JPS58146808A - 平面度測定装置 - Google Patents
平面度測定装置Info
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- JPS58146808A JPS58146808A JP2962382A JP2962382A JPS58146808A JP S58146808 A JPS58146808 A JP S58146808A JP 2962382 A JP2962382 A JP 2962382A JP 2962382 A JP2962382 A JP 2962382A JP S58146808 A JPS58146808 A JP S58146808A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/306—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Supporting Of Heads In Record-Carrier Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は物体平面の平面度を超精密に、しかも自動的に
測定することを可能とする平面度測定装置を提案するも
のである。
測定することを可能とする平面度測定装置を提案するも
のである。
磁気記録装置の磁気ヘッドのスライダー面には0.05
/1m+以下という極めて精密な平面度が要求される趨
勢にある。平面度の非接触測定方法としては光の干渉を
利用した方法が種々存在するものの、上述の如き精度で
の測定を容易且つ安定に行わせる上で、機構部品の精度
、極微調整、測定精度の保守等の点での問題が多く、実
用化されている例は皆無である。
/1m+以下という極めて精密な平面度が要求される趨
勢にある。平面度の非接触測定方法としては光の干渉を
利用した方法が種々存在するものの、上述の如き精度で
の測定を容易且つ安定に行わせる上で、機構部品の精度
、極微調整、測定精度の保守等の点での問題が多く、実
用化されている例は皆無である。
本発明り所かる事情に鑑みてなされたものであって、o
、oi声−の精度での平面度測定を自動的に行える装置
の提供を目的とする。
、oi声−の精度での平面度測定を自動的に行える装置
の提供を目的とする。
まず本発明の測定装置による平面度測定の原理につき説
明するが、この原理自体は、本発明者の提案に係る特願
昭53−68674号(特開@54−159258号公
報)の「平面度測定方法」の測定原理と同様である。即
ち例えばフィゾー光学干渉系によって、第1図に示すよ
うに被検平面とオプチカルフラット等の参照平面との干
渉縞lを得る。
明するが、この原理自体は、本発明者の提案に係る特願
昭53−68674号(特開@54−159258号公
報)の「平面度測定方法」の測定原理と同様である。即
ち例えばフィゾー光学干渉系によって、第1図に示すよ
うに被検平面とオプチカルフラット等の参照平面との干
渉縞lを得る。
この干渉縞1のパターンをその長手方向を干渉縞の縞幅
方向に整合させ九1次元のイメージセンサ34によって
、線方向に相異る3つの位置a、b。
方向に整合させ九1次元のイメージセンサ34によって
、線方向に相異る3つの位置a、b。
Cにて捉え、所定の明線(又は暗線)の位置1゜b、c
夫々における縞幅方向位置Pa、Pb、Pc及び縞ピッ
チPをイメージセンナ出力から検知し、平面度Fを λ jP F=−×−・・・(1) n P 但し、人:干渉光源波長 n:干渉次数(但しここではn=1 )ΔP=Pb−ヱ
し丑上虹 ・・・(2)として算出するもの
である。
夫々における縞幅方向位置Pa、Pb、Pc及び縞ピッ
チPをイメージセンナ出力から検知し、平面度Fを λ jP F=−×−・・・(1) n P 但し、人:干渉光源波長 n:干渉次数(但しここではn=1 )ΔP=Pb−ヱ
し丑上虹 ・・・(2)として算出するもの
である。
そして本発明装置はイメージセンサの走査に新規な工夫
を施すと共に走査によって得たイメージセンサ出力を視
認し得て信頼感、操作性を高めた平面度測定装置を提供
することを目的とする。
を施すと共に走査によって得たイメージセンサ出力を視
認し得て信頼感、操作性を高めた平面度測定装置を提供
することを目的とする。
以下本発明をその実施例を示す図1fiK基いて具体的
に説明する。
に説明する。
第2図は本発明装置の外観図、第3図はその光学系のレ
イアクト図である。この光学系は被検物lOをその測定
対象平面10iを上に向けて載置すべき、上下#0J能
のサンプルステージ11を除いて内部を遮光したケース
12内に納められている。
イアクト図である。この光学系は被検物lOをその測定
対象平面10iを上に向けて載置すべき、上下#0J能
のサンプルステージ11を除いて内部を遮光したケース
12内に納められている。
干渉光源となるHe−Neレーデ(波長0.6328)
を調)21はサンプルステージ11の後側に投けたケー
ス12の筒状部12a内に出力側を上方にして鉛直に収
付けてあり、レーザビームは光量調整用に設けたNDフ
ィルタ22.ビーム拡紋レンズ23.直径20声調のピ
ンホール24を経て上方に設けた全反射−25に到るよ
うにしである。全反射鏡25は水平面、鉛直面の双方に
対して45°傾斜させてピンホール24を出た細径レー
ザビームをケース12の11方へ水平に反射すべく配し
てあり、この反射レーザビームの光路におけるサンプル
ステージ11の上方KFi全反射鏡26が水平面、鉛直
面の双方に対して45@傾斜させて、サンプルステージ
11に向けて鉛直にレーデビームを投じるように配して
あり、このレーデビームはいずれも全反射鏡26とサン
プルステージ11との闇に配し九対物レンズとしてのア
クロマート27、ハーフミツ28及びオプチカルフラッ
ト?9を経てサンプルステージ11に向かうようにしで
ある。/1−7ミラ28は水平面、鉛直面の双方に対し
て45°傾斜させて、オプチカルフラット29側からの
光、つまりオプチカル7ラツト29の参照平面29暑と
被検平面10aとによる干渉縞パターンをケース12の
左方へ水平に反射すべく配しである。
を調)21はサンプルステージ11の後側に投けたケー
ス12の筒状部12a内に出力側を上方にして鉛直に収
付けてあり、レーザビームは光量調整用に設けたNDフ
ィルタ22.ビーム拡紋レンズ23.直径20声調のピ
ンホール24を経て上方に設けた全反射−25に到るよ
うにしである。全反射鏡25は水平面、鉛直面の双方に
対して45°傾斜させてピンホール24を出た細径レー
ザビームをケース12の11方へ水平に反射すべく配し
てあり、この反射レーザビームの光路におけるサンプル
ステージ11の上方KFi全反射鏡26が水平面、鉛直
面の双方に対して45@傾斜させて、サンプルステージ
11に向けて鉛直にレーデビームを投じるように配して
あり、このレーデビームはいずれも全反射鏡26とサン
プルステージ11との闇に配し九対物レンズとしてのア
クロマート27、ハーフミツ28及びオプチカルフラッ
ト?9を経てサンプルステージ11に向かうようにしで
ある。/1−7ミラ28は水平面、鉛直面の双方に対し
て45°傾斜させて、オプチカルフラット29側からの
光、つまりオプチカル7ラツト29の参照平面29暑と
被検平面10aとによる干渉縞パターンをケース12の
