JPS58106945A - 光学読取装置のｍｔｆ測定方式 - Google Patents
光学読取装置のｍｔｆ測定方式Info
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- JPS58106945A JPS58106945A JP56205707A JP20570781A JPS58106945A JP S58106945 A JPS58106945 A JP S58106945A JP 56205707 A JP56205707 A JP 56205707A JP 20570781 A JP20570781 A JP 20570781A JP S58106945 A JPS58106945 A JP S58106945A
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- scanning
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１）発明の技術分野
本発明は線密度を変化させ丸線・くターノ七−収る光学
読取装置で解像度の評価にム賛な一走食力向のＭＴＦｏ
＃１定方式に関するものでめる。
読取装置で解像度の評価にム賛な一走食力向のＭＴＦｏ
＃１定方式に関するものでめる。
（２）従来技術と同一点
従来、光学読４Ｌ装置の解像度を評価する場合、ＭＴＩ
’Ｃモジュレーシ１／・トランスファ・７ア／クシ１ノ
）が用いられる。第１ｉｄ（ａ）に示すように、線密ｔ
ｏ変化する廁パターン１の印刷して６るデャート２を光
学系と続＊素子よル成る読取機構３で読取ｐ１出力され
る画家信号４をオシロスコープ等で１１！側する。この
場合、１１１Ｉｖ！１度が大きくなると検出され九振幅
が徐々に小さくなると−う塊確か起る。
’Ｃモジュレーシ１／・トランスファ・７ア／クシ１ノ
）が用いられる。第１ｉｄ（ａ）に示すように、線密ｔ
ｏ変化する廁パターン１の印刷して６るデャート２を光
学系と続＊素子よル成る読取機構３で読取ｐ１出力され
る画家信号４をオシロスコープ等で１１！側する。この
場合、１１１Ｉｖ！１度が大きくなると検出され九振幅
が徐々に小さくなると−う塊確か起る。
この振幅の標準振幅に対する比をとｎＭＴＦで表わす。
すなわち、線バター７１が十分小さ−一密嵐の線バター
７２１と大事い線密＊０＊パターン２２を含むものとす
ると、１ｓ１図中）に示すように、検出盛れた１１ｇ１
１信号ＯＳｍはそれぞれ地とＭとなル、ＭＴＦ／Ｉｉ次
式で求められる。
７２１と大事い線密＊０＊パターン２２を含むものとす
ると、１ｓ１図中）に示すように、検出盛れた１１ｇ１
１信号ＯＳｍはそれぞれ地とＭとなル、ＭＴＦ／Ｉｉ次
式で求められる。
ＭＴＦ冨Ｍ／ｈｉｓ
同−偽）紘主走査方肉■がパターン１の朦に直交するよ
うに走査するもので光学ａＳ俟装の主走査方向のＭＴＦ
を得る。
うに走査するもので光学ａＳ俟装の主走査方向のＭＴＦ
を得る。
しかし、第２＃Ａに）に示す主走査方向（２）に直交す
る副走査方向＠ｔ）ＭＴＦも偏置の解像能力を評価する
場合０１１件とし重要なもので弗る。この場合にはチャ
ート２をＨ１ｗＪ（ａ）の場合と直角において絖填ｐ１
ナンプリングツイン５に対応した画像信号をｌｌｌ１ｌ
なければならない。しかし、光学読取装置は基本的に主
走査方向［株］の一次元ｏｍ取りしかで自ないＯで、オ
シロス；−プ等で鎖側しうる画像信号は岡曙に）に示す
波形■、■、＠すなわちパターン２１．その間隔、パタ
ーン２２のそれでれに対するサンプリンダツイン５に対
応する部分ム１．ム１゜Ａｓ會會んでいる。しかしこの
ままではＭＴＦ（Ｄ算出は非常に内路でめった。
る副走査方向＠ｔ）ＭＴＦも偏置の解像能力を評価する
場合０１１件とし重要なもので弗る。この場合にはチャ
ート２をＨ１ｗＪ（ａ）の場合と直角において絖填ｐ１
ナンプリングツイン５に対応した画像信号をｌｌｌ１ｌ
なければならない。しかし、光学読取装置は基本的に主
走査方向［株］の一次元ｏｍ取りしかで自ないＯで、オ
シロス；−プ等で鎖側しうる画像信号は岡曙に）に示す
波形■、■、＠すなわちパターン２１．その間隔、パタ
ーン２２のそれでれに対するサンプリンダツイン５に対
応する部分ム１．ム１゜Ａｓ會會んでいる。しかしこの
ままではＭＴＦ（Ｄ算出は非常に内路でめった。
（３）発明の目的
本発明の目的は光学読取装置の副走査方向のＭＴＦｔ−
