JPH1154783A - 光検出器 - Google Patents
光検出器Info
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- JPH1154783A JPH1154783A JP9210824A JP21082497A JPH1154783A JP H1154783 A JPH1154783 A JP H1154783A JP 9210824 A JP9210824 A JP 9210824A JP 21082497 A JP21082497 A JP 21082497A JP H1154783 A JPH1154783 A JP H1154783A
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- offset voltage
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 42
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 23
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 claims abstract description 20
- 238000012886 linear function Methods 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
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- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定時間を長くすることなくドリフトの影響
を少なくし、測定データに含まれる誤差を減少させて高
い精度のデータを測定する。 【解決手段】 光シャッターによって光検出手段に入力
される光が遮断されている間に演算部がオペアンプのオ
フセット電圧の変化率を測定し、その変化率からオフセ
ット電圧の変化を近似する近似式を作成し、測定データ
から近似式により計算されるオフセット電圧分を差し引
く。
を少なくし、測定データに含まれる誤差を減少させて高
い精度のデータを測定する。 【解決手段】 光シャッターによって光検出手段に入力
される光が遮断されている間に演算部がオペアンプのオ
フセット電圧の変化率を測定し、その変化率からオフセ
ット電圧の変化を近似する近似式を作成し、測定データ
から近似式により計算されるオフセット電圧分を差し引
く。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、受光した光の強度
を測定する光検出器に関する。
を測定する光検出器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光検出器のブロック図を図３に示
す。
す。
【０００３】この従来の光検出器は、光シャッター１
と、フォトダイオード２と、アンプ部３と、Ａ／Ｄ変換
器４と、演算装置６と、表示部５と、オペアンプ７と、
異なる抵抗値のｎ個の抵抗８1〜８nと、切替部１０とか
ら構成されている。
と、フォトダイオード２と、アンプ部３と、Ａ／Ｄ変換
器４と、演算装置６と、表示部５と、オペアンプ７と、
異なる抵抗値のｎ個の抵抗８1〜８nと、切替部１０とか
ら構成されている。
【０００４】また、切替部１０は、ｎ個のスイッチ９1
〜９nにより構成され、ゲイン切替信号１０２により指
定されたスイッチのみが閉状態となることにより特定の
抵抗８ 1〜８nのみがオペアンプ７に接続される。
〜９nにより構成され、ゲイン切替信号１０２により指
定されたスイッチのみが閉状態となることにより特定の
抵抗８ 1〜８nのみがオペアンプ７に接続される。
【０００５】フォトダイオード２は、受光した光の強度
を信号に変換して出力する。
を信号に変換して出力する。
【０００６】オペアンプ７は、フォトダイオード２から
の信号を、抵抗８1〜８nのうちの接続されている抵抗の
抵抗値により決定されるゲインにより増幅して出力す
る。
の信号を、抵抗８1〜８nのうちの接続されている抵抗の
抵抗値により決定されるゲインにより増幅して出力す
る。
【０００７】アンプ部３は、オペアンプ７の出力信号を
一定の増幅率で増幅して出力する。Ａ／Ｄ変換器４は、
アンプ部３の出力信号をＡ／Ｄ変換して測定データとし
て出力する。