左方へ水平に反射すべく配しである。
ハーフミラ28から反射された光ビームはケース12の
左右方向及び前後方向の双方に対して45゜傾斜させで
あるハーフミラ31を透過して、鉛直軸回りに水平回転
可能に取付けた全反射鏡−32に到り、またハーフミラ
31に反射されてケース12の正面に設けたピントフー
ド33に到るようになっている。ピントフード33は干
渉縞の目視観察及び写真撮影のためのものである。全反
射@32の鉛直軸の後方には1次元のイメージセンサ3
4がその長手方向を鉛直方向にして立設されており、全
反射鏡32をケース12の左右方向及び前後方向の双方
に対して45°傾斜する回動位置になった場合に、イメ
ージセンサ34の視野位置が第1図に示すb位置、つま
りこれらの光学系によって得られる干渉縞の略中央位置
に在り、全反射鏡32が平面視で時計方向(又は反時計
方向)へ回前すると、イメージセンサ34の視野位置は
C位置方回(又は8位置方向)へ偏位することになる。
左右方向及び前後方向の双方に対して45゜傾斜させで
あるハーフミラ31を透過して、鉛直軸回りに水平回転
可能に取付けた全反射鏡−32に到り、またハーフミラ
31に反射されてケース12の正面に設けたピントフー
ド33に到るようになっている。ピントフード33は干
渉縞の目視観察及び写真撮影のためのものである。全反
射@32の鉛直軸の後方には1次元のイメージセンサ3
4がその長手方向を鉛直方向にして立設されており、全
反射鏡32をケース12の左右方向及び前後方向の双方
に対して45°傾斜する回動位置になった場合に、イメ
ージセンサ34の視野位置が第1図に示すb位置、つま
りこれらの光学系によって得られる干渉縞の略中央位置
に在り、全反射鏡32が平面視で時計方向(又は反時計
方向)へ回前すると、イメージセンサ34の視野位置は
C位置方回(又は8位置方向)へ偏位することになる。
全反射鏡32Vi適宜の枠体−32aに収付けられてお
り、その下側中央から下方へ延出させた丸軸を回転軸3
2bとし、この回転軸32b Kはギヤ32cが嵌着さ
れており、下端には図示しない架台に支持された回転エ
ンコーダ41が連結されている。回転エンコーダ41の
側方には出力軸を鉛直にしたパルスモータ42が架台に
取付けられており、その出力軸に嵌着したギヤ42mと
前記ギヤ32cとの間にはコグドペル)13が掛は回さ
れており、パルスモータ42の駆動によって全反射!#
32を水千回転させるようKしである。全反射鏡32又
はその枠体32aの回動域にはこの回動減成を規定する
リミットスイッチ43.44が設けられており、この回
#J′wt限は前述のようにイメージセンす34の視野
位置がb位置にある状態から反時計方向及び時計方向へ
略々等角度(10°以下)回動し九位置に定めである。
り、その下側中央から下方へ延出させた丸軸を回転軸3
2bとし、この回転軸32b Kはギヤ32cが嵌着さ
れており、下端には図示しない架台に支持された回転エ
ンコーダ41が連結されている。回転エンコーダ41の
側方には出力軸を鉛直にしたパルスモータ42が架台に
取付けられており、その出力軸に嵌着したギヤ42mと
前記ギヤ32cとの間にはコグドペル)13が掛は回さ
れており、パルスモータ42の駆動によって全反射!#
32を水千回転させるようKしである。全反射鏡32又
はその枠体32aの回動域にはこの回動減成を規定する
リミットスイッチ43.44が設けられており、この回
#J′wt限は前述のようにイメージセンす34の視野
位置がb位置にある状態から反時計方向及び時計方向へ
略々等角度(10°以下)回動し九位置に定めである。
以上の構成から理解されるように干渉光路部、より詳し
くは光束重合せ光学系の検出側の光を回転可能な全反射
鏡32(プリズムでもよい)にてイメージセンサ34へ
向かわせる構成としており、全反射鏡32の回転によシ
縞を読取るべき位置を変更するようにしているのである
。なお上述の構成はフィゾー干渉光学系を用いたが、マ
イクルソン干渉光学系等、他の干渉縞を得る丸めの光学
系も同様に使用できる。その他14.14はオプチカル
フラット29の姿勢調整用の、ネジ、3社ケース12外
に設けたレーデ用電源である。
くは光束重合せ光学系の検出側の光を回転可能な全反射
鏡32(プリズムでもよい)にてイメージセンサ34へ
向かわせる構成としており、全反射鏡32の回転によシ
縞を読取るべき位置を変更するようにしているのである
。なお上述の構成はフィゾー干渉光学系を用いたが、マ
イクルソン干渉光学系等、他の干渉縞を得る丸めの光学
系も同様に使用できる。その他14.14はオプチカル
フラット29の姿勢調整用の、ネジ、3社ケース12外
に設けたレーデ用電源である。
ケース12及びその内部の光学系よシなる測定装置本体
2けri動による測定誤差を排除するえめに各部を可及
的に堅固に構成してあり、また底面には防振ゴム脚15
を取付ける等の配慮をしである。更に光学系の取付位置
の精度、咳は可動部の工作精度等FilO,g嘴オーダ
とする。更にまた、ハーフミラ28,31及びオプチカ
ルフラット29は裏面干渉を回避する九めに裏面に故度
のテーパを付したものを用いる。
2けri動による測定誤差を排除するえめに各部を可及
的に堅固に構成してあり、また底面には防振ゴム脚15
を取付ける等の配慮をしである。更に光学系の取付位置
の精度、咳は可動部の工作精度等FilO,g嘴オーダ
とする。更にまた、ハーフミラ28,31及びオプチカ
ルフラット29は裏面干渉を回避する九めに裏面に故度
のテーパを付したものを用いる。
第4図は本発明装置の電子回路の要部を略本するブロッ
ク図である。この電子回路のうち前述のイメージセンサ
34.回転エンコーダ41.゛パルスモータ42.その
駆動回路53.リミットスイッチ43.44並びにイメ
ージセンサ34用の駆動回路45及びヘッドアンプ46
、その他若干の操作部材、パイロットランプの外は制御
部4としてそのケース47の内外に取付けられている。
ク図である。この電子回路のうち前述のイメージセンサ
34.回転エンコーダ41.゛パルスモータ42.その
駆動回路53.リミットスイッチ43.44並びにイメ
ージセンサ34用の駆動回路45及びヘッドアンプ46
、その他若干の操作部材、パイロットランプの外は制御
部4としてそのケース47の内外に取付けられている。
48は本発明装置の制御・演算の中枢となるマイクロコ
ンピュータであってCPU (中央処理装置)、ROM
(読出し専用メモリ)、RAM(ランダムアクセスメ
モリ)、入出力インターフェース、タロツクパルス発振
回路等を備えている。
ンピュータであってCPU (中央処理装置)、ROM
(読出し専用メモリ)、RAM(ランダムアクセスメ
モリ)、入出力インターフェース、タロツクパルス発振
回路等を備えている。
制御部4の正面に臨ませ九スタートスイッチ49及びス
トップスイッチ50はマイクロコンピュータ(以下マイ
コンという)48に対して測定の開始及び停止又は中断
を夫々指令する押ボタン式の照光スイッチであシ、押込
操作によって上記指令をマイコン48に与えると共に1
マイコン48側からの信号にて点灯する。同じ< I制
御部4の正面に臨ませたディジタルスイッチ51はサム
ホイルスイッチ2桁分からなり、その置敷内容を被検物
IOの平面度演算始象とするイメージセンナ出力を得べ
き視野を指定する丸めのデータ、換言すれば位置a、c
