JPH1194889A - 多層基板からの放射電磁波解析装置 - Google Patents

多層基板からの放射電磁波解析装置

Info

Publication number
JPH1194889A
JPH1194889A JP25549697A JP25549697A JPH1194889A JP H1194889 A JPH1194889 A JP H1194889A JP 25549697 A JP25549697 A JP 25549697A JP 25549697 A JP25549697 A JP 25549697A JP H1194889 A JPH1194889 A JP H1194889A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
layer
multilayer substrate
current distribution
signal layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP25549697A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Kishimoto
武士 岸本
Shinichi Otsu
信一 大津
Makoto Mukai
誠 向井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP25549697A priority Critical patent/JPH1194889A/ja
Priority to US09/045,706 priority patent/US6129459A/en
Priority to DE19816192A priority patent/DE19816192A1/de
Publication of JPH1194889A publication Critical patent/JPH1194889A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
    • G01R31/002Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing where the device under test is an electronic circuit
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/28Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof adapted for measuring in circuits having distributed constants
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0807Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
    • G01R29/0814Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 波源および負荷を流れる電流が電源層とグラ
ンド層とに流れ込む状態を定量的に解析できるモデル化
手法を確立し、多層基板から放射される電磁波の電磁界
強度を正確に算出する。 【解決手段】 信号層を流れる電流の分布を分布定数線
路近似法または伝送線路解析法によって求める手段1
と、手段1によって求められた電流分布に基づいてモー
メント法を用いて多層基板全体の電流分布を計算する手
段2と、手段2によって計算された多層基板全体の電流
分布に基づいて放射される電磁波の電磁界強度を計算す
る手段3とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は多層基板から放射さ
れる電磁波を解析する装置に関し、更に詳しくは信号層
を流れる電流分布を分布定数線路近似法、または伝送線
路解析法によって求め、その結果に基づいて多層基板全
体の電流分布と、放射される電磁波の電磁界強度を計算
する電磁波解析装置に関する。
【0002】電気回路装置に対する社会的規制として、
一定のレベル以上の不要な電波やノイズを放射してはな
らないということがあり、各国の規格で厳しく規定され
るようになってきた。
【0003】このような電波規格を満足させるために、
シールド技術やフィルタ技術等のような種々の対策技術
が用いられるが、これらの対策技術の採用に当たって、
それらがどの程度放射電波を減少させられるかを定量的
に算出できるようにするシミュレーション技術の開発が
必要である。
【0004】このようなことを背景にして、本発明者ら
は、主としてモーメント法を使って、電気回路装置の放
射する電磁界強度を算出するシミュレーション技術の発
明を開示してきた。このシミュレーション技術を確立し
ていくためには、電気回路装置の正確なモデルを構築し
ていく必要がある。
【0005】
【従来の技術】物体の放射する電磁界強度は、物体各部
に流れる電流を求めて、それを公知の電磁波放射の理論
式に代入することでシミュレーションできる。この物体
各部に流れる電流は、理論的には、マックスウェルの電
磁界方程式を与えられた境界条件の下に解くことで得ら
れる。しかしながら任意の形状の物体を対象として、マ
ックスウェルの電磁界方程式を任意の境界条件で解くこ
とは困難である。
【0006】従って、現在の電磁界強度算出装置で用い
られている電流の解法は、難易の程度はあるにせよ、す
べて近似的なものである。現在、この近似的な解法とし
て、微小ループアンテナ近似法と、分布定数線路近似法
と、モーメント法という3種類のものが知られている。
【0007】微小ループアンテナ近似法は、波源回路と
負荷回路との間を接続する配線をループアンテナとして
扱い、ループ上の電流は一定のものと仮定して、これを
集中定数回路の計算法で求める方法である。図24に、
この微小ループアンテナ近似法の構成を図示する。
【0008】この微小ループアンテナ近似法による計算
は、最も簡単であるが、ループの寸法が電磁波の波長に
比べて無視できない条件では精度が極めて低下すること
から、現実には殆ど用いられていない。
【0009】一方、分布定数線路近似法は、1次元の構
造物として近似できる物体に対して、分布定数線路の方
程式を適用することで電流を求める方法である。計算は
比較的簡単であり、計算時間及び時間容量も解析要素数
にほぼ比例して増加するに止まり、線路の反射や共振等
の現象も含めた解析ができることから、1次元の近似が
