂フィルム周辺のフィルム間
及び樹脂カバ−フィルムと帯状リ−ド導体との間を封止
してなり、帯状リ−ド導体先端間の距離L、低融点可溶
合金片の体積V、樹脂ベ−スフィルムの片面と樹脂カバ
−フィルムの内面との間隔dとの間に(V/L)1/2
d≦1.8の関係を付与したことを特徴とする構成であ
る。
【0008】本発明に係る一の薄型温度ヒュ−ズの製造
方法は、樹脂ベ−スフィルムの片面上に一対の帯状リ−
ド導体の先端部を固着し、帯状リ−ド導体の先端間に低
融点可溶合金片を接続し、低融点可溶合金片を覆ってフ
ラックスを塗布、凝固し、樹脂ベ−スフィルムの片面上
に前記凝固フラツクスに接して樹脂カバ−フィルムを配
し、両樹脂フィルム周辺のフィルム間及び樹脂カバ−フ
ィルムと帯状リ−ド導体との間を封止して温度ヒュ−ズ
を製造する方法であり、帯状リ−ド導体先端間の距離を
L、低融点可溶合金片の体積をVとして、上記フラック
スの厚みd’を(V/L)1/2/d’≦1.8を満たす
ように設定することを特徴とする構成である。
【0009】本発明に係る他の薄型温度ヒュ−ズは、一
対の帯状リ−ド導体の先端部を樹脂ベ−スフィルムにそ
の裏面側から表面側に表出させて固着し、両帯状リ−ド
導体の先端表出部間に低融点可溶合金片を接続し、該低
融点可溶合金片にフラックスを塗布し、樹脂ベ−スフィ
ルムの表面上に樹脂カバ−フィルムを配し、両樹脂フィ
ルム周辺のフィルム間及び樹脂カバ−フィルムと他方の
帯状リ−ド導体との間を封止してなり、帯状リ−ド導体
先端表出部間の距離L、低融点可溶合金片の体積V、樹
脂ベ−スフィルムの片面と樹脂カバ−フィルムの内面と
の間隔dとの間に(V/L)1/2/d≦1.8の関係を
付与したことを特徴とする構成である。
【0010】本発明に係る他の薄型温度ヒュ−ズの製造
方法は、一対の帯状リ−ド導体の先端部を樹脂ベ−スフ
ィルムにその裏面側から表面側に表出させて固着し、両
帯状リ−ド導体の先端表出部間に低融点可溶合金片を接
続し、該低融点可溶合金片にフラックスを塗布し、樹脂
ベ−スフィルムの表面上に樹脂カバ−フィルムを配し、
両樹脂フィルム周辺のフィルム間及び樹脂カバ−フィル
ムと帯状リ−ド導体との間を封止して温度ヒュ−ズを製
造する方法であり、帯状リ−ド導体先端表出部間の距離
L、低融点可溶合金片の体積V、樹脂ベ−スフィルムの
片面と樹脂カバ−フィルムの内面との間隔dとの間に
(V/L)1/2/d≦1.8の関係を与えるように樹脂
カバ−フィルムを予め成形しておくことを特徴とする構
成である。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について説明する。図1の(イ)及び図1の
(ロ)〔図1の(イ)のロ−ロ断面図〕は、請求項1に
係る薄型温度ヒュ−ズの一例を示している。図1におい
て、11は樹脂ベ−スフィルム、2は帯状リ−ド導体で
あり、先端部を樹脂ベ−スフィルム11に熱融着や接着
剤で固着してある。3は帯状リ−ド導体2,2間に溶接
により接続した低融点可溶合金片、4は低融点可溶合金
片に塗布したフラックス、12は樹脂ベ−スフィルム1
1の表面上に配した樹脂カバ−フィルムであり、樹脂カ
バ−フィルムの周辺のフィルム間及び樹脂カバ−フィル
ムと帯状リ−ド導体との間を封止してある。上記におい
て、帯状リ−ド導体先端間の距離をL、低融点可溶合金
片の体積をV、樹脂ベ−スフィルムの上面と樹脂カバ−
フィルムの内面との間隔をdとし、これらの間に(V/
L)1/2/d≦1.8の関係を付与してある。
【0012】上記低融点可溶合金片3には、作動温度に
応じて融点を調整した低融点可溶合金の丸線または平型
線が用いられ、丸線の外径は通常500μm〜1000
μmとされ、平型線には丸線と同断面積のものが使用さ
れる。上記帯状リ−ド導体2には、例えば銅、アルミニ
ウム、ニッケル等を使用でき、厚みは通常50μm〜2
00μm、好ましくは100μm、巾は通常2〜5m
m、好ましくは3mmとされける。上記の樹脂ベ−スフ
ィルム11や樹脂カバ−フィルム12には、例えばポリ
エチレンテレフタレ−ト、ポリアミド、ポリイミド、ポ
リブチレンテレフタレ−ト、ポリフェニレンオキシド、
ポリエチレンサルファイド、ポリサルホン等のエンジニ
アリングプラスチックを使用でき、両フィルムには通常
同種フィルムが使用されるが、異種のものを使用するこ
とも可能である。これらの個々のフィルムの厚みは、通
常50〜500μmとされる。
【0013】図1に示す薄型温度ヒュ−ズを製造するに
は、一対の帯状リ−ド導体2,2の先端部を樹脂ベ−ス