を視野とするときの全反射鏡32の回転角度位置を指示
する九めのデータとしてマイコン48に与えるものであ
る。前記回転エンローダ41U全反射鏡32の1@の回
転にり110発のパルスを出力するように構成してアシ
、その出力はエンコーダインターフェース52を介して
マイコン48へ読込まれる。反時計方向への回動減成を
規定するリミットスイッチ43及び時計方向への回動減
成を規定するリミットスイッチ440作動状態はいずれ
もマイコン48へ読込まれる。
トップスイッチ50はマイクロコンピュータ(以下マイ
コンという)48に対して測定の開始及び停止又は中断
を夫々指令する押ボタン式の照光スイッチであシ、押込
操作によって上記指令をマイコン48に与えると共に1
マイコン48側からの信号にて点灯する。同じ< I制
御部4の正面に臨ませたディジタルスイッチ51はサム
ホイルスイッチ2桁分からなり、その置敷内容を被検物
IOの平面度演算始象とするイメージセンナ出力を得べ
き視野を指定する丸めのデータ、換言すれば位置a、c
を視野とするときの全反射鏡32の回転角度位置を指示
する九めのデータとしてマイコン48に与えるものであ
る。前記回転エンローダ41U全反射鏡32の1@の回
転にり110発のパルスを出力するように構成してアシ
、その出力はエンコーダインターフェース52を介して
マイコン48へ読込まれる。反時計方向への回動減成を
規定するリミットスイッチ43及び時計方向への回動減
成を規定するリミットスイッチ440作動状態はいずれ
もマイコン48へ読込まれる。
リミットスイッチ43.44の作動状態はマイコン48
によるパルスモータ42の発停制御情報となる。即ちイ
ニシャル状態では全反射鏡32Fiリミツトスイツチ4
3を作動せしめている状態にあり、この状態でスタート
スイッチ49を押込操作するとマイコン48はモータ駆
動回路53ヘパルスモーク42を正転させて全反射鏡3
2を時計方向へ回動させるべき信号を発し、これによる
回動が行われて全反射@32がリミットスイツφ44を
作動せしめえり、纜はストップスイッチ50が押込操作
され九場合は上述の正転のための信号を断ち、モータ駆
動回路53ヘパルスモータ42を逆転させて、全反射鏡
32を反時計方向へ回動させるべき信号を発し、これK
よる回転が行われてリミットスイッチ43が作動すると
モータ駆動回路53への信号が断たれる。
によるパルスモータ42の発停制御情報となる。即ちイ
ニシャル状態では全反射鏡32Fiリミツトスイツチ4
3を作動せしめている状態にあり、この状態でスタート
スイッチ49を押込操作するとマイコン48はモータ駆
動回路53ヘパルスモーク42を正転させて全反射鏡3
2を時計方向へ回動させるべき信号を発し、これによる
回動が行われて全反射@32がリミットスイツφ44を
作動せしめえり、纜はストップスイッチ50が押込操作
され九場合は上述の正転のための信号を断ち、モータ駆
動回路53ヘパルスモータ42を逆転させて、全反射鏡
32を反時計方向へ回動させるべき信号を発し、これK
よる回転が行われてリミットスイッチ43が作動すると
モータ駆動回路53への信号が断たれる。
マイコン48にはイメージセンサ34の視野位置又は全
反射鏡の回動位置特定の喪めのカクンタを備えており、
このカクンタは回転エンコーグ41が発する原点パルス
にてクリヤされるようKしである。この原点パルスは全
反射@32がリミットスイッチ43作動位置から少し時
計方向に回動した位置にて得られるように回転輪32b
と回転エンコーグ41とを連結しである。そしてマイコ
ン48は上記カクンタの計数値が90になる全反射鏡3
2の回動位置Bを、そのと拳のイメージセンサ出力を平
面度演算に用いるべき視野位置すとし、ディジタルスイ
ッチ51による置数をXとすると、カクンタ計数値が9
0−x 、 90−1−xとなる2つの回動位[A、C
を、そのときのイメージセンナ出力を平面度演算に用い
るべき視野位置a、cとする。
反射鏡の回動位置特定の喪めのカクンタを備えており、
このカクンタは回転エンコーグ41が発する原点パルス
にてクリヤされるようKしである。この原点パルスは全
反射@32がリミットスイッチ43作動位置から少し時
計方向に回動した位置にて得られるように回転輪32b
と回転エンコーグ41とを連結しである。そしてマイコ
ン48は上記カクンタの計数値が90になる全反射鏡3
2の回動位置Bを、そのと拳のイメージセンサ出力を平
面度演算に用いるべき視野位置すとし、ディジタルスイ
ッチ51による置数をXとすると、カクンタ計数値が9
0−x 、 90−1−xとなる2つの回動位[A、C
を、そのときのイメージセンナ出力を平面度演算に用い
るべき視野位置a、cとする。
但しX Fia −c同寸法を一単位で表わす数値とし
て置数され、また回転エンコーダパルスが視野中のQ、
2 sw K相当するように光学系を構成しているので
x −(X/2)+0.2として算出される。
て置数され、また回転エンコーダパルスが視野中のQ、
2 sw K相当するように光学系を構成しているので
x −(X/2)+0.2として算出される。
イメージセンサ34はこれによって捉える干渉縞の本数
あたり100ビツト程度のものが望ましい。
あたり100ビツト程度のものが望ましい。
けだし相隣用縞(又は暗線)同寸法のを1/100の精
度で測定するのであるから、この場合の精度は理論的に (λ/2 )X(1/1GG )中0.003声調にす
ることができ、実用上での0.O1声−の精度を容易に
実現できるからである。従って実施例で#′i10本の
干渉縞を捉える光学系の構成に対して1024ピツトの
MOSセンサを用いた。なおイメージセンサ34のフォ
トダイオードピッチは20声陶である。
度で測定するのであるから、この場合の精度は理論的に (λ/2 )X(1/1GG )中0.003声調にす
ることができ、実用上での0.O1声−の精度を容易に
実現できるからである。従って実施例で#′i10本の
干渉縞を捉える光学系の構成に対して1024ピツトの
MOSセンサを用いた。なおイメージセンサ34のフォ
トダイオードピッチは20声陶である。
さてマイコン48はデータ読込の処理に入ると駆動回路
45に対してスタートパルス及びクロックパルスを発す
る。駆動回路45はこれを所要レベルにして・イメージ
センサ34に与える。そうするとイメージセンサ34F
i第1ビツトから第1024ピントまで順次走査されて
、その受光fIK応じたレベルのビデオ出力を発し、こ
のビデオ出力はヘッドアンプ46にて増幅されてl!I
II御部4例のピークホールド増幅器55、ローパスフ
ィルタ56g 。
45に対してスタートパルス及びクロックパルスを発す
る。駆動回路45はこれを所要レベルにして・イメージ
センサ34に与える。そうするとイメージセンサ34F
i第1ビツトから第1024ピントまで順次走査されて
、その受光fIK応じたレベルのビデオ出力を発し、こ
のビデオ出力はヘッドアンプ46にて増幅されてl!I
II御部4例のピークホールド増幅器55、ローパスフ
ィルタ56g 。
56b又は56c1サンプルホ一ルド増幅器57及びん
小コンバータ58を介してマイコン48にデイジタルデ
ータとして取込まれる。サンプルホールド周期及びい変
換周期は駆動回路45へ与えるクロックパルス周期と整
合させである。
小コンバータ58を介してマイコン48にデイジタルデ
