JPH1140787A - 固体撮像素子の製造方法 - Google Patents
固体撮像素子の製造方法Info
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- JPH1140787A JPH1140787A JP9189353A JP18935397A JPH1140787A JP H1140787 A JPH1140787 A JP H1140787A JP 9189353 A JP9189353 A JP 9189353A JP 18935397 A JP18935397 A JP 18935397A JP H1140787 A JPH1140787 A JP H1140787A
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Abstract
する形状に形成し得るようにした固体撮像装置の製造方
法の提供が望まれている。 【解決手段】 基体1表層部に形成されて光電変換をな
す受光部2と、受光部2から読み出された電荷を転送す
る電荷転送部3と、基体1上の、電荷転送部3の略直上
位置に絶縁膜4を介して設けられた転送電極5とを備え
た固体撮像素子15の製造方法である。転送電極5を覆
って第1平坦化膜8を形成する工程と、第1平坦化膜8
上にプラズマCVD法によって透明材料を成膜する工程
と、この透明材料からなる膜9をパターニングして透明
材料を、受光部2の直上において上に凸となる凸レンズ
状の層内レンズ11とする工程と、層内レンズ11を覆
って第2平坦化膜12を形成する工程と、第2平坦化膜
12上における受光部2の直上にオンチップレンズ14
を形成する工程と、を備えている。
Description
固体撮像素子の製造方法に関する。
4”38万画素より小さいデバイスなどではその感度向
上が必須となってきている。このような背景のもとに従
来では、カラーフィルタ上にオンチップレンズを設け、
集光効率を高めるといった工夫がなされている。
化、高感度化に伴ってさらなる集光効率の向上が望まれ
ているものの、前述したオンチップレンズによる集光効
果はほぼ限界に近づいており、オンチップレンズとは別
の新たな技術の開発が望まれている。
ンチップレンズと併用する状態で層内レンズを設ける技
術が一部に提案されている。この層内レンズは、光電変
換をなす受光部の直上において層間膜中に形成されるレ
ンズであり、オンチップレンズと同様にこの層内レンズ
に入射した光を該層内レンズの上面側または下面側の界
面で屈折させ、受光部に導くものである。したがって、
このような層間レンズを前記オンチップレンズと併用す
ることにより、オンチップレンズで集光されて入射した
光を再度層内レンズで集光することができ、これにより
固体撮像素子全体としての集光効率をより高めることが
できるのである。
れている層内レンズはほとんどが凹型のレンズであり、
これを形成する場合、遮光膜の上にBPSG(ホウ素リ
ンシリケートガラス)等のリフロー形状をもつ膜を形成
し、転送電極間、すなわち受光部の直上に形成されたく
ぼみの中に高屈折率材を埋め込み、この埋め込んだ高屈
折率材を層内レンズとする、といったプロセスを採るの
が普通である。しかして、このプロセスでは層内レンズ
の形状がリフロー膜の形状で決まってしまうことから、
所望の形状、すなわち集光に最適な形状を得るのが困難
であり、したがって層内レンズを設けたとはいえ未だ十
分に高い集光効率を得るのが困難である。
で、その目的とするところは、集光効率向上を図るべ
く、層間レンズを所望する形状に形成し得るようにした
固体撮像装置の製造方法を提供することにある。
は、基体表層部に形成されて光電変換をなす受光部と、
該受光部から読み出された電荷を転送する電荷転送部
と、前記基体上の、前記電荷転送部の略直上位置に絶縁
膜を介して設けられた転送電極とを備えた固体撮像素子
を製造するに際して、前記転送電極を覆って第1平坦化
膜を形成し、次に前記第1平坦化膜上にプラズマCVD
