JPS58129664A - 論理装置 - Google Patents
論理装置Info
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- JPS58129664A JPS58129664A JP57013558A JP1355882A JPS58129664A JP S58129664 A JPS58129664 A JP S58129664A JP 57013558 A JP57013558 A JP 57013558A JP 1355882 A JP1355882 A JP 1355882A JP S58129664 A JPS58129664 A JP S58129664A
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- shift
- circuit
- logic
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Links
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 2
- 102100039501 Chymotrypsinogen B Human genes 0.000 description 4
- 101000889273 Homo sapiens Chymotrypsinogen B Proteins 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 101100257461 Arabidopsis thaliana SPCH gene Proteins 0.000 description 1
- 102100024966 Caspase recruitment domain-containing protein 10 Human genes 0.000 description 1
- 101000761182 Homo sapiens Caspase recruitment domain-containing protein 10 Proteins 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318558—Addressing or selecting of subparts of the device under test
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、論理装置、さらに詳しく云えば論理装置を構
成する記憶素子の状態の書込みおよび読出しを行なう丸
めのシフトレジスタ技術を応用した診断機能を有する論
理装置に関する1゜従来1この種の論理装置は1論理装
置をある基準で分割し、その分割した回路単位に含まれ
るh己憶素子を診断用に連鎖状に接続してシフトレジス
タを構成することによシ、前記記憶素子の状態観測や各
記憶素子への所定信号の設定をb1能としていた。
成する記憶素子の状態の書込みおよび読出しを行なう丸
めのシフトレジスタ技術を応用した診断機能を有する論
理装置に関する1゜従来1この種の論理装置は1論理装
置をある基準で分割し、その分割した回路単位に含まれ
るh己憶素子を診断用に連鎖状に接続してシフトレジス
タを構成することによシ、前記記憶素子の状態観測や各
記憶素子への所定信号の設定をb1能としていた。
すなわち、所定の記憶素子の状態観測は、選択回路によ
って観測すべき記憶素子のシフトパスを選択し、順次、
記憶素子の内容を読み出すことによって行なっておシ、
各記憶素子への所定信号への設定は上記と同じようにシ
フトパスを選択し、書込むことにより行なっていた。
って観測すべき記憶素子のシフトパスを選択し、順次、
記憶素子の内容を読み出すことによって行なっておシ、
各記憶素子への所定信号への設定は上記と同じようにシ
フトパスを選択し、書込むことにより行なっていた。
この場合蔦各回路単位に含まれる記憶素子数を把握する
必要が6つ九。
必要が6つ九。
そのため従来は、回路単位内の全記憶素子の状態をシフ
トパスを使用してすべて同一状態にした後翫その同一状
態とは異なる状態をシフトインし、シフトパス内を順次