一定の増幅率で増幅して出力する。Ａ／Ｄ変換器４は、
アンプ部３の出力信号をＡ／Ｄ変換して測定データとし
て出力する。
【０００８】演算装置６は、光シャッター制御信号１０
１により光シャッターのオン（通過）／オフ（遮光）を
制御するとともにＡ／Ｄ変換器４から出力された測定デ
ータがある一定の範囲に収まるようにゲイン切替信号１
０２によりオペアンプ７のゲインを切り替え、測定した
Ａ／Ｄ変換器４からの測定データを表示部５に表示させ
る。
１により光シャッターのオン（通過）／オフ（遮光）を
制御するとともにＡ／Ｄ変換器４から出力された測定デ
ータがある一定の範囲に収まるようにゲイン切替信号１
０２によりオペアンプ７のゲインを切り替え、測定した
Ａ／Ｄ変換器４からの測定データを表示部５に表示させ
る。
【０００９】表示部５は、演算装置６からの指示により
測定したデータを表示する。
測定したデータを表示する。
【００１０】次に、この従来の光検出器の動作について
説明する。
説明する。
【００１１】先ず、演算装置６は、光シャッター制御信
号１０１により光シャッター１をオンとし、光強度の測
定を開始する。そして、オペアンプ７、アンプ部３、Ａ
／Ｄ変換器４を介して光の強度の測定データが演算装置
６に入力される。そして、演算装置６では、入力された
データがある一定の範囲に収まらない場合、ゲイン切替
信号１０２により切替部１０のスイッチ９1〜９nを制御
することによりオペアンプ７のゲインを切り替える。こ
のゲインを切り替える際およびその後一定時間は、演算
装置６は光シャッター制御信号１０１により光シャッタ
ー１をオフ（遮光）とし、この時のＡ／Ｄ変換器４から
のデータをオペアンプ７のオフセット電圧として測定す
る。
号１０１により光シャッター１をオンとし、光強度の測
定を開始する。そして、オペアンプ７、アンプ部３、Ａ
／Ｄ変換器４を介して光の強度の測定データが演算装置
６に入力される。そして、演算装置６では、入力された
データがある一定の範囲に収まらない場合、ゲイン切替
信号１０２により切替部１０のスイッチ９1〜９nを制御
することによりオペアンプ７のゲインを切り替える。こ
のゲインを切り替える際およびその後一定時間は、演算
装置６は光シャッター制御信号１０１により光シャッタ
ー１をオフ（遮光）とし、この時のＡ／Ｄ変換器４から
のデータをオペアンプ７のオフセット電圧として測定す
る。
【００１２】オフセット電圧とは、オペアンプにおいて
入力がゼロの時に出力に現れる電圧のことである。
入力がゼロの時に出力に現れる電圧のことである。
【００１３】そして、演算装置６は、光シャッター制御
信号１０１により光シャッター１をオンとし光の強度を
測定し、その測定値から先程測定したオフセット電圧分
を差し引いた量を光の実際の強度として表示部５に表示
をさせる。
信号１０１により光シャッター１をオンとし光の強度を
測定し、その測定値から先程測定したオフセット電圧分
を差し引いた量を光の実際の強度として表示部５に表示
をさせる。
【００１４】この動作を図４を用いて説明する。図４
（ａ）は、Ａ／Ｄ変換器４から出力された測定データの
測定時間に対する変化をグラフにしたものであり、図４
（ｂ）は演算装置６において図４の測定データからオフ
セット電圧分を差し引いた後のデータの測定時間に対す
る変化をグラフにしたものである。
（ａ）は、Ａ／Ｄ変換器４から出力された測定データの
測定時間に対する変化をグラフにしたものであり、図４
（ｂ）は演算装置６において図４の測定データからオフ
セット電圧分を差し引いた後のデータの測定時間に対す
る変化をグラフにしたものである。
【００１５】図４（ａ）では、光シャッターオフの期間
に測定されたデータは、オペアンプのオフセット電圧を
示しており、このオフセット電圧分を測定データから差
し引くことにより図４（ｂ）に示されるような実際のデ
ータを得ることができる。ここで、光シャッターオフの
期間は、表示すべき測定データがないため表示部５にお
いては表示停止期間となる。
に測定されたデータは、オペアンプのオフセット電圧を
示しており、このオフセット電圧分を測定データから差
し引くことにより図４（ｂ）に示されるような実際のデ
ータを得ることができる。ここで、光シャッターオフの
期間は、表示すべき測定データがないため表示部５にお
いては表示停止期間となる。
【００１６】しかし、オペアンプのドリフト量は、オペ
アンプにより異なるとともに温度により変化する。その
ため、オフセット電圧を測定した時のオペアンプの温度