フィルム11の片面に熱プレスや超音波融着或いは接着
剤等で固着し、次いで、これらの固着帯状リ−ド導体
2,2の先端部間に低融点可溶合金片3を抵抗溶接等で
接合する。この溶接は低融点可溶合金片全表面積の2〜
30%程度を接触界面とするように行われ、従って、帯
状リ−ド導体の露出表面積(帯状リ−ド導体先端部のう
ち、封止部を除いた部分の表面積)は低融点可溶合金片
全表面積の2〜30%以上とされる。更にフラックス4
を低融点可溶合金片3を覆って所定厚みで塗布凝固し、
このフラックスの厚みdは、(V/L)1/2/d≦1.
8を満たすように設定する。次いで、樹脂ベ−スフィル
ム11の片面上に樹脂カバ−フィルム12を配し、樹脂
カバ−フィルム12をフラックスに接触させた状態で樹
脂ベ−スフィルム11と樹脂カバ−フィルム12との間
及び樹脂カバ−フィルム12と帯状リ−ド導体被封止部
20との間をヒ−トシ−ルまたは超音波融着或いはレ−
ザ照射により接合し、これにて図1に示す薄型温度ヒュ
−ズの製造を終了する。
【0014】表1は低融点可溶合金片3に外径550μ
m、融点93℃の丸線を、フラックス4にはロジンをそ
れぞれ用い、L及びVを変え(低融点可溶合金片の長さ
を変えてVを変えた)、かつ帯状リ−ド導体(厚み0.
1mm、巾4mmの銅帯体を使用)と低融点可溶合金片
との溶接を特に帯状リ−ド導体表面をやや酸化させて故
意に不充分状態にして製作した試料を温度95℃の加熱
オイル中に2分間浸漬し、非導通とならなかったものを
動作不良とした試験結果を示している(各試料数は10
個)。
【0015】 表1 帯状リ−ド導体 低融点可溶 樹脂フィルム間 (V/L)1/2/d 動作不良 先端間の距離 合金片の体積 の間隙 発生率 L(mm) V(mm3) d(mm) (%) 4.5 2.252 0.40 1.77 0 4.5 2.252 0.38 1.86 40 4.5 2.542 0.40 1.87 30 7.0 2.217 0.33 1.70 0 7.0 2.217 0.30 1.87 20 7.0 2.545 0.33 1.82 10
【0016】この試験結果から明らかなように(V/
L)1/2/d=1.8が動作不良の有無を決する臨界点
となっている。而して、この臨界点を基準にして帯状リ
−ド導体先端間の距離Lが長くなるほど、また低融点可
溶合金片の体積が小さくなるほど、或いは空間の間隙d
が大きくなるほど低融点可溶合金片が溶断されやすくな
り、作動不良率が減じられていくことが理解される(な
お、V/Lが√で関与することの妥当性は、dに対する
ディメンジョンから裏付け得る)。
【0017】本発明に係る一の薄型温度ヒュ−ズの製造
方法においては、低融点可溶合金片3を覆うフラックス
4の厚みdを規制するだけで、その後は樹脂ベ−スフィ
ルム11と樹脂カバ−フィルム12との間及び樹脂カバ
−フィルム12と帯状リ−ド導体との間を通常通りに接
合することによって、上記(V/L)1/2/d≦1.8
の条件を満たす薄型温度ヒュ−ズを製造でき、作動不良
を実質的に零にできる薄型温度ヒュ−ズを容易に製造で
きる。
【0018】図2の(イ)及び図2の(ロ)〔図2の
(イ)のロ−ロ断面図〕は、請求項3に係る薄型温度ヒ
ュ−ズの一例を示している。図3は薄型温度ヒュ−ズに
おいて使用する樹脂カバ−フィルム12を示し、深さd
が(V/L)1/2/d≦1.8を満足する扁平ケ−ス状
に成形してある。
【0019】請求項3に係る薄型温度ヒュ−ズを製造す
るには、一対の帯状リ−ド導体2,2の先端部を熱プレ
ス等で樹脂ベ−スフィルム11にその裏面側から表面側
に表出させて固着し、更に両帯状リ−ド導体2,2の先
端間に低融点可溶合金片3を抵抗溶接等で接合し、更に
低融点可溶合金片3上にフラックス4を塗布する。次い
で、樹脂ベ−スフィルム11の片面上に上記予め成形し
た樹脂カバ−フィルム12を配し、樹脂カバ−フィルム
12の周辺と樹脂ベ−スフィルム11との間及び樹脂カ
バ−フィルム12の周辺と帯状リ−ド導体2との間をヒ
−トシ−ルまたは超音波融着或いはレ−ザ照射により接
合し、これにて請求項3に係る薄型温度ヒュ−ズの製造
を終了する。
【0020】図4の(イ)及び図4の(ロ)〔図4の
(イ)のロ−ロ断面図〕は、請求項5に係る薄型温度ヒ
ュ−ズの一例を示し、この薄型温度ヒュ−ズにおいても
図3に示す成形樹脂カバ−フィルム12が使用される。
請求項5に係る薄型温度ヒュ−ズを製造するには、図4
において、一方の帯状リ−ド導体21の先端部を熱プレ