藺単にかつ確実に麹ｊ定する方式ｔ−虎供することであ
る。
藺単にかつ確実に麹ｊ定する方式ｔ−虎供することであ
る。
（４）発明の構成
ｍ１目的を２！！成する丸め、本発明の光学読取装置の
ＭＴＦｌｌｌｊ足方式は巌慴藏を変化させたーパターン
を光学系と光学読取素子よ構成るｄ取慎構によｐ−次元
の主走査方向の絖４Ｃルを行なう光学読取装置において
、主走査と直交する副走査方向のＭＴＦ轡性を測定する
丸め、主走査の一始時点から所定時間後ｌ１ｉｉ像信号
のサンプリングを行ない構出データをメモリに記憶する
ことを、各主走ｆ母にく１返し行ない、所定の走査回数
に遍し九時、前記メモリに記憶し九デーメ波ｆ＃を再生
し、咳波形からＭＴＦを算出することを特徴とするもの
で山 ある。
ＭＴＦｌｌｌｊ足方式は巌慴藏を変化させたーパターン
を光学系と光学読取素子よ構成るｄ取慎構によｐ−次元
の主走査方向の絖４Ｃルを行なう光学読取装置において
、主走査と直交する副走査方向のＭＴＦ轡性を測定する
丸め、主走査の一始時点から所定時間後ｌ１ｉｉ像信号
のサンプリングを行ない構出データをメモリに記憶する
ことを、各主走ｆ母にく１返し行ない、所定の走査回数
に遍し九時、前記メモリに記憶し九デーメ波ｆ＃を再生
し、咳波形からＭＴＦを算出することを特徴とするもの
で山 ある。
（〜発＠Ｏ実施例
第５図は本発明の実施例の構成説＠Ｊ４図である。
同図において、読取機構はＣＣＤ（電荷結合素子）イメ
ージセンナ等よ）成る絖＊素子３１．これに走査りｑツ
クｓ３とｉ＊龜開始信号６を供給する走査クロック発生
回路５２．およびし／ズ３４から構成されている。この
読取機構５からの出力は画像信号４と１１１１１Ｌ開始
償号６よハ０、画像信号４は波形記憶回路８に、ａ填開
始信号６はサンプリングパルス発生ｌａｌ路７に人力さ
れている。サンプリングパルス発生回路７の出力である
ｔンプリ／グパルス１０は液Ｓ記憶−路８に入力され、
波形記憶回路８の出力１５は波形Ｉｌ縛用の表示部９で
表示される。
ージセンナ等よ）成る絖＊素子３１．これに走査りｑツ
クｓ３とｉ＊龜開始信号６を供給する走査クロック発生
回路５２．およびし／ズ３４から構成されている。この
読取機構５からの出力は画像信号４と１１１１１Ｌ開始
償号６よハ０、画像信号４は波形記憶回路８に、ａ填開
始信号６はサンプリングパルス発生ｌａｌ路７に人力さ
れている。サンプリングパルス発生回路７の出力である
ｔンプリ／グパルス１０は液Ｓ記憶−路８に入力され、
波形記憶回路８の出力１５は波形Ｉｌ縛用の表示部９で
表示される。
この構成で、直堆機ｗ５０細走責方向■のＭＴＦｔａ５
ｉ！する場合を考える。鵞ず測定用チャート２を１示の
ように、サンプリングライン５と主走査方向００滝査１
８２５が直角になるように酸素、チャート２を副走査方
向＠４ＣＩＩｊＪかしながら読取素子３１で画像信号４
をｍ１ｉｉする。
ｉ！する場合を考える。鵞ず測定用チャート２を１示の
ように、サンプリングライン５と主走査方向００滝査１
８２５が直角になるように酸素、チャート２を副走査方
向＠４ＣＩＩｊＪかしながら読取素子３１で画像信号４
をｍ１ｉｉする。
１１１４図に）〜に）紘ＩＩ３図の実施例の一作波形図
でｈみ。
でｈみ。
同＃Ａ （ａ）は読取素子６１からＯ画像信号４を示す
。この波形にはサンプリングライン５上の線パターン上
の像に対応する信号Ａが含まれる。ま九走食クロック発
生回路６２から絖Ｊ＠開始信号６として同図中）のパル
スが出力される。同図（ｂ）のパルスは読取菓子３１が
ｄ！堆走査［２３の端点２４を絖取った時点を表わして
いる。このパルスに応じ、サンプリングパルス発生回路
７から同図（ｃ）の遅延パルスを発生する。この迩蝙パ
ルスのパルス輪Ｔは絖蝋慎構５が銃取走量［２３の端点
２４からす／ブリングライン５との交点ムまでを走査す
る時開となるように設定される。この−ＩＩＡ延パルス
の発生方法としては、ｉわゆる単安定マルチバイブレー
タ等が適当でｈる。サンプリングパルス発生回路７はさ
らに遅延パルスの立下ル時に１ＩｉＪ図（ｄ）のサンプ
リングパルス１０を発生する。波形記憶回ｗＩ＆８はこ
のサンプリングパルス１０によル、同図（＆）の−像便
号４ｔサンプリングし記憶することがで龜る。この−作
を１チヤート２を副走査方向■に勅かしながらく１返す
と、テンプリングライン５上の１ｌｉｉ像が順次変換さ
