JPH1165744A - 入力装置 - Google Patents
入力装置Info
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- JPH1165744A JPH1165744A JP22530997A JP22530997A JPH1165744A JP H1165744 A JPH1165744 A JP H1165744A JP 22530997 A JP22530997 A JP 22530997A JP 22530997 A JP22530997 A JP 22530997A JP H1165744 A JPH1165744 A JP H1165744A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 入射光が完全に遮光された入力位置のみを確
実かつ安定的に特定する。 【解決手段】 エリアセンサ2が備える各フォトダイオ
ードセルはバイアス電圧と入射光照度とに応じた電流値
を出力し、該電流値は電圧値に変換されて照度としてプ
ログラマブルゲインアンプ13に与えられる。補償値演
算部10は、環境センサ7が検出した外部環境状態に応
じたゲインおよびオフセット電圧を補償用データROM
9から選択する。選択されたゲインおよびオフセット電
圧はプログラマブルゲインアンプ13に設定され、該ア
ンプ13はエリアセンサ2からの照度を増幅し、かつ設
定されたゲインおよびオフセット電圧で補正する。補正
された照度は2値化部6で2値化され、特徴位置算出部
5で特徴位置が算出されて、入力位置が決定される。
実かつ安定的に特定する。 【解決手段】 エリアセンサ2が備える各フォトダイオ
ードセルはバイアス電圧と入射光照度とに応じた電流値
を出力し、該電流値は電圧値に変換されて照度としてプ
ログラマブルゲインアンプ13に与えられる。補償値演
算部10は、環境センサ7が検出した外部環境状態に応
じたゲインおよびオフセット電圧を補償用データROM
9から選択する。選択されたゲインおよびオフセット電
圧はプログラマブルゲインアンプ13に設定され、該ア
ンプ13はエリアセンサ2からの照度を増幅し、かつ設
定されたゲインおよびオフセット電圧で補正する。補正
された照度は2値化部6で2値化され、特徴位置算出部
5で特徴位置が算出されて、入力位置が決定される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、受光素子セルへの
入射光の照度に応じて入力位置を特定する入力装置に関
する。
入射光の照度に応じて入力位置を特定する入力装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】タッチパネルからの入力が可能な従来技
術の電子機器が、たとえば特開平7−152010号公
報に開示されている。たとえば光学式のタッチパネルで
は、光ビームを格子状に照射しており、該光ビームを操
作者の指や所定の入力ペンで遮ることによって、入力位
置を検出している。このような光ビームを照射する方式
に代わって、光電池を用いて入力位置を検出する従来技
術の装置が、たとえば特開平9−50342号公報に開
示されている。該公報では、光電池は走査回路によって
順次的に選択される。選択された光電池では、生じた光
起電力が増幅されて出力される。選択されていない光電
池には所定のバイアス電圧が印加され、これによって光
電池としての機能を阻止している。このようにして、所
望とする光電池からの光起電力のみを検出している。
術の電子機器が、たとえば特開平7−152010号公
報に開示されている。たとえば光学式のタッチパネルで
は、光ビームを格子状に照射しており、該光ビームを操
作者の指や所定の入力ペンで遮ることによって、入力位
置を検出している。このような光ビームを照射する方式
に代わって、光電池を用いて入力位置を検出する従来技
術の装置が、たとえば特開平9−50342号公報に開
示されている。該公報では、光電池は走査回路によって
順次的に選択される。選択された光電池では、生じた光
起電力が増幅されて出力される。選択されていない光電
池には所定のバイアス電圧が印加され、これによって光
電池としての機能を阻止している。このようにして、所
望とする光電池からの光起電力のみを検出している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前記特開平9−503
42号公報の光電池を用いた装置をタッチパネルとして
使用した場合、操作者の指や入力ペンによって光電池へ
の入射光を遮光し、遮光された特定の座標点を検出しよ
うとしたときには、完全に遮光された座標点だけでな
く、指や入力ペンの影となって外部から散乱光が入射す
る座標点も、特定の座標点、すなわち入力位置と判断さ
れる可能性がある。また、各光電池から出力される起電
力は温度や照度に応じて可変であり、したがって外部温
度や外部光の照度などの外部環境状態によっては、不所