成立する物体については、高速・高精度の解析ができ
る。図25に、この分布定数線路近似法の構成を図示す
る。
【0010】この分布定数線路近似法による計算は、1
次元の構造物として近似できる物体については、高速・
高精度の解析ができるものの、近似できない物体につい
ては解析できないという問題点がある。
【0011】一方、モーメント法は、マックスウェルの
電磁波動方程式から導かれる積分方程式の解法の1つで
あり、3次元の任意形状物体を扱うことができる。具体
的には、物体を小さな要素に分割して電流の計算を行う
ものである。
【0012】このモーメント法についての参考文献とし
ては、「H.N.Wang, J.H.Richmond and M.C.Gilreath:"S
inusoidal reaction formulation for radiation and s
cattering from conducting surface" IEEE TRANSACTIO
NS ANTENNAS PROPAGATION vol.AP-23 1975」がある。
【0013】このモーメント法では、シミュレーション
対象となる電気回路装置の構造をメッシュ化し、処理対
象の周波数について、メッシュ化された要素間の相互イ
ンピーダンスや相互アドミッタンスを所定の計算処理に
よって求めて、その求めた相互インピーダンス等の構造
情報で指定される波源とをモーメント法の連立方程式に
代入し、それを解くことで各要素に流れる電流を求める
ことになる。
【0014】すなわち、金属対象物を扱うときには、金
属部分を解析対象としてメッシュ化し、メッシュ化した
金属要素間の相互インピーダンスZijを求め、この相互
インピーダンスZijと、波源Vi と、メッシュ化した金
属要素に流れる電流Ii との間に成立するモーメント法
の連立方程式 〔Zij〕〔Ii 〕=〔Vi 〕 を解くことで電流Ii を求めて、この結果から電磁界強
度を算出する方法を採っている。「〔 〕」はマトリッ
クスを表している。
【0015】ここで、メッシュに、抵抗やコンデンサや
インダクタンスが存在するときには、それらは、そのメ
ッシュの自己インピーダンス成分に加わることになる。
ところで、電気回路装置では、高密度実装を実現する場
合、電源層とグランド層と信号層とが絶縁物を介して層
構造で配設される多層プリント板を実装することが多
い。
【0016】図26はこのような多層プリント板(多層
基板)の例の説明図である。同図(a) に示すように、こ
の例では9つの層が積層されて、多層プリント板が構成
されている。この9つの層は、上から順に第1の信号層
50、ガラスエポキシ等で構成される第1のコア材5
1、厚み調整などのために絶縁材で構成される第1のプ
リプレグ52、電源層53、第2のコア材54、グラン
ド層55、第2のプリプレグ56、第3のコア材57、
および第2の信号層58の順で積層されている。
【0017】第1の信号層50、および第2の信号層5
8は、図26(b) に示すように銅箔等の金属で構成され
る回路パターンを実装するものであり、その上にチップ
部品等の回路部品が配置されることにより、電子回路が
実装される。この電子回路と電源層53やグランド層5
5との間には、ビアと呼ばれ、層間を電気的に接続する
ための穴が用意されており、このビアを介して電子回路
側に電源やアースが供給される。
【0018】このように多層プリント板の信号層には電
子回路が実装され、この電子回路から強い電磁界強度を
持つ電磁波が放射されることになる。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】このように従来では、
多層基板から放射される電磁波の解析装置においては、
電子回路の回路パターンが主要な電磁波の放射源として
考えられ、解析が行われていた。しかしながら実際に
は、パターンからの放射に加えて、電源層およびグラン
ド層からの電磁波の放射が無視できないことが明らかと
なってきた。このため電源層、およびグランド層の影響
を考慮した放射電磁波の解析が不可欠となっている。
【0020】このように電源層やグランド層からの電磁
波の放射が無視できないにもかかわらず、従来は電源層
とグランド層の適切なモデルが存在せず、放射される電
磁波の正しい解析を行うことができないという問題点が
あった。また例えばCMOSドライバICなどを使用し
た場合に、電源および負荷を流れる電流が、どのような
状態で電源層やグランド層に流れ込むかを求める方法が
なく、電磁波を放射する電流の電流分布を正しく求める
ことができないとう問題点もあった。
【0021】本発明は、波源および負荷を流れる電流が
電源層、グランド層に流れ込む状態を定量的に解析でき
るモデル化手法を確立することにより、電源層、グラン
ド層から放射される電磁波を含めて、多層基板から放射
される電磁波の電磁界強度を正確に算出できる電磁波解
析装置を提供することを目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理構成
ブロック図である。同図は、多層基板から放射される電
磁波を解析する、多層基板からの放射電磁波解析装置の
原理構成ブロック図である。
【0023】図1において信号層電流分布計算手段1は
信号層、すなわちパターンを流れる電流の電流分布を、
分布定数線路近似法、または伝送線路解析法によって求
めるものである。
【0024】多層基板電流分布計算手段2は、信号層電
流分布計算手段1によって求められた電流分布に基づい
て、モーメント法を用いて多層基板全体の電流分布を計
算するものである。
【0025】電磁界強度計算手段3、多層基板電流分布
計算手段2によって求められた電流分布に基づいて、多
層基板から放射される電磁波の電磁界強度を計算するも
のである。
【0026】本発明において信号層を流れる電流の電流
分布を分布定数線路近似法によって求める場合には、ま
ず波源の電流が求められ、波源の電流が例えばCMOS
ICドライバからの電流である場合には、ICドライ
バのデューティ比に対応する2つの矩形波が求められた
波源の電流に乗算されて、波源の電流が2つに分割さ
れ、それぞれ電源層と信号層、グランド層と信号層との
間に電流源として挿入される。
【0027】信号層電流分布計算手段1によって求めら
れた分布定数線路上の電流分布に基づいて、多層基板全
体の電流分布、すなわち電源層とグランド層の間を含む
多層基板全体の電流分布がモーメント法によって計算さ
れる。
【0028】以上のように本発明においては、波源およ
び負荷を流れる電流が電源層やグランド層に流れ込む状
態を定量的に解析できるモデル化が行われ、パターンを
