JPH1194673A - センサおよびセンサの製造方法 - Google Patents
センサおよびセンサの製造方法Info
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Abstract
効率のよいセンサ及びセンサの製造方法を提供すること
を目的とする。 【解決手段】ダイアフラム121上に歪ゲージ素子を配
置して当該ダイアフラム121の物理量を検出して電気
信号に変換するセンサチップ12を備えたセンサにおい
て、歪ゲージ素子が配置されたダイアフラム12の上面
には、バンプ21を介してフレキシブル基板13が設け
られ、このフレキシブル基板13には、この電気信号を
増幅処理して出力する電子回路23が設けられている。
フレキシブル基板13上の電子回路23とダイアフラム
121上の歪ゲージ素子とがバンプ21により電気的に
接続されているので、薄型化が図られるうえ、ダイボン
ディングで接続できるので、センサの製造時間の大幅な
短縮が可能となる。
Description
歪ゲージ素子を配置して当該ダイアフラムの物理量を検
出して電気信号に変換するセンサチップを備えたセンサ
およびセンサの製造方法に関し、例えば、流体の圧力変
化をダイアフラムによって検出し、歪ゲージ素子によっ
て電気信号として出力する圧力変換器等に利用すること
ができる。
の圧力センサが用いられている。組み込み制御用の圧力
センサとしては、ダイアフラム上に歪ゲージ素子を配置
して当該ダイアフラムの物理量を検出して電気信号に変
換するセンサチップを備えた圧力センサが利用され、例
えば、実用新案登録第2533357号に示される圧力
センサが知られている。この圧力センサ7は、図9に示
すように、流体が流通する配管部材が接続されるジョイ
ント部材11と、流体の圧力をダイアフラム121で検
出し、電気信号に変換する圧力センサチップ12と、こ
の圧力センサチップ12により変換された電気信号を信
号増幅処理して外部の測定装置等に出力する電子回路基
板73と、圧力センサチップ12および電子回路基板7
3を覆うケース74とを備えている。
の空洞111が形成された筒状体であり、その先端側外
周面には、前記配管部材と接続するための雄ネジ部11
2が形成されている。圧力センサチップ12は、受圧面
となるダイアフラム121と、このダイアフラム121
を囲む脚部122とを有し、脚部122が設けられる面
とは反対側のダイアフラム121の上面には、多結晶シ
リコン等の半導体素子から構成される4つの歪ゲージ素
子が配置されている(図9では図示略)。これら4つの
歪ゲージ素子は、ダイアフラム121の上面に形成され
るプリント配線によって電気的に接続され、ダイアフラ
ム121の上面には、4つ抵抗歪ゲージ素子から構成さ
れるブリッジ回路が形成されている。このブリッジ回路
の互いに対向する一対の端部には、電圧印加用の電極パ
ッドが形成されるとともに、他の一対の端部には、電圧
出力用の電極パッドが形成されている。
の電圧が印加され、ダイアフラム121の変形に応じて
歪ゲージ素子の抵抗値が変化し、これに伴い、変化した
電圧が電気信号として電圧出力用の電極から出力される
ように構成されている。圧力センサチップ12は、支持
台15を介して前記ジョイント部材11と接続され、支
持台15には、内部に圧力導入管151が形成され、前
記圧力導入用の空洞111と、圧力センサチップ12の
脚部122に囲まれる空洞123とは、この圧力導入管
151によって連通している。
路基板73が設けられ、その外周部分がジョイント部材
11に支持されている。この電子回路基板73は、ダイ
アフラム121上面の歪ゲージ素子とボンディング線7
31によって電気的に接続されているとともに、リード
線732、中継基板733を介して外部信号出力用の電
線16と電気的に接続されている。尚、図9では図示を
略したが、電子回路基板73には、入力された電気信号
を増幅して出力する電子回路となるIC(Integr
ated Circuit)が搭載され、このICおよ
び前記ボンディング線731は、キャップ734によっ
て覆われ、保護されている。
変化を測定する場合、次のような手順で行われる。 ジョイント部材11に接続された管材から供給され