シフトしていき、そのシフト数をカウントしながらシフ
トパスの出口で異なる状態を検出し、その検出したとき
のカウント数を記憶素子数としていた。
トパスを使用してすべて同一状態にした後翫その同一状
態とは異なる状態をシフトインし、シフトパス内を順次
シフトしていき、そのシフト数をカウントしながらシフ
トパスの出口で異なる状態を検出し、その検出したとき
のカウント数を記憶素子数としていた。
しかしながら、このような記憶素子数の求め方は、ある
記憶素子で1故障が発生したり、O故障が発生し九すす
ると正確な配憶素子数を把握でき唸かつ喪。
記憶素子で1故障が発生したり、O故障が発生し九すす
ると正確な配憶素子数を把握でき唸かつ喪。
例えば、最初全記憶素子を0状態とし、次に1を順次シ
フトインしていく方式においては、ある記憶素子で1故
障が発生した場合は、全配憶素子なO状態とするシフト
動作によシ1故障がすでにシフトパスの出口に出力され
ており、記憶素子数を誤って0と判断してい友。
フトインしていく方式においては、ある記憶素子で1故
障が発生した場合は、全配憶素子なO状態とするシフト
動作によシ1故障がすでにシフトパスの出口に出力され
ており、記憶素子数を誤って0と判断してい友。
を九、最初全記憶素子を1状態とし、次にOを順次シフ
トインしていく方式では\ 0故障の発生で上記と同様
記憶素子数を誤って0に判断してい九〇 したがって、記憶素子の状態を観察しようとしたと龜1
その記憶素子数を0と判断しているため、その記憶素子
の状態観察および記憶素子への所定信号の設定ができな
いという欠点があつだ。
トインしていく方式では\ 0故障の発生で上記と同様
記憶素子数を誤って0に判断してい九〇 したがって、記憶素子の状態を観察しようとしたと龜1
その記憶素子数を0と判断しているため、その記憶素子
の状態観察および記憶素子への所定信号の設定ができな
いという欠点があつだ。
本発明の目的は、回路単位内の全記憶素子の状態をシフ
トパスを使用してすべて同一状態に設定した後、設定状
態とは異なる状態と設定状態と同じ状態とを組合わせて
り7トインし1その後シフトパスの出口でシフトインし
た組合わせ状態を検出するまでシフト動作を行なわせて
記憶素子数を決定することによ)、上記欠点を解決し1
記憶素子に1故障あるいは0故障が発生したときには常
に回路単位内の記憶素子数より太きいある値を決定し、
記憶素子の観察ができるようにした論理装置を提供する
ことKある。
トパスを使用してすべて同一状態に設定した後、設定状
態とは異なる状態と設定状態と同じ状態とを組合わせて
り7トインし1その後シフトパスの出口でシフトインし
た組合わせ状態を検出するまでシフト動作を行なわせて
記憶素子数を決定することによ)、上記欠点を解決し1
記憶素子に1故障あるいは0故障が発生したときには常
に回路単位内の記憶素子数より太きいある値を決定し、
記憶素子の観察ができるようにした論理装置を提供する
ことKある。
前記目的を連成するために本発明による論理装置は、複
数の記憶素子を備えた論理回路複数個よシなる被診断部
ム前記紀憶素子を前記各論理回路単位毎に連鎖状に接続
してあり、診断時にその各論理回路毎にシフトレジスタ
を形成させるシフトパスと、診断すぺ自論理回路を選択
する情報を格納する選択用レジスタと、前記選択用レジ
スタに格納された情報にしたがって一対の論11a路の
シフトパスを選択するシフトパス選択回路と〜 1種類
の固定値信号を作成する第1論理値発生回路と、前記固
定値信号とは異な為種類の信号を作成する第2論理値発
生回路と、前記選択された論理回路のシフトパス入力に
1前記固定値信号を少なくとも前記選択され九論理回路
が有する最大記憶素子数だけシフFイ/シ、次いで前記
固定値信号とは異なる種類の信号を1つ以上シフトイン
し、続けて前記固定値信号を1つ以上シフトインし、そ
の後シフトを繰返すように制御するシフト制御回路と、
前記シフト制御回路の制御にし九がって前記選択された
論理回路のシフトパス出力より読み出され良信号を格納
するシフトレジスタと、前記固定値信号とこれとは異な
る種類の信号vt1つ以上シフトインし死後、前記シフ
トレジスタにシフトされゐ数をカウントするシフト数カ