流れる電流分布が分布定数線路近似法によって求められ
た後に、電源層とグランド層の間を含む多層基板全体の
解析がモーメント法によって行われる。これによって解
析規模が現実的となり、尚且つ高精度な結果を得ること
ができる。
【0029】
【発明の実施の形態】図2は本発明が対象とする多層基
板モデルの全体図である。同図において図26の電源層
53に相当するVCC平面10と、グランド層55に相当
するGND平面11との間には、第2のコア材54に相
当する誘電体12が挿入されている。また例えば第1の
信号層50に相当する信号パターン上の電流は、分布定
数線路13を流れる電流として表されている。
【0030】また電源層とグランド層の間のモデル化形
式としては、本発明者等がすでに特許出願中のモデル化
形式である金属パッチとコンデンサ負荷による3次元格
子モデル、または金属パッチと誘電体パッチによるモデ
ルなどが用いられる。これらのモデルについては後述す
る。
【0031】ここで信号層の電流を分布定数線路モデル
を用いて求めることができる理由について説明する。一
般に信号層の電流はリターン時に平面上を分布して流れ
るが、リターン時の線路も、電気影像法を用いることに
よって1本の導線によって近似することが可能となり、
その結果、信号層を流れる電流を分布定数線路近似によ
って求めることができる。
【0032】図2において分布定数線路13の入力端の
電流、すなわち波源の電流i3 は、電源層からの電流を
示す電流源i1 と、グランド層からの電流を表す電流源
2とに分割される。図3はこの分割理由の説明図であ
る。図3において分布定数線路13の入力電圧はCMO
S IC15の出力電圧として与えられ、その出力電圧
がHレベルのときに分布定数線路13に入力される電流
はi1 、出力がLレベルのときに分布定数線路13に入
力される電流はi2 となる。なお図2において、信号パ
ターンとグランド層(GND平面)との間に流れる電流
は電流源i2 の方向と逆方向になるが、ここでは電流源
2 の方向を図2のように仮定している。
【0033】図2の全体モデルにおける電磁波解析の方
式について図4〜図6を用いて説明する。図4は分布定
数線路近似法を用いる波源の電流i3 の求め方と、電流
3の2つの電流源i1 およびi2 への分割の説明図で
ある。同図においてまず分布定数回路解析によって波源
を流れる電流i3 が求められる。この時分布定数線路の
出力端(負荷端)におけるグランド層との間の負荷イン
ピーダンスZL はモーメント法によって計算される。そ
の後、ICドライバに対するデューティ比に対応する矩
形波を波源の電流i3 に乗算することによって、2つの
電流源i1 とi 2 の波形が求められる。
【0034】これに対して、パターンを流れる電流をS
PICEなどの回路解析ツールを用いて求める場合に
は、i1 およびi2 が直接に求められ、波源の電流i3
はそれらの和として求められる。このような回路解析ツ
ールは伝送線路解析法によって電流を求めるものであ
る。
【0035】図5はパターン上の電流分布計算の説明図
である。同図においては、図4で求められた波源の電流
3 を電流源として、分布定数線路13上の電流分布、
すなわちパターン上の電流分布が計算され、分布定数線
路13の出力端における電流i4 も求められる。
【0036】図6は多層基板全体の電流分布、すなわち
電源層とグランド層の間を含む多層基板全体の電流分布
の計算法の説明図である。同図においては、図5で求め
られた電流分布が多層基板の内部にあらかじめ存在する
電流として扱われ、多層基板の他の部分に流れる電流が
モーメント法によって計算される。
【0037】図7および図8は、図4〜図6に対応する
本発明における全体処理フローチャートである。これら
の図の各ステップにおける処理の詳細については、必要
に応じて後述する。図7において信号パターン上の電子
回路が線形回路の場合には、分布定数線路解析としてス
テップS1〜S3の処理が行われ、非線形回路の場合に
はステップS4の処理が行われる。なおステップS4の
処理は線形回路の場合でも可能である。
【0038】ステップS1において、分布定数回路理論
を用いて波源の電流、すなわち伝送線路への出力電流i
3 の高調波成分I3 (f0 )、I3 (2f0 ),・・
・,I 3 (nf0 )が求められる。ここでf0 は電流i
3 の基本波の周波数である。続いてステップS2でこれ
らの高調波成分が逆にフーリエ変換されて電流i3 が求
められ、ステップS3でi3 にICドライバのオン/オ
フデューティ比によって決まる矩形波D1 およびD2
乗算されて、2つの電流源の電流i1 およびi2が求め
られる。
【0039】一方ステップS4では、信号パターンとし
ての電子回路が線形であっても非線形であっても、例え
ば回路解析ツールとしてSPICEが用いられ、電源か
らドライバへの電流i1 およびグランドへの電流i2
直接に求められ、それらの和として波源の電流i3 が求
められる。
【0040】ステップS1〜S3、またはS4の処理の
後に、ステップS5で3つの電流i 1 ,i2 ,i3 のフ
ーリエ変換が行われ、それぞれの電流の高調波成分が求
められる。ここで線形回路の場合には、波源の電流i3
に対する高調波成分はすでにステップS1で求められて
いる。
【0041】図8においては、図7のステップS5で求
められた各高調波成分に対して電流の計算と、放射され
る電磁界強度の計算が行われる。ここでは高調波の次数
がnに達するまで電流の計算が行われ、その後放射され
る電磁界強度の計算が行われる。
【0042】すなわちステップS6で高調波の次数がn
以下であると判定されると、ステップS7で分布定数線
路の負荷端、すなわち出力端b−b′から電源層とグラ
ンド層の間を見た時の入力インピーダンスZin2 がモー
メント法によって求められ、ステップS8で分布定数線
路全体の入力インピーダンスZin1 が求められ、ステッ
プS9で分布定数線路の入力端a−a′と負荷端b−
b′の間の線路上の電流分布が求められ、ステップS1
0で電流i1 ,i2 、および分布定数線路上の電流分布
を多層基板内にすでに存在する電流源として、電源層お
よびグランド層を含めた多層基板全体に流れる電流がモ
ーメント法によって計算される。
【0043】計算対象の高調波の次数(nまで)に対し
てステップS7〜S10の処理が終了すると、ステップ
S6で高調波の次数がnを越えたと判定され、ステップ
S11で指定された観測点や周波数に対して電磁界強
度、すなわち電界強度と磁界強度が計算される。
【0044】図7および図8の各ステップの処理につい
て以下でさらに説明する。図9はステップS1、および