と、実際に光の強度を測定した時のオペアンプの温度が
微妙に異なると、オペアンプのオフセット電圧はドリフ
トすることにより変化し、測定されたデータには誤差が
含まれることとなる。
アンプにより異なるとともに温度により変化する。その
ため、オフセット電圧を測定した時のオペアンプの温度
と、実際に光の強度を測定した時のオペアンプの温度が
微妙に異なると、オペアンプのオフセット電圧はドリフ
トすることにより変化し、測定されたデータには誤差が
含まれることとなる。
【００１７】このオフセット電圧がドリフトする場合の
測定データを図５を用いて説明する。
測定データを図５を用いて説明する。
【００１８】先ず図５（ａ）において、光シャッターオ
フの期間においてオフセット量はドリフトするため、そ
の期間における平均値を測定する。そして、図５（ａ）
の測定データからそのオフセット電圧の平均値を差し引
いて図５（ｂ）に示されるようなデータが得られる。し
かし、オフセット電圧を測定した後でもオフセット電圧
はドリフトするため得られたデータには誤差が含まれる
こととなる。
フの期間においてオフセット量はドリフトするため、そ
の期間における平均値を測定する。そして、図５（ａ）
の測定データからそのオフセット電圧の平均値を差し引
いて図５（ｂ）に示されるようなデータが得られる。し
かし、オフセット電圧を測定した後でもオフセット電圧
はドリフトするため得られたデータには誤差が含まれる
こととなる。
【００１９】但し、オペアンプのオフセット電圧の温度
ドリフトは、一定時間後には変化しなくなるため、シャ
ッターオフの時間を長くしてドリフトが安定してからオ
フセット電圧を測定すればドリフトの影響を取り除いた
オフセット電圧を得ることができるしかし、その期間は
測定を停止しなければならないため表示部５における表
示を停止しなければならない。
ドリフトは、一定時間後には変化しなくなるため、シャ
ッターオフの時間を長くしてドリフトが安定してからオ
フセット電圧を測定すればドリフトの影響を取り除いた
オフセット電圧を得ることができるしかし、その期間は
測定を停止しなければならないため表示部５における表
示を停止しなければならない。
【００２０】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の光検出
器では、ドリフトの影響を取り除いたオフセット電圧を
得るためには、シャッターオフの時間を長くしてドリフ
トが安定してからオフセット電圧を測定しなけらばなら
す、その期間は測定を停止しなければならない。本発明
の目的は、オペアンプのオフセット電圧の測定時間を長
くすることなくドリフトの影響を少なくし、高い精度の
データを測定することができる光検出器を提供すること
である。
器では、ドリフトの影響を取り除いたオフセット電圧を
得るためには、シャッターオフの時間を長くしてドリフ
トが安定してからオフセット電圧を測定しなけらばなら
す、その期間は測定を停止しなければならない。本発明
の目的は、オペアンプのオフセット電圧の測定時間を長
くすることなくドリフトの影響を少なくし、高い精度の
データを測定することができる光検出器を提供すること
である。
【００２１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の光検出器は、受光した光の強度を信号に変
換する光検出手段と、前記光検出手段に入力される光を
遮断することのできる光シャッターと、前記光検出手段
から出力された信号を増幅するオペアンプと、前記オペ
アンプによって増幅された信号をＡ／Ｄ変換し測定デー
タとして出力するＡ／Ｄ変換器と、前記光シャッターに
よって前記光検出手段に入力される光が遮断されている
際に前記Ａ／Ｄ変換器から出力される測定データから前
記オペアンプのオフセット電圧を測定し、前記測定デー
タから前記オフセット電圧分を差し引いて新たな測定デ
ータとする演算部とを有する光検出器において、前記演
算部は、前記光シャッターによって前記光検出手段に入
力される光が遮断されている際に前記オフセット電圧の
変化率を測定し、該変化率からオフセット電圧の時間に
対する変化を近似する近似式を作成し、前記測定データ
から前記近似式により計算されるオフセット電圧を差し
引いて新たな測定データとすることを特徴とする。
に、本発明の光検出器は、受光した光の強度を信号に変
換する光検出手段と、前記光検出手段に入力される光を
遮断することのできる光シャッターと、前記光検出手段