ータとして取込まれる。サンプルホールド周期及びい変
換周期は駆動回路45へ与えるクロックパルス周期と整
合させである。
ローパスフィルタ56畠、 56b、 56c Fi夫
々の遮断周波数が500Hz、 250Hz、 110
OHと異っており、切換スイッチ59によっていずれか
一つが選択されるようになっている。いずれを選択する
かは雑音の周波数に応じて定めればよい。
々の遮断周波数が500Hz、 250Hz、 110
OHと異っており、切換スイッチ59によっていずれか
一つが選択されるようになっている。いずれを選択する
かは雑音の周波数に応じて定めればよい。
このようにして取込まれ九データに基き、(1)式に依
る平面度Fの演算が行われ、その結果が制御部4の正面
に設けた4桁の数値表示装置60にノ一単位で小数以下
3桁まで表示されるようにしてあり、更に全反射鏡32
0回#によって行われるイメージセンサ34の視野走査
にて得られる視野全体の干渉縞の2次元情報を、ケース
4フ正面に設けたCRT 63に表示するようにして一
為。このCRT63への表示は次のような回路構成によ
って行われる。
る平面度Fの演算が行われ、その結果が制御部4の正面
に設けた4桁の数値表示装置60にノ一単位で小数以下
3桁まで表示されるようにしてあり、更に全反射鏡32
0回#によって行われるイメージセンサ34の視野走査
にて得られる視野全体の干渉縞の2次元情報を、ケース
4フ正面に設けたCRT 63に表示するようにして一
為。このCRT63への表示は次のような回路構成によ
って行われる。
64はCRT63の画素に対応づけた画像メモリであっ
て、表示させるべきパターンの情報がマイコン48に制
御されて書込まれ、ま九これから続出されてCRT63
に*示される。表示S曽るべきパターンは明線及び視野
位置a、b、cを表す縦線であり、夫々が白表示される
。マイコン48Fiこの白表示を行わせるべきCRT6
3の画素を特定するデータを書込アドレスWADとして
、マルチプレクサ65経由で画像メモリ64へ与え、ま
た書込データそのものは白黒を表す1ビツトデータを直
接メモリ64へ与える。マルチプレクサ65はマイコン
48から書込イネーブル信号WEが与えられると書込ア
ドレスWADを選択してこれを画像メモリ64へ入力さ
せる。書込イネーブル徊*WEけ画像メモリ64へも与
えられ、これが与えられている闇、画像メモリ64は書
込可能な状態になる。
て、表示させるべきパターンの情報がマイコン48に制
御されて書込まれ、ま九これから続出されてCRT63
に*示される。表示S曽るべきパターンは明線及び視野
位置a、b、cを表す縦線であり、夫々が白表示される
。マイコン48Fiこの白表示を行わせるべきCRT6
3の画素を特定するデータを書込アドレスWADとして
、マルチプレクサ65経由で画像メモリ64へ与え、ま
た書込データそのものは白黒を表す1ビツトデータを直
接メモリ64へ与える。マルチプレクサ65はマイコン
48から書込イネーブル信号WEが与えられると書込ア
ドレスWADを選択してこれを画像メモリ64へ入力さ
せる。書込イネーブル徊*WEけ画像メモリ64へも与
えられ、これが与えられている闇、画像メモリ64は書
込可能な状態になる。
タイミング信号発生器66は発振器9分局器等からなり
、マイコン48からの信号によって起動され、CRT6
3の表示の丸めの垂直同期信号■S。
、マイコン48からの信号によって起動され、CRT6
3の表示の丸めの垂直同期信号■S。
水平同期信号H8を発し、これらの同期信号vS。
H5#−1CRT63及び読出しアドレス発生回路67
へ与えられる。タイミング信号発生器66Fi水平同期
信号H8の1周期内にCRT63の水平方向画素数に等
しい欽現れるクロックパルスCLKを発し、これを続出
しアドレス幾生回路67へ与える。続出しアドレス発生
回路67はCWT@3て0ビーム走査に応じたデータ続
出しを行うべく1働メモリ64の続出しアドレス鼠ムD
を作成する1IIIてあって主走査方向(水平方向)ア
ドレスは水平同期信号H3にてリセットされ、クロック
信号CLK Kてインクリメントされ、を九劇走査方崗
(II直方向)アドレスFi垂直同期信号VSKてリセ
ットされ、水平同期信号H5Kてインクリメントされる
構成としである。更にこのタイミング尭生−路66はC
RT63のビーム走査の垂直帰線期間にマイコン48へ
所定信号を発する。マイコン48はこの信号を受けてC
RT63での表示Km岡係傘ζ0期闇にデータ書込を行
わせるべく前記書込イネーブル信号wg等を尭する。
へ与えられる。タイミング信号発生器66Fi水平同期
信号H8の1周期内にCRT63の水平方向画素数に等
しい欽現れるクロックパルスCLKを発し、これを続出
しアドレス幾生回路67へ与える。続出しアドレス発生
回路67はCWT@3て0ビーム走査に応じたデータ続
出しを行うべく1働メモリ64の続出しアドレス鼠ムD
を作成する1IIIてあって主走査方向(水平方向)ア
ドレスは水平同期信号H3にてリセットされ、クロック
信号CLK Kてインクリメントされ、を九劇走査方崗
(II直方向)アドレスFi垂直同期信号VSKてリセ
ットされ、水平同期信号H5Kてインクリメントされる
構成としである。更にこのタイミング尭生−路66はC
RT63のビーム走査の垂直帰線期間にマイコン48へ
所定信号を発する。マイコン48はこの信号を受けてC
RT63での表示Km岡係傘ζ0期闇にデータ書込を行
わせるべく前記書込イネーブル信号wg等を尭する。
さて第5図はマイコン480−一内専を示す主要プログ
ラムの70−チャートであ為、スタートス4ツチ4Gが
操作されるとパルス毫−夕43を正回転させる。
ラムの70−チャートであ為、スタートス4ツチ4Gが
操作されるとパルス毫−夕43を正回転させる。
そしてディジタルスイッチ51の置数内容Xを読込み、
P1w90−x、 P1=90十xを算出する。 これ
らPr*P@及びB位置を規定するP、−90を所定レ
ジスタに格納する。併せてPr−Pt−PaK相当する
視野位置a、b、cを白絣線表示のために画像メモリ6
4へ書込む。これら縦線の表示の場合は書込アドレスの
水平方向番地が夫々同一である。
P1w90−x、 P1=90十xを算出する。 これ
らPr*P@及びB位置を規定するP、−90を所定レ
ジスタに格納する。併せてPr−Pt−PaK相当する
視野位置a、b、cを白絣線表示のために画像メモリ6
4へ書込む。これら縦線の表示の場合は書込アドレスの
水平方向番地が夫々同一である。
パルスモータ42が回転を開始すると少し遅れて回転エ
ンコーダ41から原点パルスが入力きれる。
ンコーダ41から原点パルスが入力きれる。
この原点パルス入力によりイメージセンサ34の視野位
置を特定するために回転エンコーダ41の出力パルスを
計数する力作ンタをリセットする。
置を特定するために回転エンコーダ41の出力パルスを
計数する力作ンタをリセットする。
そしてイメージセンサ34からのデータ読込(後述)を
行い、ピークアドレスの計算(後述)を行う。ピークア
ドレスとは明線を捉えているイメージセンサ34のビッ
トのアドレスl−1024であり、前述のP 、 jP
の算出に用いる情報である。そして算出したピークアド
レス(明線の数だけ有る)を表示のために画像メモリ6
4へ書込ませる。前記原点パルスが得られる位置、即ち