望な座標点が入力位置と判断される可能性がある。この
ように従来技術の装置では、実際の使用において入射光
が完全に遮光された入力位置のみを確実かつ安定的に特
定できないという不都合が生じる。
42号公報の光電池を用いた装置をタッチパネルとして
使用した場合、操作者の指や入力ペンによって光電池へ
の入射光を遮光し、遮光された特定の座標点を検出しよ
うとしたときには、完全に遮光された座標点だけでな
く、指や入力ペンの影となって外部から散乱光が入射す
る座標点も、特定の座標点、すなわち入力位置と判断さ
れる可能性がある。また、各光電池から出力される起電
力は温度や照度に応じて可変であり、したがって外部温
度や外部光の照度などの外部環境状態によっては、不所
望な座標点が入力位置と判断される可能性がある。この
ように従来技術の装置では、実際の使用において入射光
が完全に遮光された入力位置のみを確実かつ安定的に特
定できないという不都合が生じる。
【0004】本発明の目的は、入射光が完全に遮光され
た入力位置のみを確実かつ安定的に特定できる入力装置
を提供することである。
た入力位置のみを確実かつ安定的に特定できる入力装置
を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、マトリクス状
に配列された複数の受光素子セルを備え、各素子に印加
されるバイアス電圧と入射光の照度とに応じた電流値を
各素子毎に出力する入力手段と、各受光素子セルからの
電流値に応じた照度を各セル毎に求める照度取得手段
と、求められた照度に基づいて入力位置を決定する入力
位置決定手段とを含むことを特徴とする入力装置であ
る。
に配列された複数の受光素子セルを備え、各素子に印加
されるバイアス電圧と入射光の照度とに応じた電流値を
各素子毎に出力する入力手段と、各受光素子セルからの
電流値に応じた照度を各セル毎に求める照度取得手段
と、求められた照度に基づいて入力位置を決定する入力
位置決定手段とを含むことを特徴とする入力装置であ
る。
【0006】本発明に従えば、バイアス電圧が印加され
た各受光素子セルは入射光の照度に応じた電流値を出力
するので、特定の受光素子セルへの入射光を操作者の指
や所定の入力ペンで遮光することによって、特定のセル
とそれ以外のセルとからは異なる電流値が出力される。
出力された電流値に応じた照度が各セル毎に求められ、
求められた照度に基づいて入力位置が決定される。した
がって、入射光が遮光された特定の受光素子セルの位置
から入力位置を確実に特定することができる。
た各受光素子セルは入射光の照度に応じた電流値を出力
するので、特定の受光素子セルへの入射光を操作者の指
や所定の入力ペンで遮光することによって、特定のセル
とそれ以外のセルとからは異なる電流値が出力される。
出力された電流値に応じた照度が各セル毎に求められ、
求められた照度に基づいて入力位置が決定される。した
がって、入射光が遮光された特定の受光素子セルの位置
から入力位置を確実に特定することができる。
【0007】また本発明は、前記入力位置決定手段は、
前記照度取得手段で求められた各照度を2値化する2値
化手段を含み、0または1の2値化された照度の受光素
子セル位置から入力位置を決定することを特徴とする。
前記照度取得手段で求められた各照度を2値化する2値
化手段を含み、0または1の2値化された照度の受光素
子セル位置から入力位置を決定することを特徴とする。
【0008】本発明に従えば、求められた照度は2値化
される。たとえば、完全に遮光された特定の受光素子セ
ルの照度が0とされ、それ以外の受光素子セルの照度が
1とされる。操作者の指や入力ペンの影となり散乱光が
照射された受光素子セルからもいくらかの電流値が出力
されるが、2値化処理の閾値を適宜選択することによっ
て、入射光が完全に遮光された特定の受光素子セルとそ
れ以外の受光素子セルとを区分することができ、特定の
受光素子セルのみの位置から入力位置を確実に特定する
ことができる。
される。たとえば、完全に遮光された特定の受光素子セ
ルの照度が0とされ、それ以外の受光素子セルの照度が
1とされる。操作者の指や入力ペンの影となり散乱光が
照射された受光素子セルからもいくらかの電流値が出力
されるが、2値化処理の閾値を適宜選択することによっ
て、入射光が完全に遮光された特定の受光素子セルとそ
れ以外の受光素子セルとを区分することができ、特定の
受光素子セルのみの位置から入力位置を確実に特定する
ことができる。
【0009】また本発明は、前記入力装置の外部環境状
態を取得する外部環境状態取得手段と、取得された外部
環境状態に基づいて前記照度取得手段で求められた照度
を補正する補正手段とを含み、前記入力位置決定手段
は、補正された照度に基づいて入力位置を決定すること
を特徴とする。
態を取得する外部環境状態取得手段と、取得された外部
環境状態に基づいて前記照度取得手段で求められた照度
を補正する補正手段とを含み、前記入力位置決定手段