から出力された信号を増幅するオペアンプと、前記オペ
アンプによって増幅された信号をＡ／Ｄ変換し測定デー
タとして出力するＡ／Ｄ変換器と、前記光シャッターに
よって前記光検出手段に入力される光が遮断されている
際に前記Ａ／Ｄ変換器から出力される測定データから前
記オペアンプのオフセット電圧を測定し、前記測定デー
タから前記オフセット電圧分を差し引いて新たな測定デ
ータとする演算部とを有する光検出器において、前記演
算部は、前記光シャッターによって前記光検出手段に入
力される光が遮断されている際に前記オフセット電圧の
変化率を測定し、該変化率からオフセット電圧の時間に
対する変化を近似する近似式を作成し、前記測定データ
から前記近似式により計算されるオフセット電圧を差し
引いて新たな測定データとすることを特徴とする。
【００２２】本発明は、光シャッターによって光検出手
段に入力される光が遮断されている間に演算部がオペア
ンプのオフセット電圧の変化率を測定し、その変化率か
らオフセット電圧の変化を近似する近似式を作成し、測
定データから近似式により計算されるオフセット電圧分
を差し引くようにしたものである。
段に入力される光が遮断されている間に演算部がオペア
ンプのオフセット電圧の変化率を測定し、その変化率か
らオフセット電圧の変化を近似する近似式を作成し、測
定データから近似式により計算されるオフセット電圧分
を差し引くようにしたものである。
【００２３】したがって、測定時間を長くすることなく
ドリフトの影響を少なくし、測定データに含まれる誤差
を減少させて高い精度のデータを測定することができ
る。
ドリフトの影響を少なくし、測定データに含まれる誤差
を減少させて高い精度のデータを測定することができ
る。
【００２４】本発明の実施態様によれば、前記近似式が
１次関数である。
１次関数である。
【００２５】また、本発明の他の実施態様によれば、前
記近似式が指数関数である。
記近似式が指数関数である。
【００２６】本発明は、近似式を指数関数を用いて現し
ているので、１次関数等と比べると近似式が複雑となる
が、実際のオペアンプのオフセット電圧のドリフトによ
り近い近似を行うことができ、測定データに含まれる誤
差をさらに減少させることができる。
ているので、１次関数等と比べると近似式が複雑となる
が、実際のオペアンプのオフセット電圧のドリフトによ
り近い近似を行うことができ、測定データに含まれる誤
差をさらに減少させることができる。
【００２７】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
図面を参照して詳細に説明する。
図面を参照して詳細に説明する。
【００２８】（第１の実施形態）本実施形態の光検出器
は、光シャッターをオフしている間に測定したオペアン
プのオフセット電圧のドリフトを検出し、その変化率か
らその後のオフセット電圧の変化を予想した近似式を作
成し、測定したデータからこの近似式により予想される
オフセット量を差し引いて表示する。
は、光シャッターをオフしている間に測定したオペアン
プのオフセット電圧のドリフトを検出し、その変化率か
らその後のオフセット電圧の変化を予想した近似式を作
成し、測定したデータからこの近似式により予想される
オフセット量を差し引いて表示する。
【００２９】この、近似式を下記の式（１）、（２）に
示す。ここで、Ｙはオペアンプ７のオフセット電圧を示
し、ｔは測定時間を示し、Ａ、ｋはドリフトにより決定
される係数を示し、Ｂはドリフトが安定した時のオフセ
ット電圧を示す。
示す。ここで、Ｙはオペアンプ７のオフセット電圧を示
し、ｔは測定時間を示し、Ａ、ｋはドリフトにより決定
される係数を示し、Ｂはドリフトが安定した時のオフセ
ット電圧を示す。
【００３０】 Ｙ＝ｋｔ＋Ａ （ｔ≦ｔ1） （１） Ｙ＝Ｂ （ｔ＞ｔ1） （２） この１次関数の近似式を用いた近似値線と実際のオペア
ンプのオフセット電圧のドリフト曲線を図１に示す。こ
の図において実線は、オペアンプのオフセット電圧のド
リフト曲線を示し、破線は近似値線を示している。
ンプのオフセット電圧のドリフト曲線を図１に示す。こ
の図において実線は、オペアンプのオフセット電圧のド
リフト曲線を示し、破線は近似値線を示している。
【００３１】そして、この近似式を用いて測定を行った
場合の光強度の測定データを図２に示す。ここで、図２
（ａ）は、オフセットを差し引く前の測定データであ
り、図２（ｂ）は、オフセットセットを差し引いた後の
測定データである。
場合の光強度の測定データを図２に示す。ここで、図２