ウンタト、前記シフトレジスタ内で前記固定値信号とこ
れとは異なる種類の信号の組合せを検出したとき前記シ
フト制御回路のシフト制御を停止させる比較回路とを含
み、前記2種類の信号の組合わせの検出によって前記シ
フト数カウンタを停止し、その値よシ選択された論理回
路の記憶素子数を求めるように構成しである。
数の記憶素子を備えた論理回路複数個よシなる被診断部
ム前記紀憶素子を前記各論理回路単位毎に連鎖状に接続
してあり、診断時にその各論理回路毎にシフトレジスタ
を形成させるシフトパスと、診断すぺ自論理回路を選択
する情報を格納する選択用レジスタと、前記選択用レジ
スタに格納された情報にしたがって一対の論11a路の
シフトパスを選択するシフトパス選択回路と〜 1種類
の固定値信号を作成する第1論理値発生回路と、前記固
定値信号とは異な為種類の信号を作成する第2論理値発
生回路と、前記選択された論理回路のシフトパス入力に
1前記固定値信号を少なくとも前記選択され九論理回路
が有する最大記憶素子数だけシフFイ/シ、次いで前記
固定値信号とは異なる種類の信号を1つ以上シフトイン
し、続けて前記固定値信号を1つ以上シフトインし、そ
の後シフトを繰返すように制御するシフト制御回路と、
前記シフト制御回路の制御にし九がって前記選択された
論理回路のシフトパス出力より読み出され良信号を格納
するシフトレジスタと、前記固定値信号とこれとは異な
る種類の信号vt1つ以上シフトインし死後、前記シフ
トレジスタにシフトされゐ数をカウントするシフト数カ
ウンタト、前記シフトレジスタ内で前記固定値信号とこ
れとは異なる種類の信号の組合せを検出したとき前記シ
フト制御回路のシフト制御を停止させる比較回路とを含
み、前記2種類の信号の組合わせの検出によって前記シ
フト数カウンタを停止し、その値よシ選択された論理回
路の記憶素子数を求めるように構成しである。
前記構成によれば記憶素子が0または1になる故障を生
じ九場合でも、その組合わせパターンが実際の記憶素子
数になつ九ときシフトレジスタにセットされないため、
少なくと4最大記憶素子数よシは大のカウントがなされ
、従来のように記憶素子の状態観測勢が全くできないと
いう事態は回避でき、本発明の目的は完全に達成される
。
じ九場合でも、その組合わせパターンが実際の記憶素子
数になつ九ときシフトレジスタにセットされないため、
少なくと4最大記憶素子数よシは大のカウントがなされ
、従来のように記憶素子の状態観測勢が全くできないと
いう事態は回避でき、本発明の目的は完全に達成される
。
以下、図面を参照して本発明をさらに詳しく説明する。
第1図は、本発明による論理装置の一実施例を示す回路
ブロック図であるっ 図において、各論理回路(以下島論理回路をCARDと
略す)101〜10−はある基準にしたがって決定し九
複数個の記憶素子100により1それぞれ構成され、こ
れらCARD 10s〜10nによって被診断回路10
が構成されている。 各CARDD記憶索子100は’
/7)パスによって連鎖状に接続されてお)、診断時に
は後述するシフト制御回路24からの制御信号によって
各CARD毎、記憶素子oシフトレジスタが形成される
・選択用レジスタ(以下、8LRと略す)11はCA
RD 10s 〜1Onの中よシ1つのCARDを選択
する番号情報を共通パス15より受は取る丸めの4ので
ある・ この8LR11に格納された情報によりCARD選択回
路(以下、8WLAと略す)12は対応のCARDのシ
フトパスを選択すゐ。
ブロック図であるっ 図において、各論理回路(以下島論理回路をCARDと
略す)101〜10−はある基準にしたがって決定し九
複数個の記憶素子100により1それぞれ構成され、こ
れらCARD 10s〜10nによって被診断回路10
が構成されている。 各CARDD記憶索子100は’
/7)パスによって連鎖状に接続されてお)、診断時に
は後述するシフト制御回路24からの制御信号によって
各CARD毎、記憶素子oシフトレジスタが形成される
・選択用レジスタ(以下、8LRと略す)11はCA
RD 10s 〜1Onの中よシ1つのCARDを選択
する番号情報を共通パス15より受は取る丸めの4ので
ある・ この8LR11に格納された情報によりCARD選択回
