JPS5815839A - 眼屈折力測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は眼の屈折力を他覚的に測定する眼屈折力測定装
置に関する。

従来の眼屈折力測定装置の例として、光軸な中心に対称
に配置された２光源からの光束により測定ターゲットを
投影し、眼底上で２光束による測定ターグツト倫が合致
する位置まで測定ターゲットを移動して、この移動量か
ら眼屈折力を測定する方式の装置が知られている。上記
装ｆＫｓ？いて、眼底上に投影した測定ターゲットの合
焦状態を検出するために、眼底上に投影し九ターｒット
像を検出光学系によって結儂させ、該結儂面に光軸を挾
んで対称に２個の受光素子を配置する。上記測定ターゲ
ットは、上記２個の受光素子の受光量が一致する位置ま
で移動させられるととにより上記測定を行う。しかし、
上記測定装置においては、測定ターグツト儂を形成する
２光束を含む平面内での屈折力のみ測定されるから、光
軸を含む他の平面内の屈折力を測定するために、次の構
造が加えられる。第１の測定面回転構造としては、上記
２光源を光軸を中心に回転するように構成し、該回転に
連動して上記受光素子を同一角度回転する構成である。

この構造においては、可動部が多く、複雑な構成で、精
度も高くできない欠点を有す。

第２の測定面回転構造としては、上記測定ターゲット等
を含む測定ターゲット投影系と上記受光素子等を含む検
出光学系の共通光路内に＊回転反射部材（イメージロー
テータ）を配置する。該イメージ四−テータを回転させ
ると、測定ターグツ、ト投影系と検出光学系とを同時に
同一方向に同一角度回転し＋０と同じ効果を得ることが
できる。この構造においては、イメージローテータが大
型とならざるを得ず、ま圧測定ターグツト投影系と検出
光学系とに該イメージローテータを共通に挿入すること
は光路長、！−スト等に関する設計上の困難を伴い、ひ
いては測定精度にも悪影響を及ぼすものである。

本発明は、上記従来の欠点を解消した眼屈折力測定装置
を提供することを目的とするものであって、その構成上
の特徴とするところは、測定ターゲットからの一対の光
束を選択的に被検眼眼底へ投影するための測定ターゲッ
ト投影光学系と、前記一対の光束を光軸回りに回転させ
る手段と、眼底に投影された測定ターグツト偉かもの光
束を結儂させる測定ターグツト結偉光学系と、前配給儂
光学系により結偉されたターゲツト像位置を光軸と垂直
な平面上で２次元的に検出するための検出装置と、前記
検出装置からの信号により前記一対の光束の中心を含む
径線方向での被検眼の屈折度に変換する演算部を有する
ことである。

本発明は以上のように構成されるから、構造が簡易で、
測定ターゲットを固定した状態で測定することにより測
定速度を高める効果を有する。

以下本発明の実施例を図に基いて説明する。最初に、実
施例の装置における測定手順を、第１図に基いて説明す
る。電源スィッチをＯＮにし、これにより測定ターゲッ
ト、固視標ターゲットが所定の位置に固定され、また測
定ターゲット投影用光学系の光源も一定の回転位置に固
定される。この状態で予備測定が哲われ、概略的な球面
度数が測定される０次に、予備測定の測定値に基いて。

測定ターゲットは略砿検眼＠底と共役な位置に移動され
て固定され、ｔた固視標ターグツトは測定ターゲットよ
り遣方の位置に置かれ被検−を寓霧させる。この状態て
本測定が行われる・本測定は測定ターゲット投影用光学
系の光源を光軸中心に回転させ少なくと４５径線方向で
測定する０次に。

この測定値から球置置数％乱視度数、乱視軸を算出し、
これを表示して測定を終了する・　−次に１本発明の調
定原理、詳しくは所定４１１１Ａ方向Ｋｉ？ける屈折力
を算出する原１１について説明する・ｌＩ２１１におい
て１ｍ定ターｒットＴよル送光用対物しンｊＰｌを過っ
て被検眼ＥｏＩｌ１１の任意径一方向一へ分離して投射
され、普検ａｌｌ−麿に到遥し九２光束の優位量Ｊ＃杜
、被検ｌ１ｌｌの水晶体の屈折異常である１折性異常で
あるか、水晶体から一底オでの距離の＾當である一軸性
異常であるかによって異なるが、上記２光束によって生
じる砿検繊戚底における優位した２点を砿検−一孔中心
よｐ結ぶ纏のつ（る角度Ｉ＃鉱、屈折！！！異常および
一軸性異常のいずれの場合においても。