（ａ）は、オフセットを差し引く前の測定データであ
り、図２（ｂ）は、オフセットセットを差し引いた後の
測定データである。
【００３２】従来の光検出器を用いた場合の図５（ｂ）
の測定データと、本実施形態の光検出器を用いた場合の
図２（ｂ）の図を比較すれば測定データに含まれる誤差
が減少していることがわかる。
の測定データと、本実施形態の光検出器を用いた場合の
図２（ｂ）の図を比較すれば測定データに含まれる誤差
が減少していることがわかる。
【００３３】（第２の実施形態）上記第１の実施形態で
は、１次関数を用いてドリフト量を近似したが、本実施
形態では下記の式（３）のような指数関数を用いてドリ
フト量を近似する。ここで、Ｙはオペアンプのオフセッ
ト電圧を示し、ｔは測定時間を示し、Ｃ、ｋはドリフト
により決定される係数を示す。
は、１次関数を用いてドリフト量を近似したが、本実施
形態では下記の式（３）のような指数関数を用いてドリ
フト量を近似する。ここで、Ｙはオペアンプのオフセッ
ト電圧を示し、ｔは測定時間を示し、Ｃ、ｋはドリフト
により決定される係数を示す。
【００３４】Ｙ＝Ｃ（１−ｅ-kt） （３） 本実施形態は、上記第１の実施形態よりも近似式が複雑
となるが、実際のオペアンプのオフセット電圧のドリフ
トにより近い近似を行うことができ、測定データに含ま
れる誤差をさらに減少させることができる。
となるが、実際のオペアンプのオフセット電圧のドリフ
トにより近い近似を行うことができ、測定データに含ま
れる誤差をさらに減少させることができる。
【００３５】また、上記第１の実施形態では１次関数、
上記第２の実施形態では指数関数を用いてオフセット電
圧のドリフトの近似を行ったが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、他の数式を用いてドリフトを近似す
るようにしてもよい。
上記第２の実施形態では指数関数を用いてオフセット電
圧のドリフトの近似を行ったが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、他の数式を用いてドリフトを近似す
るようにしてもよい。
【００３６】また、上記第１および第２の実施形態で
は、フォトダイオードを用いて光の強度を測定したが、
本発明はこれに限定されるものではなく、他の手段によ
り光の強度を検出するものにも適用することができる。
は、フォトダイオードを用いて光の強度を測定したが、
本発明はこれに限定されるものではなく、他の手段によ
り光の強度を検出するものにも適用することができる。
【００３７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、オペア
ンプのオフセット電圧のドリフトを近似式を用いて予測
することにより、測定時間を長くすることなくドリフト
の影響を少なくし、測定データに含まれる誤差を減少さ
せて高い精度のデータを測定することができるという効
果を有する。
ンプのオフセット電圧のドリフトを近似式を用いて予測
することにより、測定時間を長くすることなくドリフト
の影響を少なくし、測定データに含まれる誤差を減少さ
せて高い精度のデータを測定することができるという効
果を有する。
【図１】本発明の第１の実施形態の光検出器を説明する
ためのブロック図である。
ためのブロック図である。
【図２】図１の光検出器を用いた場合のオフセット電圧
分を差し引く前の測定データ（図２（ａ））およびオフ
セット電圧分を差し引いた後の測定データ（図２
（ｂ））を示した図である。
分を差し引く前の測定データ（図２（ａ））およびオフ
セット電圧分を差し引いた後の測定データ（図２
（ｂ））を示した図である。
【図３】従来の光検出器の構成を示したブロック図であ
る。
る。
【図４】従来の光検出器を用いて、オペアンプのオフセ
ット電圧にドリフトが無い場合のオフセット電圧分を差
し引く前の測定データ（図４（ａ））およびオフセット
電圧分を差し引いた後の測定データ（図４（ｂ））を示
した図である。
ット電圧にドリフトが無い場合のオフセット電圧分を差
し引く前の測定データ（図４（ａ））およびオフセット
電圧分を差し引いた後の測定データ（図４（ｂ））を示
した図である。
【図５】従来の光検出器を用いて、オペアンプのオフセ
ット電圧にドリフトが有る場合のオフセット電圧分を差
し引く前の測定データ（図５（ａ））およびオフセット
電圧分を差し引いた後の測定データ（図５（ｂ））を示
した図である。
