JPH1174105A - 電子部品用基板 - Google Patents
電子部品用基板Info
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- JPH1174105A JPH1174105A JP10155093A JP15509398A JPH1174105A JP H1174105 A JPH1174105 A JP H1174105A JP 10155093 A JP10155093 A JP 10155093A JP 15509398 A JP15509398 A JP 15509398A JP H1174105 A JPH1174105 A JP H1174105A
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 18
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 5
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
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- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N Alumina Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0097—Processing two or more printed circuits simultaneously, e.g. made from a common substrate, or temporarily stacked circuit boards
Landscapes
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Structure Of Printed Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 形状不良を生じさせることなく分割できる電
子部品用基板を提供する。 【解決手段】 基板1に、その周縁部1a,1bを除い
て、ブレイク溝2,2′,3,3′を格子状に形成し、
これらのブレイク溝のうち、両端に位置するブレイク溝
2′,3′を基板1端縁まで延伸し、ブレイク溝2を全
てブレイク溝3,3′より深く形成した。
子部品用基板を提供する。 【解決手段】 基板1に、その周縁部1a,1bを除い
て、ブレイク溝2,2′,3,3′を格子状に形成し、
これらのブレイク溝のうち、両端に位置するブレイク溝
2′,3′を基板1端縁まで延伸し、ブレイク溝2を全
てブレイク溝3,3′より深く形成した。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、チップ抵抗器、
ジャンパチップ、ハイブリッドIC等の電子部品の製造
に適用される電子部品用基板に関する。
ジャンパチップ、ハイブリッドIC等の電子部品の製造
に適用される電子部品用基板に関する。
【0002】
【従来の技術】電子部品、例えばチップ抵抗器を製造す
るには、図8に示すようなアルミナセラミック基板11
が用いられる。この基板11の表面には、分割を容易と
するために、格子状にブレイク溝12,…,12、1
3,…,13が形成されている。各ブレイク溝12,1
3は、図9の(a),(b)に示すように、プレス加工
により形成されるスリットS、或いはスリットS及びこ
のスリットSより生じるクラックCにより構成され、そ
の深さは基板厚さの5〜50%程度とされている。
るには、図8に示すようなアルミナセラミック基板11
が用いられる。この基板11の表面には、分割を容易と
するために、格子状にブレイク溝12,…,12、1
3,…,13が形成されている。各ブレイク溝12,1
3は、図9の(a),(b)に示すように、プレス加工
により形成されるスリットS、或いはスリットS及びこ
のスリットSより生じるクラックCにより構成され、そ
の深さは基板厚さの5〜50%程度とされている。
【0003】この基板11を用いてチップ抵抗器を製造
するには、まず基板11表面の各格子に、電極、抵抗
体、ガラス保護膜を一括して形成する。この基板をブレ
イク溝12,…,12に沿って分割して、短冊状の基板
とし、この短冊状基板の側端面に端面電極を形成する。
そして、この短冊状基板をブレイク溝13,…,13に
沿って分割して最終の形状とする。
するには、まず基板11表面の各格子に、電極、抵抗
体、ガラス保護膜を一括して形成する。この基板をブレ
イク溝12,…,12に沿って分割して、短冊状の基板
とし、この短冊状基板の側端面に端面電極を形成する。
そして、この短冊状基板をブレイク溝13,…,13に