ｔａｎβ−＝　Ｘ　（０，−ＤＩ）　＠、−−−　（１
）Ｘ：被検眼の１孔における２党束の間隔Ｄ＃：徴検−
の１孔におけるＩＩＩ！方向−の被検−屈折力 ０□：測定ターゲット位置のデイオグター換算値 である。

従って、９５図に示す光学系において、受光用対物レン
ｒ２による被検眼Ｅの一孔Ｐと共役となる位置に絞〕Ｓ
を配置し、リレーレンズ３の前側焦点位置Ｋｌ！ｌを配
置すると、被検ｗ１威鷹上の偏位した２点０１，０□か
らの反射光は％徴検繊一孔中心Ｐを主光Ｓが通過する光
束として取出すことができ、この光束のつくる射出素置
が砿検威一孔中心Ｐと曖底のＯｌ、０□とを結ぶ線のあ
す角度Ｉに相幽する・こ仁で、被検眼ＰＫ対するｍｉｓ
の結曹倍皐をｍ、　　リレーレンｔ３の焦点距離をｆ。

とするとき、被検１＃Ｉ−底の０．および０２からの反
射光はリレーレンズ３０りくる光軸外の像とじて結像し
、光軸からの像高Δは。

Δ麿　ずｓｔ―崎β　・・・・・　（２）となる、なお
、この像高Δはリレーレンズ３に関し絞）Ｓがテレセン
絞夛の関係となるので・リレーレン、ｆ３の結像位置の
前後においても像高Δは変らない・式（２）は声が小さ
く！丸は（ｑ　ｃｇ　１である時− Δ麿ｍず　　ｔａｎβ　・・・・・（３）とおくことが
でき、式（１１、（３１よシΔｇ＝　ｒｎｔ５Ｋ　（Ｄ
Ｉ　　−０丁）　　１１１１１１＠＠　　（４）とな夛
、リレーレンｊＰｓａｓ高Δを針側すれは。

径線方向０での徴検一層折力０＃を算出することがで１
１ 上記鳳履に基（本装置は、第４図に示すように。

一定ターｒットを被検眼１１１１ｊｌＫ投影するターゲ
ット投影光学系５０、徹検ｉｌｌ咳底の測定ターゲツト
像を測定光学系５１に投影するターゲット受光光学系Ｓ
２．１１ｊ定ターｒツト像から屈折力を検出する測定光
学系５１．徴検威の規準線を固定する固視目標系５３及
び被検−と本装置との位置関係を示す照準光学系５４か
ら構成され、以下各党学系について詳説する。