路(以下、8WLAと略す)12は対応のCARDのシ
フトパスを選択すゐ。
シフトレジスタ(以下、8FRと略す)13は外部と被
診断回路100間の情報の授受を行ない、制御用カウン
タ(以下、CTRAと略す)14はこ08FR13の情
報の授受の際に5FR13のオーバフ謬−を監視するた
めカウントを行なう。
診断回路100間の情報の授受を行ない、制御用カウン
タ(以下、CTRAと略す)14はこ08FR13の情
報の授受の際に5FR13のオーバフ謬−を監視するた
めカウントを行なう。
共通パス回路(以下、C−BU8と略す)15は図示し
ない外部インタフェースと本論理装電の信号の仲介を行
なう。 シフトバッファ(以下、SFBと略す)17
は被診断回路10内の記憶素子100の制御あるいは観
察情報あるいは設定情報を一時格納するバッファであシ
、選択回路(以下、8ELBと略す)16は観察情報あ
るいは設定11#報のいずれか、すなわち8ELA12
の出力信号あるいは8FR13の出力備考のいずれかを
選択する。 第2論理値発生回路(以下、G■ENと略
す)18とtIX1論理値発生回路(以下、GOENと
略す)19は、それぞれ論理値a1@と169を発生す
る回路であり、これら論理値および8FB17の出力信
号のいずれかが選択回路20によって選択され1被診断
回路10にシフトインされる。 シフト数カウンタ(以
下、CTRBと略す)21は8FB17と被診断回路1
oのシフト数をカウントする回路で、このカウント値と
シフト数終了値が設定されているシフト終了値設定レジ
スタ(以下、EDRと略す)22の出力が比較回路(以
下、CMPAと略す)23によって比較されるう シフ
ト制御回路(以下、SPCと略す)24は共通パス回路
15から制御情報を受けて、CTRB21、CTRA
14のクリア、カウント開始、停止を制御し\さら4c
8ELB1g、8BLC20の切替制御を行なうとと4
に、被診断回路10と5FB17と8F813のシフト
制御も行なう。
ない外部インタフェースと本論理装電の信号の仲介を行
なう。 シフトバッファ(以下、SFBと略す)17
は被診断回路10内の記憶素子100の制御あるいは観
察情報あるいは設定情報を一時格納するバッファであシ
、選択回路(以下、8ELBと略す)16は観察情報あ
るいは設定11#報のいずれか、すなわち8ELA12
の出力信号あるいは8FR13の出力備考のいずれかを
選択する。 第2論理値発生回路(以下、G■ENと略
す)18とtIX1論理値発生回路(以下、GOENと
略す)19は、それぞれ論理値a1@と169を発生す
る回路であり、これら論理値および8FB17の出力信
号のいずれかが選択回路20によって選択され1被診断
回路10にシフトインされる。 シフト数カウンタ(以
下、CTRBと略す)21は8FB17と被診断回路1
oのシフト数をカウントする回路で、このカウント値と
シフト数終了値が設定されているシフト終了値設定レジ
スタ(以下、EDRと略す)22の出力が比較回路(以
下、CMPAと略す)23によって比較されるう シフ
ト制御回路(以下、SPCと略す)24は共通パス回路
15から制御情報を受けて、CTRB21、CTRA
14のクリア、カウント開始、停止を制御し\さら4c
8ELB1g、8BLC20の切替制御を行なうとと4
に、被診断回路10と5FB17と8F813のシフト
制御も行なう。
本回路の動作はシフト制御が主になっている。
シフトレジスタ(以下、sin、と略す)25は2段に
構成されてお勤、被診断回路10からのシフドア中ト信
号を保持する。 比較回路(以下、CMFBと略す)2
6はこれら82R25(り1段目とGOEN IIおよ
びS2R易の2段目とGIEN18のそれぞれの出力を
比較する。
構成されてお勤、被診断回路10からのシフドア中ト信
号を保持する。 比較回路(以下、CMFBと略す)2
6はこれら82R25(り1段目とGOEN IIおよ
びS2R易の2段目とGIEN18のそれぞれの出力を
比較する。
次に、前記第1図に併せ、第2図のシフト概念図を参照
して本実施例の動作を説明する1、まず、aLRIIK
CARD 10s〜Ionの選択用情報を設定し、5L
RIIの出力信号によ)8ELA 1!の選択を行ない
