JPS5814558A - 半導体装置の製造装置 - Google Patents

半導体装置の製造装置

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JPS5814558A
JPS5814558A JP56111956A JP11195681A JPS5814558A JP S5814558 A JPS5814558 A JP S5814558A JP 56111956 A JP56111956 A JP 56111956A JP 11195681 A JP11195681 A JP 11195681A JP S5814558 A JPS5814558 A JP S5814558A
Authority
JP
Japan
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heater
cases
glass
temperature
substrate
Prior art date
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Granted
Application number
JP56111956A
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English (en)
Other versions
JPS636151B2 (ja
Inventor
Toshiyuki Shikanaka
鹿中 利行
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS5814558A publication Critical patent/JPS5814558A/ja
Publication of JPS636151B2 publication Critical patent/JPS636151B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W95/00Packaging processes not covered by the other groups of this subclass

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体装置、特に円筒状のガラスケースと外部
リード取シ出し用のジュメット線とを耐熱抵抗性基板に
より融着封止してなる半導体装置の製造装置に関するも
のである。
従来、この種の技術を用いたものとして2例えばミニ型
ガラス封止ダイオードがある。゛すなわち。
円筒状のガラス管の一方がすでにビーズ巻きされたジュ
メット線によシ融着されたガラスケースに。
ガラス管内のジュメット線に半田片を介して半導体素子
(ダイオード菓子)を装着し、その後、他方の外部リー
ド取シ出しの為にビーズ巻きされたジュメット線7(以
下、探針リードと呼ぶ)とガラスケースの一方を融着気
密封止する4のである。
この気密封止方法は、ヒータとして用いる耐熱抵抗性基
板(以下、ヒータと呼ぶ)に複数個の加工穴を設け、該
加工穴に探針リードを配列し、該探針リードにガラス管
をかぶせた状態中ガラスケースを配列してヒータに大電
流を流し、その発熱によってガラスケースと探針リード
を加熱融着する方法である。尚、ガラスケースはヒータ
の加工穴の中にはガラス管の融着部のみが挿入されてお
シ、ガラスケースの他方の非融着部は、ガラ゛スケース
固定保持の為にヒータと同材質の耐熱抵抗性基板(以下
ガラスガイドと呼ぶ)の加工穴部に挿入されている。ガ
ラスガイド、はヒータとは適当なすき間をもり′て、か
つヒータとは電気的に絶縁されている。
この封止方法では、ヒータよシ発する熱がガラスガイド
板を伝わりて放熱すると云う欠点がある。
しかもその放熱はヒータの中心部が大で1周囲が小さい
と云う温度分布の均一性を欠く不都合が生じていた。仁
のため、ガラスケースと探針リードを一枚のヒータ内で
大量に融着封止する場合、その融着性に於いてヒータの
中心部と外周部ではバラツキが生じると云う品質1歩留
り上の欠点があ−5え。
本発明の目的は、これらの欠点を除去して高歩留シで同
時に大量に製造可能な融着封止装置を提供することにあ
る。
す表わち1本発明紘複数個の加工穴が設けられ九ヒータ
の周囲部に、温度分布を均一にするために窒素ガス等の
気体を適量吹き付けながらガラスケースとジュメット線
とを加熱融着するようにしたものである。
次に、7図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明
する。
第1図(!1)は本発明の一実施例を示すミニ型ガラス
封止ダイオードの封止方法の封止装置への製品セットア
ツプ後−の側面図である。ガラス管の一方がすでにジュ
メット線1によって封着されたガラスケース2と探針リ
ード3とがヒータ4にセットされている。ガラスケース
2は、融着される側がヒータ4に他方がガラスガイド5
のそれぞれの加工穴に挿入されている。ガラスガイド5
は絶縁スペーサ6を介してヒータ4の上面に適当なすき
間をもって設置されている。この状態で、封止装置の電
極7にセットし、ヒータ電極8を介してヒータに大電流
を流してガラスケース2と探針リード3を加熱融着する
。この際、ヒータ内の放熱による温度のバラツキしいて
は融着のバラツキを解決する為に、放熱の少々い部分、
すなわち、ヒータの周囲部にノズル9よシ窒素ガスを適
量吹き付け     □ヒータ内の熱のバランスを改善
する。
第4図(号は、第1図(a)のA−に間で断面したと仁
ろの上面よシ見た図である。窒素ガスは矢印の如くノズ
ル9よりヒータ4に配列された融着封止されるガラスケ
ース2の周囲の製品回すみに向って吹き付けられている
この様に本発明によれば、同ヒータ内の温度の高い部分
、すなわち放熱の少々い部分に窒素ガスを適量吹き付け
ることによシ、その部分の温度を下げて温度の低い部分
すなわち放熱の大きい部分と同等の温度にする事が可能
であシ、同一ヒータ内での温度分布の均一性を保つ事が
出来る。その結果、融着のバラツキが低減出来、同一と
−タ内で同時に大量に融着、封止する事が可能と表り。
コスト低減に大きな効果がある。
尚、窒素ガス以外の不活性ガスを用いてよいことは轟然
である。熱論、ガラス封′止ダイオードに限られる亀の
でもない。
【図面の簡単な説明】

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 複数個の加工穴が設けられたヒータ用基板の該加工穴に
    半導体容器と外部リード線とを配列し。 上記ヒータ用基板に電流を流してその発熱によりて上記
    半導体容器と上記外部リード線とを加熱融着する製造装
    置において、上記ヒータ用基板の周囲部にガス噴出口を
    設け、ガスを吹き付けながら上記半導体容器と上記外部
    リード線とを加熱融着することを特徴とする半導体装置
    の製造装置。
JP56111956A 1981-07-17 1981-07-17 半導体装置の製造装置 Granted JPS5814558A (ja)

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JPS5814558A true JPS5814558A (ja) 1983-01-27
JPS636151B2 JPS636151B2 (ja) 1988-02-08

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01299996A (ja) * 1988-05-27 1989-12-04 Sato Kogyo Co Ltd トンネル構築方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01299996A (ja) * 1988-05-27 1989-12-04 Sato Kogyo Co Ltd トンネル構築方法

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JPS636151B2 (ja) 1988-02-08

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