沿って分割して最終の形状とする。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の電子部品用
基板では、ブレイク溝に沿って分割する際に、例えば図
9の(c)に示すように斜めにクラックC′が走り、端
面形状の不良を生じる問題点があった。図10は、端面
形状の不良を生じたチップ抵抗器18を示しており、1
1″は分割された基板、17は端面電極(斜線を付して
いる)、16はガラス保護膜をそれぞれ示している。こ
のような、いびつな形状のチップ抵抗器18は外観上問
題があるだけではなく、自動実装機による取扱いに支障
が生じる問題点がある。
基板では、ブレイク溝に沿って分割する際に、例えば図
9の(c)に示すように斜めにクラックC′が走り、端
面形状の不良を生じる問題点があった。図10は、端面
形状の不良を生じたチップ抵抗器18を示しており、1
1″は分割された基板、17は端面電極(斜線を付して
いる)、16はガラス保護膜をそれぞれ示している。こ
のような、いびつな形状のチップ抵抗器18は外観上問
題があるだけではなく、自動実装機による取扱いに支障
が生じる問題点がある。
【0005】この発明は、上記に鑑みなされたものであ
り、形状不良を生じさせることなく分割できる電子部品
用基板の提供を目的としている。
り、形状不良を生じさせることなく分割できる電子部品
用基板の提供を目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、この発明の請求項1記載の電子部品用基板は、1の
方向と他の方向にそれぞれ延伸するブレイク溝を格子状
に形成してなるものにおいて、前記ブレイク溝が基板周
縁部を除いて形成され、この1の方向と他の方向のブレ
イク溝のうち、一方の方向の両端に位置するブレイク溝
が基板端縁まで延伸され、前記1の方向のブレイク溝が
その両端のブレイク溝を除いて全て他の方向のブレイク
溝より深く形成されたことを特徴とするものである。
め、この発明の請求項1記載の電子部品用基板は、1の
方向と他の方向にそれぞれ延伸するブレイク溝を格子状
に形成してなるものにおいて、前記ブレイク溝が基板周
縁部を除いて形成され、この1の方向と他の方向のブレ
イク溝のうち、一方の方向の両端に位置するブレイク溝
が基板端縁まで延伸され、前記1の方向のブレイク溝が
その両端のブレイク溝を除いて全て他の方向のブレイク
溝より深く形成されたことを特徴とするものである。
【0007】ブレイク溝(スリット、或いはスリット及
びその延長のクラック)は基板製造時に条件を制御して
作製するため、ブレイク時の「折る」「割る」といった
制御できない因子に比較すると、安定した形状を確保で
きることが期待される。1の方向のブレイク溝(両端の
ブレイク溝を除く)の深さを他の方向のブレイク溝より
深く、例えば基板厚に達するようにしても、基板周縁部
が残されているため、基板はばらばらとはならない。従
って、従来と同様、一体の基板として取り扱うことがで
き、電極等の形成を一括して行うことが可能である。
又、1の方向のブレイク溝の深さを大きくしているの
で、ブレイク端面の仕上がりが良く、電極形成が容易に
なる。
びその延長のクラック)は基板製造時に条件を制御して
作製するため、ブレイク時の「折る」「割る」といった
制御できない因子に比較すると、安定した形状を確保で
きることが期待される。1の方向のブレイク溝(両端の
ブレイク溝を除く)の深さを他の方向のブレイク溝より
深く、例えば基板厚に達するようにしても、基板周縁部
が残されているため、基板はばらばらとはならない。従
って、従来と同様、一体の基板として取り扱うことがで
き、電極等の形成を一括して行うことが可能である。
又、1の方向のブレイク溝の深さを大きくしているの
で、ブレイク端面の仕上がりが良く、電極形成が容易に
なる。
【0008】又、請求項2記載の電子部品用基板は、1
の方向と他の方向にそれぞれ延伸するブレイク溝を格子
状に形成してなるものにおいて、前記ブレイク溝はが基
板周縁部を除いて形成され、この1の方向と他の方向の
ブレイク溝のうち、他の方向の両端に位置するブレイク
溝が基板端縁まで延伸され、前記1の方向のブレイク溝
が他の方向のブレイク溝より深く形成されたことを特徴
とする。
の方向と他の方向にそれぞれ延伸するブレイク溝を格子
状に形成してなるものにおいて、前記ブレイク溝はが基
板周縁部を除いて形成され、この1の方向と他の方向の
ブレイク溝のうち、他の方向の両端に位置するブレイク
溝が基板端縁まで延伸され、前記1の方向のブレイク溝
が他の方向のブレイク溝より深く形成されたことを特徴
とする。
【0009】
【発明の実施の形態】この発明の一実施形態に係る電子
部品用基板を図1乃至図7に基づいて以下に説明する。
図1は、この発明の一実施形態に係る基板1の外観斜視
図、図2の(a),(b)は、それぞれ図1のIb−I