ターゲット投影用光学系ＦＩＯは、第４Ｗ１に示すよう
に、光軸を中心に配置され九一対の赤外線光源１ａｓｌ
ｂｍ赤外線光ｌｉｆｍｓ　ＩＩ）ＴｈらＯａｔそれぞれ
集光する集光シン１２ｓ、ｆｌ１３．平行光を作るコリ
メータレンズ３１円形−口絞り４を有する測定ターグツ
ト５．結像レンｔ６．投影用結像レンｆ７．赤外光に関
するハーフミラ−８及び長波長部の赤外光を反射し可視
部とこれに近接した赤外光を透過する特性を有するグイ
クロイックミラー９とから構成される・上記一対の赤外
線光源１ａ＊　ｌｂは高速艇で交互に点灯し、ま九皺両
源ｉａｍｘｂは一体となって光軸を中心Ｋｇ１転可能に
構成され、かつ測定ターゲット５は光軸方向へ移動可能
に構成される− 上記構成において、一対の赤外線光＃ＩＡ１ｍ・１ｍか
らの光は、それぞれ集光レンｔ２・、２ｂによって集光
され、さらにコリメータレンＪｅ３によ襲〒行光にされ
て円形−口ＩＲｈ４ＫｍＫ入射する・円形−０絞〕４を
通過した光線、結像レンズ６によ〉点Ｐ、の位置に結像
し九後、投影用結像レンズ７、＾−フミラー８及びダイ
クロイックミラー９を介して普検１１１１ＥＫ入射する
。ζ仁で、赤外線光Ｉｌｌ・、１ｂの像は被検繊Ｅの噴
孔位置に結像し、１１え調定ターｒット５０円形−ロ絞
）４の像は徴検臘のｌＩｌ麿Ｐ２に結像する。そして、
測定ターグット５と徴検威１０＠膨Ｐ２　　とが共役な
位置関係にあると１１には、赤外線光源１ａからの光に
よって１ｌｌＩ＠され九円形開口絞１１４０像と、赤外
線光１ｌｌｂからＯ光によって照明され九円形−ロ絞）
４０像とが、繊織Ｐ２　の同一位置に結像される。他方
、固定ターｒット器と砿検ａｌｌｌＥｏ繊底Ｐ２　　と
が共役な位置関係にないときに紘、上記各２赤外線光源
からの光によって１ｌＩＩＡされた円形−口絞Ｄ４Ｏ像
がａ麿Ｐ２　　の分離した２ケ所にそれぞれ結像する０
本発＠においては、光軸上に固定され九一定一−ｒット
Ｓの円形−口Ｒシ４の繊織Ｐ２におけるＩＩが、赤外線
光１１１ｍ及び１ｂｏ５５瓦点灯によって合致するか分
離するかを弁別し、分離している時Ｋａその分離距離を
固定し、その醐装置及びその時の測定ターグットの位置
から徴検臘の屈折力を算出する。

ターグツト受光光学系５２は、第４１１に示すように、
／イタロイクラ−ラー９．ハーフ建ラー８゜受光用対物
レンｊｌ”ＩＯ１＠ラー１１．受光用対物レンｊＦ１０
に関し徴検威角膜と共役な位置に配置され九角膜反射光
層断絞）１２及びリレーレンズ１３によって構成される
・上記角膜反射光層断献、１１１２は、第５１１ＩＫ示
すように、はぼ円孔であって光軸通過位置に関し対称な
２１ｍ所に１！出層光部１！ａ、１２ｂを有する絞＃）
板でｉｈ　ｅ　ｔ　＆、上紀角膜反射光層断絞）１２は
、赤外線光＄１８゜１ｂが光軸［Ｋ回転するとき、この
−転這動に連動して回転するように構成されている。さ
らｋ。

上配角属反射光層断絞１１２は、リレーレンズ１３の前
側焦点位置に配置されて、リレーレンｔ１！１４’（よ
る投影光学系紘テレセン光学系に構成する・リレーレン
ズ１３は　ａｔ定ターｒットに運動して光軸方向に移動
可能に構成する。

以上の構成において、機構ｌ１ｌｌ−底Ｐ２　の測定タ
ーｒット像唸、メイタ誼イックミツ−９，／九−フンラ
ー８．受光用対物レンズ１０％ζラー１１゜リレーレン
１１３によって、後に詳説する測定光学系５ＩＰｉＫ投
影される・この時、徴検−角属からの有害反射光拡、反
射光値断絞ｆｉ１２ｔ）９４出層党部１２ｍ、１２ｂＫ
よって除去される。重要。

角膜反射光線断＠１）１２とリレーレンｔ１３とはテレ
竜ン光学系を構成しているから・測定光学系５１に結像
される固定ターゲット像は、光軸に平行な主光線からな
る光束によって構成され、結像位置０＃１１においても
固定ターグット像である円孔像の中心位置が変位しない
性質を有するＯ橢定党学ｊＫ５１Ｆｉ、第６ｍに示すこ
と〈／１−フィラー１５、ミラー１６．　リレーレン、
ｆ１７、ミ５−１８ｓ　ｆｗｙＡ−１９，集光ＶンＪｅ
２０及び受光素子２１からなるＸ方向検出系５６と、ノ
１−フミラーＩＢ、？ラー２２．すＬ／−レン、ｅ２Ｂ
％チ１１？／／ぐ−１９，集光レンズ２４及び受光素子
集光レンズ２７．２８、受光素子２９からなる基準信号
発生系５８とから構成される。チｌツＩ＃−１９は円周
方向に連続したスリット群を有し、光軸を中心に回転す
る。