は、補正された照度に基づいて入力位置を決定すること
を特徴とする。
【0010】本発明に従えば、入力装置の外部環境状態
が取得され、取得された外部環境状態に基づいて照度が
補正され、補正された照度に基づいて入力位置が決定さ
れる。受光素子セルの特性は外部温度や外部光の照度な
どの外部環境状態によって変動するが、上述したような
補正によって外部環境状態にかかわらず安定的に入力位
置を特定することができる。
が取得され、取得された外部環境状態に基づいて照度が
補正され、補正された照度に基づいて入力位置が決定さ
れる。受光素子セルの特性は外部温度や外部光の照度な
どの外部環境状態によって変動するが、上述したような
補正によって外部環境状態にかかわらず安定的に入力位
置を特定することができる。
【0011】また本発明は、前記入力装置は、外部環境
状態毎に予め定められる補正条件を記憶する記憶手段を
含み、前記補正手段は、前記外部環境状態取得手段で取
得された外部環境状態に応じた補正条件を記憶手段の中
から選択し、選択された補正条件で照度を補正すること
を特徴とする。
状態毎に予め定められる補正条件を記憶する記憶手段を
含み、前記補正手段は、前記外部環境状態取得手段で取
得された外部環境状態に応じた補正条件を記憶手段の中
から選択し、選択された補正条件で照度を補正すること
を特徴とする。
【0012】本発明に従えば、外部環境状態に基づいた
照度の補正は具体的に、取得された外部環境状態に応じ
て選択された補正条件で実施される。このようにして補
正された照度に基づいて外部環境状態にかかわらず安定
的に入力位置を特定することができる。
照度の補正は具体的に、取得された外部環境状態に応じ
て選択された補正条件で実施される。このようにして補
正された照度に基づいて外部環境状態にかかわらず安定
的に入力位置を特定することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の一実施形態であ
る入力装置1の電気的構成を示すブロック図である。エ
リアセンサ2は、後述するように構成される複数のフォ
トダイオードセルを備える。エリアセンサ2はエリアセ
ンサドライバ3によって駆動制御され、各セルにはクロ
ック信号に応じたバイアス電圧が印加される。各セル
は、入射光の照度に応じた電流値を出力する。出力され
た電流値は電圧値に変換され、照度としてプログラマブ
ルゲインアンプ13に与えられる。プログラマブルゲイ
ンアンプ13では、照度が増幅され、かつ後述するよう
にして外部環境状態に応じて補正される。A/D(アナ
ログ/デジタル)コンバータ4は、プログラマブルゲイ
ンアンプ13からのアナログ値の出力電圧をデジタル値
に変換して2値化部6に与える。
る入力装置1の電気的構成を示すブロック図である。エ
リアセンサ2は、後述するように構成される複数のフォ
トダイオードセルを備える。エリアセンサ2はエリアセ
ンサドライバ3によって駆動制御され、各セルにはクロ
ック信号に応じたバイアス電圧が印加される。各セル
は、入射光の照度に応じた電流値を出力する。出力され
た電流値は電圧値に変換され、照度としてプログラマブ
ルゲインアンプ13に与えられる。プログラマブルゲイ
ンアンプ13では、照度が増幅され、かつ後述するよう
にして外部環境状態に応じて補正される。A/D(アナ
ログ/デジタル)コンバータ4は、プログラマブルゲイ
ンアンプ13からのアナログ値の出力電圧をデジタル値
に変換して2値化部6に与える。
【0014】2値化部6は補正された照度を2値化す
る。操作者の指や所定の入力ペンなどによるエリアセン
サ2の指示は、エリアセンサ2への入射光を完全に遮る
ようにして実施されるので、エリアセンサ2の照度分布
は、外部光照射領域、指や入力ペンの影となって周辺か
らの散乱光が照射されている領域および指や入力ペンで
完全に遮光されている領域の3つに区分される。2値化
のための閾値を影となっている散乱光照射領域の照度と
完全遮光領域の照度との間に設定することによって、外
部光照射領域および影となっている散乱光照射領域を1
とし、完全遮光領域を0とすることができる。このよう
な閾値を設定して2値化処理することによって、上記3
つの領域の中から完全遮光領域のみを区分することがで
きる。特徴位置算出部5は、2値化処理によって区分さ
れた完全遮光領域の特徴位置を抽出し、入力位置を決定
して出力する。
る。操作者の指や所定の入力ペンなどによるエリアセン
サ2の指示は、エリアセンサ2への入射光を完全に遮る
ようにして実施されるので、エリアセンサ2の照度分布
は、外部光照射領域、指や入力ペンの影となって周辺か
らの散乱光が照射されている領域および指や入力ペンで
完全に遮光されている領域の3つに区分される。2値化
のための閾値を影となっている散乱光照射領域の照度と
完全遮光領域の照度との間に設定することによって、外
部光照射領域および影となっている散乱光照射領域を1
とし、完全遮光領域を0とすることができる。このよう