ス等で樹脂ベ−スフィルム11にその裏面側から表面側
に表出させて固着し、他方の帯状リ−ド導体2の先端部
を樹脂ベ−スフィルム11の表面に熱プレス等で固着
し、更に両帯状リ−ド導体2,21の先端間に低融点可
溶合金片3を抵抗溶接等で接合し、更に低融点可溶合金
片3上にフラックス4を塗布し、次いで、樹脂ベ−スフ
ィルム11の片面上に上記の予め成形した樹脂カバ−フ
ィルム12を配し、樹脂カバ−フィルム12の周辺と樹
脂ベ−スフィルム11との間及び成形樹脂カバ−フィル
ム12と他方の帯状リ−ド導体2との間をヒ−トシ−ル
または超音波融着或いはレ−ザ照射により接合し、これ
にて請求項5に係る薄型温度ヒュ−ズの製造を終了す
る。
【0021】請求項3や請求項5に係る薄型温度ヒュ−
ズにおいては、樹脂ベ−スフィルムの表面と樹脂カバ−
フィルムの内面との間隔が、予め成形した樹脂カバ−フ
ィルムの凹部の深さd((V/L)1/2/d≦1.8を
満たすd)で設定されるから、前記(V/L)1/2/d
≦1.8の要件を満たす薄型温度ヒュ−ズを通常の製造
工程で容易に製造できる。
【0022】本発明に係る薄型温度ヒュ−ズは、例えば
リチウムイオン二次電池を異常発熱から保護するために
使用できる。
【0023】図5はリチウムイオン二次電池を示し、セ
パレ−タ51を介在させた正極52と負極53とのスパ
イラル巻回体低融点可溶合金片を負極缶54に収容して
負極53と負極缶54の底面とを電気的に導通し、負極
缶54内の上端に正極集電極55を配設して正極52を
この集電極55に電気的に導通し、負極缶54の上端部
541を防爆弁板外56の外周端部及び正極蓋57の外
周端部にパッキング58を介してかしめ加工し、防爆弁
板56の中央凹部を正極集電極59に電気的に導通して
あり、請求項1や2の発明により製造した薄型温度ヒュ
−ズでは、薄型温度ヒュ−ズをチウムイオン二次電池の
防爆弁板56と正極蓋57との間の空間に配し、防爆弁
板56の外周端部と正極蓋57の外周端部との間に絶縁
スペ−サリングrを介在させ、一方の帯状リ−ド導体2
を防爆弁板56の外周端部と絶縁スペ−サリングrとで
挾持し、他方の帯状リ−ド導体2を正極蓋57の外周端
部と絶縁スペ−サリングrとで挾持して電池内に直列に
組み込んで使用することができる。
【0024】図6の(イ)及び図6の(ロ)〔図6の
(イ)におけるロ−ロ断面図〕は請求項5に係る薄型温
度ヒュ−ズの別実施例を示し、上記と同様にして電池内
に直列に組み込んで使用することができる。図6におい
て、Fはフレ−ムを示し、図7の(イ)に示す環状部2
01の内周に一方の帯状リ−ド導体21を有する一方の
箔状電極f1と、図3の(ロ)に示す環状の樹脂スペ−
サフィルムsと、図7の(ハ)に示す環状部200の内
周に他方の帯状リ−ド導体2を有する箔状電極f2とを
リ−ド部2,21を180°互い違いにして重畳してあ
る。これらの帯状リ−ド導体2、21のうちリ−ド導体
2の被封止部20には孔aを加工してある。これらの箔
状電極f1,f2と樹脂スペ−サフィルムsの界面の接着
には熱融着等を使用できる。
【0025】図6において、Aはフレ−ムFの中央空間
に配した温度ヒュ−ズ本体であり、一方の帯状リ−ド導
体21の先端部を樹脂ベ−スフィルム11の一面に固着
すると共に該フィルム11の一面より他面に局部的に表
出させ、他方の帯状リ−ド導体2の先端部を前記樹脂ベ
−スフィルム11の他面に固着し、該先端部と前記局部
的に表出された一方の帯状リ−ド導体21先端部分との
間に低融点可溶合金片3を溶接等で接続し、該低融点可
溶合金片3にフラックス4を塗布し、このフラックス塗
布低融点可溶合金片上に図3に示した樹脂カバ−フィル
ム12を配し、樹脂カバ−フィルム12周辺の樹脂ベ−
スフィルム11と樹脂カバ−フィルム12との間及び樹
脂カバ−フィルム12と他方の帯状リ−ド導体2との間
をヒ−トシ−ルまたは超音波融着或いはレ−ザ照射によ
り接合してある。
【0026】この薄型温度ヒュ−ズでは図5に示す電池
において、前記絶縁スペ−サリングrを介することなく
防爆弁板56の外周端部と正極蓋57の外周端部との間
に挾持されて防爆弁板56とフレ−ムFの箔状電極f1
との電気的接触→箔状電極f1のリ−ド導体21→低融
点可溶合金片3→箔状電極f0のリ−ド導体2→フレ−
ムFの箔状電極f0と正極蓋57との電気的接触によ
り、電池に温度ヒュ−ズが電気的に直列に接続される。
【0027】本発明に係るかかわる薄型温度ヒュ−ズ
は、電池の負極缶に一方の帯状リ−ド導体及び温度ヒュ