る測定流体は、圧力導入用の空洞111、圧力導入管1
51から圧力センサチップ12の空洞123に流れ込
む。 測定流体の圧力変化に応じて、ダイアフラム121
が面外方向に変形し、ダイアフラム121の上面の歪ゲ
ージ素子の抵抗値が変化する。これに伴い、ブリッジ回
路における出力電圧が変化し、これを電気信号として電
子回路基板73に出力する。 この電気信号は、電子回路基板73に搭載されたI
Cによって増幅され、リード線732、中継基板73
3、電線16によって図9では図示しない表示装置、制
御装置に伝達され、これらの装置によって測定、制御が
行われる。上述した圧力センサ7は機器等に組み込ま
れ、機器等の制御用の検出器として用いられることが多
く、機器の他の動作部等の邪魔とならないようにする必
要があるので、安定した性能を有する他、極力小型化、
薄型化されたものであることが望ましい。
うな従来の圧力センサ7では、次のような問題がある。 ダイアフラム121の上面に形成されるブリッジ回
路と電子回路基板73との接続は、従来より、ボンディ
ング線731を用いたワイヤボンディングによって行わ
れているが、ワイヤボンディング技術の性質上、電子回
路基板73と圧力センサチップ12との間を所定間隔だ
け離間させる必要がある。このため、図9から判るよう
に、ケース74の高さ寸法H0を小さくして圧力センサ
7の小型化、薄型化を図ろうとしても限界がある。 また、ワイヤボンディングにより接続する場合、ダ
イアフラム121上の電極パッドにボンディング線73
1を1本ずつ接続しなければならない。従って、ボンデ
ィング線731の接続本数が多くなると、圧力センサ7
の製造時間多くかかってしまううえ、ボンディング線7
31の接続箇所に応じて、圧力センサチップ12、電子
回路基板73の位置合わせを行う必要があり、製造時、
これらの位置制御が煩雑化してしまうという問題があ
る。尚、このような問題は、上述した圧力センサ7のみ
ならず、同じダイアフラム上に歪ゲージ素子が配置され
たセンサチップを有する流量センサ、加速度センサ等で
も同様の問題として把握される。
のでき、かつ製造効率のよいセンサ及びセンサの製造方
法を提供することにある。
ダイアフラム上に歪ゲージ素子を配置して当該ダイアフ
ラムの物理量を検出して電気信号に変換するセンサチッ
プを備えたセンサであって、前記歪ゲージ素子が配置さ
れたダイアフラム面には、バンプを介してフレキシブル
基板が設けられ、このフレキシブル基板には、前記電気
信号を処理する電子回路が設けられていることを特徴と
する。ここで、フレキシブル基板とは、プリント配線す
ることが可能であり、かつロール状に巻き取ることがで
きる可撓性のある基板をいい、例えば、ポリエステル、
ポリイミド製の基板を採用することができる。また、バ
ンプは、ダイアフラム面上に形成された歪ゲージ素子と
電子回路基板とを電気的に接続するのみでなく、センサ
チップとフレキシブル基板とを物理的に接合固定するこ
とができるものをいい、例えば、金バンプ、半田バンプ
等が考えられる。
基板上の電子回路とダイアフラム上の歪ゲージ素子との
電気的接続がバンプ接合によって行われるので、ダイボ
ンディングにより、電極数に関係なく電極全部を一度に
かつ高速に接続することが可能となり、センサの製造時
間の大幅な短縮が可能となる。また、バンプ接合であれ
ば、ワイヤボンディングによる場合に比較してフレキシ
ブル基板とセンサチップとの距離をより接近させて電気
的接続を行うことが可能となるので、センサを小型化、
薄型化することが可能となる。
には、外周から内側に向かう切欠部が少なくとも1以上
形成されているのが好ましい。ここで、切欠部は、セン
サチップの温度変化に伴う熱膨張によって電子回路基板
とセンサチップとのバンプによる接合部分に応力が発生
しないように設けられ、バンプによる接合部の位置、箇
所に応じて切欠部の場所、箇所を設定するのが好まし
い。このように、フレキシブル基板に切欠部が形成され
ていれば、測定流体等の温度変化によりセンサチップが
膨張、収縮し、フレキシブル基板との間に動きが生じて
も、その動きは切欠部で吸収され、バンプ接合部に作用
する応力が低減され、バンプ接合部を長期に亘り良好な
状態で保持することが可能となる。
イアフラムの物理量に応じて出力される電気信号を補正