な閾値を設定して2値化処理することによって、上記3
つの領域の中から完全遮光領域のみを区分することがで
きる。特徴位置算出部5は、2値化処理によって区分さ
れた完全遮光領域の特徴位置を抽出し、入力位置を決定
して出力する。
【0015】環境センサ7は、入力装置1の外部環境状
態、たとえば外部温度や外部光の照度を測定し検出す
る。エリアセンサ2が備える各フォトダイオードセルは
温度によって特性が変化するので、外部温度によるばら
つきを補正するために外部温度が測定される。また、入
射光の照度によってエリアセンサ2の出力電圧のダイナ
ミックレンジが変化するので、外部光照度によるばらつ
きを補正するために外部光照度が測定される。環境セン
サ7で検出されたアナログ値の温度や照度は、A/Dコ
ンバータ8でデジタル値に変換されて、補償値演算部1
0に与えられる。環境センサ7によって検出された外部
環境状態に応じてエリアセンサ2からの照度を補正する
ために、入力装置1は、各フォトダイオードセル毎に補
正条件を記憶する補償用データROM(リードオンリメ
モリ)9を備える。補償用データROM9は、具体的
に、各セルの特性としてゲインおよびオフセット電圧を
外部環境状態毎に記憶する。補償値演算部10は、環境
センサ7で検出された外部環境状態に応じたゲインおよ
びオフセット電圧を、補償用データROM9の中から選
択する。
態、たとえば外部温度や外部光の照度を測定し検出す
る。エリアセンサ2が備える各フォトダイオードセルは
温度によって特性が変化するので、外部温度によるばら
つきを補正するために外部温度が測定される。また、入
射光の照度によってエリアセンサ2の出力電圧のダイナ
ミックレンジが変化するので、外部光照度によるばらつ
きを補正するために外部光照度が測定される。環境セン
サ7で検出されたアナログ値の温度や照度は、A/Dコ
ンバータ8でデジタル値に変換されて、補償値演算部1
0に与えられる。環境センサ7によって検出された外部
環境状態に応じてエリアセンサ2からの照度を補正する
ために、入力装置1は、各フォトダイオードセル毎に補
正条件を記憶する補償用データROM(リードオンリメ
モリ)9を備える。補償用データROM9は、具体的
に、各セルの特性としてゲインおよびオフセット電圧を
外部環境状態毎に記憶する。補償値演算部10は、環境
センサ7で検出された外部環境状態に応じたゲインおよ
びオフセット電圧を、補償用データROM9の中から選
択する。
【0016】補償値演算部10が選択したデジタル値の
ゲインは、D/A(デジタル/アナログ)コンバータ1
1でアナログ値に変換され、プログラマブルゲインアン
プ13に与えられて補正用のゲインとして設定される。
また、補償値演算部10が選択したデジタル値のオフセ
ット電圧は、D/Aコンバータ12でアナログ値に変換
され、プログラマブルゲインアンプ13に与えられて補
正用のオフセット電圧として設定される。プログラマブ
ルゲインアンプ13は、エリアセンサ2からの照度を増
幅し、かつ設定されたゲインおよびオフセット電圧で補
正する。
ゲインは、D/A(デジタル/アナログ)コンバータ1
1でアナログ値に変換され、プログラマブルゲインアン
プ13に与えられて補正用のゲインとして設定される。
また、補償値演算部10が選択したデジタル値のオフセ
ット電圧は、D/Aコンバータ12でアナログ値に変換
され、プログラマブルゲインアンプ13に与えられて補
正用のオフセット電圧として設定される。プログラマブ
ルゲインアンプ13は、エリアセンサ2からの照度を増
幅し、かつ設定されたゲインおよびオフセット電圧で補
正する。
【0017】図2は、エリアセンサ2を示す回路図であ
る。エリアセンサ2は、複数(本実施形態では16)の
フォトダイオードセル15、複数(本実施形態では4)
本の行ライン配線16、複数(本実施形態では4)本の
列ライン配線17、切換部18およびアンプ19を含ん
で構成される。各行ライン配線16は互いに間隔をあけ
て平行に配設され、各列ライン配線17も同様に互いに
間隔をあけて平行に配設される。行ライン配設16と列
ライン配線17とは、互いに直交するように配設され、
各配線16,17によって形成される矩形の領域には、
たとえばa−Siで実現されるフォトダイオードセル1
5がそれぞれ配置される。このようにして、フォトダイ
オードセル15は4×4のマトリクス状に配列される。
切換部18は、各行ライン配線16を個別的に選択する
複数(本実施形態では4)のアナログスイッチで実現さ
れる。選択された行ライン配線16はアンプ19と接続
され、選択されなかった行ライン配線16は接地され
る。
る。エリアセンサ2は、複数(本実施形態では16)の
フォトダイオードセル15、複数(本実施形態では4)
本の行ライン配線16、複数(本実施形態では4)本の
列ライン配線17、切換部18およびアンプ19を含ん
で構成される。各行ライン配線16は互いに間隔をあけ
て平行に配設され、各列ライン配線17も同様に互いに
