JPS6325533A - 印刷版の絵柄面積率測定方法 - Google Patents
印刷版の絵柄面積率測定方法Info
- Publication number
- JPS6325533A JPS6325533A JP61166816A JP16681686A JPS6325533A JP S6325533 A JPS6325533 A JP S6325533A JP 61166816 A JP61166816 A JP 61166816A JP 16681686 A JP16681686 A JP 16681686A JP S6325533 A JPS6325533 A JP S6325533A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- amount
- reflected light
- light
- detector
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
本発明は、被照光体からの反射光量測定方法に関する。
［従来の技術］
従来、例えばオフセット印刷用印刷版の絵柄面積率を測
定するような時等に、印刷版等の被照光体からの反射光
量を測定する装置が用いられている。従来の反射光量測
定装置は、板状の被照光体を測定台に載置し、測定台に
対して走査する光量検出器により、被照光体各部の反射
光量を測定している。
定するような時等に、印刷版等の被照光体からの反射光
量を測定する装置が用いられている。従来の反射光量測
定装置は、板状の被照光体を測定台に載置し、測定台に
対して走査する光量検出器により、被照光体各部の反射
光量を測定している。
［発明が解決しようとする問題点］
ところで、上記反射光量測定装置を用いるとき、光量検
出器と被照光体とのなす距離が変化すると、光量検出器
の受ける反射光量が変化する。
出器と被照光体とのなす距離が変化すると、光量検出器
の受ける反射光量が変化する。
すなわち、照度は光源からの距離に反比例（点光源の場
合は距離の２乗に反比例）するため、光量検出器の検知
可能領域に入光する反射光量も、■被照光体が離れると
少なくなって、光量検出器の測定光量（もしくは光電変
検量）は少なくなり、■被照光体が近づくと多くなって
、光量検出器の測定光量（もしくは光電変換量）は多く
なる。
合は距離の２乗に反比例）するため、光量検出器の検知
可能領域に入光する反射光量も、■被照光体が離れると
少なくなって、光量検出器の測定光量（もしくは光電変
検量）は少なくなり、■被照光体が近づくと多くなって
、光量検出器の測定光量（もしくは光電変換量）は多く
なる。
したがって、上記反射光量測定装置を用いて被照光体各
部の反射光量を測定し、被照光体各部の反射光量の相対
的な関係を正しく把握するためには、光量検出器と被照
光体とのなす距離を常に一定に保ちながら測定を続ける
必要がある。
部の反射光量を測定し、被照光体各部の反射光量の相対
的な関係を正しく把握するためには、光量検出器と被照
光体とのなす距離を常に一定に保ちながら測定を続ける
必要がある。
しかしながら、反射光量測定装置にあっては、一般に、
測定台の被照光体ａ置部の平面度を高精度化したり、測
定台に対して走査する光量検出器の移動軌跡が測定台の
被照光体を置部に対する平行度を高精度化することが困
難であるため、光量検出器と被照光体とのなす距離を常
に一定に保ちながら、測定を続けるのに非常な困難があ
る。
測定台の被照光体ａ置部の平面度を高精度化したり、測
定台に対して走査する光量検出器の移動軌跡が測定台の
被照光体を置部に対する平行度を高精度化することが困
難であるため、光量検出器と被照光体とのなす距離を常
に一定に保ちながら、測定を続けるのに非常な困難があ
る。
本発明は、光量検出器と被照光体とのなす距離を一定に
保ち続けることなく、被照光体各部の反射光量を同一の
測定条件で測定し、被照光体各部の反射光量の相対的な
関係を正しく把握可能とすることを目的とする。
