JPS5810331A - 真空しや断器 - Google Patents
真空しや断器Info
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- JPS5810331A JPS5810331A JP10867981A JP10867981A JPS5810331A JP S5810331 A JPS5810331 A JP S5810331A JP 10867981 A JP10867981 A JP 10867981A JP 10867981 A JP10867981 A JP 10867981A JP S5810331 A JPS5810331 A JP S5810331A
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- Japan
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- electrode
- shield
- vacuum
- vacuum breaker
- copper
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は真空しゃ断器に係シ、特に耐電圧特性の向上を
図った真空しゃ断器に関する。
図った真空しゃ断器に関する。
従来、真空しゃ断器においてその耐電圧特性の向上を図
るため、シールドギャップや電極ギャップの増大、複合
シールドの採用によるギャップの分割化、シールド形状
の改良によるギャップ電界の均等化等の対策がとられて
いる。しかし、高電圧用の真空しゃ断器になると電極や
電極棒さらにはシールド等からの一次電子放射が増大し
、この−次電子は電界に加速されて電極棒やシールド等
の表面に衝突する。一方、真空容器内において金属蒸気
に曝される無酸素銅せたは通常の銅からなる電極や電極
棒等の構成部材は、加工時に発生する熱により表面に厚
さ数1OAの酸化被膜が形成されており、この酸化被膜
は10 Torr以下の真空中においてもOuOのアモ
ルファス(非結晶質)状態にあることが表面分析袋W(
オージェ電子分光、X線光電分子光等)により確認され
ている。このCuOは二次電子放出係数δ(放射二次電
子数/入射−次電子数)がδmax ) 1であるため
、前述した如く一次電子が無酸素銅−まだは通常の銅か
ら々る構成部材の表面に衝突するとこの一次電子の数よ
り多い二次電子が放出され、シールド間やシールドと電
極との間または電極間の真空ギャップを絶縁破壊に至ら
しめている。したがって、従来の真空しゃ断器において
はシールドの形状等を改良したとしても一定の大きさ以
上に耐電圧特性を向上することができなかった。
るため、シールドギャップや電極ギャップの増大、複合
シールドの採用によるギャップの分割化、シールド形状
の改良によるギャップ電界の均等化等の対策がとられて
いる。しかし、高電圧用の真空しゃ断器になると電極や
電極棒さらにはシールド等からの一次電子放射が増大し
、この−次電子は電界に加速されて電極棒やシールド等
の表面に衝突する。一方、真空容器内において金属蒸気
に曝される無酸素銅せたは通常の銅からなる電極や電極
棒等の構成部材は、加工時に発生する熱により表面に厚
さ数1OAの酸化被膜が形成されており、この酸化被膜
は10 Torr以下の真空中においてもOuOのアモ
ルファス(非結晶質)状態にあることが表面分析袋W(
オージェ電子分光、X線光電分子光等)により確認され
ている。このCuOは二次電子放出係数δ(放射二次電
子数/入射−次電子数)がδmax ) 1であるため
、前述した如く一次電子が無酸素銅−まだは通常の銅か
ら々る構成部材の表面に衝突するとこの一次電子の数よ
り多い二次電子が放出され、シールド間やシールドと電
極との間または電極間の真空ギャップを絶縁破壊に至ら
しめている。したがって、従来の真空しゃ断器において
はシールドの形状等を改良したとしても一定の大きさ以
上に耐電圧特性を向上することができなかった。
本発明は上述した問題に鑑みてなされたもので、その目
的とするところは、金属蒸気に曝される無酸素銅または
通常の銅からなる構成部材の表面に二次電子放出係数δ
をほぼ1とする被膜を形成することによって、耐電圧特
性の向上を図シ、ひいてはしゃ断能力の向上を図り得る
ようにした真空しゃ断器の提供にある。以下、図面を参
照してこの発明の実施例を詳細に説明する。
的とするところは、金属蒸気に曝される無酸素銅または
通常の銅からなる構成部材の表面に二次電子放出係数δ
をほぼ1とする被膜を形成することによって、耐電圧特
性の向上を図シ、ひいてはしゃ断能力の向上を図り得る
ようにした真空しゃ断器の提供にある。以下、図面を参
照してこの発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は本発明に係る真空しゃ断器の縦断面図である。