ット電圧にドリフトが有る場合のオフセット電圧分を差
し引く前の測定データ（図５（ａ））およびオフセット
電圧分を差し引いた後の測定データ（図５（ｂ））を示
した図である。
１ 光シャッター ２ フォトダイオード ３ アンプ部 ４ Ａ／Ｄ変換器 ５ 表示部 ６ 演算装置 ７ オペアンプ ８1〜８n 抵抗 ９1〜９n スイッチ １０ 切替部 １０１ 光シャッター制御信号 １０２ ゲイン切替信号
Claims (3)
- 【請求項１】 受光した光の強度を信号に変換する光検
出手段と、 前記光検出手段に入力される光を遮断することのできる
光シャッターと、 前記光検出手段から出力された信号を増幅するオペアン
プと、 前記オペアンプによって増幅された信号をＡ／Ｄ変換し
測定データとして出力するＡ／Ｄ変換器と、 前記光シャッターによって前記光検出手段に入力される
光が遮断されている際に前記Ａ／Ｄ変換器から出力され
る測定データから前記オペアンプのオフセット電圧を測
定し、前記測定データから前記オフセット電圧分を差し
引いて新たな測定データとする演算部とを有する光検出
器において、 前記演算部は、前記光シャッターによって前記光検出手
段に入力される光が遮断されている際に前記オフセット
電圧の変化率を測定し、該変化率からオフセット電圧の
時間に対する変化を近似する近似式を作成し、前記測定
データから前記近似式により計算されるオフセット電圧
を差し引いて新たな測定データとすることを特徴とする
光検出器。 - 【請求項２】 前記近似式が１次関数である請求項１記
載の光検出器。 - 【請求項３】 前記近似式が指数関数である請求項１記
載の光検出器。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9210824A JPH1154783A (ja) | 1997-08-05 | 1997-08-05 | 光検出器 |
| US09/126,781 US5969809A (en) | 1997-08-04 | 1998-07-31 | Light-measuring device for accurate and continuous measurement of light intensity |
| DE19835130A DE19835130C2 (de) | 1997-08-04 | 1998-08-04 | Licht-Meßeinrichtung zur genauen und kontinuierlichen Messung von Lichtintensität |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9210824A JPH1154783A (ja) | 1997-08-05 | 1997-08-05 | 光検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1154783A true JPH1154783A (ja) | 1999-02-26 |
Family
ID=16595734
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9210824A Withdrawn JPH1154783A (ja) | 1997-08-04 | 1997-08-05 | 光検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1154783A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012088318A (ja) * | 2010-10-21 | 2012-05-10 | Tektronix Inc | 電流データ・サンプル補正方法及び装置 |
-
1997
- 1997-08-05 JP JP9210824A patent/JPH1154783A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012088318A (ja) * | 2010-10-21 | 2012-05-10 | Tektronix Inc | 電流データ・サンプル補正方法及び装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040305 |
|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20060907 |