JPS58143284A - 二次元放射線検出器 - Google Patents
二次元放射線検出器Info
- Publication number
- JPS58143284A JPS58143284A JP2592982A JP2592982A JPS58143284A JP S58143284 A JPS58143284 A JP S58143284A JP 2592982 A JP2592982 A JP 2592982A JP 2592982 A JP2592982 A JP 2592982A JP S58143284 A JPS58143284 A JP S58143284A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dimensional
- radiation detector
- phosphor film
- sweep
- heating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/02—Dosimeters
- G01T1/10—Luminescent dosimeters
- G01T1/11—Thermo-luminescent dosimeters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
- Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
この発明は二次元放射線検出器に関する。
本発明に関係の深い従来技術を第1図に示す。
図中、1は放射線発生装置、2は被検体、3は透過像受
像パネル装置、4はレーザー発生装置およびレーザー光
線偏向装置、5は集光器、6は光検出器、7は画は再生
装置、8は画像表示装置をそれぞれ表わす。この装置の
動作原理は、熱螢光体膜(CaF2:Mnなど)のトラ
ップレベルにIFMされている放射線の照射強度分布を
レーザー光で掃引加熱して、そのときに発する螢光量を
光検出器で読み取るものである。
像パネル装置、4はレーザー発生装置およびレーザー光
線偏向装置、5は集光器、6は光検出器、7は画は再生
装置、8は画像表示装置をそれぞれ表わす。この装置の
動作原理は、熱螢光体膜(CaF2:Mnなど)のトラ
ップレベルにIFMされている放射線の照射強度分布を
レーザー光で掃引加熱して、そのときに発する螢光量を
光検出器で読み取るものである。
しかるに、このような従来技術においては次のような問
題点がある。
題点がある。
(1)レーザー発生袋#訃よび偏光装置が必要でありシ
ステムの小型化が困難である。
ステムの小型化が困難である。
(2)レーザー光線を偏光装置で掃引する方式であるの
で、読み取り時間の短縮がむずかしい。
で、読み取り時間の短縮がむずかしい。
この発明は上述した従来技術の欠点を改良したもので、
小型化が可能で像の再生時間も短かい二次元放射線検出
器を提供することを目的とする。
小型化が可能で像の再生時間も短かい二次元放射線検出
器を提供することを目的とする。
本発明は、放射線照射後に加熱することにより照射線量
に対応する光量を放出する熱螢光体膜の掃引加熱を、二
次元発熱抵抗素子パネルによって行うようにした二次元
放射線検出器である。
に対応する光量を放出する熱螢光体膜の掃引加熱を、二
次元発熱抵抗素子パネルによって行うようにした二次元
放射線検出器である。
本発明による効果は次の点である。
(1)掃引加熱手段としてのレーザー発生装置お・よび
偏光装置が不要であり、システムの小型化が容易である
。
偏光装置が不要であり、システムの小型化が容易である
。
(2)二次元発熱抵抗素子パネルにより掃引加熱を行う
ため、像の再生時間が短縮される。
ため、像の再生時間が短縮される。
本発明の実施例を第2図(a) 、 (b)により説明
する。
する。
第2図(a)は全体のシステム図、第2図(h)は二次
元発熱抵抗素子パネルの単位要素の構造図を示す。
元発熱抵抗素子パネルの単位要素の構造図を示す。
図中、9はX線管、10は被検体、11は集光シート、
12は二次光熱螢光体膜、13は二次元発熱抵抗素子パ
ネル、14はXアドレス回路、15はXアドレス回路、
16は駆動電源回路、 17は光電子増倍管、18はデ
ータ処理部、J9は画像表示装置、加は発熱抵抗素子(
W 、 Ni −Cr、 5n02など)、21はX行
電極、nはY行電極、乙はセラミック基板をそれぞれ表
わす0 −F記のような構造において、二次光熱螢光体膜12と
二次元発熱抵抗素子パネル13は密着しているため、熱
螢光体膜を電子的にしかも高速度に掃引加熱することが
可能となる。したがって装置の小型化も・よび像再生時
間の短縮が達成される。
12は二次光熱螢光体膜、13は二次元発熱抵抗素子パ
ネル、14はXアドレス回路、15はXアドレス回路、
16は駆動電源回路、 17は光電子増倍管、18はデ
ータ処理部、J9は画像表示装置、加は発熱抵抗素子(
W 、 Ni −Cr、 5n02など)、21はX行
電極、nはY行電極、乙はセラミック基板をそれぞれ表
わす0 −F記のような構造において、二次光熱螢光体膜12と
二次元発熱抵抗素子パネル13は密着しているため、熱
螢光体膜を電子的にしかも高速度に掃引加熱することが