以上の構成において、上記ターゲット受光光学系ｓ＝及
びＸ方向検出系５６とによって、機構眼限底Ｐ２　の橢
定ターｒット倖がチ冒ツノ譬−１９の上部１９−の近傍
に投影される。同時に１上記ターｒツト受光光学系５２
及びＹ方向検出系５７とによって、被検眼眼底Ｐ２　　
の調定ターｒット俸がチ曹ツ／ター　１　ｆｊの側部１
９ｂの近傍に投影される。

ここで、一定ターｒット５と被検＠限廠Ｐ２　　とが共
役関係にない場合、鮪７図に示すごとく赤外線光＄１ｍ
、１ｂからの光によって形成される円形絞）像３０ｓ％
３０ｂ（Ｂｏａ’、３０ｂ’　）は、Ｘ方向に＾買、Ｙ
方向にΔＶだけ分離してスリット群上に投影される。

以上の構成において、＊ＩＳａ光澤１１を点灯し、その
先による円形絞り６３０暑をチ冒ツＡ−１９によって走
査したときの受光素子２１からの信号と、赤外線光ｍｌ
ｂを点灯し、その先によゐ円形絞〕像３０ｂをチ曹ツ／
１−１９によって走査したときの受光素子２１からの信
号との位相差からΔ翼を算出する。同様に、円形絞り＠
ｇｏ−Ｉとａｏｂ’　とをチョツノ量−１９によって走
査したときの受光素子２５からの信号の位相差からΔＹ
を算出する。ここで、上記測定ターグット５と被検眼眼
底Ｐ２　　との共役関係、被検［Ｅの乱視変及びチ１ツ
／ｌ−１９上における円形絞シ儂３０・、３０ｂの関係
を説明する。光源１ｍ、ｌｂは垂直方向からｌだけ回転
した位置に並んで配置されている亀のとする。すなわち
調定径線方向は垂直方向から−だけ回転した方向である
とする。

（１）　　上記測定ターグット５と被検限限底Ｐ２　　
とが共役関係にあり、被検ＩＩＥが乱視を含まない場合
、館８図＾に示すように、チョッｚ？−１９上において
円形絞り１１３０ｍ、３０ｂが光軸通過位置に重なって
投影される。すなわち、ａ　３１　ｍΔｙ　Ｗ　Ｏであ
る。

（２）上記測定ターｒット５と被検眼眼底Ｐ２　　とが
共役関係になく、被検ｌｌＥが乱視を含まない場合ある
いけ乱視を含も場合で被検ＩＩＥの主径線と光＄１ｍ、
１ｂＫよる測定得線方向が一致する場合には、第８図Ｂ
に示すように、チ曹ツｄ−１９上において円形絞り像３
０１％３０ｂけ橢定得線方向に分離して投影される。

（８）　　上記調定ターグット５と被検ｍ１ｌｌ底Ｐ２
　　とが共役関係になく、被検＠Ｅが乱視を含み、かつ
被検ｌｌＥの主ａｍと光＄ｉｓ、ｌｂからなる醐宇径纏
方肉が異なる場合には、第８図ＣＫ示すように、チ画ツ
Ａ−ＩＩ上において円形絞６６３Ｇｍ、３０ｂが調定径
線方向及びそれに直角危方肉に分離して投影される。

本夷總例においては、嬉８図に示すように水平方向、−
直方向の分離量Δ×、Δｙを検出し、この検出結果よａ
ｉｍｉｉ！後線方向の分線方向変換し。

測定掻一方向の成層折力を検出するものである。

前述の変換をすることにより、光１１１１ｍ、１ｂだけ
を回転するだけで、各調定径線方向での成層折力を求め
ることができゐ。

ｍ視目標畢５３は、第４ＷＪＫ示すように、可視光光ｌ
ｌｌ３１、集光レン、１ｅ３２．光軸方向に移動可能す
固視ターダット３３、ミラー３４％投影レンズ３５、可
視光を反射し赤外光を透過するグイクロイックミラー３
６により構成される。