−ズ本体を密接させると共にその一方の帯状リ−ド導体
と負極缶との間を電気的に接続し、他方の帯状リ−ド導
体を負極缶から離隔や絶縁フィルムの介在により絶縁し
て当該電池に直列に挿入することによっても使用でき
る。
【0028】本発明に係るかかわる薄型温度ヒュ−ズに
おいては、図8や図9に示すように、帯状リ−ド導体端
部にスリットsを設け、このスリットsを挾んで電極を当
接して抵抗溶接により被接合面(例えばに電池の負極缶)
に溶接すること(スリットsは電極間の抵抗値を所定値に
設定するため)、図9に示すように位置決め用の孔eま
たは切り込みe’を設けることも可能である。
【0028】
【発明の効果】本発明に係る薄型温度ヒュ−ズの製造方
法によれば、帯状リ−ド導体先端間の距離をL、低融点
可溶合金片の体積をV、樹脂カバ−フィルムの内面と樹
脂ベ−スフィルムの表面との間隔をdとして(V/L)
1/2/d≦1.8を満たす薄型温度ヒュ−ズを通常の製
造工程で製造でき、帯状リ−ド導体と低融点可溶合金片
との溶接不良が帯状リ−ド導体の放熱性のために生じ易
くても、前記(V/L)1/2/d≦1.8の充足下では
作動不良発生率を実質的に零にできるから、本発明によ
れば作動性に優れた薄型温度ヒュ−ズを容易に製造でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1に係る薄型温度ヒュ−ズの一例を示す
図面である。
【図2】請求項3に係る薄型温度ヒュ−ズの一例を示す
図面である。
【図3】請求項3に係る薄型温度ヒュ−ズにおいて使用
する樹脂カバ−フィルムを示す図面である。
【図4】請求項5に係る薄型温度ヒュ−ズの一例を示す
図面である。
【図5】本発明に係る薄型温度ヒュ−ズの使用状態の一
例を示す図面である。
【図6】請求項3に係る薄型温度ヒュ−ズの別例を示す
図面である。
【図7】請求項3に係る上記別例の薄型温度ヒュ−ズに
使用されるフレ−ムを示す図面である。
【図8】請求項3に係る薄型温度ヒュ−ズの上記とは別
の異なる例を示す図面である。
【図9】請求項3に係る薄型温度ヒュ−ズの上記とは別
の異なる例を示す図面である。
【符号の説明】
11 樹脂ベ−スフィルム 12 樹脂カバ−フィルム 2 帯状リ−ド導体 21 帯状リ−ド導体 3 低融点可溶合金片 4 フラックス

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】樹脂ベ−スフィルムの片面上に一対の帯状
    リ−ド導体の先端部を固着し、帯状リ−ド導体の先端間
    に低融点可溶合金片を接続し、低融点可溶合金片にフラ
    ックスを塗布し、樹脂ベ−スフィルムの片面上に樹脂カ
    バ−フィルムを配し、両樹脂フィルム周辺のフィルム間
    及び樹脂カバ−フィルムと帯状リ−ド導体との間を封止
    してなり、帯状リ−ド導体先端間の距離L、低融点可溶
    合金片の体積V、樹脂ベ−スフィルムの片面と樹脂カバ
    −フィルムの内面との間隔dとの間に(V/L)1/2
    d≦1.8の関係を付与したことを特徴とする薄型温度
    ヒュ−ズ。
  2. 【請求項2】樹脂ベ−スフィルムの片面上に一対の帯状
    リ−ド導体の先端部を固着し、帯状リ−ド導体の先端間
    に低融点可溶合金片を接続し、低融点可溶合金片を覆っ
    てフラックスを塗布、凝固し、樹脂ベ−スフィルムの片
    面上に前記凝固フラツクスに接して樹脂カバ−フィルム
    を配し、両樹脂フィルム周辺のフィルム間及び樹脂カバ
    −フィルムと帯状リ−ド導体との間を封止して温度ヒュ
    −ズを製造する方法であり、帯状リ−ド導体先端間の距
    離をL、低融点可溶合金片の体積をVとして、上記フラ
    ックスの厚みd’を(V/L)1/2/d’≦1.8を満
    たすように設定することを特徴とする薄型温度ヒュ−
    ズ。
  3. 【請求項3】一対の帯状リ−ド導体の先端部を樹脂ベ−
    スフィルムにその裏面側から表面側に表出させて固着
    し、両帯状リ−ド導体の先端表出部間に低融点可溶合金
    片を接続し、該低融点可溶合金片にフラックスを塗布
    し、樹脂ベ−スフィルムの表面上に樹脂カバ−フィルム
    を配し、両樹脂フィルム周辺のフィルム間を封止してな
    り、帯状リ−ド導体先端表出部間の距離L、低融点可溶
    合金片の体積V、樹脂ベ−スフィルムの片面と樹脂カバ
    −フィルムの内面との間隔dとの間に(V/L)1/2