S2における波源の電流i3 の求め方の説明図である。
同図においてドライバや負荷が線形の場合には、分布定
数回路理論によって波源の各高調波電流を求めることが
できる。
【0045】図9においてまず電源電圧v(t) がフーリ
エ変換され、高調波成分V(f0 )、V(2f0 ),・
・・,V(nf0 )が求められる。これらの各高調波電
圧成分に対して、分布定数線路13の始点から見たイン
ピーダンスZins を用いて、高調波電流分布I3 (kf
0 )が次式によって求められる。なおv(t) は図3で説
明したCMOS IC15の出力波形である。
【0046】
【数1】
【0047】求められた波源の電流i3 の各高調波成分
がフーリエ逆変換されて、電流i3が求められる。図1
0は波源の電流i3 の2つの電流源i1 、およびi2
の分割方法の説明図である。同図に示すように、波源の
電流i3 の波形に対してICドライバのデューティ比に
対応する矩形波D1 、およびD2 が乗算され、電源から
ドライドに流れる電流i1 と、グランド側に流れる電流
2 が求められる。なおここではICドライバに対する
デューティ比をオン0.4、オフ0.6としているが、
このデューティ比は当然任意に決定することができる。
【0048】このようにして求められた電流i1 、およ
びi2 は、図7のステップS5で説明したようにフーリ
エ変換されて、それぞれの電流の高調波成分が求められ
る。図7の処理が終了すると、図8のステップS7〜S
10において電流の計算が行われるが、これらの処理に
先立ってまず図11に示すように分布定数線路13の入
力端子a−a′、負荷端子b−b′の部分を入力インピ
ーダンスと電流源に置き換える処理が行われる。この図
において電流源i3 は波源の電流、i4 は伝送線路の出
力端の出力電流、すなわち負荷への電流、Zin1 は分布
定数線路13全体の入力インピーダンス、Zin2 は分布
定数線路の出力端から負荷側を見たインピーダンスであ
る。入力インピーダンスと電流源を流れる電流はそれぞ
れ互いに打ち消されるために、放射電磁波に対する寄与
は無視することができ、端子a−a′では電流i3 が、
またb−b′ではi4 がそれぞれ連続的に流れている状
態と等価になる。これらの入力インピーダンスなどを以
下のようにして求める。
【0049】図12は負荷端での入力インピーダンスZ
in2 の求め方の説明図である。同図において、分布定数
線路13の出力端子b−b′から負荷側を見た入力イン
ピーダンスZin2 は、任意の電圧Va を端子b−b′に
加えてモーメント法によって電流Ia を求めることによ
り、次式によって計算される。
【0050】Zin2 =Va /Ia 図13は分布定数線路13全体のインピーダンス、すな
わち端子a−a′から見た入力インピーダンスの計算法
の説明図である。同図に示すように図12で求められた
負荷端の入力インピーダンスZin2 を用いてZin1 は次
式によって計算される。
【0051】
【数2】
【0052】以上によって図8のステップS8までの処
理が終了し、続いてステップS9の処理が行われる。図
14はこの分布定数線路上の電流分布の求め方の説明図
である。同図において、分布定数線路の入力端子a−
a′に電流源i3 が接続され、まず入力端子からxの距
離における電圧Vx が計算され、その値を用いてその点
における電流値Ix が次式によって計算される。
【0053】
【数3】
【0054】続いて図8のステップS10で多層基板全
体の電流分布が計算される。図15はこの電流分布の計
算法の説明図である。同図に示すようにI1 ,I2 、お
よび分布定数線路上の電流分布を多層基板内にすでに存
在する電流源として、モーメント法によって多層基板内
の電流分布が、電源層やグランド層に流れる電流を含め
て計算される。
【0055】このようにモーメント法を用いて電流を求
める場合には、一般に電流源を電圧源に変換して電流分
布が求められる。例えば図11で説明した電流源i3
およびi4 についても、電圧源への変換が行われる。図
16はこの変換の説明図である。同図に示すように、例
えば電流源i3 は接続されているワイヤの自己インピー
ダンスより十分に大きな値の抵抗Rを用いて、次式によ
って与えられる電圧源v3 に変換される。なおRの値と
しては、実験によれば1〜 100MΩの範囲であれば差し
支えないことが明らかとなっている。
【0056】v3 =R・i3 最後に図8のステップS11において電磁界の放射強度
が計算されて、処理を終了する。
【0057】続いて図2で説明した電源層とグランド層
の間のモデル化について、図17〜図19を用いて説明
する。図17は多層基板の電源層、およびグランド層の
メッシュ分割の説明図である。同図に示すように、多層
基板の電源層21は長方形の金属パッチ23に分割さ
れ、またグランド層22は同じ長方形状の金属パッチ2
4に分割される。
【0058】図18は電源層とグランド層との間に設け
られる導電性パッチの説明図である。まず(a) に示すよ
うに電源層21を分割するメッシュの区画単位線25毎
に、それらの区画単位線25からグランド層22に向け
て互いに接続されない形式で、長方形状の導電性パッチ
26が直立して設けられる。また(b) に示すようにグラ
ンド層22を分割するメッシュの区画単位線毎に、それ
らの区画単位線27から電源層21に向けて互いに接続
されない形式で、また対となる電源層21の導電性パッ
チ26とわずかな隙間を持って長方形状の導電性パッチ
28が直立して設けられる。
【0059】図19は誘電体モデルの説明図である。同
図(a) では、図18で説明した2つの導電性パッチ26
と28との間にコンデンサ29が接続される。このコン
デンサ29の容量は、電源層21とグランド層22との
間に挿入される誘電体が形成するコンデンサの容量を
C、対となる導電性パッチ26と28との組の数をNと
する時、C/Nで決定される。
【0060】また電源層21とグランド層22との間に
挿入される誘電体の誘電体損を考慮する場合には、図1
9(b) に示されるようにコンデンサ29に対して抵抗R
とインダクタンスLとが直列に接続されたモデルが用い
られる。
【0061】以上のように電源層とグランド層とをそれ
ぞれメッシュに分割し、更に電源層とグランド層との間
を導電性パッチ26や28を用いて表す理由は、長方形
状の金属パッチに流れる電流の向きが長方形の辺と平行
になり、誘電体の内部の電気力線の方向が導電性パッチ
26および28に流れる電流の方向と一致するためであ
る。すなわち電源層21からグランド層22に向かう電
流の向きが電気力線の方向、すなわち誘電体を流れる変