b線、Ic−Ic線における要部拡大断面図である。こ
の基板1は、チップ抵抗器の製造に適用されるものであ
り、アルミナセラミックから構成される。
部品用基板を図1乃至図7に基づいて以下に説明する。
図1は、この発明の一実施形態に係る基板1の外観斜視
図、図2の(a),(b)は、それぞれ図1のIb−I
b線、Ic−Ic線における要部拡大断面図である。こ
の基板1は、チップ抵抗器の製造に適用されるものであ
り、アルミナセラミックから構成される。
【0010】基板1の表面には、枠状の周縁部1a,1
a,1b,1bを除いて、ブレイク溝2′,2,…,
2,2′、3′,3,…,3,3′が格子状に形成され
る。ブレイク溝2,2′、3,3′は共にプレス加工に
より形成されており、それぞれスリットS及びこのスリ
ットSより生じるクラックCにより構成される。又、ブ
レイク溝2′,3,3′の深さは従来と同様、基板厚さ
の5〜50%程度とされる。一方、ブレイク溝2の深さ
は、基板裏面に達する程度とされる〔図2の(a),
(b)参照〕。これは貫通していてもよい。基板周縁部
1a,1b(特に1a)が残されているため、ブレイク
溝2により基板1がばらばらになることはない。なお、
条件により、図7に示すように、基板周縁部1a,1a
のみブレイク溝2,3を形成しない構成とすることもで
きる。
a,1b,1bを除いて、ブレイク溝2′,2,…,
2,2′、3′,3,…,3,3′が格子状に形成され
る。ブレイク溝2,2′、3,3′は共にプレス加工に
より形成されており、それぞれスリットS及びこのスリ
ットSより生じるクラックCにより構成される。又、ブ
レイク溝2′,3,3′の深さは従来と同様、基板厚さ
の5〜50%程度とされる。一方、ブレイク溝2の深さ
は、基板裏面に達する程度とされる〔図2の(a),
(b)参照〕。これは貫通していてもよい。基板周縁部
1a,1b(特に1a)が残されているため、ブレイク
溝2により基板1がばらばらになることはない。なお、
条件により、図7に示すように、基板周縁部1a,1a
のみブレイク溝2,3を形成しない構成とすることもで
きる。
【0011】次に、実施形態の基板1を用いたチップ抵
抗器の製造を説明する。図3は、基板1上に電極4、抵
抗体5、保護膜6を形成した状態を示しており、図4
は、図3のIIb−IIb線における要部拡大断面図であ
る。電極4は、銀−パラジウム等の導体ペーストをスク
リーン印刷し、焼成してなるものである。抵抗体5も抵
抗体ペーストをスクリーン印刷し、焼成してなるもの
で、電極4,4に跨がるように各格子内に形成される。
各抵抗体5の抵抗値は、レーザトリミングによりそれぞ
れ調整される。保護膜6も、例えばガラスペーストをス
クリーン印刷し、焼成してなるもので、抵抗体5を被覆
・保護する。
抗器の製造を説明する。図3は、基板1上に電極4、抵
抗体5、保護膜6を形成した状態を示しており、図4
は、図3のIIb−IIb線における要部拡大断面図であ
る。電極4は、銀−パラジウム等の導体ペーストをスク
リーン印刷し、焼成してなるものである。抵抗体5も抵
抗体ペーストをスクリーン印刷し、焼成してなるもの
で、電極4,4に跨がるように各格子内に形成される。
各抵抗体5の抵抗値は、レーザトリミングによりそれぞ
れ調整される。保護膜6も、例えばガラスペーストをス
クリーン印刷し、焼成してなるもので、抵抗体5を被覆
・保護する。
【0012】次に、ブレイク溝2′,3′に沿ってブレ
イクし、周縁部1a,1bを取り除いて、個々の短冊状
基板1′とする(図5参照)。ブレイク溝2の深さは基
板厚に達しているので、周縁部1a,1bを取り除くだ
けで、基板1はばらばらとなり、「折る」、「割る」と
いった操作は不要である。従って、基板1′の形状不良
は生じない。
イクし、周縁部1a,1bを取り除いて、個々の短冊状
基板1′とする(図5参照)。ブレイク溝2の深さは基
板厚に達しているので、周縁部1a,1bを取り除くだ
けで、基板1はばらばらとなり、「折る」、「割る」と
いった操作は不要である。従って、基板1′の形状不良
は生じない。
【0013】基板1′の側端面1cには、それぞれ端面
電極7が形成される〔図6の(a),(c)参照〕。こ
の端面電極7は、端面1cに導体ペーストを付着、焼成
して形成される厚膜電極7aと、この厚膜電極7a上に
形成されるはんだめっき層7bとから構成される。更
に、この基板1′は、ブレイク溝3,…,3により分割
されて、個々のチップ抵抗器8,…,8とされる〔図6
の(b)参照〕。なお、この場合には、「折る」又は
「割る」といった操作が必要である。
電極7が形成される〔図6の(a),(c)参照〕。こ
の端面電極7は、端面1cに導体ペーストを付着、焼成
して形成される厚膜電極7aと、この厚膜電極7a上に
形成されるはんだめっき層7bとから構成される。更
