JPH1140698A - 配線基板 - Google Patents

配線基板

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JPH1140698A
JPH1140698A JP9195469A JP19546997A JPH1140698A JP H1140698 A JPH1140698 A JP H1140698A JP 9195469 A JP9195469 A JP 9195469A JP 19546997 A JP19546997 A JP 19546997A JP H1140698 A JPH1140698 A JP H1140698A
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JP
Japan
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wiring
pattern
dummy
dummy pattern
patterns
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Application number
JP9195469A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukiharu Takeuchi
之治 竹内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinko Electric Industries Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Industries Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH1140698A publication Critical patent/JPH1140698A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0271Arrangements for reducing stress or warp in rigid printed circuit boards, e.g. caused by loads, vibrations or differences in thermal expansion
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/721Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
    • H10W90/724Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 配線パターンの配置に疎密がある場合でも所
要の配線パターンの線幅を確保して信頼性の高い配線基
板を提供する。 【解決手段】 隣接する配線パターン6の間に該配線パ
ターン6とは電気的に絶縁してダミーパターン16が形
成された配線基板において、前記ダミーパターン16
が、前記配線パターン6に沿って形成された少なくとも
一つの分離帯によって2つ以上のダミーパターン16
a、16bに分離されて形成されたことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体素子を搭載す
る配線基板に関するものであり、とくには配線基板に形
成する配線構造に関する。
【0002】
【従来の技術】図6は半導体チップ4をフリップチップ
接続により配線基板5に搭載した様子を示す。実装面に
アレイ状等に多数個の電極を配列した半導体チップを搭
載するような場合には、図のように配線基板5を複数の
配線層に形成し、各層で所定の配線パターン6を形成
し、半導体チップの電極と配線パターン6とを電気的に
接続してビア7を介して外部接続端子8に接続する。
【0003】配線基板5を形成する各配線層の配線パタ
ーン6は製品に応じて適宜パターンで設計される。図4
は配線基板5を構成する配線層に形成される配線パター
ンの一例を示す。10は半導体チップ4の電極と同一の
平面配置で形成されたランドである。ランド10はバン
プを介して半導体チップ4の電極と電気的に接続されて
いる。各配線層ではランド10が配列された中央の領域
内から外側に相互に干渉することなく配線パターン6が
引き出され、配線パターン6の端部に外部接続端子8に
接続される接続端12が配列されている。
【0004】外部接続端子8に接続される接続端12の
配列は図4に示すように、必ずしも均等に配置されると
は限らない。配線パターン6はランド10と接続端12
との間を短絡しないように結ぶから、ランド10と接続
端12との配置によっては、図4に示すように配線パタ
ーン6が密に配置される部分と、隣接する配線パターン
6の間が広くあいて疎らに配置される部分が生じる。
【0005】配線パターン6を形成する場合は銅箔等の
導体層の表面に配線パターン6と同一のパターンでレジ
ストパターンを設け、レジストパターンをマスクとして
銅箔をエッチングすることによって行う。しかしなが
