JPS58137773A - 回路基板テストシステムに用いるフイクスチア - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、回路基板を検査するための回路基板テストシ
ステムに用いるフイクステアに関し、特に被検査回路基
板の設計変更に対して容易に対応できるフィクステアｅ
ζ関する。

近年、プリント回路基板（／’（、’ボート）の製造ラ
インにおいて、ＩＣ’、ＬＳＩ、抵抗素子等を実装して
でき上った７’　ｔ’ボードについて各部品が設計仕様
を満足しているかどうかあるいは正しい回路接続かな門
〃ているかどうか等をコンピユータラ用いて検＼する１
ンザーキツトテストシステムカ普及してきている１、こ
の種デストシステムＣス、普通第１図に示すようなフィ
クスチャｌに被検査ＰＣボード２を載置するとともにＰ
ＣＣポートのｔＡＩＩＩＪのテストポイント（部品ビ／
、接続点等）にフ−ス）　フｏ　−７’　３　全接触さ
せ、テストプログラムに従って選ばれたテストポイント
間の特性検査１例えば抵抗値検査、短絡テスト等を行い
故障箇所を検出する、。

このようなフィクスチア１においては、ｐｃホー　１”
　２のテストポイントとテストプローブ３とが各々対応
した位置関係、すなわちテストポイントの真下にテスト
グローブ３が配置され、検査時にテストグローブ３がテ
ストポイントに接触するような位置関係になければなら
ない。このため、被検査ＰＣホード２のパターン（部品
配置）に応じてテストプローブの配置構成は異なる。第
１図に示すように、各テストグローブは絶縁材製ウェル
５の所定位置に植設される１、 従来、ある特定のＰＣボードパターンにしか使用できな
い専用型フィクスチアを改良するものとして、複数の種
類のＰＣＣボー−パターンに対しｐｃボードを支持する
支持プレートのみを交換し、フィクスチャ本体を共通に
使用するようにした、いわゆるユニバ寸ルｇノイクスチ
アが開発さイ１−Ｃいる。このユニバーサル型フィクス
チアでは、例えば１０種類のＰＣ゛ボードパターンの全
テストポイントに対応するテストグローブがウェルに植
設されるとともにウェルの上面に略平行にかつ上下方向
に変位可能Ｑて配設されて被検査プリンｈ　ＬＯ回路基
板を支持する支持フレートが備えらねる。検査時には、
ウェルと支持グレートとによって形成すれる空間が真空
になって支持グレートがウェルに向って吸引変位するこ
とにより被検査／’　ｔ’ボート裏面の各テストポイン
トが支持プレートに設ケラれた貫通孔を通して対応する
使用テストグローブに接触するようになっている。しか
し、このようなユニバーサル型フィクスチャにおいても
、そのテストプ「」−ブの配置構成は当初予定した種類
のＰＣ′ボードパターンに対するものであるから、将来
において１つまたはそれ以上のＰＣボートパパターン設
計変更を生じた場合、特に新たな部品を追加した場合番
では、その追加分のテストポイントに対応するテストグ
ローブを新たに設ける必要がある１、従来は、フイクス
チアを分解し、追加分のテストポイントのちょうど真下
にくる位置でウェルに新たな７０一ブ貫通孔をせん孔し
、この貫通孔に追加テストグローブを挿込んで植設して
い友。

しかし、既にウェルに植設されている当初のテスト１０
−ブは普通数百乃至数千本できわめて高密度に密集し、
ウェルの裏側にはそれぞれのグローブ端子をコンピュー
タ側に接続するための引込線がひつしつと配線されてい
るため、そのような追加テストグローブの植設作業は非
常に面倒で困難なものになっている。

本発明は、上述の問題点に鑑みてなされ、ウェルのテス
トグローブ取付位置以外の追加テストプＩＪ−ブ位置に
追加テストグローブを通す貫通孔を予め設けておくとと
もにウェルの裏面に密封板を接着することを特徴とする
構成により上記不便を解消するものである。以下、第２
図乃至第３図を参照して本発明の実施例を述べる。