法によって透明材料を成膜し、次いで前記透明材料から
なる膜をパターニングして該透明材料を、前記受光部の
直上において上に凸となる凸レンズ状の層内レンズと
し、次いで前記層内レンズを覆って第2平坦化膜を形成
し、その後前記第2平坦化膜上における前記受光部の直
上にオンチップレンズを形成することを前記課題の解決
手段とした。
1平坦化膜上にプラズマCVD法で透明材料を成膜し、
さらに得られた透明材料膜をパターニングすることによ
って層内レンズを形成するので、下地である第1平坦化
膜の表面がもちろん平坦であることによってこの下地に
依存することなく層内レンズを所望形状に形成すること
が可能になり、また、透明材料についてもプラズマCV
D法で堆積して成膜することから種々の材料を選択する
ことが可能になって屈折率を任意に設定することが可能
になる。
して層内レンズを形成するにあたっては、透明材料膜上
にレジスト層を形成し、続いて該レジスト層を上に凸と
なる凸レンズ形状にパターニングし、その後得られた凸
レンズ形状のパターンをマスクとして、該レジストと前
記透明材料との選択比がほぼ1となる条件で前記透明材
料膜をエッチングし、層内レンズを形成するのが好まし
く、このように選択比がほぼ1となる条件で前記透明材
料膜をエッチングすることにより、得られる層内レンズ
をレジストのパターンとほぼ同一の形状にすることがで
き、したがって層内レンズの形状を所望する形状に形成
し易くなる。
図1(a)〜(c)、図2(a)〜(c)は本発明の固
体撮像素子の製造方法の一実施形態例を説明するための
図であり、これらの図において符号1はシリコン基板
(基体)である。この例では、図1(a)に示すよう
に、従来と同様にしてシリコン基板1の表層部に受光部
2、電荷転送部3、チャネルストップ(図示略)、読み
出し部(図示略)をそれぞれ形成するとともに、シリコ
ン基板1表面に絶縁膜4を形成し、さらに該絶縁膜4上
に転送電極5、層間膜絶縁6、遮光膜7を形成する。
ン注入等によって不純物を注入しさらにこれを拡散さ
せ、電荷転送部3、チャネルストップ(図示略)、読み
出し部(図示略)をそれぞれ形成する。次に、熱酸化法
やCVD法によってシリコン基板1表面にSiO2 から
なる絶縁膜4を形成する。なお、この絶縁膜4について
は、SiO2 からなる構造に代えてONO(SiO2 −
SiN−SiO2 )構造としてもよい。
し、さらにこのポリシリコン膜(図示略)を公知のレジ
スト技術、リソグラフィー技術、エッチング技術により
パターニングし、転送電極5を形成する。続いて、形成
した転送電極5をマスクにしてイオン注入等によって不
純物を注入しさらにこれを拡散させ、受光部2を自己整
合的に形成する。なお、この受光部2の形成について
は、前記の電荷転送部3、チャネルストップ、読み出し
部の形成時にこれらの形成に前後してあるいは同時に形
成してもよい。
った状態にSiO2 等からなる層間膜絶縁6を形成す
る。なお、この転送電極4の形成については、転送電極
構造が二層である場合には前記工程を2回繰り返し、三
層以上である場合にはその層数分だけ繰り返す。
金、あるいはTiやWなどの高融点金属をスパッタ法に
よって単層あるいは複層成膜する。そして、リソグラフ
ィー技術、エッチング技術によって得られた膜に配線用
の開口(図示略)や受光部2の直上位置の一部開口など
必要なパターニングを施すことにより、遮光膜7および
その開口部7aを形成する。なお、この遮光膜7の材料
については、この後に形成する第1平坦化膜のリフロー
条件に応じて選択される。すなわち、リフロー条件とし
て高温加熱が必要な場合には、遮光膜7の材料としてT
iやWなどの高融点金属が用いられ、高温加熱が必要で
ない場合にはアルミニウム等が用いられる。
ガラス)膜あるいはHDP CVD膜等を形成し、さら
にこれにリフロー処理等を施すことによって平坦化し、
図1(b)に示すように第1平坦化膜8を形成する。な
お、この例においては、第1平坦化膜8を屈折率が1.