ら、図4に示すように配線パターン6の配置に大きな疎
密がある場合には、エッチング液の液回り性が不均等に
なることから、所定の配線パターン6の形状を得ること
が難しいという問題がある。
【0006】すなわち、配線パターン6が疎らに配置さ
れているところでは液回り性が良いからエッチングが進
むと導体部の側面からもエッチングが進行し、線幅が細
くなって、場合によっては断線が生じる。一方、配線パ
ターン6が密に配置されているところでは、液回り性が
悪いためエッチングの進行が遅れ、所定の配線パターン
6を得るまでに時間がかかる。
【0007】このように疎密の差が大きな配線パターン
6をエッチングによって形成する場合はエッチングの進
行度合いにばらつきが生じて精度よくパターンを形成す
ることが難しいことから、図5に示すように配線パター
ン6が疎らに配置されている部分の配線パターン6の中
間に、配線パターン6との間に配線パターン6が密に配
置されている部位での配線パターン6の間隔と同程度の
隙間をあけて付加的にダミーパターン14を設けること
がなされている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記のダミーパターン
14は疎らに配線パターン6が配置された部位でのエッ
チング液の液回り性を配線パターン6が密に配置された
部位での液回り性と同程度とし、配線層全体で精度よく
配線パターン6を形成することを可能とするものであ
る。しかしながら、従来のダミーパターン14は図5に
示すように一続きの一体物として形成されているから、
配線パターン6とダミーパターン14とが何らかの原因
で短絡すると、致命的な不良となることから、安全性を
みて、配線パターン6とダミーパターン14の境界部分
との間隔は密に配線パターン6が配置されている部位で
の間隔よりも広くとるようにしている。
【0009】このため、従来の配線基板ではダミーパタ
ーン14を設けて設計した場合であっても、配線層全体
としてエッチングの進行度合いを均等にすることができ
ず、配線パターン6の線幅がばらついたり、配線基板と
しての信頼性の劣化を招くという問題があった。本発明
は、上記のように配線パターン6の配置に疎密が生じて
いるような場合であっても、配線層内のすべての配線パ
ターン6について必要な線幅を確実に確保することがで
き、これによって高精度で信頼性の高い製品として提供
することを可能にする配線基板を提供することを目的と
している。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために次の構成を備える。すなわち、隣接する配
線パターンの間に該配線パターンとは電気的に絶縁して
ダミーパターンが形成された配線基板において、前記ダ
ミーパターンが、前記配線パターンに沿って形成された
少なくとも一つの分離帯によって2つ以上のダミーパタ
ーンに分離されて形成されたことを特徴とする。また、
前記配線パターンと該配線パターンに対向する前記ダミ
ーパターンとの間隔が、前記配線パターンが直接隣接し
ている部位の隣接する配線パターン間の間隔と略等しい
ことを特徴とする。また、前記分離帯によって分離され
たダミーパターンが、複数の島状に形成されたことを特
徴とする。また、前記分離帯によって分離されたダミー
パターンが、前記配線パターンの線幅と略等しい幅の線
状に形成されたものであることを特徴とする。また、前
記分離帯の幅は、導体層をエッチングして配線パターン
を形成する際に、前記ダミーパターンを確実に分離する
に十分な幅であることを特徴とする。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る配線基板の好
適な実施形態について添付図面と共に詳細に説明する。
図1は本発明に係る配線基板の第1の実施形態の構成を
示す説明図である。図は配線基板を構成する一つの配線
層における配線パターン6の配置例を示す。なお、本発
明に係る配線基板は複数の配線層を積層して成る場合で
あっても、単層の配線層から成る場合であっても適用で
きる。
【0012】図1で配線パターン6、ランド10、接続
端12の構成は図4に示す従来の配線層における構成と
同様である。ランド10と接続端12とを電気的に接続
する配線パターン6は、ランド10が配列された領域内
から隣接するランド10の間を通ってその外側に配置さ
れた接続端12へ引き出されている。前述したように、
配線パターン6の配置間隔には密に配置される部分と隣
接する配線パターン6の間隔が広く開いてまばらに配置
される部分がある。
【0013】本実施形態の配線層の場合も図5に示す従
来例と同様に、配線パターン6が疎らに配置された部位
では隣接する配線パターン6の中間にダミーパターン1
6を配置している。ただし、本実施形態では配線パター
ン6の中間に配置するダミーパターン16をすべての領
域で一続きの一体物として形成せず、複数の領域に分割
して形成したことを特徴とする。すなわち、隣接する配
線パターン6の中間にダミーパターン16を配置する場
合、そのダミーパターン16は隣接する配線パターン6
がダミーパターン16を介して電気的に短絡することが