間隔をあけて平行に配設される。行ライン配設16と列
ライン配線17とは、互いに直交するように配設され、
各配線16,17によって形成される矩形の領域には、
たとえばa−Siで実現されるフォトダイオードセル1
5がそれぞれ配置される。このようにして、フォトダイ
オードセル15は4×4のマトリクス状に配列される。
切換部18は、各行ライン配線16を個別的に選択する
複数(本実施形態では4)のアナログスイッチで実現さ
れる。選択された行ライン配線16はアンプ19と接続
され、選択されなかった行ライン配線16は接地され
る。
【0018】図3は、各列ライン配線17にエリアセン
サドライバ3から供給されるバイアス電圧VB1〜VB
4を示す図である。第1番目の列ライン配線17に供給
されるバイアス電圧VB1は、図3(A)に示されるよ
うに、該ライン17上のフォトダイオードセル15の通
過電流量(リーク電流量)が照度によらずほぼ0(零)
になる電圧値を上限値V1として、クロック信号に応じ
た所定の時刻t1から時刻t2までの期間では所定の下
限値V2となるような矩形波である。第2〜第4番目の
列ライン配線17に供給されるバイアス電圧VB2〜V
B4は、バイアス電圧VB1と同様に図3(B)〜図3
(D)にそれぞれ示されるように、各ライン17上のフ
ォトダイオードセル15の通過電流量が照度によらずほ
ぼ0になる電圧値を上限値V3,V5,V7として、ク
ロック信号に応じた所定の時刻t2,t3,t4から時
刻t3,t4,t5までの期間では所定の下限値V4,
V6,V8となるような矩形波である。
サドライバ3から供給されるバイアス電圧VB1〜VB
4を示す図である。第1番目の列ライン配線17に供給
されるバイアス電圧VB1は、図3(A)に示されるよ
うに、該ライン17上のフォトダイオードセル15の通
過電流量(リーク電流量)が照度によらずほぼ0(零)
になる電圧値を上限値V1として、クロック信号に応じ
た所定の時刻t1から時刻t2までの期間では所定の下
限値V2となるような矩形波である。第2〜第4番目の
列ライン配線17に供給されるバイアス電圧VB2〜V
B4は、バイアス電圧VB1と同様に図3(B)〜図3
(D)にそれぞれ示されるように、各ライン17上のフ
ォトダイオードセル15の通過電流量が照度によらずほ
ぼ0になる電圧値を上限値V3,V5,V7として、ク
ロック信号に応じた所定の時刻t2,t3,t4から時
刻t3,t4,t5までの期間では所定の下限値V4,
V6,V8となるような矩形波である。
【0019】このようなバイアス電圧VB1〜VB4を
各列ライン配線17に順次的に印加して列ライン配線1
7を走査し、切換部18のアナログスイッチを順次的に
切換えて行ライン配線16を走査することによって、入
射光の照度に応じた各セル15からの出力電流が得られ
る。該出力電流はアンプ19で増幅され、電圧値として
エリアセンサ2から出力される。
各列ライン配線17に順次的に印加して列ライン配線1
7を走査し、切換部18のアナログスイッチを順次的に
切換えて行ライン配線16を走査することによって、入
射光の照度に応じた各セル15からの出力電流が得られ
る。該出力電流はアンプ19で増幅され、電圧値として
エリアセンサ2から出力される。
【0020】なお、本実施形態では4×4のフォトダイ
オードセル15の例について説明したが、該セル15の
数はこれに限定されるものではなく、たとえば640×
480であっても構わない。
オードセル15の例について説明したが、該セル15の
数はこれに限定されるものではなく、たとえば640×
480であっても構わない。
【0021】図4は、特徴位置算出部5の動作を説明す
るための図であり、エリアセンサ2の採光領域A1内の
完全遮光領域A2を示す図である。該完全遮光領域A2
は、2値化部6で2値化後の状態を示している。エリア
センサ2の採光領域A1内には直交座標系が予め設定さ
れており、特徴位置算出部5は、完全遮光領域A2の水
平方向開始位置HL、水平方向終了位置HH、垂直方向
開始位置VLおよび垂直方向終了位置VHをそれぞれ検
出する。次に、HHとHLとの差によって水平方向長さ
HSを取得し、VHとVLとの差によって垂直方向長さ
VSを取得して、操作者の指や入力ペンによって指示さ
れて遮光された領域なのか、ごみの付着やノイズなどに
よって遮光されたと判断された領域なのかを判定する。
操作者の指や入力ペンによって遮光された領域であると
きには、水平座標位置HCを HC=(HH+HL)/2 によって求める。また、垂直座標位置VCを VC=(VH+VL)/2 によって求める。そして(HC,VC)で指定される座
標点を入力位置として決定し、出力する。なお、操作者
の指や入力ペンによって遮光された領域でないときに
は、(HC,VC)として無効座標点を出力する。
るための図であり、エリアセンサ2の採光領域A1内の
完全遮光領域A2を示す図である。該完全遮光領域A2
は、2値化部6で2値化後の状態を示している。エリア