以上の構成において、可視光光６１３１からの光は、集
光レンズ３２を介して置視ターｒット３３を照明する。

固視ターグット３３からの光け、ミラー３４、投影レン
ｔ３５１ダイクロイックミラー３６を介し、さらに前記
グイクロイックミラー９を通過して被検眼ＥＫ投影され
る。被検者は、固視ターグット３３を注視するととＫよ
り規準方向を固定する。４また、被検Ｉｌは常に遠方視
の状態であることを要し、固視ターグット３３は光一方
向に＄動可能とし視検限が遠方視となる位置に調節され
る。

照準光学系５４は、ハーフミラ−９、メイクロイツクき
ラー３６、投影レンズ３６′、ハーフミラ−３７及び撮
像管３８を同一光軸上に配置し、壇光ハーフミラー３フ
の反射光軸上に光５１４０．集光レンズ４１、規準板４
２、ミラー４４及び投影レン、ｆ４５を配置して構成さ
れる。撮像管３８はモニターテレビ３９に連結されてい
る。規準板４２は、第９Ｗｉに示すように１中央に円、
そのｌｌ辺に放射線をもつえ規準スケール４３を有する
。

上記のように構成された照準光学系において、操侭管３
８には、投影レンズ３６′による被検限Ｅの＊＊Ｓ像と
、投影レンズ４５による規準スケール４３の像が重ねて
投影される。検者はモニターテレビ３９に見て、皺検隈
の鐘孔儂の中心と規準スケール４３の像とが一致して被
検隈の光軸とターグツト投影用光学系５０％ターｒット
受光光学系５２の光軸とが一致するように％着検眼に対
し本装置を上下左右に移動させる。

次に、本装置の電気回路の構成を１１１０図のブロック
図に基いて説明する。制御回路１０１け。

電澤スイッチ１０２、測定スイッチ１０３．＋曹ツ／４
−駆動回路１ｏ４．光ｓｍ動回路１０５、捌宇ターｒッ
ト駆動回路１０ｇ、固視ターｒット駆動回路１０７．　
ＩＩｍ定ターｒット光源回転駆動回路ｘｏｓ、ｓ＊楡出
出ｌ１１０９び演算処理部１１０に連結され、所定プロ
ダラムによシこれらを制御する。

チ習ツノ臂−駆動回路１０４＃ｉチ１ツ／譬−１９を回
転するモーター１１２に連結され、これを駆動する。光
渾駆動回路１０５Ｆ１基準信号用発光嵩子２６及び測定
ターグツト光ｌ１１ｍ、１ｍ）Ｋ連結され、これを点灯
する。掬定ターｒット駆動ｇ回路１０６は調定ターグツ
ト５を光軸上で移動させるモーター１１４に連結され、
これを駆動する。ｍ視ターｒット駆動回１１１０７け固
視ターグットを光軸上で移動させるモーター１１６に連
結され、これを駆動する。測定ターグツト光榔回転駆動
回路１０８は測定ターｒット５を光軸中心に回転駆動す
るモーター１１８に連結され、これを回転駆動する。受
光素子２９は基準信号用発光素子２６で発光されチョッ
ｚｅ　　ｉ　９を通過した光を受光し、基準信号を増幅
回路１２０に人力する。増幅回路１２０は波形整形回路
１２２に、波形整形回路１２２は第１位相差検出回路１
２４及び第２位相差検出回路１２６に連結されている。

＠定ターｒット光欅１ａｓｌｂで発光されチョッノ？−
１９の上部１９ｍを通過した光を受光する受光素子２１
け、増＠回１６１２７に連結され、さもに、増幅回路１
２７け＾ＱＣ回路１２８に、＾ＧＣ回路１２８は波形整
形回路１３０に、波形整形回路１３Ｇは第１位相差検出
回路１２４に連結されている。１１１１１．調定＄−ｒ
７ト光＠　１　ｍ、１ｂで発光されチ曹ツノ？　−１９
の側部１９ｂを通過した光を受光する受光素子２５は、
増幅回路１３２に連結され、さらに、増幅回路１３２は
＾ＧＣ回路１３４に、＾ＱＣ回路１３４は波形整形回路
１３６に％波形整形回路１３６は第１位相差検出回路１
２６に連結されている。第１位相差検出回路１２４は波
形整形回路１２２の出力する基準矩形波と波形整形回路
１３０の出力する矩形波との位相差を検出し、位相差信
号Ｘ自　として出力する。