に、この基板1′は、ブレイク溝3,…,3により分割
されて、個々のチップ抵抗器8,…,8とされる〔図6
の(b)参照〕。なお、この場合には、「折る」又は
「割る」といった操作が必要である。
【0014】なお、上記実施例では、チップ抵抗器の製
造に、この発明の基板を適用した例を示しているが、ジ
ャンパチップ、ハイブリッドIC等の各種電子部品の製
造に適用することが可能である。
造に、この発明の基板を適用した例を示しているが、ジ
ャンパチップ、ハイブリッドIC等の各種電子部品の製
造に適用することが可能である。
【0015】
【発明の効果】この発明の請求項1,2の電子部品用基
板は、以上説明したように構成されるので、次の効果を
有する。 (1)1の方向のブレイク端面の形状不良を生じさせる
ことなく分割でき、分割後の短冊状基板の形状不良(バ
リ、欠損等)が殆ど生じない。 (2)1の方向と他の方向のそれぞれ両端のブレイク溝
から基板周縁部を先に取り除いてしまうと、結果的に中
の部分(周縁部より内側の部分)も、基板端縁までブレ
イク溝が形成されているのと同様になり、ブレイクの際
のずれや、所望のパターンからずれることで発生する形
状不良がなくなる。 (3)請求項1の場合、1の方向と他の方向のブレイク
溝のうち、一方の方向の両端に位置するブレイク溝が基
板端縁まで延伸されているので、基板端縁まで延伸され
たブレイク溝から基板周縁部を取り除くとき、そのブレ
イク溝に係る基板周縁部をブレイク溝に沿って確実に除
去することができる。 (4)請求項2の場合、1の方向のブレイク溝が他の方
向のブレイク溝より深いので、他の方向の両端に位置す
るブレイク溝から基板周縁部を取り除けば、短冊状基板
にばらばらに分割し易くなる。
板は、以上説明したように構成されるので、次の効果を
有する。 (1)1の方向のブレイク端面の形状不良を生じさせる
ことなく分割でき、分割後の短冊状基板の形状不良(バ
リ、欠損等)が殆ど生じない。 (2)1の方向と他の方向のそれぞれ両端のブレイク溝
から基板周縁部を先に取り除いてしまうと、結果的に中
の部分(周縁部より内側の部分)も、基板端縁までブレ
イク溝が形成されているのと同様になり、ブレイクの際
のずれや、所望のパターンからずれることで発生する形
状不良がなくなる。 (3)請求項1の場合、1の方向と他の方向のブレイク
溝のうち、一方の方向の両端に位置するブレイク溝が基
板端縁まで延伸されているので、基板端縁まで延伸され
たブレイク溝から基板周縁部を取り除くとき、そのブレ
イク溝に係る基板周縁部をブレイク溝に沿って確実に除
去することができる。 (4)請求項2の場合、1の方向のブレイク溝が他の方
向のブレイク溝より深いので、他の方向の両端に位置す
るブレイク溝から基板周縁部を取り除けば、短冊状基板
にばらばらに分割し易くなる。
【図1】この発明の一実施形態に係る電子部品用基板の
外観斜視図である。
外観斜視図である。
【図2】図1のIb−Ib線における要部拡大断面図
(a)、及びIc−Ic線における要部拡大断面図
(b)である。
(a)、及びIc−Ic線における要部拡大断面図
(b)である。
【図3】同電子部品用基板表面に電極等を形成した状態
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
【図4】図3のIIb−IIb線における要部拡大断面図で
ある。
ある。
【図5】同電子部品用基板より周縁部を取り除いた状態
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
【図6】同電子部品用基板より棒状に分割された基板の
側端面に端面電極を形成した状態を示す斜視図(a)、
棒状に分割された基板を更に分割し、チップ抵抗器とし
た状態を説明する図(b)、及び(a)のIVc−IVc線
における拡大断面図(c)である。
側端面に端面電極を形成した状態を示す斜視図(a)、
棒状に分割された基板を更に分割し、チップ抵抗器とし
た状態を説明する図(b)、及び(a)のIVc−IVc線
における拡大断面図(c)である。
【図7】同電子部品用基板の変形例を示す外観斜視図で
ある。
ある。
【図8】従来の電子部品用基板の外観斜視図である。
【図9】図8のVIb−VIb線における拡大断面図
(a)、VIc−VIc線における拡大断面図(b)、及び
同従来の電子部品用基板の斜め割れを説明する拡大断面
図(c)である。
(a)、VIc−VIc線における拡大断面図(b)、及び
同従来の電子部品用基板の斜め割れを説明する拡大断面
図(c)である。
【図10】斜め割れの状態で製造されたチップ抵抗器の
外観斜視図である。
外観斜視図である。
1 電子部品用基板 1a,1b 基板周縁部 2,2′ 1の方向のブレイク溝 3,3′ 他の方向のブレイク溝
Claims (2)
- 【請求項1】1の方向と他の方向にそれぞれ延伸するブ