する調整用トリミングパッドが設けられているのが好ま
しい。すなわち、フレキシブル基板に調整用トリミング
パッドが設けられているので、バンプ接合によりフレキ
シブル基板とセンサチップとを電気的に接続した後、直
ちにセンサのゼロ調整、スパン調整を行うことが可能と
なり、バンプ接合を含む製造工程内で同時にセンサの調
整をも済ませられ、高精度のセンサを効率よく製造する
ことが可能となる。
によって被覆されているのが好ましい。ここで、モール
ド剤としては、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂等の合成
樹脂系の材料を採用するのが好ましい。すなわち、電子
回路がモールド剤によって被覆されているので、電気信
号を処理する部分がモールド剤により保護され、センサ
の耐久性が向上し、特に、耐振動性能が向上する。そし
て、上述したバンプとしては金バンプを採用することも
考えられるのだが、好ましくは、錫および鉛の合金から
構成される半田バンプを採用するのが好ましい。すなわ
ち、半田は、金等に比較して極めて廉価で入手すること
が可能であり、センサを構成する材料コストが低減さ
れ、センサの製造コストが低減される。
ダイアフラム上に歪ゲージ素子を配置して当該ダイアフ
ラムの物理量を検出して電気信号に変換するセンサチッ
プと、前記歪ゲージ素子が配置されたダイアフラム面に
バンプを介して設けられるフレキシブル基板と、このフ
レキシブル基板上に設けられる電子回路とを備えたセン
サの製造方法であって、前記フレキシブル基板上に前記
電子回路を設ける第1の工程と、このフレキシブル基板
および前記電子回路を前記バンプにより前記ダイアフラ
ム上に接合する第2の工程と、前記電子回路をモールド
剤により被覆する第3の工程とを備えていることを特徴
とする。すなわち、このような本発明によれば、電子回
路が設けられる基板としてフレキシブル基板を採用して
いるので、TAB(Tape Automated B
onding)技術を利用して、電子回路の基板上への
設置、センサチップとフレキシブル基板との接合を連続
して行うことが可能となり、センサを効率的にかつ迅速
に製造することが可能となる。
上にIC等の集積電子回路をバンプ接合した後、フレキ
シブル基板とセンサとのバンプ接合を行うが、好ましく
は、電子回路およびフレキシブル基板のバンプ接合と、
フレキシブル基板およびセンサチップのバンプ接合を同
時に行うボンディングツールにより、第1の工程と第2
の工程とを同時に済ませられるのがよい。すなわち、1
度のバンプ接合で電子回路およびフレキシブル基板の接
合と、フレキシブル基板および圧力センサチップの接合
とを同時に済ませられるので、センサの製造工程の簡素
化が図られ、製造設備コストおよび製造管理コストの低
減により、センサの製造コストの低減が図られる。
面に基づいて説明する。尚、以下の説明では、既に説明
した部分又は部材と同一又は類似の部分等については、
その説明を省略又は簡略する。図1には、本発明の第1
実施形態に係る圧力センサが示されている。背景技術で
説明した従来の圧力センサ7は、電子回路基板73は、
その外周部分がジョイント部材11に支持され、電子回
路基板73と圧力センサチップ12との電気的な接続は
ボンディング線731によって行われていた。そして、
ワイヤボンディングを行うために、センサチップ12と
電子回路基板73との間には所定間隔の隙間が設けられ
ていた。これに対して、第1実施形態に係る圧力センサ
1は、圧力センサチップ12上にバンプ21を介してフ
レキシブル基板13が設けられ、このフレキシブル基板
13と圧力センサチップ12との電気的接続は、このバ
ンプ21によって行われている。
圧力センサチップ12のダイアフラム121の歪ゲージ
素子22が配置される面には、バンプ21を介してフレ
キシブル基板13が配置され、フレキシブル基板13の
上面に設けられる電子回路となるIC23は、ゲル状の
シリコーン樹脂からなるモールド剤24によって覆われ
ている。圧力センサチップ12のダイアフラム上面に
は、図3(A)から判るように、4つの歪ゲージ素子2
2から構成されるブリッジ回路25が形成され、このブ
リッジ回路25には、バンプ21が接合される一対の電