位電流の向きと一致するようになるためである。
【0062】図20、および図21は本発明による電界
強度算出結果の一例を示す。図20は本発明を適用しな
い場合の結果である。同図は多層基板から距離が3m
で、高さが1mの点において、アンテナを 360度回転さ
せた時の電界の最大値のスペクトラムを示し、実測結果
の◇印と計算結果の棒グラフの高さにかなり差があるこ
とが分かる。
【0063】図21は本発明を適用した場合の計算結果
を示す。図20と比較すると、実測値と計算値がよく一
致していることが分かる。最後に本発明の電磁波解析装
置を実現するコンピュータシステムの構成と、そのよう
なコンピュータシステムにおける電磁波解析のためのプ
ログラムの記憶媒体からのローディングについて、図2
2および図23を用いて説明する。
【0064】図22は電磁波解析装置を実現するための
コンピュータシステムの構成ブロック図である。同図に
おいてコンピュータシステムは、全体を制御する中央処
理装置(CPU)31、多層基板の構造データなどが格
納されるメモリ32、本発明の電磁波解析方法を実現す
るためのプログラムや、必要に応じてSPICEなどの
回路解析プログラムが、CPU31による実行のために
一時的に格納される主記憶33、多層基板構造データな
どの入出力のための入出力装置34、例えばネットワー
クを介して入出力される多層基板構造データなどを送受
信するための通信制御装置35から構成されている。
【0065】図23は電磁波解析のためのプログラムの
コンピュータへのローディングの説明図である。同図に
おいて、コンピュータ40は本体41とメモリ42とか
ら構成されており、本体41に対しては可搬型記憶媒体
44からプログラムなどをロードすることも、またプロ
グラム提供者側からネットワーク43を介してプログラ
ムなどをロードすることも可能である。
【0066】本発明の特許請求の範囲の請求項9に記載
されているプログラムや、図7、図8のフローチャート
に示されているプログラムなどは、例えばメモリ42に
格納され、そのプログラムが本体41によって実行され
る。ここでメモリ42としては、例えばランダムアクセ
スメモリ(RAM)、またはハードディスクなどが用い
られる。
【0067】また電磁波解析のためのプログラムなど
は、可搬型記憶媒体44に記憶され、コンピュータ40
にそのプログラムをロードすることによって電磁波解析
を行うことも可能である。この可搬型記憶媒体44とし
てはメモリカード、フロッピィディスク、CD−ROM
(コンパクトディスクリードオンリメモリ)、光ディス
ク、光磁気ディスクなど市販され、流通可能な任意の記
憶媒体を用いることができる。更に電磁波解析のための
プログラムなどは、プログラム提供者側からネットワー
ク43を介してコンピュータ40側に送られ、そのプロ
グラムがロードされることによって電磁波解析を実現す
ることも可能である。
【0068】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
ればパターンの電流分布を分布定数線路近似法を用いて
求め、その結果を電源層とグランド層の間のモデルを含
む多層基板全体とモーメント法によって結合することに
より、パターン部分を計算要素に細かく分割することな
く計算を行うことができ、解析規模がより現実的とな
り、電磁波解析のための計算を高速、かつ高精度に行う
ことが可能となり、電波規制に対する対策が容易とな
り、電気回路装置の性能向上に寄与するところが大き
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理構成ブロック図である。
【図2】本発明が対象とする多層基板のモデルの全体図
である。
【図3】図2のモデルにおける波源の電流i3 の分割の
説明図である。
【図4】図2のモデルにおける波源の電流i3 の求め方
の説明図である。
【図5】図2のモデルにおけるパターン上の電流分布の
計算方法の説明図である。
【図6】図2のモデルにおける多層基板全体の電流分布
の計算方法の説明図である。
【図7】電磁波解析の全体処理フローチャート(その
1)である。
【図8】電磁波解析の全体処理フローチャート(その
2)である。
【図9】分布定数線路における波源の電流i3 の計算方
法を説明する図である。
【図10】波源の電流i3 の2つの電流源への分割方法
を説明する図である。
【図11】分布定数線路の入力端子と負荷端子における
電流源と入力インピーダンスの挿入の説明図である。
【図12】分布定数線路の負荷端子における入力インピ
ーダンスの計算方法の説明図である。
【図13】分布定数線路の入力端子における入力インピ
ーダンスの計算方法の説明図である。
【図14】分布定数線路上の電流分布の計算方法の説明
図である。
【図15】多層基板全体の電流分布の計算方法の説明図
である。
【図16】モーメント法を使用する場合の電流源の電圧
源への変換方法の説明図である。
【図17】電源層とグランド層のメッシュ分割を説明す
る図である。
【図18】電源層とグランド層との間に設けられる導電
性パッチを説明する図である。
【図19】電源層とグランド層の間の誘電体に対するモ
デルの説明図である。
【図20】本発明を適用しない場合の電界スペクトラム
の計算結果を示す図である。
【図21】本発明を適用した場合の電界スペクトラムの
計算結果を示す図である。
【図22】本発明の電磁波解析装置を実現するコンピュ
ータシステムの構成を示すブロック図である。
【図23】電磁波解析プログラムのコンピュータシステ
ムへのローディングを説明する図である。
【図24】微小ループアンテナ近似法の説明図である。
【図25】分布定数線路近似法の説明図である。
【図26】多層基板の構造の例を示す図である。
【符号の説明】
1 信号層電流分布計算手段 2 多層基板電流分布計算手段 3 電磁界強度計算手段 10 VCC平面 11 グランド平面 13 分布定数線路 15 CMOS IC 21 電源層 22 グランド層 23,24,26,28 導電性パッチ 29 コンデンサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI G06F 15/20 D

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 多層基板から放射される電磁波を解析す
    る装置において、 信号層を流れる電流の電流分布を、分布定数線路近似法
    または伝送線路解析法によって求める信号層電流分布計
    算手段と、 該信号層電流分布計算手段によって求められた電流分布