    d≦1.8の関係を付与したことを特徴とする薄型温度
    ヒュ−ズ。
  4. 【請求項4】一対の帯状リ−ド導体の先端部を樹脂ベ−
    スフィルムにその裏面側から表面側に表出させて固着
    し、両帯状リ−ド導体の先端表出部間に低融点可溶合金
    片を接続し、該低融点可溶合金片にフラックスを塗布
    し、樹脂ベ−スフィルムの表面上に樹脂カバ−フィルム
    を配し、両樹脂フィルム周辺のフィルム間を封止して温
    度ヒュ−ズを製造する方法であり、帯状リ−ド導体先端
    表出部間の距離L、低融点可溶合金片の体積V、樹脂ベ
    −スフィルムの片面と樹脂カバ−フィルムの内面との間
    隔dとの間に(V/L)1/2/d≦1.8の関係を与え
    るように樹脂カバ−フィルムを予め成形しておくことを
    特徴とする薄型温度ヒュ−ズの製造方法。
  5. 【請求項5】一方の帯状リ−ド導体の先端部を樹脂ベ−
    スフィルムにその裏面側から表面側に表出させて固着
    し、他方の帯状リ−ド導体の先端部を樹脂ベ−スフィル
    ムの表面側に固着し、両帯状リ−ド導体の先端間に低融
    点可溶合金片を接続し、該低融点可溶合金片にフラック
    スを塗布し、樹脂ベ−スフィルムの表面上に樹脂カバ−
    フィルムを配し、両樹脂フィルム周辺のフィルム間及び
    樹脂カバ−フィルムと他方の帯状リ−ド導体との間を封
    止してなり、一方の帯状リ−ド導体先端表出部と他方の
    帯状リ−ド導体先端との間の距離L、低融点可溶合金片
    の体積V、樹脂ベ−スフィルムの片面と樹脂カバ−フィ
    ルムの内面との間隔dとの間に(V/L)1/2/d≦
    1.8の関係を付与したことを特徴とする薄型温度ヒュ
    −ズ。
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DE69925198T DE69925198T2 (de) 1998-06-11 1999-02-26 Flache thermische Sicherung und Herstellungsverfahren
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002099827A1 (en) * 2001-06-05 2002-12-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Temperature fuse, and battery using the same
WO2004070759A1 (ja) * 2003-02-05 2004-08-19 Sony Chemicals Corp. 保護素子
US7068141B2 (en) 2001-02-20 2006-06-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Thermal fuse

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6057779A (en) * 1997-08-14 2000-05-02 Micron Technology, Inc. Method of controlling access to a movable container and to a compartment of a vehicle, and a secure cargo transportation system
DE19738575A1 (de) * 1997-09-04 1999-06-10 Wickmann Werke Gmbh Elektrisches Sicherungselement
JP3478785B2 (ja) * 2000-07-21 2003-12-15 松下電器産業株式会社 温度ヒューズ及びパック電池
DE10058973A1 (de) * 2000-11-28 2002-05-29 Rolls Royce Deutschland Permanentmagnet-Maschine sowie Sicherungseinrichtung hierfür
FR2821983B1 (fr) * 2001-03-07 2003-08-15 Schneider Electric Ind Sa Dispositif de raccordement pour accumulateur electrique