レイク溝を格子状に形成してなる電子部品用基板におい
て、 前記ブレイク溝は、基板周縁部を除いて形成され、この
1の方向と他の方向のブレイク溝のうち、一方の方向の
両端に位置するブレイク溝は、基板端縁まで延伸され、
前記1の方向のブレイク溝は、その両端のブレイク溝を
除いて全て他の方向のブレイク溝より深く形成されたこ
とを特徴とする電子部品用基板。 - 【請求項2】1の方向と他の方向にそれぞれ延伸するブ
レイク溝を格子状に形成してなる電子部品用基板におい
て、 前記ブレイク溝は、基板周縁部を除いて形成され、この
1の方向と他の方向のブレイク溝のうち、他の方向の両
端に位置するブレイク溝は、基板端縁まで延伸され、前
記1の方向のブレイク溝は、他の方向のブレイク溝より
深く形成されたことを特徴とする電子部品用基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10155093A JP3029821B2 (ja) | 1998-06-04 | 1998-06-04 | 電子部品用基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10155093A JP3029821B2 (ja) | 1998-06-04 | 1998-06-04 | 電子部品用基板 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2174096A Division JPH0710024B2 (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | 電子部品用基板 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1174105A true JPH1174105A (ja) | 1999-03-16 |
| JP3029821B2 JP3029821B2 (ja) | 2000-04-10 |
Family
ID=15598493
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10155093A Expired - Fee Related JP3029821B2 (ja) | 1998-06-04 | 1998-06-04 | 電子部品用基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3029821B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004296952A (ja) * | 2003-03-28 | 2004-10-21 | Tdk Corp | 電子部品及びその外層形成方法 |
| JP2008235670A (ja) * | 2007-03-22 | 2008-10-02 | Rohm Co Ltd | チップ抵抗器の製造方法 |
| JP2009200192A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Koa Corp | チップ部品用セラミック基板およびチップ部品の製造方法 |
| JP2012104687A (ja) * | 2010-11-11 | 2012-05-31 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品の製造方法 |
-
1998
- 1998-06-04 JP JP10155093A patent/JP3029821B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004296952A (ja) * | 2003-03-28 | 2004-10-21 | Tdk Corp | 電子部品及びその外層形成方法 |
| JP2008235670A (ja) * | 2007-03-22 | 2008-10-02 | Rohm Co Ltd | チップ抵抗器の製造方法 |
| JP2009200192A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Koa Corp | チップ部品用セラミック基板およびチップ部品の製造方法 |
| JP2012104687A (ja) * | 2010-11-11 | 2012-05-31 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品の製造方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3029821B2 (ja) | 2000-04-10 |
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