    に基づいて、モーメント法を用いて多層基板全体の電流
    分布を計算する多層基板電流分布計算手段と、該計算さ
    れた多層基板全体の電流分布に基づいて、多層基板から
    放射される電磁波の電磁界強度を計算する電磁界強度計
    算手段とを備えることを特徴とする多層基板からの放射
    電磁波解析装置。
  2. 【請求項2】 前記信号層電流分布計算手段が、信号層
    における波源の電流を、それぞれ電源層との間、および
    グランド層との間に流れる電流によって構成される電流
    として求めることを特徴とする請求項1記載の多層基板
    からの放射電磁波解析装置。
  3. 【請求項3】 前記信号層電流分布計算手段が、信号層
    における波源の電流を2つに分割して、電源層と信号
    層、グランド層と信号層との間にそれぞれ電流源として
    挿入し、前記信号層を流れる電流の電流分布を計算する
    ことを特徴とする請求項2記載の多層基板からの放射電
    磁波解析装置。
  4. 【請求項4】 前記信号層電流分布計算手段が、前記信
    号層における波源の電流の分割のために、信号層におけ
    るICドライバから出力される電流に該ICトライバに
    対するデューティ比に対応する矩形波を乗じて、前記そ
    れぞれの電流源を求めることを特徴とする請求項3記載
    の多層基板からの放射電磁波解析装置。
  5. 【請求項5】 前記信号層電流分布計算手段が、前記I
    Cドライバに対するデューティ比に対応する矩形波を乗
    じて求められたそれぞれの電流源をフーリエ変換して、
    前記ICドライバのスイッチングの影響を周波数領域で
    求めることを特徴とする請求項4記載の多層基板からの
    放射電磁波解析装置。
  6. 【請求項6】 前記信号層電流分布計算手段が、前記多
    層基板内で前記分布定数線路近似法または伝送線路解析
    法の適用部分と、前記多層基板電流分布計算手段による
    モーメント法の適用部分とがリンクされる接続端子に、
    該接続端子から負荷側を見込んだ入力インピーダンスと
    該接続端子に流れる電流に相当する電流源とを挿入する
    ことを特徴とする請求項1記載の多層基板からの放射電
    磁波解析装置。
  7. 【請求項7】 前記多層基板電流分布計算手段が、前記
    多層基板内でモーメント法を適用する部分に対する駆動
    電流源を内部インピーダンスが無限大に近い電圧源に変
    換して、前記多層基板全体の電流分布を計算することを
    特徴とする請求項1記載の多層基板からの放射電磁波解
    析装置。
  8. 【請求項8】 多層基板から放射される電磁波を解析す
    る方法において、 信号層を流れる電流の電流分布を分布定数線路近似法、
    または伝送線路解析法によって求め、 該求められた信号層を流れる電流の電流分布に基づい
    て、モーメント法を用いて多層基板全体の電流分布を計
    算し、 該多層基板全体の電流分布に基づいて、多層基板から放
    射される電磁波の電磁界強度を計算することを特徴とす
    る多層基板からの放射電磁波解析方法。
  9. 【請求項9】 多層基板から放射される電磁波を解析す
    る計算機において使用される記憶媒体であって、 信号層を流れる電流の電流分布を分布定数線路近似法、
    または伝送線路解析法によって求めさせる機能と、 該求められた信号層を流れる電流の電流分布に基づい
    て、モーメント法によって多層基板全体の電流分布を計
    算させる機能と、 該多層基板全体の電流分布に基づいて、多層基板から放
    射される電磁波の電磁界強度を計算させる機能とを備え
    るプログラムを格納した計算機読出し可能記憶媒体。
JP25549697A 1997-09-19 1997-09-19 多層基板からの放射電磁波解析装置 Withdrawn JPH1194889A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25549697A JPH1194889A (ja) 1997-09-19 1997-09-19 多層基板からの放射電磁波解析装置
US09/045,706 US6129459A (en) 1997-09-19 1998-03-23 Apparatus for analyzing radiating electromagnetic wave from multilayer substrate
DE19816192A DE19816192A1 (de) 1997-09-19 1998-04-14 Gerät zum Analysieren von sich von einem Mehrschichtsubstrat ausbreitenden elektromagnetischen Wellen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25549697A JPH1194889A (ja) 1997-09-19 1997-09-19 多層基板からの放射電磁波解析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1194889A true JPH1194889A (ja) 1999-04-09

Family

ID=17279568

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25549697A Withdrawn JPH1194889A (ja) 1997-09-19 1997-09-19 多層基板からの放射電磁波解析装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6129459A (ja)
JP (1) JPH1194889A (ja)
DE (1) DE19816192A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6546528B1 (en) 1999-04-21 2003-04-08 Nec Corporation System and method for evaluation of electric characteristics of printed-circuit boards
US7027941B2 (en) 2003-06-05 2006-04-11 Fujitsu Limited Device and method for calculating electro-magnetic field intensity by cooperation of circuit analyses and electro-magnetic wave analyses