第２図Ａ、Ｂは、本発明の一実施例を適用したユニバー
サル型フィクスチＶの断面図である。第２図−、ｔ、ｓ
ＶＣおいて、ガラスエボキン樹脂のような絶縁材料から
ｈｔウェル５には、予め定めらイｉた数の種類（例えば
１０種類）の／’　ｔ’ボードパターンの全テストポイ
ントに対応するテスト１０−ブ６．７．８（説明の便宜
を図るため、３本のみ図示）が植設される。、テストプ
ローブ６．７．８は、ウェル５に挿込まれて固定された
ソケット部ｂａ、７α、８αとソケット部内に着脱可能
に挿込まれるフ”ローフ゛ビン６ｂ、７ｂ、８ｂとを自
−し、各グローブ端子はソケット部内底部に配設された
圧縮バネ（図示せず）により支持さイする。テストグロ
ーブ６．７．８の端子６ｃ、７ｃ、Ｍｃは、これｒｒｃ
巻付は結線された引込線ＩＬ１．　１１．　１２を介し
てコンタクトハネル１３（第１図）の配線ポスト１４に
接続される。配線ボスト１４は、被検査Ｐｔ”ボート′
２のテストポイントに対応して配列サレ、し／−バ、ス
イッチングマトリクス（図示せず）を介してコンピュー
タの共通バスに接続される。ウェル５の内側には、支持
グレー　ト１５が、ウェル５の上面１６に略平行にかつ
上下ノｌ同ＶＣ変位可能に配設されている。すなわち支
持グレート１５は、ウェル５の上面１６に配設された複
数本の圧縮バネ１７により略平行に支持され、ウェル５
の内周面１８に対して上下方向に移動可能に嵌合ちれる
。支持プレート１５は、例えばガラスエポキシ樹脂から
なり、各テストグローブと対応する位置にグローブ貫通
孔を設けである。これにより支持プンート１６をウェル
５内に配設したとき、第２図Ａに示すように、全てのテ
ストグローブ６．７、＆が支持プレート１５の対応する
貫通孔１９．２０．２１に受入れられる。支持グレート
１５の上にはアダゲタプレート２２が配設式れ、このア
ダプタプレート２２に被検前／ＪＣボード２が載置され
る。従って、このユニバーサル型フイクスチャでは、Ｐ
Ｃボード２はアダプタグレート２２を介して支持プレー
ト１５に支持される。

アダプタプレート２２はＰＣボード２よりわずかに小さ
目で、その周辺部の回りにはスポンジ製の密封ガスケッ
ト２３が配置される。アダプタプレート２２の材料は、
検査時の不使用プローブビンによる押圧力に耐え得る強
度を有しかつ工作ＶＣ適した絶縁材料であれば任意の材
料を選んでよい。

アダプタグレート２２には、ある特定の被検前ＰＣボー
ドパターンのテストポイントに対応した開口２４．２５
が設けられ、これによりアダフータプレート２２と被検
査ＰＣボードを夫々配置して位置決めをしたとき、第２
図Ａに示すように、ＰＣボード２の検査に使用されるテ
ストグローブ゛６．７のプローブビン６α、７Ｇは、ア
タブタフ。

レート２２の開口２４．２５を通して対応するテストポ
イント２６．２７と対向する。他方、このＰＣボード２
の検査には用いられないテスト１０−ブ８のグローブビ
ン８ｂは、アダプタプレート２２の底面と対向する。

アダプタプレート２２の上面およびウェル５の上面１６
には、円板状の硬質ゴム製ストツ・く２８．２９がそれ
ぞれ複数個適当な位置に配置されている。支持プレート
１５の上面周縁部には、ゴム製密封ガスケット３０が固
着される。ウェル５の周辺部３１の下側部にはウェル内
空間、すなわちウェル５の上面１６と支持ノ°レート１
５の底面とによって形成される空間３２およびアダプタ
グレート２２の上面とＰＣボード２の裏面とによって形
成される空間３３等に通じる真空口３４が設けられてい
る。ウェル５の周辺部３１の上端には、第２図、４に示
すような検査前後の解放時に支持プレート１５を上方か
ら保持するための保持フレーム３５が螺着されている。

さらにウェル５には、本発明に従い、将来追加されるテ
ストプローブを通すための貫通孔４０が予め設けられる
（第２図Ａ、　Ｂでは説明の便宜上１本だけ図示）。こ
の貫通孔４０は、当初のテストグローブ６．７．８の取
付位置以外の任意の位置に設は得るが、普通は部品の追
加されそうな位置に設けられる。一般に、Ｐ　Ｃボード
上の部品配置は、ランダムなものではなく規格化されて
いる。

例えばＩＣ，ＬＳＩ等を実装するＰＣボードにおいては
、普通０．２５４ｃｍ　（０，１インチ）のピッチ単位
でビン配置、部品配置がなされる。つまり、ＰＣボード
面で縦横０．２５４ｃｒｎ間隔の格子状マトリクスを考
えると、どの部品のどのピッもこのマトリクス上のある
格子点に位置することになる、。