圧印加用パッド251と一対の電圧出力用パッド252
が形成されている。尚、このような圧力センサチップ1
2は、ダイアフラム121にCVD法により酸化珪素の
絶縁膜上に多結晶シリコンを形成し、フォトエッチング
により多結晶シリコンのゲージパターンを形成した後、
電子ビーム蒸着によって各歪ゲージ素子22を連絡する
ブリッジ回路25を形成して製造される。
基板13は、図3(B)に示されるように、圧力センサ
チップ12の平面形状と略同形の円形状をなし、このフ
レキシブル基板13には、その外周部分から内側となる
円の中心方向に向かう6つの切欠部131が形成されて
いるとともに、その中央部分にはIC23を取り付ける
ためのデバイスホール132が形成されている。そし
て、これらの切欠部131によってフレキシブル基板1
3は、6つの領域に分割され、6つの領域のうち、4つ
の領域133には、バンプ21が挿通されるバンプ孔1
34が設けられている。
うち、図3(B)中左下の領域135には、上述したリ
ード線732が接続されるパッド136が3つ形成さ
れ、これらのパッド136のうち、2つがIC23等に
電源を供給する電源用のパッドとされ、残り1つが外部
出力用のパッドとされる。また、図3(B)中右上の領
域137には、圧力センサ1のゼロ調整、スパン調整を
行うための調整用トリミングパッド138が4つ設けら
れている。この4つの調整用トリミングパッド138
は、サンプルデータを入出力してゼロ調整、スパン調整
を行う調整用端子として用いられる。ここで、図3では
図示を略したが、フレキシブル基板13の表面には、プ
リント配線が施され、上述したバンプ孔134、電源用
および外部出力用のパッド136、調整用トリミングパ
ッド138は、デバイスホール132に形成されるボン
ディング用リードに電気的に接続されている(図3
(B)では図示略)。
の領域133、135、137に分割する切欠部131
は、フレキシブル基板13の外周部分から円形の中心方
向に向かう所定寸法幅の溝部131Aと、この溝部13
1Aの内側先端部分に形成される円形部131Bとを備
えている。尚、溝部131Aの幅寸法、円形部の半径
は、温度変化に伴う圧力センサチップ12の熱膨張率の
大きさ、フレキシブル基板13の柔らかさ、バンプ21
の接合強度等に応じて適宜変更する。
は、図4に示す分解斜視図のように、上述した圧力セン
サチップ12のダイアフラム121の上面にバンプ21
によって接合固定される。すなわち、ダイアフラム12
1の上面に形成される電圧印加用パッド251、電圧出
力用パッド252上にバンプ21を対応配置するととも
に、フレキシブル基板13のバンプ孔134をこのバン
プ21の配置に合わせ、バンプ21を加熱プレス溶着す
ることにより、フレキシブル基板13はダイアフラム1
21の上面に固定される。ここで、バンプ21は、錫、
鉛の合金から構成される半田材料で構成され、バンプ2
1を加熱プレス溶着すると、フレキシブル基板13の物
理的接合が行われるとともに、このバンプ21を介し
て、電圧印加用パッド251、電圧出力用パッド252
がバンプ孔134と電気的に接続され、さらに、フレキ
シブル基板13上に形成されるプリント配線(図4では
図示略)によりIC23と電気的に接続される。
フレキシブル基板13をバンプ21により接合する加工
装置について、図5、図6に基づいて説明する。加工装
置3は、図5に示すように、第1の工程を構成する第1
ボンド部31と、第2の工程を構成する第2ボンド部3
2と、第3の工程を構成するモールディング部33と、
フレキシブル基板13を供給源となるフレキテープリー
ル34と、残材巻き取り用の巻き取りリール35と、後
述するポリイミドテープ341を反転する反転ローラ3
6とを含んで構成される。
ル基板13の構成材料となる所定幅の帯状のポリイミド
テープ341がロール状に巻き付けられている。このポ
リイミドテープ341は、図6(A)に示すように、そ
の表面に予め打ち抜きによりフレキシブル基板13が形
成され、外周端部4箇所でポリイミドテープ341の他
の部分とつながっている。尚、ポリイミドテープ341
の打ち抜きに際しては、同時にデバイスホール132、
バンプ孔134、切欠部131も同時に形成し、さら