JP2007249533A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Fujitsu Ltd クロストーク解析プログラム、記録媒体、クロストーク解析方法およびクロストーク解析装置
JP2016143082A (ja) * 2015-01-29 2016-08-08 富士通株式会社 算出プログラム、算出装置および算出方法
JP2022071358A (ja) * 2020-10-28 2022-05-16 富士通株式会社 機械学習プログラム,情報処理装置および機械学習方法

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3363808B2 (ja) * 1998-11-24 2003-01-08 富士通株式会社 シミュレーション装置及び方法並びにプログラム記録媒体
JP2000214191A (ja) * 1999-01-27 2000-08-04 Fujitsu Ltd シミュレ―ション装置及び方法並びにプログラム記録媒体
US6397171B1 (en) * 1999-04-01 2002-05-28 Agere Systems Guardian Corp. Method and apparatus for modeling electromagnetic interactions in electrical circuit metalizations to simulate their electrical characteristics
JP4001449B2 (ja) * 2000-03-08 2007-10-31 松下電器産業株式会社 不要輻射解析方法
US6711511B2 (en) * 2000-07-06 2004-03-23 Fujitsu Limited Electromagnetic wave analyzing apparatus and computer readable storage medium
US6759850B2 (en) * 2001-03-28 2004-07-06 Orbotech Ltd. System and method for non-contact electrical testing employing a CAM derived reference
DE10305520A1 (de) * 2003-02-11 2004-08-19 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Dämpfung von Hohlraumresonanzen in einer mehrschichtigen Trägereinrichtung
CA2448578A1 (en) * 2003-11-07 2005-05-07 Paul Mack Semiconductor device
USD511332S1 (en) 2004-01-09 2005-11-08 Vitito Christopher J Overhead entertainment console
USD510329S1 (en) * 2004-01-09 2005-10-04 Vitito Christopher J Overhead entertainment console
JP4499781B2 (ja) * 2005-03-28 2010-07-07 富士通株式会社 電磁界強度算出方法、電磁界強度算出装置、制御プログラム
CN103345578A (zh) * 2013-06-27 2013-10-09 国家电网公司 基于投影变换的输电线路行波计算方法
CN104375012A (zh) * 2014-11-21 2015-02-25 南京信息工程大学 一种闪电瞬态三维电场测试传感器
CN104808088A (zh) * 2015-05-05 2015-07-29 云南电网有限责任公司电力科学研究院 一种基于雷电定位系统记录与线路行波数据的雷电绕击与反击识别方法
US11416657B2 (en) * 2020-03-20 2022-08-16 Sonnet Software, Inc. Method for simulating vertically oriented current in a structure

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4649417A (en) * 1983-09-22 1987-03-10 International Business Machines Corporation Multiple voltage integrated circuit packaging substrate
CA1286724C (en) * 1986-03-27 1991-07-23 Richard Ralph Goulette Method and apparatus for monitoring electromagnetic emission levels
US4954929A (en) * 1989-08-22 1990-09-04 Ast Research, Inc. Multi-layer circuit board that suppresses radio frequency interference from high frequency signals
JP3091815B2 (ja) * 1994-02-25 2000-09-25 富士通株式会社 電磁界強度算出装置
JP2768900B2 (ja) * 1994-05-10 1998-06-25 富士通株式会社 電磁界強度算出装置
JP3428232B2 (ja) * 1995-06-16 2003-07-22 富士通株式会社 電磁界強度算出装置
JPH09112632A (ja) * 1995-10-20 1997-05-02 Mazda Motor Corp 車両用パワープラントのマウント装置
US5903477A (en) * 1996-04-10 1999-05-11 Fujitsu Limited Simulation apparatus and simulation method for electromagnetic field intensity using moment method