れ、波形紀ｔｍｌ路８の中に格納されていく。騙バター
ｙ１のｍ取）がすべて終了した後、波形記憶−路８の記
憶内容を再生して、表示部９で波形をｌ１ｌＩＩＩｌす
ると、ｍｓｔｍに示すような波形が得られる。これはサ
ンプリングライン５を一走査方向■に絖取りた波形とな
る。従って、この波ｆ＃Ｏ庫。
。この波形にはサンプリングライン５上の線パターン上
の像に対応する信号Ａが含まれる。ま九走食クロック発
生回路６２から絖Ｊ＠開始信号６として同図中）のパル
スが出力される。同図（ｂ）のパルスは読取菓子３１が
ｄ！堆走査［２３の端点２４を絖取った時点を表わして
いる。このパルスに応じ、サンプリングパルス発生回路
７から同図（ｃ）の遅延パルスを発生する。この迩蝙パ
ルスのパルス輪Ｔは絖蝋慎構５が銃取走量［２３の端点
２４からす／ブリングライン５との交点ムまでを走査す
る時開となるように設定される。この−ＩＩＡ延パルス
の発生方法としては、ｉわゆる単安定マルチバイブレー
タ等が適当でｈる。サンプリングパルス発生回路７はさ
らに遅延パルスの立下ル時に１ＩｉＪ図（ｄ）のサンプ
リングパルス１０を発生する。波形記憶回ｗＩ＆８はこ
のサンプリングパルス１０によル、同図（＆）の−像便
号４ｔサンプリングし記憶することがで龜る。この−作
を１チヤート２を副走査方向■に勅かしながらく１返す
と、テンプリングライン５上の１ｌｉｉ像が順次変換さ
れ、波形紀ｔｍｌ路８の中に格納されていく。騙バター
ｙ１のｍ取）がすべて終了した後、波形記憶−路８の記
憶内容を再生して、表示部９で波形をｌ１ｌＩＩＩｌす
ると、ｍｓｔｍに示すような波形が得られる。これはサ
ンプリングライン５を一走査方向■に絖取りた波形とな
る。従って、この波ｆ＃Ｏ庫。
Ｍ′よ）前述の主走査方向のＭＴＦと同様に簡単にｆｊ
Ｉ４走査方向（ＤＭＴＦｔ算出することかで龜る。
Ｉ４走査方向（ＤＭＴＦｔ算出することかで龜る。
輩
”’ＩＩ”Ｗ
上述の実施例ではす／プリングは走ｆ：１ｉ１１１１１
１点から九とえば単安定！ルテバイプレーメを用い一定
時開ｆＩｋ＃ｃ行なうようにし九が、これに対し本発明
の他の実施例として、 ＣＣＤよ構成る図体ツインセ
ンナ３１ｔＪ＠−九絖取機構５において、このす／プリ
ンダｔｖｊＡ体うイｙ＊ｙｔに加え、１７Ｉｉ兼用クロ
ック信号を所定時間だけカウントすることによｐ夷蝙す
ることがで禽る。
１点から九とえば単安定！ルテバイプレーメを用い一定
時開ｆＩｋ＃ｃ行なうようにし九が、これに対し本発明
の他の実施例として、 ＣＣＤよ構成る図体ツインセ
ンナ３１ｔＪ＠−九絖取機構５において、このす／プリ
ンダｔｖｊＡ体うイｙ＊ｙｔに加え、１７Ｉｉ兼用クロ
ック信号を所定時間だけカウントすることによｐ夷蝙す
ることがで禽る。
＄１６図−）〜に）紘不発明Ｏ他Ｏ実施例の一作波形図
である。
である。
ｐｉｉＩ−偽）線画像値号であ〕、同図伽）のクロック
信号３３に同期して出力鳴れる。そζで同図（−）の走
査開始信号６からクロック信号３５をカウントして一定
数になった時にｌｌ１ｉ像信号の入点に対応する同図（
ｄ）のサンプリングパルス１０を出力する。
信号３３に同期して出力鳴れる。そζで同図（−）の走
査開始信号６からクロック信号３５をカウントして一定
数になった時にｌｌ１ｉ像信号の入点に対応する同図（
ｄ）のサンプリングパルス１０を出力する。
第７図は上記の他の実施例の要部の構成説明図である。
同図では、サンプリングパルス発生回路７ｉＣカウンタ
７１ ｔ−設け、端子７２で初期１直を設定しておさ、
走ｆ開＃＊号６からクロック信号６３によりダウンカウ
ントし、０になった＃にサンプリングパルス１０を発Ｉ
ｊＬＳせる。カクンタ７１の★さは１ラインの画素数よ
ｐ大きい必要があるが、この実施例ではサンプリングの
タイミングの設定が容易でかつ確実であるという利点が
ある。
７１ ｔ−設け、端子７２で初期１直を設定しておさ、
走ｆ開＃＊号６からクロック信号６３によりダウンカウ
ントし、０になった＃にサンプリングパルス１０を発Ｉ
ｊＬＳせる。カクンタ７１の★さは１ラインの画素数よ
ｐ大きい必要があるが、この実施例ではサンプリングの
タイミングの設定が容易でかつ確実であるという利点が
ある。
（＠発１１ｉＯ効果
以上説明し友ように、本発明によれば、線パターンに対
応する画像信号のみを波形ｍｌ憶１＆！ｌ路で記憶する
ことがで龜るので、副走量方向のＭＴＦを藺単に求める