に、前述した電源用、外部出力用のパッド136と、調
整用トリミングパッド138を蒸着により形成してお
く。また、デバイスホール132には、同時にボンディ
ング用リード線を形成し、その先端にIC23をバンプ
接合するためのバンプを設けておく。
うに、ポリイミドテープ341上にIC23を搭載する
工程であり、ポリイミドテープ341の表面に形成され
るフレキシブル基板13およびIC23をバンプ接合す
る加熱ツール311と、バンプ接合に際して、フレキシ
ブル基板13を上方から押圧する第1ボンディングツー
ル312とを備えている。加熱ツール311は、図6
(B)では図示を略したが、その上面に載置されるIC
23を加熱するヒータが設けられているとともに、ポリ
イミドテープ341の供給速度に応じてIC23を連続
供給する機構が設けられている。尚、このIC23の供
給機構には、TAB等において、フレキシブル基板にI
C実装する際に通常利用される供給機構と同様の公知の
供給機構が採用されている。第1ボンディングツール3
12は、前記加熱ツール311に対して進退自在に設け
られ、この第1ボンディングツール312によってフレ
キシブル基板13を押圧することにより、デバイスホー
ル132に形成されたバンプとIC23の端子とが接合
される。
IC23が搭載されたフレキシブル基板13を圧力セン
サチップ12上にバンプ接合するとともに、フレキシブ
ル基板13をポリイミドテープ341の他の部分、すな
わち、残材部分から切り離す工程であり、加熱ツール3
21、第2ボンディングツール322を備えている。
尚、第2ボンド部32の加熱ツール321には、図5で
は図示を略したが、ポリイミドテープ341の第2のボ
ンド部32に対する供給速度に応じて、予め別工程で製
造された圧力センサチップ12を連続供給することので
きる機構が設けられる。尚、この連続供給機構は、上述
した第1ボンド部の加熱ツール311に設けられるもの
と略同様の公知のものが用いられる。また、第2ボンド
部32には、フレキシブル基板13と圧力センサチップ
12とをバンプ接合するバンプ21を供給するための機
構も設けられている。そして、フレキシブル基板13が
切り離されたポリイミドテープ341の残材は、上述し
た巻き取りリール35によって巻き取られていく。
3は、図5に示すように、圧力センサチップ12を載置
する載置台331と、圧力センサチップ12上のフレキ
シブル基板13にゲル状のシリコーン樹脂からなるモー
ルド剤24を供給するノズル332とを含んで構成され
る。尚、載置台331には、図5では図示を略したが、
ノズル332に圧力センサチップ12を連続供給する機
構が設けられているとともに、ノズル332によるモー
ルド剤24の供給時、電源用および外部出力用のパッド
136、調整用トリミングパッド138がモールド剤2
4によって被覆されないように、モールド剤24の拡散
を防止する機構が設けられている。
力センサ1の製造手順について説明する。 第1ボンド部31によってフレキテープリール34
から連続供給されるポリイミドテープ341上のフレキ
シブル基板13とIC23とのバンプ接合を行う。 フレキシブル基板13はポリイミドテープ341か
ら切り離されていないため、IC23とともにポリイミ
ドテープ341は、反転ローラ36に送られ、この反転
ローラ36によってIC23の搭載面が上面となるよう
に反転される。
後、このポリイミドテープ341は、第2ボンド部32
に送られ、第2ボンディングツール322によって圧力
センサチップ12とフレキシブル基板13とのバンプ接
合が行われる。同時に、フレキシブル基板13の外周の
ポリイミドテープ341他の部分とつながっている箇所
を第2ボンディングツール322の周縁部分に形成され
るカッタで切断する(図5では図示略)。 圧力センサチップ12とフレキシブル基板13との
バンプ接合の後、IC23の上部をモールド剤24で被
覆し、所定の硬度となるまで養生する。
11上に支持台15を介して圧力センサチップ12を固
定した後、パッド136にリード線732をワイヤボン
ディングにより中継基板733と接続するとともに、調
整用トリミングパッド138にサンプルデータを入出力
する調整機器を接続する。 調整機器によりゼロ調整、スパン調整を行った後、