ないように、少なくとも2つに分離したパターンとして
形成する。
【0014】図1で16aおよび16bは隣接する配線
パターン6の中間に配置した2つのダミーパターンの例
である。これらのダミーパターン16a、16bは隣接
する配線パターン6の中間で一端から他端まで貫通する
分離帯により2つに分離されて形成されている。この分
離帯はダミーパターン16が隣接する配線パターン6の
中間でこれらの配線パターン6を電気的に接続すること
がない配置とするためのものである。
【0015】隣接する配線パターン6の中間に配置する
ダミーパターン16をこのように分離したパターンとし
ておけば、仮に配線パターン6がいずれかの箇所でダミ
ーパターン16と短絡したとしても、その配線パターン
6がダミーパターンを介して他の配線パターン6と電気
的に接続することは確実に防止される。2つもしくは複
数に分離するダミーパターン16の分離帯の幅をエッチ
ングで確実に2つに分離されるよう十分に広くとってお
けば、配線パターン6が特定のダミーパターン16と短
絡しても他の配線パターン6と電気的に接続されること
は確実に回避できる。
【0016】図1に示したダミーパターン16はいずれ
も上述した条件にしたがって設計されている。隣接する
配線パターン6の中間に配置するダミーパターン16は
上記の条件にしたがっていれば、さらに多数の分離帯を
設けて小さな島状にデザインしてもよい。本実施形態の
配線基板でのダミーパターン16のデザインはダミーパ
ターンを一体形状にせず、仮に特定の配線パターン6と
ダミーパターン16とが短絡しても他の配線パターン6
と短絡することを防止するものであるから、従来のよう
にダミーパターンを一続きの一体形状として、たとえば
ダミーパターンを共通の接地電極として利用するといっ
た使い方はできなくなる。
【0017】したがって、共通の接地電極が必要な場合
には、別に配線層を設けて共通の接地電位が得られるよ
うにする必要がある。しかし、本実施形態のようにダミ
ーパターン16と配線パターン6とが短絡するといった
問題が回避できる場合は、ダミーパターン16と配線パ
ターン6とを短絡させないようにする安全性を大きくみ
る必要がなくなるから、ダミーパターン16を設計する
際にダミーパターン16と配線パターン6との間隔を従
来よりも接近させることが可能となり、配線層全体で配
線パターン6が疎らに配置されている部位であってもエ
ッチング液の液回りが他の部分とほぼ同程度になるよう
設計することが可能となる。
【0018】本実施形態では上述したようにダミーパタ
ーン16を設計する際に配線層に形成する配線パターン
6の配置の疎密の程度を考慮して、所要の線幅を有する
配線パターン6が確実に得られるよう設計することがで
き、これによって、断線あるいは線幅が細くなるといっ
たことを防止して、きわめて信頼性の高い配線基板を提
供することが可能となる。
【0019】図2は配線層に形成する配線パターンとダ
ミーパターンの他の例を示す。上記実施形態はダミーパ
ターンとして島状に形成した例であるが、図2は配線パ
ターン6と同程度の細い線状にダミーパターン18を形
成した例である。このように線状に形成する場合であっ
ても、隣接する配線パターン6の間でダミーパターン1
8を介して配線パターン6が電気的に接続される配置と
しないようにすることで、実施形態1と同様の効果を得
ることができる。
【0020】図3は上記実施形態で配線層に配線パター
ン6とダミーパターン16を形成する方法を示す。図で
20は配線層に形成する配線パターン6およびダミーパ
ターン16にしたがって形成したレジストパターンであ
る。22は配線層を構成する導体層である銅箔、24は
樹脂基板である。銅箔22は樹脂基板24の表面全体に
被着形成されており、レジストパターン20をマスクと
してエッチングすることにより配線パターン6およびダ
ミーパターン16が形成される。
【0021】図3で20aは配線パターン6を形成する
ためのレジストパターン、20bはダミーパターン16
を形成するためのレジストパターンである。配線パター
ン6の線幅はAであり、配線パターン6とダミーパター
ン16の境界との間隙がBである。この配線パターン6
とダミーパターン16の境界との間隔Bは銅箔22をエ
ッチングして配線パターン6を形成する際に、配線層の
全体で配線パターン6を形成する部位でのエッチング液
の液回り性が均等になるように設定すればよい。C部分
はダミーパターン16を分離する分離帯を形成する部位
である。分離帯はある程度広く設定して、確実にダミー
パターン16が分離されるようにする。
【0022】配線層に図2に示すような線状のダミーパ
ターン18を形成する場合もその製法は上記例と同様
で、配線層を形成する銅箔等の導体層の表面に形成すべ
き配線パターン6およびダミーパターン18にしたがっ
てレジストパターンを形成し、レジストパターンをマス
クとして導体層をエッチングすることによって、所要の
配線パターン6およびダミーパターン18を有する配線
層が得られる。
【0023】上記実施形態の配線層を有する配線基板
は、図1、2に示すように島状あるいは線状のダミーパ
ターン16、18が形成されたものとなるが、このよう