、記憶素子100の情報をシフトアウトするCARD(
以下、このCARDをto’とする)を決定すゐ。
して本実施例の動作を説明する1、まず、aLRIIK
CARD 10s〜Ionの選択用情報を設定し、5L
RIIの出力信号によ)8ELA 1!の選択を行ない
、記憶素子100の情報をシフトアウトするCARD(
以下、このCARDをto’とする)を決定すゐ。
さらにCTRB21をクリアし、81LB16を8EI
、A 12側に選択しておき、8ELC20をGOEN
19に選択してお(、、5Fc24は、GOEN19か
らの論理値Oを8ELC30を介してCA RD10’
Kシフトインし、同時にCARD 10’の記憶素子
100の状態を8BLA12と8ELB1gを介して8
FB17にシフトインさせる。
、A 12側に選択しておき、8ELC20をGOEN
19に選択してお(、、5Fc24は、GOEN19か
らの論理値Oを8ELC30を介してCA RD10’
Kシフトインし、同時にCARD 10’の記憶素子
100の状態を8BLA12と8ELB1gを介して8
FB17にシフトインさせる。
1シフト動作に対応しCTRB21に1を加え1CTR
B21がオーバフローしたときシフト動作を終了させる
。
B21がオーバフローしたときシフト動作を終了させる
。
第2図において、シフト開始前の状態をケース1で表わ
すとすれば、シフト完了後はケース2で示されるように
、8FB17にはCAI’LD 10’の記憶素子10
0の状態が格納され、記憶素子100には論理値Oが格
納されている。
すとすれば、シフト完了後はケース2で示されるように
、8FB17にはCAI’LD 10’の記憶素子10
0の状態が格納され、記憶素子100には論理値Oが格
納されている。
次に、CAI’LD 10’内の記憶素子iooの数
を決定するには、まず8ELC20をGIFfN18側
に選択し論理値1を1つシフトし、5ELC20をGO
EN19側に選択し論理値0を1つシフトし、2つのシ
フト動作後、CTRB 21をクリアし、BDR22に
最大値を設定する。 この状態が第3図のケース3に示
しである。
を決定するには、まず8ELC20をGIFfN18側
に選択し論理値1を1つシフトし、5ELC20をGO
EN19側に選択し論理値0を1つシフトし、2つのシ
フト動作後、CTRB 21をクリアし、BDR22に
最大値を設定する。 この状態が第3図のケース3に示
しである。
1シフト動作に対応しCTRB jllに1を加えなが
ら、82R雪5にシフトインされるCARDIO’から
のシアドア中トデータをCMPB 26で比較すゐ。
比較途中の状態を第3図のケース4Kmt。 CMPB
26で82B、25(D2段目に論理値1とX 1段
lIK論理値Oを検出し九とき、すなわち、8!R1g
が論理値10となったとき、シフト動作を停止し、その
ときのCTRAl4の値をEDR銘にセットする。 こ
れが第2図のケース5で示される状態でCTRB 21
の値がCARD 10’内の記憶素子100の数を示す
。
ら、82R雪5にシフトインされるCARDIO’から
のシアドア中トデータをCMPB 26で比較すゐ。
比較途中の状態を第3図のケース4Kmt。 CMPB
26で82B、25(D2段目に論理値1とX 1段
lIK論理値Oを検出し九とき、すなわち、8!R1g
が論理値10となったとき、シフト動作を停止し、その
ときのCTRAl4の値をEDR銘にセットする。 こ
れが第2図のケース5で示される状態でCTRB 21
の値がCARD 10’内の記憶素子100の数を示す
。
8!R25で論理値10を検出できなかったときはCT
RB mからEDRfiにセットしないので、最初にE
DR2!にセットし喪値が記憶素子10Gの歌を示すヒ
とになる・ CARDIQI内の記憶素子100の状態を外部から観
察するKはCTRB21をクリアし、8EL20で8F
B1?を選択し、CTRAl4をクリアし死後、8FB
18に8FB170データをシフトインするとともにC
TRAl4をカウントアツプする。 CTRAl4
がオーバフローする度に、 5FB13のデータをC
−BU815に転送しながら?]1)R22の値とCT
RB21が一致するまでシフト動作とC−BUS 15