センサ2の採光領域A1内には直交座標系が予め設定さ
れており、特徴位置算出部5は、完全遮光領域A2の水
平方向開始位置HL、水平方向終了位置HH、垂直方向
開始位置VLおよび垂直方向終了位置VHをそれぞれ検
出する。次に、HHとHLとの差によって水平方向長さ
HSを取得し、VHとVLとの差によって垂直方向長さ
VSを取得して、操作者の指や入力ペンによって指示さ
れて遮光された領域なのか、ごみの付着やノイズなどに
よって遮光されたと判断された領域なのかを判定する。
操作者の指や入力ペンによって遮光された領域であると
きには、水平座標位置HCを HC=(HH+HL)/2 によって求める。また、垂直座標位置VCを VC=(VH+VL)/2 によって求める。そして(HC,VC)で指定される座
標点を入力位置として決定し、出力する。なお、操作者
の指や入力ペンによって遮光された領域でないときに
は、(HC,VC)として無効座標点を出力する。
【0022】図5は、入力装置1の入力位置決定動作を
説明するためのフローチャートである。ステップa1で
は、環境センサ7が、外部環境状態として外部温度と外
部光照度とを測定し検出する。検出された温度と照度と
は、A/Dコンバータ8でデジタル値に変換されて補償
値演算部10に与えられる。ステップa2では、補償値
演算部10が補償用データROM9を確認して、検出さ
れた外部温度および外部光照度に応じた補正用のゲイン
およびオフセット電圧を選択する。ステップa3では、
選択されたデジタル値のゲインがD/Aコンバータ11
でアナログ値に変換されて、プログラマブルゲインアン
プ13に与えられて補正用のゲインとして設定され、ま
た選択されたデジタル値のオフセット電圧がD/Aコン
バータ12でアナログ値に変換されて、プログラマブル
ゲインアンプ13に与えられて補正用のオフセット電圧
として設定される。
説明するためのフローチャートである。ステップa1で
は、環境センサ7が、外部環境状態として外部温度と外
部光照度とを測定し検出する。検出された温度と照度と
は、A/Dコンバータ8でデジタル値に変換されて補償
値演算部10に与えられる。ステップa2では、補償値
演算部10が補償用データROM9を確認して、検出さ
れた外部温度および外部光照度に応じた補正用のゲイン
およびオフセット電圧を選択する。ステップa3では、
選択されたデジタル値のゲインがD/Aコンバータ11
でアナログ値に変換されて、プログラマブルゲインアン
プ13に与えられて補正用のゲインとして設定され、ま
た選択されたデジタル値のオフセット電圧がD/Aコン
バータ12でアナログ値に変換されて、プログラマブル
ゲインアンプ13に与えられて補正用のオフセット電圧
として設定される。
【0023】ステップa4では、エリアセンサ2への入
射光の照度に応じた電流値が各セル15から出力され、
電圧値に変換されて照度としてプログラマブルゲインア
ンプ13に与えられる。ステップa5では、プログラマ
ブルゲインアンプ13が、設定されたゲインおよびオフ
セット電圧でエリアセンサ2からの照度を補正する。プ
ログラマブルゲインアンプ13からの出力は、A/Dコ
ンバータ4でデジタル値に変換されて2値化部6に与え
られる。ステップa6では、補正された照度を2値化部
6が2値化する。ステップa7では、2値化された照度
に基づいて、特徴位置算出部5が特徴位置を抽出し、入
力位置を決定する。
射光の照度に応じた電流値が各セル15から出力され、
電圧値に変換されて照度としてプログラマブルゲインア
ンプ13に与えられる。ステップa5では、プログラマ
ブルゲインアンプ13が、設定されたゲインおよびオフ
セット電圧でエリアセンサ2からの照度を補正する。プ
ログラマブルゲインアンプ13からの出力は、A/Dコ
ンバータ4でデジタル値に変換されて2値化部6に与え
られる。ステップa6では、補正された照度を2値化部
6が2値化する。ステップa7では、2値化された照度
に基づいて、特徴位置算出部5が特徴位置を抽出し、入
力位置を決定する。
【0024】以上のように本実施形態によれば、エリア
センサ2への入射光を操作者の指や所定の入力ペンで遮
光すると、エリアセンサ2が備えるフォトダイオードセ
ル15のうちの入射光が完全に遮光された特定のセルと
それ以外のセルとからは異なる電流値が出力される。該
電流値を電圧値に変換して電流値に応じた照度を各セル
15毎に求め、該照度に基づいて入力位置を決定するこ
とができる。照度を2値化することによって入力位置を
決定することによって、特定のセルのみの位置から入力
位置を確実に特定することができる。
センサ2への入射光を操作者の指や所定の入力ペンで遮
光すると、エリアセンサ2が備えるフォトダイオードセ
ル15のうちの入射光が完全に遮光された特定のセルと
それ以外のセルとからは異なる電流値が出力される。該
電流値を電圧値に変換して電流値に応じた照度を各セル
15毎に求め、該照度に基づいて入力位置を決定するこ
とができる。照度を2値化することによって入力位置を