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6546528B1 (en) 1999-04-21 2003-04-08 Nec Corporation System and method for evaluation of electric characteristics of printed-circuit boards
US7120893B2 (en) 1999-04-21 2006-10-10 Nec Corporation System and method for evaluation of electric characteristics of printed-circuit boards
US7027941B2 (en) 2003-06-05 2006-04-11 Fujitsu Limited Device and method for calculating electro-magnetic field intensity by cooperation of circuit analyses and electro-magnetic wave analyses
JP2007249533A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Fujitsu Ltd クロストーク解析プログラム、記録媒体、クロストーク解析方法およびクロストーク解析装置
JP2016143082A (ja) * 2015-01-29 2016-08-08 富士通株式会社 算出プログラム、算出装置および算出方法
JP2022071358A (ja) * 2020-10-28 2022-05-16 富士通株式会社 機械学習プログラム,情報処理装置および機械学習方法

Also Published As

Publication number Publication date
US6129459A (en) 2000-10-10
DE19816192A1 (de) 1999-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH1194889A (ja) 多層基板からの放射電磁波解析装置
JP3501674B2 (ja) プリント回路基板特性評価装置、プリント回路基板特性評価方法、及び記憶媒体
US5566083A (en) Method for analyzing voltage fluctuations in multilayered electronic packaging structures
US6870436B2 (en) Method and apparatus to attenuate power plane noise on a printed circuit board using high ESR capacitors
US20030072130A1 (en) Methods for modeling interactions between massively coupled multiple vias in multilayered electronic packaging structures
Wu et al. Accurate power supply and ground plane pair models [for MCMs]
JP2001318961A (ja) 設計支援ツール及び設計支援方法
Stumpf et al. Efficient 2-D integral equation approach for the analysis of power bus structures with arbitrary shape
Erdin et al. Circuit analysis of electromagnetic radiation and field coupling effects for networks with embedded full-wave modules
Fan et al. Modeling DC power-bus structures with vertical discontinuities using a circuit extraction approach based on a mixed-potential integral equation
JP2000511709A (ja) 回路シミュレーション
Li et al. FD-TD analysis of electromagnetic radiation from modules-on-backplane configurations
Daijavad et al. Modeling common-mode radiation of 3D structures
JP2001506391A (ja) 時間領域回路モデラー
JP2005534083A (ja) 複数の領域に高周波回路を設計するプロセス
Antonini et al. Equivalent network synthesis for via holes discontinuities
Schierholz et al. Engineering-informed design space reduction for PCB-based power delivery networks
Ji et al. EMAP 5: a 3 D hybrid FEM/MOM code
JPH10301977A (ja) 電磁界強度算出装置及び方法並びにプログラム記憶媒体
JPH0815348A (ja) 電磁気障害対策部品のsパラメータ測定方法及びsパラメータ測定装置並びに電磁気障害対策部品のsパラメータ測定に使用される測定治具
JPH10319069A (ja) モーメント法を用いたシミュレーション装置及びシミュレーション方法並びにプログラム記憶媒体
Hsu et al. Design of reflectionless vias using neural network-based approach
Wu et al. The effect of test system impedance on measurements of ground bounce in printed circuit boards
JP2006266833A (ja) 特性インピーダンス測定方法、特性インピーダンス測定装置及び特性インピーダンス算出プログラム
Stumpf Pulsed EM Field Computation in Planar Circuits: The Contour Integral Method

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20041207