カタンクの内容がOである場合の視野での検出結果を表
示すべきCRT63での位置はラスク左端寄りの位置に
なるように、書込アドレスWADの水平方向番地が定め
られ、この番地を共有する垂直方向番地が前記ピークア
ドレスに関連づけて定められる。
行い、ピークアドレスの計算(後述)を行う。ピークア
ドレスとは明線を捉えているイメージセンサ34のビッ
トのアドレスl−1024であり、前述のP 、 jP
の算出に用いる情報である。そして算出したピークアド
レス(明線の数だけ有る)を表示のために画像メモリ6
4へ書込ませる。前記原点パルスが得られる位置、即ち
カタンクの内容がOである場合の視野での検出結果を表
示すべきCRT63での位置はラスク左端寄りの位置に
なるように、書込アドレスWADの水平方向番地が定め
られ、この番地を共有する垂直方向番地が前記ピークア
ドレスに関連づけて定められる。
回転エンコーダ41からのパルスが入力されると再びイ
メージセン−?34からのデータ読込を行い、同様にピ
ークアドレスの算出及び画像メモリへの書込を行う。次
いでカクンタをインクリメントする。これをカクンタの
計数内容がレジスタのP、に一致するまで反復する。な
おこの闇書込に関係のない期間にあってけ画像メモリ6
4から逐次舟体まれていくデータが読出されCRT63
に次々と表示されていく。
メージセン−?34からのデータ読込を行い、同様にピ
ークアドレスの算出及び画像メモリへの書込を行う。次
いでカクンタをインクリメントする。これをカクンタの
計数内容がレジスタのP、に一致するまで反復する。な
おこの闇書込に関係のない期間にあってけ画像メモリ6
4から逐次舟体まれていくデータが読出されCRT63
に次々と表示されていく。
而してカクンタ内容がP、になった場合はピークアドレ
スPile Plffi・・・Ps(・・・を計算し
、これをマイコン48内RAMに格納すると共に画像メ
モリ64に書込む。この場合、RAMへの書込は別の2
つの頭載に格納され、一方#′iP、JPの演算に、他
方は次のピークアドレスとの対応のために用いられる。
スPile Plffi・・・Ps(・・・を計算し
、これをマイコン48内RAMに格納すると共に画像メ
モリ64に書込む。この場合、RAMへの書込は別の2
つの頭載に格納され、一方#′iP、JPの演算に、他
方は次のピークアドレスとの対応のために用いられる。
そして回転エンコーダからのパルスが入力されるat<
txイメージセン?34からのデータ読込、カクンタ
のインクリメントを行う。そしてイメージセンサから読
込んだデータによシビークアドレスを計算し、画像メモ
リ64へ書込む。また算出したピークアドレスを、1つ
前のピークアドレス計算にて得たピークアドレス、最初
はPII、P、t・・・P+1・・・と比較し、新規に
現れた明線、消滅した明線等に対応するピークアドレス
に対する履歴をRAMにアドレスと共に格納する。そし
てピークアドレスをRAMに格納し、次に算出されたピ
ークアドレスとの比較データとして用いる。斯かる処理
をカクンタ内容がP2になる迄継続する。上述の如きピ
ークアドレスの順次比較により、明線の同定が行われる
結果、干渉縞パターンが複雑であってもλ/2波長分相
異する相@明線を誤認混同することはない。
txイメージセン?34からのデータ読込、カクンタ
のインクリメントを行う。そしてイメージセンサから読
込んだデータによシビークアドレスを計算し、画像メモ
リ64へ書込む。また算出したピークアドレスを、1つ
前のピークアドレス計算にて得たピークアドレス、最初
はPII、P、t・・・P+1・・・と比較し、新規に
現れた明線、消滅した明線等に対応するピークアドレス
に対する履歴をRAMにアドレスと共に格納する。そし
てピークアドレスをRAMに格納し、次に算出されたピ
ークアドレスとの比較データとして用いる。斯かる処理
をカクンタ内容がP2になる迄継続する。上述の如きピ
ークアドレスの順次比較により、明線の同定が行われる
結果、干渉縞パターンが複雑であってもλ/2波長分相
異する相@明線を誤認混同することはない。
而してカクンタ内容がP、になると、Plの場合同様に
ピークアドレスPtL*Ptt・・・Pl・・・を算出
しこれを表示のためKIIIIi像メモリ64へ書込み
、また平面度演算又#i明線同定のためにRAMに格納
する。
ピークアドレスPtL*Ptt・・・Pl・・・を算出
しこれを表示のためKIIIIi像メモリ64へ書込み
、また平面度演算又#i明線同定のためにRAMに格納
する。
以下P、〜P3間においてはピークアドレスを画像メモ
リ64へ書込み、また明線同定の丸めにRAMに格納す
る。またカクンタがPsKなつ九場合はPl。
リ64へ書込み、また明線同定の丸めにRAMに格納す
る。またカクンタがPsKなつ九場合はPl。
P、におけると同様に画像メモリ64への書込、RAM
への格納を行う。
への格納を行う。
その後にリミットスイッチ44が作動する迄データ読込
、ピークアドレス計算、ピークアドレスの画像メモリ6
4への書込等を反復実行し、リミットスイッチ44の作
動にてパルスモークを逆転させ、Pb Pt* Plで
のピークアドレスのうち、共通する明線に関連するもの
につき平面度の演算を行い、これを数値表示装置60に
表示させる。
、ピークアドレス計算、ピークアドレスの画像メモリ6
4への書込等を反復実行し、リミットスイッチ44の作
動にてパルスモークを逆転させ、Pb Pt* Plで
のピークアドレスのうち、共通する明線に関連するもの
につき平面度の演算を行い、これを数値表示装置60に
表示させる。
以上により全反射鏡32が回動することによって変じる
イメージセンサ34の視野のうち、回転エンコーダ41
の原点パルスが得られる位置からそれよりも視野位vi
a、b、c方向の視野f14斌についてはピークアドレ
ス又は萌縞のデータが画像メモリ64に書込まれたこと
Kなるので、それ以後CRT63にはピントフード33
に現れるパターンと同様の拡大された縞パターン及び視
野位置龜。
イメージセンサ34の視野のうち、回転エンコーダ41
の原点パルスが得られる位置からそれよりも視野位vi
a、b、c方向の視野f14斌についてはピークアドレ
ス又は萌縞のデータが画像メモリ64に書込まれたこと
Kなるので、それ以後CRT63にはピントフード33
に現れるパターンと同様の拡大された縞パターン及び視
野位置龜。
b、cを示す綾線が表示される。
次にイメージセンサからのデータ読込処理について第6
図のフローチャートに基き説明する。回転エンコーダ4
1パルスが入力される等、データ読込開始の所定の条件
が整うと駆動回路45にスタートパルスを与えるべく接
続しである出力ポートをハイレベルにし、所定のカクン
タに3をセントシ、次いでクロックパルスを駆動回路4
5へ発する。このタロツクパルスにて上記カクンタをデ
クリメントし、カクンタ内容が0になったあと上記出力
ポートをローレベルにする。即ちスタートパルスを立下
らせる。ここまでの処理は使用イメージセンサ34がス
タートパルスを受けてから最初のビットの出力を発する
迄の時間遅れ(クロックパルス3発分)を補償するため
のものである。
図のフローチャートに基き説明する。回転エンコーダ4
1パルスが入力される等、データ読込開始の所定の条件
が整うと駆動回路45にスタートパルスを与えるべく接
続しである出力ポートをハイレベルにし、所定のカクン