決定することによって、特定のセルのみの位置から入力
位置を確実に特定することができる。
【0025】また、外部環境状態に基づいて照度を補正
し、補正された照度に基づいて入力位置を決定するの
で、外部温度や外部光照度などの環境状態によって特性
が変動するフォトダイオードセル15を用いてエリアセ
ンサ2を構成しても、外部環境状態にかかわらず安定的
に入力位置を特定することができる。
し、補正された照度に基づいて入力位置を決定するの
で、外部温度や外部光照度などの環境状態によって特性
が変動するフォトダイオードセル15を用いてエリアセ
ンサ2を構成しても、外部環境状態にかかわらず安定的
に入力位置を特定することができる。
【0026】なお、a−Siで実現されるフォトダイオ
ードセル15を用いたエリアセンサ2は面状に構成され
るので、センサ全面に原稿を接触させて原稿に描かれた
画像を読取らせて画像情報を入力することができ、この
ような画像読取り入力機能を上述した操作者の指や入力
ペンなどによる入力機能と併せて付加することも可能で
ある。
ードセル15を用いたエリアセンサ2は面状に構成され
るので、センサ全面に原稿を接触させて原稿に描かれた
画像を読取らせて画像情報を入力することができ、この
ような画像読取り入力機能を上述した操作者の指や入力
ペンなどによる入力機能と併せて付加することも可能で
ある。
【0027】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、各受光素
子セルへの入射光を操作者の指や所定の入力ペンで遮光
したときに、入射光が遮光された特定のセルとそれ以外
のセルとから出力される異なる電流値に応じた照度を各
セル毎に求め、該照度に基づいて入力位置を決定するこ
とができる。
子セルへの入射光を操作者の指や所定の入力ペンで遮光
したときに、入射光が遮光された特定のセルとそれ以外
のセルとから出力される異なる電流値に応じた照度を各
セル毎に求め、該照度に基づいて入力位置を決定するこ
とができる。
【0028】また本発明によれば、入力位置は、照度を
2値化することによって決定されるので、入射光が完全
に遮光された特定のセルのみの位置から入力位置を確実
に特定することができる。
2値化することによって決定されるので、入射光が完全
に遮光された特定のセルのみの位置から入力位置を確実
に特定することができる。
【0029】また、本発明によれば、外部環境状態に基
づいて照度が補正され、補正された照度に基づいて入力
位置が決定されるので、外部温度や外部光照度などの環
境状態によって特性が変動する受光素子セルを用いて入
力手段を構成しても、外部環境状態にかかわらず安定的
に入力位置を特定することができる。
づいて照度が補正され、補正された照度に基づいて入力
位置が決定されるので、外部温度や外部光照度などの環
境状態によって特性が変動する受光素子セルを用いて入
力手段を構成しても、外部環境状態にかかわらず安定的
に入力位置を特定することができる。
【0030】また本発明によれば、外部環境状態に基づ
いた照度の補正は、具体的に、取得された外部環境状態
に応じた補正条件を選択することによって実施できる。
いた照度の補正は、具体的に、取得された外部環境状態
に応じた補正条件を選択することによって実施できる。
【図1】本発明の一実施形態である入力装置1の電気的
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図2】エリアセンサ2を示す回路図である。
【図3】各列ライン配線17にエリアセンサドライバ3
から供給されるバイアス電圧VB1〜VB4を示す図で
ある。
から供給されるバイアス電圧VB1〜VB4を示す図で
ある。
【図4】特徴位置算出部5の動作を説明するためのエリ
アセンサ2の採光領域A1内の完全遮光領域A2を示す
図である。
アセンサ2の採光領域A1内の完全遮光領域A2を示す
図である。
【図5】入力装置1の入力位置決定動作を説明するため
のフローチャートである。
のフローチャートである。
1 入力装置 2 エリアセンサ 3 エリアセンサドライバ 4,8 A/Dコンバータ 5 特徴位置算出部 6 2値化部 7 環境センサ 9 補償用データROM 10 補償値演算部 11,12 D/Aコンバータ 13 プログラマブルゲインアンプ 15 フォトダイオードセル
Claims (4)
- 【請求項1】 マトリクス状に配列された複数の受光素
子セルを備え、各素子に印加されるバイアス電圧と入射
光の照度とに応じた電流値を各素子毎に出力する入力手
段と、 各受光素子セルからの電流値に応じた照度を各セル毎に
求める照度取得手段と、 求められた照度に基づいて入力位置を決定する入力位置
決定手段とを含むことを特徴とする入力装置。 - 【請求項2】 前記入力位置決定手段は、前記照度取得
手段で求められた各照度を2値化する2値化手段を含
み、0または1の2値化された照度の受光素子セル位置