保ち続けることなく、被照光体各部の反射光量を同一の
測定条件で測定し、被照光体各部の反射光量の相対的な
関係を正しく把握可能とすることを目的とする。
［問題点を解決するための手段］
本発明は、板状の被照光体を測定台にａ、置し、測定台
に対して走査する光量検出器により、被照光体各部の反
射光量を測定する被照光体からの反射光量測定方法にお
いて、板状で各部の理論的反射光量が既知である基準照
光体を測定台にａ置し、光量検出器によって基準照光体
各部の反射光量を測定し、基準照光体各部の測定反射光
量と該基準照光体の理論的反射光量に基づいて測定台上
の各測定点における光量補正係数を求め、被照光体各部
の測定反射光量を上記光量補正係数を用いて補正するよ
うにしたものである。
に対して走査する光量検出器により、被照光体各部の反
射光量を測定する被照光体からの反射光量測定方法にお
いて、板状で各部の理論的反射光量が既知である基準照
光体を測定台にａ置し、光量検出器によって基準照光体
各部の反射光量を測定し、基準照光体各部の測定反射光
量と該基準照光体の理論的反射光量に基づいて測定台上
の各測定点における光量補正係数を求め、被照光体各部
の測定反射光量を上記光量補正係数を用いて補正するよ
うにしたものである。
［作用］
本発明によれば、測定台の被照光体載置面の平面度状態
、光量検出器の移動軌跡が測定台の被照光体＠置部に対
する平行度状態等が被照光体の反射光量の測定に及ぼす
影響を、基準照光体を用いて予め把握することとなる。
、光量検出器の移動軌跡が測定台の被照光体＠置部に対
する平行度状態等が被照光体の反射光量の測定に及ぼす
影響を、基準照光体を用いて予め把握することとなる。
すなわち、測定台と光量検出器駆動系とのそれぞれが光
量検出器と被照光体とのなす距離の変化を通じて反射光
量の測定に及ぼす、固有の光量補正係数を各測定点ごと
に求めることとなる。光量検出器が測定した被照光体各
部の反射光量は、各測定点ごとに上記光量補正係数で補
正されるから、光量検出器と被照光体とのなす距離を一
定に保ち続けることなく、被照光体各部の反射光量を同
一の測定条件で測定し、被照光体各部の反射光量の相対
的な関係を正しく把握することが可能となる。
量検出器と被照光体とのなす距離の変化を通じて反射光
量の測定に及ぼす、固有の光量補正係数を各測定点ごと
に求めることとなる。光量検出器が測定した被照光体各
部の反射光量は、各測定点ごとに上記光量補正係数で補
正されるから、光量検出器と被照光体とのなす距離を一
定に保ち続けることなく、被照光体各部の反射光量を同
一の測定条件で測定し、被照光体各部の反射光量の相対
的な関係を正しく把握することが可能となる。
［実施例］
第１図は本発明が適用される反射光量測定装置の測定系
統を示す測定系統図、第２図は本発明が適用される反射
光量測定装置の一例としての絵柄面積率測定装置を示す
斜視図、第３図は光量検出器を示す斜視図、第４図は光
量検出器を示す断面図、第５図は光量検出器による検出
状態を示す模式図、第６図は光量検出器による他の検出
状態を示す模式図、第７図は被照光体の一例としての印
刷版を示す模式図である。
統を示す測定系統図、第２図は本発明が適用される反射
光量測定装置の一例としての絵柄面積率測定装置を示す
斜視図、第３図は光量検出器を示す斜視図、第４図は光
量検出器を示す断面図、第５図は光量検出器による検出
状態を示す模式図、第６図は光量検出器による他の検出
状態を示す模式図、第７図は被照光体の一例としての印
刷版を示す模式図である。
反射光量測定装置の一例としての絵柄面積率測定装置ｌ
Ｏは、第２図に示すように、板状の被照光体としての印
刷版１１を測定台１２の載置面１３にａ、置し、測定台
１２に対して走査する光量検出器１４により、印刷版１
１の各部の反射光量を測定する。１５は測定台１２に設
けられて光量検出器１４を走査方向にガイドするガイド
部である。
Ｏは、第２図に示すように、板状の被照光体としての印