図において総括的に1で示すのは真空容器で、円筒状に
形成されたガラス捷たはセラミック等の無機絶縁物から
なる2本の絶縁筒2を、両端に植設した封着金具3,3
.・・・により同軸的に接合して1本の絶縁筒とすると
ともに、両端をステンレス鋼からなる円板状の金属端板
4,4により気密に閉塞し、かつ内部を高真空(1,0
Torr以下)に排気して形成されている。真空容器1
内には、その軸線上に位置して対向配置されるが如くし
て、無酸素銅または通常の銅からなる固定側の電極棒5
が一方(第1図において上方)の金属端板4の中央を貨
通しかつ気密に固着して導入されるとともに、この固定
側の電極棒5に対し図示しない操作装置により接近離反
される無酸素銅または通常の銅からなる可動側の電極棒
6が他方の金属端板4の中央をステンレス鋼からなるベ
ローズ7を介し気密を保持しつつ軸方向(第1図におい
て上下方向)へ移動自在に導入されており、各電極棒5
,6の内端部には、ビスマス等の添加物を含有せしめた
接点8’、9’を備えた無酸素銅または通常の銅からな
る電極8.9が取付けられている。
形成されたガラス捷たはセラミック等の無機絶縁物から
なる2本の絶縁筒2を、両端に植設した封着金具3,3
.・・・により同軸的に接合して1本の絶縁筒とすると
ともに、両端をステンレス鋼からなる円板状の金属端板
4,4により気密に閉塞し、かつ内部を高真空(1,0
Torr以下)に排気して形成されている。真空容器1
内には、その軸線上に位置して対向配置されるが如くし
て、無酸素銅または通常の銅からなる固定側の電極棒5
が一方(第1図において上方)の金属端板4の中央を貨
通しかつ気密に固着して導入されるとともに、この固定
側の電極棒5に対し図示しない操作装置により接近離反
される無酸素銅または通常の銅からなる可動側の電極棒
6が他方の金属端板4の中央をステンレス鋼からなるベ
ローズ7を介し気密を保持しつつ軸方向(第1図におい
て上下方向)へ移動自在に導入されており、各電極棒5
,6の内端部には、ビスマス等の添加物を含有せしめた
接点8’、9’を備えた無酸素銅または通常の銅からな
る電極8.9が取付けられている。
また、真空容器1内には、各電極棒5,6および電極8
,9等を同心状に囲繞するが如くしてほぼ円筒状の主シ
ールド10が、封着金具3,3に挾持された支持金具1
1を介し収納されている。主シールド10は、電極8,
9の接触離反(接離)によシ生ずる・金属蒸気や金属飛
沫等を有効に捕捉して絶縁筒2,2の内面汚損を防止す
るだめのもので、うず電流抑制のため通常ステンレス鋼
によシ形成されている。
,9等を同心状に囲繞するが如くしてほぼ円筒状の主シ
ールド10が、封着金具3,3に挾持された支持金具1
1を介し収納されている。主シールド10は、電極8,
9の接触離反(接離)によシ生ずる・金属蒸気や金属飛
沫等を有効に捕捉して絶縁筒2,2の内面汚損を防止す
るだめのもので、うず電流抑制のため通常ステンレス鋼
によシ形成されている。
なお、第1図において12.13はそれぞれの電極棒5
,6に取付けだ軸シールドとベローズシールド、また1
4.15は主シールド10の両端と同心状に重畳せしめ
て各金属端板4の内面に取付けた補助シールドで、各シ
ールド12.13.14.15は通常いずれもステンレ
ス鋼からなるものである。
,6に取付けだ軸シールドとベローズシールド、また1
4.15は主シールド10の両端と同心状に重畳せしめ
て各金属端板4の内面に取付けた補助シールドで、各シ
ールド12.13.14.15は通常いずれもステンレ
ス鋼からなるものである。
前記真空容器1内において金属蒸気等に曝される無酸素
銅または通常の銅から彦る各電極棒5゜6および電極8
,9の表面には、100A以上の厚さを有するCuzO
の被膜5a、5a、8a、9aがそれぞれ形成されてい
る。Cu、Oから々る各被膜5 a + 6 a +
8 a+ 9 aは、特にしゃ断時における一次電子の
入射に伴なう二次電子の放出数を−次電子の入射数とほ
ぼ同数に、換言すれば二次電子放出係数δをδmax≠
1にするだめのもので、真空雰囲気中におけるCu、、
、Oのスパッタリングやイオン蒸着、丑たはCu2Oの
被膜を形成すべくブレーティング(メッキ)したり、あ
るいは過酸化水素と硫酸との混合液中でのCu、、0被
膜の生成処理または清純な02雰囲気中において100
℃以下の温度で加熱してCu、 O被膜の生成処理を施
して形成される。
銅または通常の銅から彦る各電極棒5゜6および電極8
,9の表面には、100A以上の厚さを有するCuzO
の被膜5a、5a、8a、9aがそれぞれ形成されてい
る。Cu、Oから々る各被膜5 a + 6 a +
8 a+ 9 aは、特にしゃ断時における一次電子の
入射に伴なう二次電子の放出数を−次電子の入射数とほ
ぼ同数に、換言すれば二次電子放出係数δをδmax≠
1にするだめのもので、真空雰囲気中におけるCu、、
、Oのスパッタリングやイオン蒸着、丑たはCu2Oの