従って、新たな部品を追加しても、その部品の各ビンは
いずれかの格子点に配置されることになる。。

この点を考慮すれば、将来追加されるテストポイントの
位置も予定でき、そのようなテストポイント位置で貫通
孔４０をウェル５にせん孔すればよい。特に、マトリク
ス上の全ての格子点（ただし、当初のテストプローブの
取付位置を除く）に貫通孔４０を設けた場合には、（規
格化された）将来のいかなる部品追加に対しても、追加
テストポイントに対応する貫通孔４０が必ず存在するた
め、完全に対応できる。貫通孔４０は、普通当初のテス
トグローブ６．７．８の取付位置の貫通孔と一緒にせん
孔される４、また貫通孔４０の径は、手で容易にテスト
プローブを挿込めてかつ挿込んだときのすきまをできる
だけ小さくするような大きさの径（従って、テストプロ
ーブの径よりわずかに大きな径）に選ぶのが好ましい。

貫通孔４０と関連して、ウェル５の裏面４１には、その
全面に亘って密封板４２が接着される。

第２図ＡＳＢに示されるように当初のテストグローブ６
．７．８の下端部は密封板４２から外部空間４３に突出
しているが貫通孔４０の下端部は密封板４２により密閉
されている。この密封板４２は、ウェル内空間を真空状
態にしたとき、貫通孔４０と外部空間４３間の差圧に耐
え得るとともに工作が容易で弾力性を有する絶縁材料か
ら作られてよく、好ましくはシリコンゴムか選ばれる。

すなわち、シリコンゴム製の密封板４２は、半液体状の
シリコンゴムをウェル５の裏面４１に塗布し、次いで乾
燥させることにより簡単に形成されるとともに十分な強
度と弾性力を有し、テストグローブを手で容易に挿込め
かつ挿込んだときにテストグローブ（より詳細にはテス
トグローブのソケット部）の外周面に弾力で密着して有
効にウェル内空間を密封する。

上述のように構成されたｚニバーサル型フィクスチャの
動作について説明すると、第２図Ａに示すような検査ｉ
す後の解放時にはウェル内空間３２．３３に空気が満た
される。このとき、支持プレート１５は圧縮バネ１７に
より上方に付勢されるとともに保持フレーム３５で上方
から構成される装置にあり（第２図Ａ）、ＰＣボード２
はガスケット２３上に支持される。検査時には、真空ポ
ン７（図示せず）により真空口３４を介してウェル内空
間３２．３３内を真空状態にする。これによって、支持
グレート１５は、圧縮バネ１７に抗し７て下方に（つま
り、ウェル５の上面１６に向って）吸引され、ストッパ
２９の上面に着座する（第２図Ｂ）。これと同時に、Ｐ
Ｃボード２もガスケット２３の変形弾性力に抗して下方
に（つまり、アダプタプレート２２＆て向って）吸引さ
れ、ストッパ２８の上面に着座する（第２図Ｂ）。その
結果、ＰＣボード裏面のテストポイン）２６．２？が各
々対応する使用テストグローブ６．７のグローブビン６
ｂ、７ｂと接触する。これらテストポイントとプローブ
ビン間の接触圧力は、ストッパ２８．２９の厚み、ある
いはテストグローブソケット内に配設されてプローブビ
ンを上方に付勢する圧縮バネ（図示せず）の弾性力等を
調整することにより所望の太き嘔に選ばれる。他方、こ
のとき不使用テスト１０−プ８の７”ローブビン８ｂは
、支持ノ゛レート１５およびアダプタスレート２２の下
方変位ＶＣよりアダプタプレート２２の裏面と当接して
さらに下方に押圧され第２図Ｂに示す位置まで沈む。そ
の結果、不使用テストグローブとＰＣ’ボード裏面との
非接触関係が確実に保たれる。

なお、このユニバーサル型フイクスチャでは、被検査Ｐ
Ｃボードのパターンに応じてアダプタスレートが交換さ
れる。つまり、被検査ＰＣボードのパターンが別なもの
になれば、現在のアダプタプレートを取外し、その別の
パターンに対応する別のアダプタプレート、すなわちそ
の別のノ（ターンのテストポイントに対応した開口を有
するアダシタプレートが取付けられる。そして支持プレ
ートを含むフイクスチャ本体はそのまま共通に使用され
る。