刷版１１を測定台１２の載置面１３にａ、置し、測定台
１２に対して走査する光量検出器１４により、印刷版１
１の各部の反射光量を測定する。１５は測定台１２に設
けられて光量検出器１４を走査方向にガイドするガイド
部である。
絵柄面積率測定装置１０の光量検出器１４は、第３図、
第４図に示すように、一対の平行な円柱状蛍光灯１６を
備えるとともに、両蛍光灯１６の間に一列状に配夕１さ
れた複数の検出箱１７を備えている。各検出箱１７は測
定台１２上の各測定点１８に位置する印刷版１１の各部
からの反射光量を受光して、光電変換するフォトダイオ
ード１９を備えている。
第４図に示すように、一対の平行な円柱状蛍光灯１６を
備えるとともに、両蛍光灯１６の間に一列状に配夕１さ
れた複数の検出箱１７を備えている。各検出箱１７は測
定台１２上の各測定点１８に位置する印刷版１１の各部
からの反射光量を受光して、光電変換するフォトダイオ
ード１９を備えている。
すなわち、絵柄面積率測定装置１０は、第５図に示すよ
うに、光量検出器１４を測定台１２に対して走査するよ
うに矢印で示すように移動し、光量検出器１４の各検出
箱１７に設けられているフォトダイオード１９により、
印刷版１１の各測定点１８の反射光量（またはこの光量
に対する光電変換量）を測定可能とする。印刷版１１は
、オフセット印刷用印刷版であり、第７図に示すように
、絵柄のある画線部２０と、絵柄のない非画線部２１と
からなっている。印刷版１１はオフセット印刷機の版胴
に装着され、印刷版１１の各インク供給領域ａ−ｅに占
める絵柄部分の割合、すなわち絵柄面積率に応じた量の
インクを供給し、印刷される。ここで、印刷版１１の上
記絵柄面積率は、前記絵柄面積率測定装ａ１０により、
以下のようにして求められる。
うに、光量検出器１４を測定台１２に対して走査するよ
うに矢印で示すように移動し、光量検出器１４の各検出
箱１７に設けられているフォトダイオード１９により、
印刷版１１の各測定点１８の反射光量（またはこの光量
に対する光電変換量）を測定可能とする。印刷版１１は
、オフセット印刷用印刷版であり、第７図に示すように
、絵柄のある画線部２０と、絵柄のない非画線部２１と
からなっている。印刷版１１はオフセット印刷機の版胴
に装着され、印刷版１１の各インク供給領域ａ−ｅに占
める絵柄部分の割合、すなわち絵柄面積率に応じた量の
インクを供給し、印刷される。ここで、印刷版１１の上
記絵柄面積率は、前記絵柄面積率測定装ａ１０により、
以下のようにして求められる。
すなわち、絵柄面積率測定装２ｉｏの使用時には、測定
台１２の蔵置面１３に印刷版１１が！置され、光量検出
器１４を測定台１２に対して移動する。印刷版１１の画
線部２０は、絵柄のＨ淡を大小のドツトで表し、画線濃
度の低い部分はドツトを小さく表し、画線濃度の高い部
分はドツトを大きくして表している。絵柄面積率測定装
置１０の光ｔ、検出器１４は、測定する印刷版１１に照
射光を照射させ、各領域ａ −ｅでの平均反射光量（ま
たはこの光量に対するフォトダイオード１９の光電変換
ｉ）［Ｃ］ を検出して各領域ａ−ｅに占めるドツトの
面積割合を検出する。印刷版１１の咬え２４または咬え
尻には、画線率が０％の第１較正マーク２２と、画線率
が１００％の第２較正マーク２３が設けられている。絵
柄面ａ率測定装首１０は、各慴域ａ−ｅの平均反射光量
［Ｃ］を前記のように検出する際に、第１較正マーク２
２０反射光ｉ ［Ｈ］ と第２較正マーク２３の反射光
ｆｆｉ［Ｅ］をも検出する０以上の検出結果により、絵
柄面積率測定装置１０は、各領域ａ −ｅにおける絵柄
面積率Ｐを により求める。
台１２の蔵置面１３に印刷版１１が！置され、光量検出
器１４を測定台１２に対して移動する。印刷版１１の画
線部２０は、絵柄のＨ淡を大小のドツトで表し、画線濃
度の低い部分はドツトを小さく表し、画線濃度の高い部
分はドツトを大きくして表している。絵柄面積率測定装
置１０の光ｔ、検出器１４は、測定する印刷版１１に照
射光を照射させ、各領域ａ −ｅでの平均反射光量（ま