47のBPSG膜から形成した。したがって、このBP
SG膜のリフロー処理には高温加熱が必要でないため、
前記遮光膜7についてはその材料としてアルミニウムを
用いている。
ら周辺部の配線(図示略)を形成し、その後、該第1平
坦化膜8上に後述する層内レンズの材料となる透明材料
をプラズマCVD法によって成膜し、図1(c)に示す
ように透明材料膜9を形成する。ここで、透明材料膜9
の形成については、半導体プロセスなどにおいて一般的
に用いられるプラズマCVD法で行うことから、屈折率
の異なる種々の材料を用いて成膜するとができる。
や後述する第2平坦化膜の屈折率との差を考慮して、受
光部2への集光効率を高めるうえでこれら第1平坦化膜
8あるいは第2平坦化膜との間で最適な屈折率差が得ら
れるような屈折率の材料を選択することができる。例え
ば、屈折率を1.9〜2.0としたい場合にはP−SI
N膜(プラズマ窒化膜)を選択し、屈折率を1.5〜
1.9としたい場合にはP−SiON膜(プラズマ酸化
窒化膜)を選択すればよい。また、この透明材料膜9に
ついては、形成する層内レンズの高さに合わせてその膜
厚を決めるのがプロセス上無駄がなく有利であり、具体
的には0.5〜2.0μm程度とするのが好ましい。な
お、この実施形態例においては、屈折率が1.9〜2.
0となるよう、P−SINを成膜することによって透明
材料膜9を形成した。
を塗布してレジスト層を形成し、さらにこれをパターニ
ングして図2(a)に示すように上に凸となる凸レンズ
形状のレジストパターン10を形成する。このレジスト
パターン10の形成にあたっては、まず、エッチングに
よりレジスト層を各受光部2毎に平面視した状態で矩形
状もしくは正方形状に分割する。そして、このように分
割したレジスト層を140℃〜180℃程度の温度でリ
フロー処理し、各レジスト層を一旦溶融させた後固化さ
せて該レジスト層を上に凸の球面状となる凸レンズ形状
にパターニングし、レジストパターン10を得る。な
お、レジストの種類については特に限定されないもの
の、後述するように透明材料膜9との間でほぼ1の選択
比がとれる材質のものがより好適に用いられる。
成したら、これをマスクにして前記透明材料膜9をエッ
チングする。このとき、エッチング条件については、該
レジストパターン10と透明材料膜9との選択比がほぼ
1となる条件で行うのが好ましく、具体的には、平行平
板RIEにより、反応ガスとしてSF6 /O2 (=40
/40ccm)を用い、圧力35Pa、RFパワー45
0Wで行う。このように選択比がほぼ1となる条件で透
明材料膜9のエッチングを行うと、図2(b)に示すよ
うにレジストパターン10とほぼ同一形状の層内レンズ
11を形成することができる。
層内レンズ11を覆って第1平坦化膜8上に第2平坦化
膜12を形成する。この第2平坦化膜12については、
アクリル系樹脂(屈折率;約1.60)やポリイミド系
樹脂(屈折率;約1.80)などが用いられるが、特に
層内レンズ11との間の屈折率差を考慮して、集光効率
の点で有利となるように材料が選択される。その後、第
2平坦化膜12の上に従来と同様にしてカラーフィルタ
13を形成し、さらにこのカラーフィルタ13の上にポ
リスチレン(屈折率;約1.60)等からなるオンチッ
プレンズ14を従来と同様にして形成し、これにより固
体撮像素子15を得る。
あっては、第1平坦化膜8上にプラズマCVD法で透明
材料膜9を形成し、これをパターニングすることによっ
て層内レンズ11を形成するので、下地である第1平坦
化膜8の表面がもちろん平坦であることによってこの下
地に依存することなく層内レンズ11を所望形状に形成
することができる。また、透明材料についても、プラズ
マCVD法で堆積して成膜することから種々の材料を選
択することができ、屈折率を任意に設定することができ
るなどその材料選択性の自由度や設計自由度を高めるこ
とができる。
内レンズ11を形成する際、透明材料膜9上に凸レンズ
形状のレジストパターン10を形成し、これをマスクに
して、該レジストと前記透明材料との選択比がほぼ1と
なる条件で透明材料膜9をエッチングしているので、得
られる層内レンズ11をレジストパターン10とほぼ同
一の形状にすることができ、したがって層内レンズ11
の形状を所望する形状に容易に形成することができる。
子の製造方法は、第1平坦化膜上にプラズマCVD法で
透明材料を成膜し、さらに得られた透明材料膜をパター
ニングすることによって層内レンズを形成する方法であ
るから、下地である第1平坦化膜の表面が平坦であるこ
とによってこの下地に依存することなく層内レンズを所
望形状に形成することができる。また、透明材料につい
ても、プラズマCVD法で堆積して成膜することから種
々の材料を選択することができ、屈折率を任意に設定す
ることができるなどその材料選択性の自由度や設計自由
度を高めることができる。
レンズを形成する際、透明材料膜上に凸レンズ形状のレ
ジストパターンを形成し、これをマスクにして、該レジ
ストと前記透明材料との選択比がほぼ1となる条件で透
明材料膜をエッチングすれば、得られる層内レンズをレ
ジストパターンとほぼ同一の形状にすることができ、し
たがって層内レンズの形状を所望する形状に容易に形成
することができる。
方法の一実施形態例を工程順に説明するための要部側断
面図である。