可能となる。したがって装置の小型化も・よび像再生時
間の短縮が達成される。
第2図(a)の実施例にお・いて、集光シートの光取出
し口は一つであるが、複数個の光取出し口を設け、複数
個の光検出素子により光検知を行うことも可能である。
し口は一つであるが、複数個の光取出し口を設け、複数
個の光検出素子により光検知を行うことも可能である。
ス、熱螢光体膜、集光シート、発熱抵抗素子パネルの位
置関係も任意である。
置関係も任意である。
第1図は従来技術を説明するだめの図、第2図(a)
、 (b)は本発明の一実施例を説明するだめの図であ
る。 9・・・X線管、10・・被検体、11・・・集光シー
ト、】2・二次光熱螢光体膜、 13・・・二次元発熱抵抗素子パネル、14・・・X7
’ドレス回路、15・・・Xアドレス回路、16・・・
駆動電源回路、17・・光電子増倍管、18・・・デー
タ処理装置、19・・・画像表示装置、加・発熱抵抗素
子、21・・X行電極、22・・・Y行電極、 乙・・
セラミック基板。 第 1 図
、 (b)は本発明の一実施例を説明するだめの図であ
る。 9・・・X線管、10・・被検体、11・・・集光シー
ト、】2・二次光熱螢光体膜、 13・・・二次元発熱抵抗素子パネル、14・・・X7
’ドレス回路、15・・・Xアドレス回路、16・・・
駆動電源回路、17・・光電子増倍管、18・・・デー
タ処理装置、19・・・画像表示装置、加・発熱抵抗素
子、21・・X行電極、22・・・Y行電極、 乙・・
セラミック基板。 第 1 図
Claims (1)
- 放射線照射後に0口熱することにより照射線量に対応す
る光量を放出する物質から成る二次元熱螢光体膜と、こ
の二次元熱螢光体膜を加熱するだめの二次元発熱抵抗素
子パネルと、前記二次元熱螢器0
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2592982A JPS58143284A (ja) | 1982-02-22 | 1982-02-22 | 二次元放射線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2592982A JPS58143284A (ja) | 1982-02-22 | 1982-02-22 | 二次元放射線検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58143284A true JPS58143284A (ja) | 1983-08-25 |
Family
ID=12179460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2592982A Pending JPS58143284A (ja) | 1982-02-22 | 1982-02-22 | 二次元放射線検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58143284A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4866274A (en) * | 1984-12-07 | 1989-09-12 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Apparatus for recording and reproducing images produced by an electron microscope |
| JPH06337323A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Nec Corp | 光ファイバ融着接続部の補強構造及び補強方法 |
| US5661310A (en) * | 1994-03-28 | 1997-08-26 | Keithley Instruments, Inc. | Radiation dose mapping systems and methods |
-
1982
- 1982-02-22 JP JP2592982A patent/JPS58143284A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4866274A (en) * | 1984-12-07 | 1989-09-12 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Apparatus for recording and reproducing images produced by an electron microscope |
| JPH06337323A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Nec Corp | 光ファイバ融着接続部の補強構造及び補強方法 |
| US5661310A (en) * | 1994-03-28 | 1997-08-26 | Keithley Instruments, Inc. | Radiation dose mapping systems and methods |
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