タに3をセントシ、次いでクロックパルスを駆動回路4
5へ発する。このタロツクパルスにて上記カクンタをデ
クリメントし、カクンタ内容が0になったあと上記出力
ポートをローレベルにする。即ちスタートパルスを立下
らせる。ここまでの処理は使用イメージセンサ34がス
タートパルスを受けてから最初のビットの出力を発する
迄の時間遅れ(クロックパルス3発分)を補償するため
のものである。
次にそのデータ読込の場合に用意されたRAM内X I
Jアの先頭番地″に′をアドレスカクンタにセットし、
またカクンタにはイメージセンサ34のビット3102
4をセットする。そしてクロックパルスに同期してイメ
ージセンサ34の出力をA/[1変換LS父換データを
に番地に格納し、アドレスカクンタをインクリメント、
上記カクンタをデクリメントする。このような処理をカ
クンタがOになるまで継続し、RAMのに−に+102
3番地にデータを格納する。
Jアの先頭番地″に′をアドレスカクンタにセットし、
またカクンタにはイメージセンサ34のビット3102
4をセットする。そしてクロックパルスに同期してイメ
ージセンサ34の出力をA/[1変換LS父換データを
に番地に格納し、アドレスカクンタをインクリメント、
上記カクンタをデクリメントする。このような処理をカ
クンタがOになるまで継続し、RAMのに−に+102
3番地にデータを格納する。
第7図はピークアドレスの計算の丸めの処理内容を示す
フローチャートである。まず第1のアドレスカクンタ6
CK(処理対象とする1024のデータを格納したRA
Mエリアの先頭番地)+50をセットし、別のカクンク
には900をセットする。これは1024のデータのう
ち上端の51ビツト、下端の124ビツトをデータ処理
対象から外すための処置である。次いで計算したピーク
アドレスを格納するためのRAMエリアの先頭番地を第
2のアドレス力、クンタにに′としてセットする。更に
算出ピーク数を計数するためのビークカクンタVcOを
セットする。
フローチャートである。まず第1のアドレスカクンタ6
CK(処理対象とする1024のデータを格納したRA
Mエリアの先頭番地)+50をセットし、別のカクンク
には900をセットする。これは1024のデータのう
ち上端の51ビツト、下端の124ビツトをデータ処理
対象から外すための処置である。次いで計算したピーク
アドレスを格納するためのRAMエリアの先頭番地を第
2のアドレス力、クンタにに′としてセットする。更に
算出ピーク数を計数するためのビークカクンタVcOを
セットする。
次に第1のアドレスカクンタの番地(最初はに+50番
地)のデータDATA O及びその次の番地(最初はに
+51番地)のデータDATA 1を読み出獣両者を比
較する。両者が等しい場合(両ビットの受光レベルが等
しい場合を意味する)は第1のアドレス力タンクの内容
を+1し、またカクンタは−1する。そして次の番地に
ついて同様の処理を実行する。
地)のデータDATA O及びその次の番地(最初はに
+51番地)のデータDATA 1を読み出獣両者を比
較する。両者が等しい場合(両ビットの受光レベルが等
しい場合を意味する)は第1のアドレス力タンクの内容
を+1し、またカクンタは−1する。そして次の番地に
ついて同様の処理を実行する。
これに対してDATA O> DATA Iである場合
(K+50番目のビットよりに+51番目のビットの方
が暗いことを意味する)はgIJlのアドレスカクンタ
の番地を+1し、またカクンタは−1する。そしてこの
状態でDATA I (K+52番地のデータ)及びD
AT、A O(K+518地のデータ)を読出して両者
を比較しDATA I > DATA Oでない場合は
番地が大となるに伴い暗くなる傾向を示していることに
なるので同様の処理を反復する。
(K+50番目のビットよりに+51番目のビットの方
が暗いことを意味する)はgIJlのアドレスカクンタ
の番地を+1し、またカクンタは−1する。そしてこの
状態でDATA I (K+52番地のデータ)及びD
AT、A O(K+518地のデータ)を読出して両者
を比較しDATA I > DATA Oでない場合は
番地が大となるに伴い暗くなる傾向を示していることに
なるので同様の処理を反復する。
この過程にあってDATA O< DATA Iとなっ
た場合は次に説明するピーク特定のステップに入る。
た場合は次に説明するピーク特定のステップに入る。
即ち第1のアドレスカクンタかに+50の場合型は次々
とインクリメントされていった過程において、DATA
O< DATA 1となった場合は番地を大としてデ
ータ処理を進めていくに従い明るくなる傾向にあること
Kなる。この場合も第1のアドレスカウンタを+1し、
カウンタを−1する処理をDATA O> DATA
Iとなるまで(つまり最も明るいビットの番地が第1の
アドレスカウンタの内容になるまで)反復し、そのステ
ップでの第1のアドレスカウンタの内容をピークアドレ
スとして、第2のアドレスカウンタにて指示されるRA
Mのアドレス(最初#″iWi4番地納する。そしてこ
の第2のアドレスカウンタの内容を+1し、ビークカウ
ンタを+1する。そしてDATA O、DATA 1の
大小比較を反復していく。以上の処理をカウンタの内容
が0になるまで実行する。
とインクリメントされていった過程において、DATA
O< DATA 1となった場合は番地を大としてデ
ータ処理を進めていくに従い明るくなる傾向にあること
Kなる。この場合も第1のアドレスカウンタを+1し、
カウンタを−1する処理をDATA O> DATA
Iとなるまで(つまり最も明るいビットの番地が第1の
アドレスカウンタの内容になるまで)反復し、そのステ
ップでの第1のアドレスカウンタの内容をピークアドレ
スとして、第2のアドレスカウンタにて指示されるRA
Mのアドレス(最初#″iWi4番地納する。そしてこ
の第2のアドレスカウンタの内容を+1し、ビークカウ
ンタを+1する。そしてDATA O、DATA 1の
大小比較を反復していく。以上の処理をカウンタの内容
が0になるまで実行する。
以上のようにして求めたピークアドレスは、イメージセ
ンサ34に捉えられた干渉縞の明線の中心位置をイメー
ジセンサ34の一端を基準とする位置情報となっている
。これらは次に説明するように平面度の演算に用いられ
る一方、CRT63に表示されるのけ前述のとおりであ
る。なお先の説明では便宜上ピークアドレスを画像メモ
リ64に書込むこととしたが、それだけでFi明明線C
RT63上で視認できないほどに細くなるので、実際に
はピークアドレス及びその前後のアドレスにつき白表示
を行わせるべきデータを画像メモリ64に書込むように
する。
ンサ34に捉えられた干渉縞の明線の中心位置をイメー
ジセンサ34の一端を基準とする位置情報となっている
。これらは次に説明するように平面度の演算に用いられ
る一方、CRT63に表示されるのけ前述のとおりであ
る。なお先の説明では便宜上ピークアドレスを画像メモ
リ64に書込むこととしたが、それだけでFi明明線C
RT63上で視認できないほどに細くなるので、実際に
はピークアドレス及びその前後のアドレスにつき白表示
を行わせるべきデータを画像メモリ64に書込むように
する。
而して本発明装置では前述のピークアドレスPII+P
12・・・PH1・・・、Pthe PIF・・・Pt