への転送を行なう。
RB mからEDRfiにセットしないので、最初にE
DR2!にセットし喪値が記憶素子10Gの歌を示すヒ
とになる・ CARDIQI内の記憶素子100の状態を外部から観
察するKはCTRB21をクリアし、8EL20で8F
B1?を選択し、CTRAl4をクリアし死後、8FB
18に8FB170データをシフトインするとともにC
TRAl4をカウントアツプする。 CTRAl4
がオーバフローする度に、 5FB13のデータをC
−BU815に転送しながら?]1)R22の値とCT
RB21が一致するまでシフト動作とC−BUS 15
への転送を行なう。
CA)tD10’内の記憶素子100へ状態を設定する
には、CT)IB21をクリアし、5BLB16で8F
R13を選択しておき、CTRAl4をクリアし、C−
BU815にデータ受取り要求を出し8FI(13にデ
ータを受取った後、CTRAl4とCTRB21をカウ
ントアツプしながらCTRB21がEDR22に一致す
るまで8FB17に8FB。
には、CT)IB21をクリアし、5BLB16で8F
R13を選択しておき、CTRAl4をクリアし、C−
BU815にデータ受取り要求を出し8FI(13にデ
ータを受取った後、CTRAl4とCTRB21をカウ
ントアツプしながらCTRB21がEDR22に一致す
るまで8FB17に8FB。
13のデータをシフトインする。 このとき、CTル
A 14がオーバフローする度にC−BU815から設
定データを受取る。
A 14がオーバフローする度にC−BU815から設
定データを受取る。
CTRB21とgDR22の値が一致したとき、5FB
17だけCTRB21がオーバフローするまでシフト動
作を行ない、オーバフローi、8ELC2Gで5FB1
7を選択し、CTRBziをクリアし、CTRB21を
カウントアツプしながらCTRB21とBDR22の値
が一致する壕でCARD10’K 8FB 17のデー
タをシフトインする。
17だけCTRB21がオーバフローするまでシフト動
作を行ない、オーバフローi、8ELC2Gで5FB1
7を選択し、CTRBziをクリアし、CTRB21を
カウントアツプしながらCTRB21とBDR22の値
が一致する壕でCARD10’K 8FB 17のデー
タをシフトインする。
なお、GOEN19とQIENlgを逆にして論理値1
を設定するかわシに論理値Oを設定し1論理値Oを設定
するかわ)K論理値lを設定して亀、同じ制御が行なえ
ることは明らかである、以上、詳しく説明したように1
本発明によればある基準で分割し九被診断回路の配憶素
子数を認識する丸めに、前記記憶素子で構成したシフト
レジスタ内を2ビツトの1.0組合せコードを通過させ
、出口でそのブードを検出したときのシフト数を格納す
るように構成することによ)1故障、0故障Kかかわら
ず記憶素子の状態が観測できる。
を設定するかわシに論理値Oを設定し1論理値Oを設定
するかわ)K論理値lを設定して亀、同じ制御が行なえ
ることは明らかである、以上、詳しく説明したように1
本発明によればある基準で分割し九被診断回路の配憶素
子数を認識する丸めに、前記記憶素子で構成したシフト
レジスタ内を2ビツトの1.0組合せコードを通過させ
、出口でそのブードを検出したときのシフト数を格納す
るように構成することによ)1故障、0故障Kかかわら
ず記憶素子の状態が観測できる。
第1図は本発明による論理装置の一実施例を示すブロッ
ク図、第2図は実施例のシフト概念図である。 10・・・被診断回路 101〜10.・・・論理回路 11・・・選択用レジスタ 12・・・選択回路13・
・・シフトレジスタ 14・・・制御用カウンタ15・
・・共通バス回路 16・・・選択回路17・・・シ
フトバッファ 18・・・第2論理値発生回路 19・・・第1論理値発生回路 加・・・膚択回路 21・・・シフト数カウンタ
22・・・シフト終了値設定レジスタ 23・・・比較回路 U・・・シフト制御回路2
5・・・シフトレジスタ 26・・・比較回路100・
・・記憶素子 特許出願人 日本電気株式会社
ク図、第2図は実施例のシフト概念図である。 10・・・被診断回路 101〜10.・・・論理回路 11・・・選択用レジスタ 12・・・選択回路13・