に分離帯を設けてダミーパターン16、18を形成した
ことによる他の効果として、配線層の表面に樹脂の保護
膜を設けたり、配線層の表面に樹脂の接着層を設けて配
線層を積層する際に樹脂と配線層との接着性を向上させ
ることができるという利点がある。
【0024】図3に示すように配線層は表面に銅箔22
等の導体層が露出して形成されるものであるが、銅箔2
2等の導体層と樹脂との接着性は一般に低く、配線層を
複数枚積層して多層の配線基板を作製するといったよう
な場合には、従来は銅箔等の導体層の表面を粗す処理を
行って樹脂と導体層の接着性を高めるようにしている。
したがって、図5に示すように広い範囲でダミーパター
ン14を形成したような場合はダミーパターン14を形
成した部分で樹脂との接着性が劣るから、多層形成して
配線基板を構成するといった場合には問題があった。
【0025】これに対し、上記実施形態のようにダミー
パターン14を島状あるいは線状とした場合は配線層の
樹脂基板24の露出部分が多くなり、樹脂基板24と樹
脂との接着性はきわめて高いから、配線層を多層に積層
して配線基板を構成する場合や樹脂の保護膜で被覆する
といった操作にはきわめて有効である。図3に示すよう
に、通常、樹脂基板24と銅箔2やとの境界面は粗面に
形成されており、銅箔22をエッチングして除去した部
位は樹脂基板24の粗面が露出するから、アンカー効果
によってさらに樹脂との接着性が良好になる。
【0026】なお、上記実施形態の配線パターン6およ
びダミーパターン16、18はこれらの形成例として例
示したものであり、実際の製品に応じて適宜パターンで
配線パターン6およびダミーパターン16、18を形成
できることはいうまでもない。
【0027】
【発明の効果】本発明に係る配線基板によれば、上述し
たように、ある特定の配線パターンとダミーパターンと
が短絡した場合でもダミーパターンを介して他の配線パ
ターンと電気的に導通することを防止でき、致命的な不
良となることを回避することができる。また、本発明に
係るダミーパターンの形態を採用することによって、ダ
ミーパターンと配線パターンとの間隔を接近させて配置
することが可能となり、配線基板に形成される配線パタ
ーンの配置に疎密があるような場合でも、すべての配線
パターンで必要な線幅を確保することができ、これによ
って信頼性の高い配線基板として提供することができる
等の著効を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る配線基板の第1の実施形態におけ
る配線パターンおよびダミーパターンの平面図である。
【図2】本発明に係る配線基板の第2の実施形態におけ
る配線パターンおよびダミーパターンの平面図である。
【図3】本発明に係る配線基板の製法を示す説明図であ
る。
【図4】従来の配線基板での配線パターンの形成例を示
す平面図である。
【図5】従来の配線基板での配線パターンおよびダミー
パターンの平面図である。
【図6】配線基板に半導体チップを搭載した状態の断面
図である。
【符号の説明】
4 半導体チップ 5 配線基板 6 配線パターン 10 ランド 12 接続端 14、16、16a、16b、18 ダミーパターン 20、20a、20b レジストパターン 22 銅箔 24 樹脂基板

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 隣接する配線パターンの間に該配線パタ
    ーンとは電気的に絶縁してダミーパターンが形成された
    配線基板において、 前記ダミーパターンが、前記配線パターンに沿って形成
    された少なくとも一つの分離帯によって2つ以上のダミ
    ーパターンに分離されて形成されたことを特徴とする配
    線基板。
  2. 【請求項2】 前記配線パターンと該配線パターンに対
    向する前記ダミーパターンとの間隔が、前記配線パター
    ンが直接隣接している部位の隣接する配線パターン間の
    間隔と略等しいことを特徴とする請求項1記載の配線基
    板。
  3. 【請求項3】 前記分離帯によって分離されたダミーパ
    ターンが、複数の島状に形成されたことを特徴とする請
    求項1または2記載の配線基板。
  4. 【請求項4】 前記分離帯によって分離されたダミーパ
    ターンが、前記配線パターンの線幅と略等しい幅の線状
    に形成されたものであることを特徴とする請求項1また
    は2記載の配線基板。
  5. 【請求項5】 前記分離帯の幅は、導体層をエッチング
    して配線パターンを形成する際に、前記ダミーパターン
    を確実に分離するに十分な幅であることを特徴とする請
    求項1、2、3または4記載の配線基板。
JP9195469A 1997-07-22 1997-07-22 配線基板 Pending JPH1140698A (ja)

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Cited By (5)

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