調整機器を取り外し、ケース14とジョイント部材11
とを接合して圧力センサ1が完成する。このようにして
製造された圧力センサ1の使用方法、圧力測定方法は、
背景技術で説明した従来の圧力センサ7と同様なので省
略する。
ような効果がある。すなわち、フレキシブル基板13上
のIC23とダイアフラム121上の歪ゲージ素子22
から構成されるブリッジ回路25との電気的接続がバン
プ21のバンプ接合によって行われるので、ダイボンデ
ィングにより、電極数、すなわち、パッド251、25
2の数に関係なく電極全部を一度にかつ高速に接続する
ことができ、圧力センサ1の製造時間の大幅な短縮を図
ることができる。
回路基板73と圧力センサチップ12との電気的接続を
ワイヤボンディングにより行う場合、電子回路基板7
3、圧力センサチップ12間の距離をある程度確保しな
ければならないので、ケース74の高さ寸法H0を少な
くしようとしても限界があった。一方、第1実施形態に
係る圧力センサ1では、バンプ21により電気的接続を
行っているので、フレキシブル基板13と圧力センサチ
ップ12との距離をより接近させることができ、図1か
ら判るように、ケースの高さ寸法H1を少なくすること
ができ、圧力センサ1の小型化、薄型化を達成すること
ができる。尚、具体的には、従来の圧力センサ7のケー
スの高さ寸法H0と比較すると、第1実施形態に係る圧
力センサ1では、ケースの高さ寸法H1は略5mm短縮さ
れている。
プ21の配置に応じて複数の切欠部131が形成されて
いるので、測定流体等の温度変化によって圧力センサチ
ップ12が膨張、収縮し、フレキシブル基板13との間
に動きが生じても、その動きを切欠部131で吸収する
ことができ、バンプ接合部に作用する応力を低減するこ
とができ、バンプ接合部を長期に亘り良好な状態で保持
することができる。そして、フレキシブル基板13に調
整用トリミングパッド138が設けられているので、圧
力センサ1の製造手順のに示すように、製造後、直ち
に圧力センサ1のゼロ調整、スパン調整を行うことがで
き、バンプ接合を含む製造工程内で同時に圧力センサ1
の調整をも済ませられ、高精度の圧力センサ1を効率よ
く製造することができる。
ルド剤24によって被覆されているので、電気信号を処
理するIC23を被覆保護することができ、圧力センサ
1の耐久性が向上し、特に、耐振動性能が向上する。さ
らに、バンプ21の材料として半田を使用しているの
で、金バンプ等に比較して、材料コストを低減すること
ができ、圧力センサ1の製造コストを低減することがで
きる。
フレキシブル基板13を採用しているので、圧力センサ
1の製造手順から判るように、TAB技術を利用するこ
とにより、IC23のフレキシブル基板13上への設置
(第1ボンド部31)、圧力センサチップ12とフレキ
シブル基板13との接合(第2ボンド部32)を連続し
て行うことができ、圧力センサ1を効率的にかつ迅速に
製造することができる。
する。前述の第1実施形態に係る圧力センサ1の製造方
法では、圧力センサチップ12とフレキシブル基板13
とをバンプ接合する加工装置3において、第1ボンド部
31でフレキシブル基板13とIC23との接合を行っ
た後、第2ボンド部32でフレキシブル基板13と圧力
センサチップ12とのバンプ接合を行っていた。これに
対して、第2実施形態に係る圧力センサ1の製造方法で
は、図7に示すように、圧力センサチップ12とフレキ
シブル基板13とをバンプ接合する加工装置5におい
て、IC23およびフレキシブル基板13のバンプ接合
と、圧力センサチップ12およびフレキシブル基板13
のバンプ接合とは、1箇所のボンド部51によって両者
が同時に済ませられている点が相違する。
ンディングツール512とを備え、加熱ツール511に
は、図7では図示を略したが、圧力センサチップ12の
供給機構と、IC23の供給機構とが設けられ、これら
の供給機構は、前述の第1実施形態で述べた加熱ツール
311、321に設けられる供給機構と略同様の構造を
有する。また、ボンド部51には、フレキシブル基板1
3と圧力センサチップ12とをバンプ接合するバンプ2
1を供給するための機構も設けられている(図7では図
示略)。
に示すように、その端面にIC23を上面から押圧する