l・・・、PI1 e PH2・・・Pal・・・を平
面度算出のためのデータとするが、P、=90−x〜P
、=90+xの間において中途て現れ又は消滅した用M
(例えば第1図の最下の実線で表される明線)は処理対
象から外される。これは前述のようにピークアドレス算
出後に、回転エンコーダの出力パルス1つ分111に算
出したピークアドレスとの比較により識別され、RAM
にその履歴情報が付される。
12・・・PH1・・・、Pthe PIF・・・Pt
l・・・、PI1 e PH2・・・Pal・・・を平
面度算出のためのデータとするが、P、=90−x〜P
、=90+xの間において中途て現れ又は消滅した用M
(例えば第1図の最下の実線で表される明線)は処理対
象から外される。これは前述のようにピークアドレス算
出後に、回転エンコーダの出力パルス1つ分111に算
出したピークアドレスとの比較により識別され、RAM
にその履歴情報が付される。
即ち、最新のピークアドレスをPj、 1 e PIn
”・・・Pj、□(mはピークカウンタの計数値)と
し、回転エンコーダの出力1つ分前のピークアドレスを
PI−+、 t 、 P)−s、倉・・・とする。まず
(Pj、 s P H,r )/4= P、として縞
ピッチPの±1/4を算出し、これ以下であることを縞
同定の条件とする。
”・・・Pj、□(mはピークカウンタの計数値)と
し、回転エンコーダの出力1つ分前のピークアドレスを
PI−+、 t 、 P)−s、倉・・・とする。まず
(Pj、 s P H,r )/4= P、として縞
ピッチPの±1/4を算出し、これ以下であることを縞
同定の条件とする。
そしてPj、tとPj−1,1# Pj−1−犬々との
差JP、 、 JP。
差JP、 、 JP。
を算出し、Poより小さい組合せの縞を同一のものとし
て同定する。P3.tとPjJ、1が同定された場合V
iP 1−t、 tが消滅したものとして記憶され、又
は千面實演算に必要なしとして放置される。以下k(=
2.3・−m)番目のピークPjlkにつきPj−1,
に−19P j−1,k v P j+1. k夫々
との差ノPk−1# ノPk# ノPk◆lを求め
、これがP0以下となる組合せの縞を同一のものとして
同定する。
て同定する。P3.tとPjJ、1が同定された場合V
iP 1−t、 tが消滅したものとして記憶され、又
は千面實演算に必要なしとして放置される。以下k(=
2.3・−m)番目のピークPjlkにつきPj−1,
に−19P j−1,k v P j+1. k夫々
との差ノPk−1# ノPk# ノPk◆lを求め
、これがP0以下となる組合せの縞を同一のものとして
同定する。
而してピークアドレスPII + PIF・・・P+1
・・・、’fl*P□・・・Pyl・・・及びPIII
I PI2・・・23%・・・のうち、中途での発生
、消滅に保る履歴を有するものを除外すると、その大小
順に組合せた3つ1組の数値が同一の明線に係るピーク
アドレスとして同定される。従って3つ1組のデータに
より(1)式に従って下記のように算出する。
・・・、’fl*P□・・・Pyl・・・及びPIII
I PI2・・・23%・・・のうち、中途での発生
、消滅に保る履歴を有するものを除外すると、その大小
順に組合せた3つ1組の数値が同一の明線に係るピーク
アドレスとして同定される。従って3つ1組のデータに
より(1)式に従って下記のように算出する。
λ p!Ell−1(P+。−t + Pmm−息)/
2F、、= −X 2n Plm Ppm−1平面度F =
(F++Fz+・”+Fa+−s )/(m 1 )
イ目し、m#′i視舒位置a、b、cK共通の縞の数こ
の平面度FVi前述のように表示装置1160に表示さ
れる。なおmの数が2以下又は16以上の場合はエラー
表示を行わせる。また上述の説明は明線について行った
が暗線についても同様に実施できることは言うまでもな
い。
2F、、= −X 2n Plm Ppm−1平面度F =
(F++Fz+・”+Fa+−s )/(m 1 )
イ目し、m#′i視舒位置a、b、cK共通の縞の数こ
の平面度FVi前述のように表示装置1160に表示さ
れる。なおmの数が2以下又は16以上の場合はエラー
表示を行わせる。また上述の説明は明線について行った
が暗線についても同様に実施できることは言うまでもな
い。
以上のように本発明に係る平面度測定装置は干渉縞を生
成させるべき光学系と、 干渉縞を捉えるための1次元のイメージセンサと、 イメージセンサ出力に基き平面度を演算するデータ処理
部と、 前記光学系による干渉縞の光をイメージセンサへ向かわ
せる光学手段と、 画像表示部とを備え、 前記イメージセンナは干渉縞の縞幅方向をその長手方向
に捉えるべく配してあり、 また前記光学手段はイメージセンナの視野を干渉縞の縞
方向に変じるべく回動する構成としてあリ、該光学手段
の回#によって#i!えた干渉縞の2次元情報を前記画
像表示部に表示するようにデータ処理部と画像表示部と
を関連づけであることを持欲とするものであるから、0
.01声調の精度での自411超精密平面度測定が実現
でき、更に測定装置の前作状腓がCRT63の表示内容
によって目視欅4でき、超精密4+1定に対する信頼感
が一層高まる。
成させるべき光学系と、 干渉縞を捉えるための1次元のイメージセンサと、 イメージセンサ出力に基き平面度を演算するデータ処理
部と、 前記光学系による干渉縞の光をイメージセンサへ向かわ
せる光学手段と、 画像表示部とを備え、 前記イメージセンナは干渉縞の縞幅方向をその長手方向
に捉えるべく配してあり、 また前記光学手段はイメージセンナの視野を干渉縞の縞
方向に変じるべく回動する構成としてあリ、該光学手段
の回#によって#i!えた干渉縞の2次元情報を前記画
像表示部に表示するようにデータ処理部と画像表示部と
を関連づけであることを持欲とするものであるから、0
.01声調の精度での自411超精密平面度測定が実現
でき、更に測定装置の前作状腓がCRT63の表示内容
によって目視欅4でき、超精密4+1定に対する信頼感
が一層高まる。
また上記実施例のように現計位置a、b、cもCRT6
3に表示させる場合は各位置又FiXの値の選択の適否
判断も可能となり、操作の便宜性も高いO 更に上述の如き精度を得るための機構部品峻は組付けの
精イは10声mオーダで足り、使用時の極#調整、面倒
な保守等は全く不要である。更に干、渉縞パターン読取
のための1次元イメージセンナの視野走査はこれを光路
中間に介在させた光学手段(実施例では全反射vl)の
回転によって行う構造としているのでイメージセンナを
堅固に同定し得、振v1、その他によるノイズ、従って
誤差要因が排除できる。また上記光学手段についても視
野走査を回転運動にて行わせるのでその可動部を容易に
高精度で製作し得、且つその回転運動も安定的に行われ
る。
3に表示させる場合は各位置又FiXの値の選択の適否
判断も可能となり、操作の便宜性も高いO 更に上述の如き精度を得るための機構部品峻は組付けの
精イは10声mオーダで足り、使用時の極#調整、面倒
な保守等は全く不要である。更に干、渉縞パターン読取
のための1次元イメージセンナの視野走査はこれを光路
中間に介在させた光学手段(実施例では全反射vl)の
回転によって行う構造としているのでイメージセンナを
堅固に同定し得、振v1、その他によるノイズ、従って
誤差要因が排除できる。また上記光学手段についても視