から入力位置を決定することを特徴とする請求項1記載
の入力装置。 - 【請求項3】 前記入力装置の外部環境状態を取得する
外部環境状態取得手段と、 取得された外部環境状態に基づいて前記照度取得手段で
求められた照度を補正する補正手段とを含み、 前記入力位置決定手段は、補正された照度に基づいて入
力位置を決定することを特徴とする請求項1記載の入力
装置。 - 【請求項4】 前記入力装置は、外部環境状態毎に予め
定められる補正条件を記憶する記憶手段を含み、 前記補正手段は、前記外部環境状態取得手段で取得され
た外部環境状態に応じた補正条件を記憶手段の中から選
択し、選択された補正条件で照度を補正することを特徴
とする請求項3記載の入力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22530997A JPH1165744A (ja) | 1997-08-21 | 1997-08-21 | 入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22530997A JPH1165744A (ja) | 1997-08-21 | 1997-08-21 | 入力装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1165744A true JPH1165744A (ja) | 1999-03-09 |
Family
ID=16827338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22530997A Pending JPH1165744A (ja) | 1997-08-21 | 1997-08-21 | 入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1165744A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006099749A (ja) * | 2004-08-31 | 2006-04-13 | Matsushita Electric Works Ltd | ジェスチャースイッチ |
| JP2007102728A (ja) * | 2005-10-07 | 2007-04-19 | Sony Corp | 画像入出力装置、画像補正装置、画像補正プログラムおよび画像補正方法 |
| CN100422839C (zh) * | 2003-10-20 | 2008-10-01 | 精工爱普生株式会社 | 曝光控制装置和曝光控制方法 |
| JP2010277151A (ja) * | 2009-05-26 | 2010-12-09 | Sony Corp | 情報入力装置、情報入力方法、情報入出力装置、情報入力プログラムおよび電子機器 |
| WO2011145680A1 (ja) * | 2010-05-20 | 2011-11-24 | シャープ株式会社 | タッチセンサ付き表示装置 |
| JPWO2010032539A1 (ja) * | 2008-09-19 | 2012-02-09 | シャープ株式会社 | 光センサ内蔵表示パネル |
| JP2021157546A (ja) * | 2020-03-27 | 2021-10-07 | ローム株式会社 | 容量検出回路、入力装置 |
-
1997
- 1997-08-21 JP JP22530997A patent/JPH1165744A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100422839C (zh) * | 2003-10-20 | 2008-10-01 | 精工爱普生株式会社 | 曝光控制装置和曝光控制方法 |
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| CN102906674A (zh) * | 2010-05-20 | 2013-01-30 | 夏普株式会社 | 带有触摸传感器的显示装置 |
| US9041699B2 (en) | 2010-05-20 | 2015-05-26 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display device with touch sensor including signal processing circuit with photosensor |
| CN102906674B (zh) * | 2010-05-20 | 2015-10-21 | 夏普株式会社 | 带有触摸传感器的显示装置 |
| JP2021157546A (ja) * | 2020-03-27 | 2021-10-07 | ローム株式会社 | 容量検出回路、入力装置 |
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