IC押圧部512Aが形成されているとともに、バンプ
21の配置に対応する部分には、バンプ21を加熱プレ
ス溶着するために、バンプ押圧部512Bが形成されて
いる。また、このボンディングツール512の外周に
は、その押圧方向に突出するリング状のカッタ512C
が形成され、このカッタ512Cにより、バンプ接合と
同時にフレキシブル基板13はポリイミドテープ341
から切り離される。
とフレキシブル基板13とのバンプ接合を行う場合、フ
レキテープリール34からポリイミドテープ341を連
続供給し、ボンド部51において、圧力センサチップ1
2、フレキシブル基板13、IC23を同時にボンディ
ングツール512により押圧してバンプ接合する。そし
て、後は第1実施形態の製造手順と同様の手順で圧力セ
ンサ1が製造されていく。
した第1実施形態の効果に加えて以下のような効果があ
る。すなわち、ボンド部51のみでフレキシブル基板1
3およびIC23の接合と、フレキシブル基板13およ
び圧力センサチップ12の接合とを同時に済ませられる
ので、第1実施形態における加工装置3のように反転ロ
ーラ36等の設備を必要とせず、圧力センサ1の製造工
程の簡素化を図ることができ、製造設備コストおよび製
造管理コストの低減により、圧力センサ1の製造コスト
の低減を図ることができる。
れるものではなく、次に示すような変形等をも含むもの
である。すなわち、前述の各実施形態では、圧力センサ
1について本発明を採用していたが、これに限らず、ダ
イアフラムとこのダイアフラムの上面に形成される歪ゲ
ージ素子とを備えた流量センサ、加速度センサ等であっ
てもよい。また、前述の各実施形態では、フレキシブル
基板13の材料としてポリイミドを採用していたが、こ
れに限らず、ポリエステル製のフレキシブル基板に本発
明を利用してもよい。要するにフレキシブル基板の材
質、形状寸法等は、ロール状に巻き取り可能であるこ
と、表面にプリント配線ができること等の要求性能に応
じて適宜決定すればよい。
21には、半田材料から構成されるものを用いていた
が、これに限らず、金バンプ等を用いてもよい。要する
に、センサの使用条件、暴露条件等に応じてバンプの材
料は適宜決定すればよい。そして、前述の実施形態で
は、モールド剤24の材料としてゲル状のシリコーン樹
脂を採用していたが、これに限らず、エポキシ系樹脂を
採用してもよい。その他、本発明の実施の際の具体的な
構造及び形状等は、本発明の目的を達成できる範囲で他
の構造等としてもよい。
センサチップ上にバンプを介してフレキシブル基板が設
けられているので、センサチップとフレキシブル基板と
の距離を接近させてセンサを小型化、薄型化することが
できる。また、電子回路が設けられる基板にフレキシブ
ル基板を採用しているので、TABによる連続製造がで
き、センサの製造効率を向上することができる。
図である。
レキシブル基板の構造を表す断面図である。
レキシブル基板の上面図である。
レキシブル基板の接合構造を表す分解斜視図である。
現する加工装置を表す模式図である。
を表す模式図である。
の要部を表す部分断面図である。
る第2ボンディングツールの押圧面を表す平面図であ
る。
部 121 ダイアフラム 131 切欠部 138 調整用トリミングパッド 512 ボンディングツール
Claims (7)
- 【請求項1】ダイアフラム上に歪ゲージ素子を配置して
当該ダイアフラムの物理量を検出して電気信号に変換す
るセンサチップを備えたセンサであって、 前記歪ゲージ素子が配置されたダイアフラム面には、バ
ンプを介してフレキシブル基板が設けられ、 このフレキシブル基板には、前記電気信号を処理する電
子回路が設けられていることを特徴とするセンサ。 - 【請求項2】請求項1に記載のセンサにおいて、 前記フレキシブル基板には、外周から当該フレキシブル
基板の内側に向かう切欠部が少なくとも1以上形成され
ていることを特徴とするセンサ。 - 【請求項3】請求項1または請求項2に記載のセンサに
おいて、 前記フレキシブル基板には、前記ダイアフラムの物理量
に応じて出力される前記電気信号を補正する調整用トリ
ミングパッドが設けられていることを特徴とするセン
サ。 - 【請求項4】請求項1〜請求項3のいずれかに記載のセ