同様に、１１１２位相差検出回路１２６は波形整形回路
１２２の出力する基準矩形波と波形整形回路１３６の出
力する矩形波との位相差を検出し、位相差信号Ｖａ　　
として出力する。第１位相差検出回路１２４と第２位相
差検出回路１２６とは比較回、路１３８に連結され、さ
らに、沈着回路１３８は演算処理部１１０に連結されて
いる。

上記比較回路１３８は、発光素子１−及び１ｂを点灯し
たときに第１位相差検出回路１２４が出力する位相差信
号Ｘ・とｘｂとの位相差へＸと、岡じ〈発光素子１ｍ及
び１ｂを点灯し九ときＫＩＩＩ２位相差検出回路１２６
が出力すゐ位相差信号Ｙ―とＹｂ　　との位相差ΔＹと
を演算する。

この位相差ΔＸ％ムＹが第８図にシける°、円形絞秒置
３０・、３０ｂ（ＤＸ方向及びＹ方向での分離量へ買、
Δソに対比する。演算処理部１１０は、下記の式（５）
を使用して、ターグツト光欅駆動回斃からの信号である
測定ターｒット光源の回転位置角変−１と上記位相差Δ
ＸＩ％ΔＹｌとから測定経線方向の分離量に対応する位
相差ΔＰ＃Ｉを以下の（６；式に従い算出する。

ＡＰ＃Ｉ　Ｗ　ｔｈ　Ｘ１ｅＯＩ＃Ｉ　＋　ｔｈ　ＹＩ
Ｉ＃・　偽）この位相差＾Ｐ＃Ｉは、測定経線方向での
円孔＊＊像の分離量Δに変換され、この分離量＾から屈
折力を算出する原理で前述し１４）弐に従い測定経線方
向−での被検限屈折力０＃　を算出する０本測定の場合
には、灸なくとも３経１線方向で００＃（０□、Ｏ＃２
．０＃、）を算出する。こノ０＃１、’＃２　、’＃３
は球面変数を＾、１視変数を８％乱視軸をαとすると、
以下の（６）式で表わされる。

この結果より、球面変数＾、乱視変数Ｂ、乱視軸αを求
め表示器１４２に出力する。

上述の方法では、測定経線方向の分離量に対応する位相
差ΔＰ＃１のみから球面１数＾、亀視変数Ｂ％糺視−ａ
を算出しているが、乱視変数Ｂ％乱視軸αＫＩＩＩして
は、以下の算出方法が有効である。

すなわち１位相差ΔＸＩ、Δ浦から（瞬式に従い測定経
線方向の分離量に対応する位相差ΔＰ＃Ｉを算出すると
は別に、以下の（７）式に従い、測定経線方向とけ直角
な方向の分離量に対応する位相差へＰｊｌを算出する。

ａＰｌｌｘ−ΔＸｌｓ＃ｌ＋ΔＹＩｃｏｓ＃ｌ　　　（
７）この結果算出されたΔＰ五ｌは（６）式と同様に下
記の（８）式で表わされる。

ΔＰ＋Ｌ、　Ｗ　Ｂ　ｃｏｓ　２　（＃１−α）ａ　Ｐ
ＪＬ２　Ｗ　Ｂ　Ｃａｌ　２　（＃２−α）（８）ΔＰ
−Ｌｊｚ　Ｂ　ｃｏｓ　２　（１Ｂ−α）すなわち、こ
の算出で求めたΔＰＰＩ３球面変数＾には影響を受けな
い。このことは、測定期間中の被検眼の調節、すなわち
球面変数＾の変動に影響されないことを意味するもので
ある。（８）式から乱視変Ｂ、乱視軸αを求めると、測
定期間中の被検者の測定に影響されずに、高精度な直視
変数８及び亀視軸αの検出結果を得ることが可能である
。