現在のＰＣボードパターンに設計変更を生じて、例えば
第２図ＡＸＢにおいて点線４５で示すような新たな部品
を追加した場合には、その部品４５の各ビン（追加テス
トポイント）に対応する貫通孔４０に追加テストグロー
ブを通して植設すればよい。この場合、貫通孔４０の下
側の密封板４２が追加テストグローブにより突き破られ
るが、密封板４２はその弾力により挿込まれた追加テス
トプローブの外周面に密着して密封を保つとともに追加
テストプローブを固定保持する。

以上本発明の一実施例について説明したが、本発明はこ
の実施例に限定されるものではなくその技術的思想の範
囲内で種々の変形、変更が可能である。例几ば、密封板
４２は必ずしもウェル５の裏面４１の全面にＢ、つて接
着する必要はなく、必要な部分だけに、つまりテストプ
ローブの植設される部分だけに接着してもよい。また第
２図Ａ、Ｂにおいて点線で示すように、貫通孔４０と対
応する位置で支持プレート１５にもプローブ貫通孔４６
を予め設けておいてもよく、その場合には、支持グレー
ト１５をウェル５から取外す必要がなく便利である１、
さらに、アダプタプレートを透明材料で作ると貫通孔と
対応する位置、つまり追加開口位置が上方から容易に見
てとれるので便利である。

また本発明は、第３図に示すような別のユニバーサル型
フィクスチアにも適用可能である。この第３図の７・１
クスチアにはアタープタプレートが設けられておらず、
その代わり支持プレートに対応する上面７ル−ト５０が
被検前ＰＣボード２を直接載置する。従って、このフィ
クスチアでは被検前ＰＣボード２のパターンの種類に応
じて上面プレート５０が交換される。そして、ＰＣボー
ド２の検査に使用されないテストプローブ８のプローブ
ビン８αをＰＣボード２の裏面に接触させないようにす
るためのさぐり穴５１が上面プレート５０に設けられる
。このようなフィクスチアにおいても当初のテストグロ
ーブ６．７．８の取付位置以外の追加テストプローブ取
付位置に追加テスト７°ロープを通す（挿込む）貫通孔
４ｏを設けておくとともにウェル５の裏面４１に密封板
４２を接着してよく、その場合にも上述と同様の効果が
得ちれる。なお、第３図は検査時の作動状態を／トし、
図中第２図Ａ、Ｂと対応する部分には同一の符号を付し
である。また本発明は、専用型フイクスチアにも勿論適
用可能である。

以上のように、本発明によれば、被検前ＰＣホードに設
計変更、特に部品迫力０があった場合でも、これに容易
に適応できるフイク゛スチアが得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、フ゛リント回路基板テストシステムに用いる
従来の７１クステアを示す斜視図、第２図Ａｈよび第２
図Ｂは、本発明をユニバーサル型フィクステアに適用し
た一実施例を示す断面図、および 第３図は、本発明を別のユニバーサル型フィクスチアに
適用した別の実施例を示す断面図である。 ２・・・プリント回路基板（ＰＣボード）、５・・・真
空ウェル、３．６，７．８・・・テストプローブ、１５
・・・支持グレート、２２・・・アダプタプレート、３
２．３３・・・ウェル内空間、４０・・・貫通孔、５０
・・・上面プレート Ｌ１図 尾３図 毛２図Ａ 幕２図Ｂ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）予め定められた数の種類の回路基板の全テスエル
   と、該ウェルの上面に略平行にかつ上下方向に変位可能
   に配設され、被検査回路基板を支持する支持グレートと
   を備え、検査時には前記ウェルと支持グレートとによっ
   て形成される空間が真空になって前記支持ブレットがＦ
   ｉｒＪ記ウェルウエルて吸引変位することにより６り記
   被検査回路基板の裏面の各テストポイントがｆｎｊ記支
   持グレートに設けられたｍｌ孔を通して対応する前記テ
   ストプローブと接触するようになした回路基板テストシ
   ステムに用いるフイクステアにおいて。 １！ＩＩ　Ｍｅウェルの前記テストグローブ取付位置以
   外の追加テストグローブ位置に追加テストグローブを通
   す貫通孔を予め設けておくとともに０１」記ウェルの裏
   面に密封板を接着してなることを特徴とするフイクスチ
   ア。
2. （２）　　ｑＵ８ピ密封扱はンリコンゴムからなること
   を特徴とする特許請求の節囲第１項に記載の７１クスチ
   ア。