・・シフトレジスタ 14・・・制御用カウンタ15・
・・共通バス回路 16・・・選択回路17・・・シ
フトバッファ 18・・・第2論理値発生回路 19・・・第1論理値発生回路 加・・・膚択回路 21・・・シフト数カウンタ
22・・・シフト終了値設定レジスタ 23・・・比較回路 U・・・シフト制御回路2
5・・・シフトレジスタ 26・・・比較回路100・
・・記憶素子 特許出願人 日本電気株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複数の記憶素子を備えた論理回路複数個よシなる被診断
回路と、前記記憶素子を前記各論理回路単位毎に連鎖状
に接続してあり、診断時にその各論理回路毎にシフトレ
ジスタを形成させるシフトハスと、診断すべき論理回路
を選択する情報を格納する選択用レジスタと、前記選択
用レジスタに格納された情報にしたがって一対の論理回
路のシフトパスを選択するシフトパス選択回路と11種
類の固定値信号を作成する第111iI理値発生回路と
1前記固定値信号とは異なる種類の信号を作成する第2
論理値発生回路と前記選択された論理回路のシフトハス
入力K。 前記固定値信号を少なくとも前記選択された論理回路が
有する最大記憶素子数だけシフトインし、次いで前記固
定値信号とは異なる種類の信号を1つ以上シフトインし
、続けて前記固定値信号を1つ以上シフトインし、その
後シフトを繰返すように制御するシフト制御回路と1前
記シフ)制御回路の制御にし九がって前記選択された論
11回路のシフFパス出力よ〉読出され良信号を格納す
るシフトレジスタと、前記固定値信号とこれとは異なる
種類の信号を1つ以上シフトインし丸後、前記シフトレ
ジスタにシフトされる数をカウントするシフト数カウン
タと、前記シフトレジスタ内で前記固定値信号とこれと
は具なゐ種類の信号の組会せを検出したとき前記シフト
制御回路のシフト制御を停止させる比較回路とを含み、
前記3種類の信号の組合わせO検出によって前記シフト
数カウンタを停止し、その値より選択された論理回路の
記憶素子、 数を求めるように構成し九ことを特徴と
すゐ論理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57013558A JPS58129664A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 論理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57013558A JPS58129664A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 論理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58129664A true JPS58129664A (ja) | 1983-08-02 |
Family
ID=11836501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57013558A Pending JPS58129664A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 論理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58129664A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6249451A (ja) * | 1985-08-28 | 1987-03-04 | Nec Corp | 情報処理装置 |
-
1982
- 1982-01-29 JP JP57013558A patent/JPS58129664A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6249451A (ja) * | 1985-08-28 | 1987-03-04 | Nec Corp | 情報処理装置 |
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