ことかで龜、光学絖城装置の解像度評価を簡単、ａｍに
行なりことが可能となる。
応する画像信号のみを波形ｍｌ憶１＆！ｌ路で記憶する
ことがで龜るので、副走量方向のＭＴＦを藺単に求める
ことかで龜、光学絖城装置の解像度評価を簡単、ａｍに
行なりことが可能となる。
＄１１ｉｉ１（＃）、伽）、菖２図偽）、伽）拡それぞ
れ主走査の実施例の一作波形図、１１７図は同実施例の
要部Ｏ構ｇ説明図で６ｐ１図中、１は線ノくターン、２
紘チヤート、５はａｍ機構、５はサンプリングライン、
７線す／プリングパルス発生回路、８は波ｆ＃１憶ｆｊ
Ａ路、９はオシロスコープを示す。 豐許出願人富士通株式会社 １代１人 弁履士 １）坂 善 重 第１図 第２図 第３図 第４図 パルス１０
れ主走査の実施例の一作波形図、１１７図は同実施例の
要部Ｏ構ｇ説明図で６ｐ１図中、１は線ノくターン、２
紘チヤート、５はａｍ機構、５はサンプリングライン、
７線す／プリングパルス発生回路、８は波ｆ＃１憶ｆｊ
Ａ路、９はオシロスコープを示す。 豐許出願人富士通株式会社 １代１人 弁履士 １）坂 善 重 第１図 第２図 第３図 第４図 パルス１０
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （ｔ）＊ＩＩＩＩＪ［を変化させ九−パターンを光学系
と光学絖取嵩子よ）成る読取機構によ）−次元の主走査
方向の絖填多を行なう光学絖峨装置におｉて、主走査と
直交する副走査方向のＭＴＦ特性を測定する丸め、主走
査の！ｓ＃時点から所定時間後−像信号のサンプリング
を行ない検出データをメモリに記憶することを、各主走
査毎に〈ｐ返し行ない、所定の走査回数に達した時、前
記メモリに記憶したデータ波形を再生し、鋏波形からＭ
ＴＦを算出することＶｃｅ黴とする光学１１！Ｊ４Ｒ懐
置のＭＴＦ測定方式。 （２）ｍ配光、学銃取票子がＣＣＤ（電荷結合素子）よ
ル成る画体ツイン上ｙすであ）、前記サンプリングが該
１体ツインセンナに加える走査用クロック信号ｔ−ｗＭ
紀所定時間だけカクントシ、ナノプリング用パルスを売
主させるようにしたことｔｑ＃黴とする特許請求の範囲
ｗｃ１項配鎮の光学読取装置のＭＴＦ’測定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56205707A JPS58106945A (ja) | 1981-12-19 | 1981-12-19 | 光学読取装置のｍｔｆ測定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56205707A JPS58106945A (ja) | 1981-12-19 | 1981-12-19 | 光学読取装置のｍｔｆ測定方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58106945A true JPS58106945A (ja) | 1983-06-25 |
Family
ID=16511364
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56205707A Pending JPS58106945A (ja) | 1981-12-19 | 1981-12-19 | 光学読取装置のｍｔｆ測定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58106945A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62121582A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-02 | Mekano Syst:Kk | バ−コ−ド読取信号処理方式 |
-
1981
- 1981-12-19 JP JP56205707A patent/JPS58106945A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62121582A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-02 | Mekano Syst:Kk | バ−コ−ド読取信号処理方式 |
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