ンサにおいて、 前記電子回路は、モールド剤によって被覆されているこ
とを特徴とするセンサ。 - 【請求項5】請求項1〜請求項4のいずれかに記載のセ
ンサにおいて、 前記バンプは、錫および鉛の合金からなる半田バンプで
あることを特徴とするセンサ。 - 【請求項6】ダイアフラム上に歪ゲージ素子を配置して
当該ダイアフラムの物理量を検出して電気信号に変換す
るセンサチップと、前記歪ゲージ素子が配置されたダイ
アフラム面にバンプを介して設けられるフレキシブル基
板と、このフレキシブル基板上に設けられる電子回路と
を備えたセンサの製造方法であって、 前記フレキシブル基板上に前記電子回路を設ける第1の
工程と、 このフレキシブル基板を前記バンプにより前記ダイアフ
ラム上に接合する第2の工程と、 前記電子回路をモールド剤により被覆する第3の工程と
を備えていることを特徴とするセンサの製造方法。 - 【請求項7】請求項6に記載のセンサの製造方法におい
て、 前記電子回路は、前記フレキシブル基板とバンプにより
接合され、 この電子回路および前記フレキシブル基板のバンプ接合
と、前記フレキシブル基板および前記センサのバンプ接
合とを同時に行うボンディングツールにより、前記第1
の工程と前記第2の工程とが同時に行われることを特徴
とするセンサの製造方法。
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|---|---|---|---|
| JP25871597A JP4118981B2 (ja) | 1997-09-24 | 1997-09-24 | センサおよびセンサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1194673A true JPH1194673A (ja) | 1999-04-09 |
| JP4118981B2 JP4118981B2 (ja) | 2008-07-16 |
Family
ID=17324096
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25871597A Expired - Fee Related JP4118981B2 (ja) | 1997-09-24 | 1997-09-24 | センサおよびセンサの製造方法 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4118981B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2870340A1 (fr) * | 2004-05-17 | 2005-11-18 | Denso Corp | Dispositif de detection de pression |
| JP2007010462A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Denso Corp | 圧力検出装置 |
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| US7559247B2 (en) | 2006-07-14 | 2009-07-14 | Denso Corporation | Pressure sensor with reduced size strain gauge mounting structure and manufacturing method of the same |
| WO2023211112A1 (en) * | 2022-04-26 | 2023-11-02 | Autonics Corporation | Sensor module |
-
1997
- 1997-09-24 JP JP25871597A patent/JP4118981B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| EP4515195A4 (en) * | 2022-04-26 | 2026-03-18 | Autonics Corp | SENSOR MODULE |
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