CN1327467C (zh) * 2001-06-11 2007-07-18 维克曼工厂有限公司 熔断器件及其制造方法
KR100776875B1 (ko) * 2002-10-07 2007-11-16 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤 온도 퓨즈용 소자, 온도 퓨즈 및 이를 이용한 전지
US20040119578A1 (en) * 2002-12-20 2004-06-24 Ching-Lung Tseng Packaging structure for an electronic element
JP2004214033A (ja) * 2002-12-27 2004-07-29 Sony Chem Corp 保護素子
JP4223316B2 (ja) * 2003-04-03 2009-02-12 内橋エステック株式会社 二次電池用ヒューズ
CN100376704C (zh) * 2003-05-29 2008-03-26 松下电器产业株式会社 温度保险丝用元件、温度保险丝及使用了温度保险丝的电池
JP4207686B2 (ja) 2003-07-01 2009-01-14 パナソニック株式会社 ヒューズ、それを用いたパック電池およびヒューズ製造方法
WO2005006374A2 (en) * 2003-07-11 2005-01-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Fusible alloy and thermal fuse
DE10355282A1 (de) * 2003-11-18 2005-06-16 E.G.O. Elektro-Gerätebau GmbH Verfahren zur Herstellung einer Übertemperatursicherung und Übertemperatursicherung
DE102004033251B3 (de) 2004-07-08 2006-03-09 Vishay Bccomponents Beyschlag Gmbh Schmelzsicherung für einem Chip
US7477130B2 (en) * 2005-01-28 2009-01-13 Littelfuse, Inc. Dual fuse link thin film fuse
EP1908154A2 (en) * 2005-07-22 2008-04-09 Littelfuse, Inc. Electrical device with integrally fused conductor
US20070075822A1 (en) * 2005-10-03 2007-04-05 Littlefuse, Inc. Fuse with cavity forming enclosure
TWI323906B (en) * 2007-02-14 2010-04-21 Besdon Technology Corp Chip-type fuse and method of manufacturing the same
DE102007014338A1 (de) * 2007-03-26 2008-10-02 Robert Bosch Gmbh Thermosicherung
CN101393823B (zh) * 2007-09-21 2010-12-22 比亚迪股份有限公司 一种合金型温度保险丝及其制造方法
JP5287154B2 (ja) * 2007-11-08 2013-09-11 パナソニック株式会社 回路保護素子およびその製造方法
US8525633B2 (en) * 2008-04-21 2013-09-03 Littelfuse, Inc. Fusible substrate
JP5072796B2 (ja) * 2008-05-23 2012-11-14 ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社 保護素子及び二次電池装置
US20110163840A1 (en) * 2008-10-28 2011-07-07 Nanjing Sart Science & Technology Development Co., Ltd. High reliability blade fuse and the manufacturing method thereof
JP5130233B2 (ja) * 2009-01-21 2013-01-30 デクセリアルズ株式会社 保護素子