野走査を回転運動にて行わせるのでその可動部を容易に
高精度で製作し得、且つその回転運動も安定的に行われ
る。
以上詳述したように本発明は測定精度、使用の便宜性及
び製造の面で画期的な平面度測定装置を提供することを
可能とし、本発明が超精密平面度測定技術に寄与するj
A!は多大である。
び製造の面で画期的な平面度測定装置を提供することを
可能とし、本発明が超精密平面度測定技術に寄与するj
A!は多大である。
図面は本発明の実施例を示すものであって、第1図は測
定原理の説明図、第2図は本発明装置の外観図、第3図
は光学系のレイアクト図、vJ4図は電子回路のブロッ
ク図、第5図乃至第8図はマイコンによる演算、制御の
フローチャートである。 21・・・He −N eレーザ 28,31・・・ハ
ーフミラ29・・・オプチカルフラット 32・・・全
反射鏡34・・・イメージセン? 41・・・回転エ
ンコーダ42・・・パルスモータ 48・・・マイコン
51・・・ディジタルスイッチ 56a、 56b、
56c・・・ローパスフィルタ 63・・・CRT6
4・・・画像メモリ代理人 弁理士 河 野 登 犬
定原理の説明図、第2図は本発明装置の外観図、第3図
は光学系のレイアクト図、vJ4図は電子回路のブロッ
ク図、第5図乃至第8図はマイコンによる演算、制御の
フローチャートである。 21・・・He −N eレーザ 28,31・・・ハ
ーフミラ29・・・オプチカルフラット 32・・・全
反射鏡34・・・イメージセン? 41・・・回転エ
ンコーダ42・・・パルスモータ 48・・・マイコン
51・・・ディジタルスイッチ 56a、 56b、
56c・・・ローパスフィルタ 63・・・CRT6
4・・・画像メモリ代理人 弁理士 河 野 登 犬
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 被検平面と参照平面とに関連する干渉縞を得、該
干渉縞に基いて被検平面の平面度を測定する装置におい
て、 干渉縞を生成させるべき光学系と、 干渉縞を捉えるだめの1次元のイメージセンサと、 イメージセンサ出力に基き平面度を演算するデータ処理
部と、 前記光学系による干渉縞の光をイメージセンサへ向かわ
せる光学手段と、 画像表示部とを備え、 前記イメージセンナは干渉縞の縞幅方向をその長手方向
に捉えるべく配してあり、また前記光学手段はイメージ
センサの視野を干渉縞の縞方向に変じるべく回動する構
成としてあり、該光学手段の回動によって捉えた干渉縞
の2次元情報を前記画像表示部に表示するようにデータ
処理部と画像表示部とを関連づけであることを特徴とす
る平面度測定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2962382A JPS58146808A (ja) | 1982-02-24 | 1982-02-24 | 平面度測定装置 |
| US06/449,733 US4627733A (en) | 1981-12-25 | 1982-12-14 | Flatness measuring apparatus |
| DE19823247238 DE3247238A1 (de) | 1981-12-25 | 1982-12-21 | Ebenheitsmessgeraet |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2962382A JPS58146808A (ja) | 1982-02-24 | 1982-02-24 | 平面度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58146808A true JPS58146808A (ja) | 1983-09-01 |
Family
ID=12281207
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2962382A Pending JPS58146808A (ja) | 1981-12-25 | 1982-02-24 | 平面度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58146808A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60100005A (ja) * | 1983-11-04 | 1985-06-03 | Canon Inc | 間隔調整装置 |
| CN110470250A (zh) * | 2019-07-30 | 2019-11-19 | 湖北三江航天万山特种车辆有限公司 | 一种零件表面平面度的检测装置及检测方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5292543A (en) * | 1976-01-29 | 1977-08-04 | Sumitomo Metal Ind | Device for measuring contour and dimension of shape steel |
| JPS53124471A (en) * | 1977-02-14 | 1978-10-30 | Zygo Corp | Measuring apparatus and method of disorder in interfere pattern |
| JPS632446A (ja) * | 1986-06-20 | 1988-01-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Dpsk変調デ−タの復調回路 |
-
1982
- 1982-02-24 JP JP2962382A patent/JPS58146808A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5292543A (en) * | 1976-01-29 | 1977-08-04 | Sumitomo Metal Ind | Device for measuring contour and dimension of shape steel |
| JPS53124471A (en) * | 1977-02-14 | 1978-10-30 | Zygo Corp | Measuring apparatus and method of disorder in interfere pattern |
| JPS632446A (ja) * | 1986-06-20 | 1988-01-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Dpsk変調デ−タの復調回路 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60100005A (ja) * | 1983-11-04 | 1985-06-03 | Canon Inc | 間隔調整装置 |
| CN110470250A (zh) * | 2019-07-30 | 2019-11-19 | 湖北三江航天万山特种车辆有限公司 | 一种零件表面平面度的检测装置及检测方法 |
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