方法の一実施形態例を説明するための図であり、図1
(c)に示した工程に続く工程を工程順に示す要部側断
面図である。
部、4…絶縁膜、5…転送電極、8…第1平坦化膜、9
…透明材料膜、10…レジストパターン、11…層内レ
ンズ、12…第2平坦化膜、14…オンチップレンズ、
15…固体撮像素子
Claims (2)
- 【請求項1】 基体表層部に形成されて光電変換をなす
受光部と、該受光部から読み出された電荷を転送する電
荷転送部と、前記基体上の、前記電荷転送部の略直上位
置に絶縁膜を介して設けられた転送電極とを備えた固体
撮像素子の製造方法において、 前記転送電極を覆って第1平坦化膜を形成する工程と、 前記第1平坦化膜上にプラズマCVD法によって透明材
料を成膜する工程と、 前記透明材料からなる膜をパターニングして該透明材料
を、前記受光部の直上において上に凸となる凸レンズ状
の層内レンズとする工程と、 前記層内レンズを覆って第2平坦化膜を形成する工程
と、 前記第2平坦化膜上における前記受光部の直上にオンチ
ップレンズを形成する工程と、を備えたことを特徴とす
る固体撮像素子の製造方法。 - 【請求項2】 前記透明材料からなる膜をパターニング
して層内レンズを形成する工程が、前記透明材料膜上に
レジスト層を形成する工程と、該レジスト層を上に凸と
なる凸レンズ形状にパターニングする工程と、得られた
凸レンズ形状のパターンをマスクとして、該レジストと
前記透明材料との選択比がほぼ1となる条件で前記透明
材料膜をエッチングし、層内レンズを形成する工程と、
からなることを特徴とする請求項1記載の固体撮像素子
の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18935397A JP3809708B2 (ja) | 1997-07-15 | 1997-07-15 | 固体撮像素子並びにその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18935397A JP3809708B2 (ja) | 1997-07-15 | 1997-07-15 | 固体撮像素子並びにその製造方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1140787A true JPH1140787A (ja) | 1999-02-12 |
| JPH1140787A5 JPH1140787A5 (ja) | 2005-04-07 |
| JP3809708B2 JP3809708B2 (ja) | 2006-08-16 |
Family
ID=16239914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18935397A Expired - Fee Related JP3809708B2 (ja) | 1997-07-15 | 1997-07-15 | 固体撮像素子並びにその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP2009157397A (ja) * | 2009-04-13 | 2009-07-16 | Sony Corp | 固体撮像素子の製造方法、固体撮像素子 |
| JP2012049257A (ja) * | 2010-08-25 | 2012-03-08 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
| US8711267B2 (en) | 2010-08-25 | 2014-04-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Solid-state imaging device |
| US9837463B2 (en) | 2015-05-14 | 2017-12-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid-state imaging device and method of manufacturing the same |
| WO2017131009A1 (ja) | 2016-01-29 | 2017-08-03 | パナソニック・タワージャズセミコンダクター株式会社 | 固体撮像装置 |
| US10734433B2 (en) | 2016-01-29 | 2020-08-04 | Towerjazz Panasonic Semiconductor Co., Ltd. | Solid-state imaging device |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3809708B2 (ja) | 2006-08-16 |
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| A977 | Report on retrieval |
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| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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