なお、この場合において屯、球面変数＾を算出するＫは
％　（ｅｔｌ　、　（６１式を用いる点に関しては同様
である。

上記のように構成され良電気回路の作動は以下の通りで
ある。電源スィッチ１０２が０ＮＫ−Ｊ−れ。

照準光学系５４を使用して被検者の光軸とターゲット投
影用光学系５０．ターゲツト受光光学系５２の光軸とが
一致させられる。ｔた制御回路１０１により、チ曹ツｐ
４−１９が回転し、基準発光素子２６が点灯し、またタ
ーゲット投影用光学系の光１１１ｍ、１ｂが交互に点灯
する。これらの回転と点灯は測定が終了するまで継続さ
れる。さらに制御回路１０１の制御により、測定ターゲ
ット駆動回路１０６がモーター１１４を駆動して測定タ
ーゲット５を所定位置例えば＋６デイオデターの位置Ｋ
ｌ動し％また固視ターゲット駆動回路１０７が七ｉター
１１６を駆動して固視ターゲット２３を所定位置例えば
＋２０デイオプターの位置に移動し、さらに＠定ターｒ
ット光源回転駆動回路１０８がモーター１１８を駆動し
てＩｌｌ宇ターｒット５の光−１ａｓｌｂの並び方向を
鉛直（回転角＃、＝Ｏ”）の位置に回転移動する０以上
で予備ａ９！の準備が終了した。

次に制御回路１０１の制御により、受光素子２１．２５
．２９がそれぞれの信号光を受光して、鍵述の回路構成
に従い、演算処理部１１０け該子午面（＃＝Ｏ＠）Ｋお
ける円孔絞ｂｅの分離量に相自する位相差ΔＰ＃Ｏを算
出する。このΔＰ＃Ｏは円孔開口倫の分離量に変換され
、その時の測定ターゲット（５）の位置によ抄該子午面
（＃−０＠）Ｋシける被検眼の屈折力を算出する。この
算出結果は、測定ターゲット５の移動量に変換され制御
−路１０１に入力される。この信号により、制御回路１
０１は測定ターゲット駆動回路１０６を制御し、モータ
ー１１４により一＝０１における測定経線方向の被検眼
屈折力に対応した位置すなわち測定ターゲット５と被検
眼隈底とがほぼ共役な関係となる位置まで測定ターゲッ
ト５の位置よシ遠方に移動される。この状態で測定ター
ゲット５、固視ターゲット２３を固定し、以下の本一定
に人いる。このように予備一定の結果移動固定された測
定ターゲット５の位置は本測定の間蜜化させない。

上記予備一定は、ｌｌ１ｌ宇ターｒツト５の位置を被検
眼阪底とほぼ共役な位置に設定することｋよ勤、以下の
本測定の精度をより向上させるために有効である。

本測定においては、予備調定において述べた検出を同様
に行なう０本測定においては、制御回路１０１の信１）
Ｋよ〕一定ダーｒット光Ｓ回転駆動回路１０８はモータ
ー１１ｇを駆動し、測定ターグツト光榔１畠、１ｂを光
軸を中心として順次回転し、一定経一方向での被検眼屈
折力Ｄ＃を算出する。むの一定は、少なくと４３経線方
向で行ないその時の被検眼屈折力を０１．　、０＃２％
０＃、とすると、鍵述の俤）式で表わされこの結果よシ
球面変数＾、乱視家数日、Ｌ視軸αを算出し、表示器１
４２で最終調定結果を表示する。［ｌ定経一方向は、多
いほど一定精度が上がり、最少２乗法によりＡ％Ｓ、Ｃ
を算出する１本実施例においては、予備調定を１１１１
線方向で行なったが、３経線方向での測定を行なっても
よいことは云うオでもない。

また、１経曽方＾で予備測定を行った後、３経線方向で
再変予備橢定を行ない、より本測定の精度も高めること
も可能である。さらに１本実施例においては１本一定の
＃に予備測定を行っているが、予備一定を行わず直接本
測定を行うように構成しても、本発明を有効に実施して
本発明の効果を得ることかできることはもちろんである
。