JP5130232B2 (ja) 2009-01-21 2013-01-30 デクセリアルズ株式会社 保護素子
JP5301298B2 (ja) * 2009-01-21 2013-09-25 デクセリアルズ株式会社 保護素子
KR101279994B1 (ko) * 2010-10-15 2013-07-05 주식회사 엘지화학 전극리드에 안전부재가 위치한 구조의 캡 어셈블리 및 이를 포함하고 있는 원통형 전지
KR101711977B1 (ko) * 2011-10-25 2017-03-06 삼성에스디아이 주식회사 이차 전지
EP2662913B1 (en) * 2011-11-28 2016-04-20 LG Chem, Ltd. Battery module and bus bar applied to battery module
JP5844669B2 (ja) * 2012-03-26 2016-01-20 デクセリアルズ株式会社 保護素子
JP6382028B2 (ja) * 2014-08-26 2018-08-29 デクセリアルズ株式会社 回路基板及び電子部品の実装方法
CN111180649B (zh) * 2019-12-30 2021-06-11 合肥国轩高科动力能源有限公司 一体式高温分解接插件及含有该接插件的锂离子电池

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2121120C3 (de) * 1971-04-29 1973-11-22 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Übertemperatursicherung fur eine elektrische Wicklung
US3805208A (en) * 1973-06-14 1974-04-16 Alister C Mc Protector for electric circuits
US4272753A (en) * 1978-08-16 1981-06-09 Harris Corporation Integrated circuit fuse
JPS56160648A (en) * 1980-05-14 1981-12-10 Fuji Electric Co Ltd Oxygen sensor
JPS57117255A (en) * 1981-01-12 1982-07-21 Toshiba Corp Semiconductor ic device
JPS57122565A (en) * 1981-01-22 1982-07-30 Toshiba Corp Semiconductor device
US4626818A (en) * 1983-11-28 1986-12-02 Centralab, Inc. Device for programmable thick film networks
US4924203A (en) * 1987-03-24 1990-05-08 Cooper Industries, Inc. Wire bonded microfuse and method of making
US4873506A (en) * 1988-03-09 1989-10-10 Cooper Industries, Inc. Metallo-organic film fractional ampere fuses and method of making
JPH01272133A (ja) * 1988-04-22 1989-10-31 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JPH01295440A (ja) * 1988-05-24 1989-11-29 Nissan Motor Co Ltd 半導体装置
JPH02100221A (ja) * 1988-10-07 1990-04-12 Fujikura Ltd 温度ヒューズおよびその形成方法
JPH0795419B2 (ja) * 1989-02-27 1995-10-11 内橋エステック株式会社 薄形ヒューズ
JP2524859B2 (ja) * 1990-02-01 1996-08-14 内橋エステック株式会社 抵抗・温度ヒュ―ズ並びにその製造方法
CH682959A5 (fr) * 1990-05-04 1993-12-15 Battelle Memorial Institute Fusible.