被膜を形成すべくブレーティング(メッキ)したり、あ
るいは過酸化水素と硫酸との混合液中でのCu、、0被
膜の生成処理または清純な02雰囲気中において100
℃以下の温度で加熱してCu、 O被膜の生成処理を施
して形成される。
上述した如<Cu2Oから彦る各被膜5a、6a。
Ba、gaを形成した場合と形成し々い場合の耐電圧特
性は、横軸に電極間距離、縦軸にせんら〈電圧をとった
第2図において、直線41口で示すようになった。した
がって、各被膜5a、6a。
性は、横軸に電極間距離、縦軸にせんら〈電圧をとった
第2図において、直線41口で示すようになった。した
がって、各被膜5a、6a。
Ba、gaをそれぞれの電極棒5,6と電極8゜9に形
成した場合には、耐電圧特性が約1.5倍向上すること
が判り、これはCu2Oの被膜の二次電子放出係数δが
δmax≠1であることにより電子増倍作用が低減され
たことによる。
成した場合には、耐電圧特性が約1.5倍向上すること
が判り、これはCu2Oの被膜の二次電子放出係数δが
δmax≠1であることにより電子増倍作用が低減され
たことによる。
がお、Cu2Oの被膜の生成はX線光電分光法により確
認されたものである。また、上述した実施例においては
、電極棒および電極を無酸素銅または通常の銅により形
成した場合について述べたが、これに限定されるもので
はなくたとえばシールド等も無酸素銅等により形成した
場合には、同様にCu、 Oの被膜がその表面に形成さ
れるものである。
認されたものである。また、上述した実施例においては
、電極棒および電極を無酸素銅または通常の銅により形
成した場合について述べたが、これに限定されるもので
はなくたとえばシールド等も無酸素銅等により形成した
場合には、同様にCu、 Oの被膜がその表面に形成さ
れるものである。
以上の如く本発明は、真空容器内に1対の電極を接離自
在に対向配置してなるものにおいて、前記真空容器内に
おいて金属蒸気に曝される銅からなる構成部材の表面に
Cu2Oの被膜を形成した真空しゃ断器であるから、二
次電子増倍作用が抑制されて各構成部材間における耐電
圧特性を向上することができるとともに、ひいてはしゃ
断能力を一層向上するととができる等の効果を奏する。
在に対向配置してなるものにおいて、前記真空容器内に
おいて金属蒸気に曝される銅からなる構成部材の表面に
Cu2Oの被膜を形成した真空しゃ断器であるから、二
次電子増倍作用が抑制されて各構成部材間における耐電
圧特性を向上することができるとともに、ひいてはしゃ
断能力を一層向上するととができる等の効果を奏する。
第1図は本発明に係る真空しゃ断器の縦断面図、第2図
は本発明に係る真空しゃ断器と従来のものとの耐電圧特
性の比較説明図である。 1・・・真空容器、5,6・・・電極棒、5a、6a・
・拳被膜、8.9・・・電極、Ba、ga・・・被膜。 第1図 5 4 / 0 8′ 、・ 3 9 t。
は本発明に係る真空しゃ断器と従来のものとの耐電圧特
性の比較説明図である。 1・・・真空容器、5,6・・・電極棒、5a、6a・
・拳被膜、8.9・・・電極、Ba、ga・・・被膜。 第1図 5 4 / 0 8′ 、・ 3 9 t。
Claims (1)
- 真空容器内に1対の電極を接離自在に対向配置してなる
ものにおいて、前記真空容器内において金属蒸気に曝さ
れる銅からなる構成部材の表面にOu、Oの被膜を形成
したことを特徴とする真空しゃ断器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10867981A JPS5810331A (ja) | 1981-07-10 | 1981-07-10 | 真空しや断器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10867981A JPS5810331A (ja) | 1981-07-10 | 1981-07-10 | 真空しや断器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5810331A true JPS5810331A (ja) | 1983-01-20 |
Family
ID=14490918
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10867981A Pending JPS5810331A (ja) | 1981-07-10 | 1981-07-10 | 真空しや断器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5810331A (ja) |
-
1981
- 1981-07-10 JP JP10867981A patent/JPS5810331A/ja active Pending
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