【図面の簡単な説明】

＠１図は本発明の実施例の測定手順を示す図表、第２図
及び第３図は実施例の測定原理の説明図、第４図は実施
例の光学図、第５図は実施例の角膜反射光遮断絞りの正
面図、第６図は実施例の測定光学系の光学図、第７図は
第６図に示す測定光学系の測定原理の説明図、第８図は
同じく測定光学系の測定原理の説明図、第９図は実施例
の固視ターゲットの正面図、第１０図は実施例の電気回
路の１日ツク図である。 １ａｓ、１ｂ・・・赤外線光源、４・・・円形開口絞り
、７・・・投影用結像レンズ、８・・・赤外光に関する
ハーフミラ−１９・・・グイクロイックミラー、２１・
・・受光素子、２９・・・受光素子、５０・・・ターゲ
ット投影光学系、５１・・・測定光学系、５２・・・タ
ーグツ光学光、光学系、５３・・・固視目標系、５４・
・・照準光学系、１０１・・・制御回路、１０２・・・
電源スィッチ、１ｏ３・・・測定スイッチ、１０４・・
・チョッノ９−駆動回路、１０５・・・光源駆動回路、
１０６・・・測定ターゲット駆動回路、１０７・・・同
視ターデッド駆動回路、。 １０Ｂ・・・測定ターゲット光源回転駆動回路、１０Ｇ
・・・測定検出部、１１０・・・演算処理部、１４２・
・・表示器 出願人　　東京光学機械株式会社

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）　　關定ターｒットからの一対の光束を選択的に
   砿検ｌｌ戚麿へ投影するえめの測定ターグツト投影光学
   系と、前記一対の光束を光軸ａ６に回転させる手段と、
   １ｍ１ｍＫ投影された測定ターゲツト像からＯ光束を結
   像させる測定ターグツト結像光学系、と　１１１１起結
   ｇ１党学系によシ結像され九ターｒット像位置を光軸と
   −直な平向上て２次元的に検出する九めＯ検出装置と、
   ＃ｌｌ被検出装置らの信号によｊ＋前記一対の光束の中
   心を會む径曽方肉での徴検戚の屈折度に変換する演算部
   を有する仁とを特徴とするＩＩＩＩＭ折力欄定装置０（
   ２）　　上記一定ターｒット投影党学系は、光源を中心
   として対称に配置され高速で交互点滅する一対の光源か
   らなる党ｍ装置と、該光源装置によって１＠される測定
   ターグツトとを包含する譬許請求の範１！ＩＩＩ項配執
   の１ｌＩＪＩＩ折力測定彊置。 （３）　　上記測定ターグツト結像党学系は、戚麿上の
   ターゲツト像からの反射光束を集光させる対物レンズ系
   と、鋏対物レンズ系の後方で被検−一と共役な位置に配
   置される一口絞りと、鋏−０絞〕を透過し九光束によ〕
   ターゲツト像を結像させる丸めの結像レンズ系とを有し
   、上記開口絞）が上記結像しｙ　ｙｅ　Ｏ前側焦点位置
   に配置され九特許請求の範ｌ！Ｉ第１項紀載の戚屈折力
   測定Ｓ！蓋。 （４）　　上記測定ターゲット結像光学系は、光束を二
   分割すゐ丸めの光束分割部材を有し、オ九、上記検出装
   置は、上記光束分割部材によ〕分割さへ れ九２つの光束を光軸と喬直な平向内で滝壷するための
   １つの走査部材と、鍍走査部材を透過し九光束を受光す
   る丸めに上記走査部材後方に配置され九２りＯ受光手段
   とを有する特許請求の範Ｓ纂１項記載のＩＩＪＩＦ折力
   渕定装置。 （５）　　上記走査部材が回転円盤であって、鋏回転円
   １１がそのＭ＆径方向に平行なスリット群を有する特許
   請求ｏｈｍ纂４項記載ＯＳｍ折カ一定鏝置装（・）　　
   上１１１ｉ５２）０受党手段が、上記ａ転円ｆｉＯｇｌ
   ｌｉ面と平行て、かつ該回転円盤の回転軸を中心として
   ９０°の角度をなすように配置された特許請求０［１１
   １１１４項記載の酸層折力測定装置・