たはこの光量に対するフォトダイオード１９の光電変換
ｉ）［Ｃ］ を検出して各領域ａ−ｅに占めるドツトの
面積割合を検出する。印刷版１１の咬え２４または咬え
尻には、画線率が０％の第１較正マーク２２と、画線率
が１００％の第２較正マーク２３が設けられている。絵
柄面ａ率測定装首１０は、各慴域ａ−ｅの平均反射光量
［Ｃ］を前記のように検出する際に、第１較正マーク２
２０反射光ｉ ［Ｈ］ と第２較正マーク２３の反射光
ｆｆｉ［Ｅ］をも検出する０以上の検出結果により、絵
柄面積率測定装置１０は、各領域ａ −ｅにおける絵柄
面積率Ｐを により求める。
しかして、上記絵柄面積率測定装置１ｏは第１図に示す
ような演算処理部を備え、上記印刷版１１の各部の反射
光景を測定するに先立ち、基準照光体としての基準版を
用い、印刷版１１の各部の反射光量を正しく求めること
を可能としている。
ような演算処理部を備え、上記印刷版１１の各部の反射
光景を測定するに先立ち、基準照光体としての基準版を
用い、印刷版１１の各部の反射光量を正しく求めること
を可能としている。
■測定台１２の載置面Ｉ３と同一（同一でなくてもよい
）の面積で、均一の厚さを持つ板状体からなり、表面各
部の理論的反射光量が既知、例えば光学的に均一であっ
て各部の理論的反射光量が相互に同一である基準版を測
定台１２の載置面１３に載置する。
）の面積で、均一の厚さを持つ板状体からなり、表面各
部の理論的反射光量が既知、例えば光学的に均一であっ
て各部の理論的反射光量が相互に同一である基準版を測
定台１２の載置面１３に載置する。
・■光量検出器１４を駆動し、光量検出器１４によって
基準版の各部の反射光量を、測定台１２の各測定点１８
の座標と対応させながら測定し記憶する。
基準版の各部の反射光量を、測定台１２の各測定点１８
の座標と対応させながら測定し記憶する。
■光量補正係数演算部１００により、上記■で求めた基
準版の各部の測定反射光量と、該基準版の■で述べた理
論的反射光量に基づいて、測定台１２上の各測定点１８
での光量補正係数を算出する。
準版の各部の測定反射光量と、該基準版の■で述べた理
論的反射光量に基づいて、測定台１２上の各測定点１８
での光量補正係数を算出する。
（光量補正係数の算定の一例）
基準版の理論的反射光量（またはこの光量に対するフォ
トダイオード１９の光電変換量）をＡ、光量検出器１４
の各フォトダイオード１９が測定点（Ｘａ、Ｙａ）から
得た反射光量（またはこの光量に対するフォトダイオー
ド１９の光電変換量）をＢａとする時、測定点（Ｘａ、
Ｙａ）における光量補正係数を［Ａ／Ｂａｌ とする。
トダイオード１９の光電変換量）をＡ、光量検出器１４
の各フォトダイオード１９が測定点（Ｘａ、Ｙａ）から
得た反射光量（またはこの光量に対するフォトダイオー
ド１９の光電変換量）をＢａとする時、測定点（Ｘａ、
Ｙａ）における光量補正係数を［Ａ／Ｂａｌ とする。
■次に、測定台１２の＃、置布面１３被照光体としての
印刷版１１を載とする。
印刷版１１を載とする。
■光量検出器１４を駆動し、■における測定台１２の各
測定点１８と同一点での、印刷版１１の各部の反射光量
を測定し、記憶する。
測定点１８と同一点での、印刷版１１の各部の反射光量
を測定し、記憶する。
−φ光量補正部１０１により、上記■で得た印刷版１１
の各部の反射光量を上記■で求めた光量補正係数を用い
て補正する。
の各部の反射光量を上記■で求めた光量補正係数を用い
て補正する。
（反射光量の補正の一例）
印刷版１１の測定点（Ｘａ、Ｙａ）から得た反射光量（
またはこの光量に対するフォトダイオード１９の光電変
換量）をＣａとする待、補正後の反射光量（またはこの
光量に対するフォトダイオード１９の光電変換ψ）をＣ
ａＸ［Ａ／Ｂａ］とする。
またはこの光量に対するフォトダイオード１９の光電変
換量）をＣａとする待、補正後の反射光量（またはこの
光量に対するフォトダイオード１９の光電変換ψ）をＣ
ａＸ［Ａ／Ｂａ］とする。