JPH0465046A (ja) * 1990-07-02 1992-03-02 Tateyama Kagaku Kogyo Kk チップ形ヒューズ抵抗器
US5099219A (en) * 1991-02-28 1992-03-24 Rock, Ltd. Partnership Fusible flexible printed circuit and method of making same
US5097247A (en) * 1991-06-03 1992-03-17 North American Philips Corporation Heat actuated fuse apparatus with solder link
JPH04365351A (ja) * 1991-06-13 1992-12-17 Nec Corp 半導体集積回路装置
DE4222278C1 (de) * 1992-07-07 1994-03-31 Roederstein Kondensatoren Verfahren zur Herstellung elektrischer Dickschichtsicherungen
JP2624439B2 (ja) * 1993-04-30 1997-06-25 コーア株式会社 回路保護用素子
US5432378A (en) * 1993-12-15 1995-07-11 Cooper Industries, Inc. Subminiature surface mounted circuit protector
US5453726A (en) * 1993-12-29 1995-09-26 Aem (Holdings), Inc. High reliability thick film surface mount fuse assembly
US5552757A (en) * 1994-05-27 1996-09-03 Littelfuse, Inc. Surface-mounted fuse device
US5712610C1 (en) * 1994-08-19 2002-06-25 Sony Chemicals Corp Protective device
JP2670756B2 (ja) * 1995-02-02 1997-10-29 釜屋電機株式会社 チップ形ヒューズ抵抗器、及びその製造方法
JP3774871B2 (ja) * 1995-10-16 2006-05-17 松尾電機株式会社 遅延型薄膜ヒューズ
JPH1012111A (ja) * 1996-06-18 1998-01-16 Uchihashi Estec Co Ltd 合金型温度ヒュ−ズ及びその製造方法
JP3754770B2 (ja) * 1996-10-01 2006-03-15 内橋エステック株式会社 薄型ヒュ−ズ

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7068141B2 (en) 2001-02-20 2006-06-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Thermal fuse
WO2002099827A1 (en) * 2001-06-05 2002-12-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Temperature fuse, and battery using the same
US7473487B2 (en) 2001-06-05 2009-01-06 Panasonic Corporation Temperature fuse, and battery using the same
US7718308B2 (en) 2001-06-05 2010-05-18 Panasonic Corporation Temperature fuse and battery using the same
WO2004070759A1 (ja) * 2003-02-05 2004-08-19 Sony Chemicals Corp. 保護素子
US7088216B2 (en) 2003-02-05 2006-08-08 Sony Chemicals Corp. Protective device
CN100461321C (zh) * 2003-02-05 2009-02-11 索尼化学株式会社 保护元件

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