■絵柄面積率演算部１０２により、上記くΦによって得
た各測定点の補正後の反射光量を用いて、印刷版１１の
絵柄面積率を求める。
た各測定点の補正後の反射光量を用いて、印刷版１１の
絵柄面積率を求める。
上記実施例によれば、測定台１２の印刷版！１装面１３
の平面度状態、光量検出器１４の移動軌跡が測定台１２
の印刷版載訝面１３に対する平行度状態等が被照光体と
しての印刷版１１の反射光量の測定に及ぼす影響を、基
準板を用いて予め把握することとなる。すなわち、測定
台１２と光量検出器駆動系のそれぞれが光量検出器１４
と印刷版１１とのなす距離の変化を通じて反射光量の測
定に及ぼす、固有の光量補正係数を各測定点ごとに求め
ることとなる。光量検出器が測定した印刷版１１の各部
の反射光量は、各測定点ごとに上記光量補正係数で補正
されるから、光量検出器１４と印刷版１１とのなす距離
とを一定に保ち続けることなく、印刷版１１の各部の反
射光量を同一の測定条件で測定し、印刷版１１の各部の
反射光量の相対的な関係を正しく把握することが可能と
なる。
の平面度状態、光量検出器１４の移動軌跡が測定台１２
の印刷版載訝面１３に対する平行度状態等が被照光体と
しての印刷版１１の反射光量の測定に及ぼす影響を、基
準板を用いて予め把握することとなる。すなわち、測定
台１２と光量検出器駆動系のそれぞれが光量検出器１４
と印刷版１１とのなす距離の変化を通じて反射光量の測
定に及ぼす、固有の光量補正係数を各測定点ごとに求め
ることとなる。光量検出器が測定した印刷版１１の各部
の反射光量は、各測定点ごとに上記光量補正係数で補正
されるから、光量検出器１４と印刷版１１とのなす距離
とを一定に保ち続けることなく、印刷版１１の各部の反
射光量を同一の測定条件で測定し、印刷版１１の各部の
反射光量の相対的な関係を正しく把握することが可能と
なる。
上記実施例において、光量検出器１４は、第６図に示す
ように、単一のフォトダイオード１９のみを備え、フォ
トダイオード１９を矢印で示すように水平方向及び垂直
方向に移動して、測定台１２の各測定点１８を走査する
ものであってもよい。
ように、単一のフォトダイオード１９のみを備え、フォ
トダイオード１９を矢印で示すように水平方向及び垂直
方向に移動して、測定台１２の各測定点１８を走査する
ものであってもよい。
なお１本発明は、絵柄面Ｊｌｌ測測定装置限らず、広く
一般の反射光１ｌｉｔ測定装置による測定方法に適用可
部である。
一般の反射光１ｌｉｔ測定装置による測定方法に適用可
部である。
［発明の効果］
以上のように、本発明は、板状の被照光体を測定台にａ
置し、測定台に対して走査する光量検出器により、被照
光体各部の反射光量を測定する被照光体からの反射光量
測定方法において、板状で各部の理論的反射光量が既知
である基準照光体を測定台に載置し、光量検出器によっ
て基準照光体各部の反射光量を測定し、基準照光体各部
の測定反射光量と該基準照光体の理論的反射光量に基づ
いて測定台上の各測定点における光量補正係数を求め、
被照光体各部の測定反射光量を上記光量補正係数を用い
て補正するようにしたものである。
置し、測定台に対して走査する光量検出器により、被照
光体各部の反射光量を測定する被照光体からの反射光量
測定方法において、板状で各部の理論的反射光量が既知
である基準照光体を測定台に載置し、光量検出器によっ
て基準照光体各部の反射光量を測定し、基準照光体各部
の測定反射光量と該基準照光体の理論的反射光量に基づ
いて測定台上の各測定点における光量補正係数を求め、
被照光体各部の測定反射光量を上記光量補正係数を用い
て補正するようにしたものである。
したがって、光量検出器と被照光体とのなす距離を一定
に保ち続けることなく、被照光体各部の反射光量を同一
の測定条件で測定し、被照光体各部の反射光量の相対的
な関係を正しく把握することが可能となる。
に保ち続けることなく、被照光体各部の反射光量を同一
の測定条件で測定し、被照光体各部の反射光量の相対的
な関係を正しく把握することが可能となる。
第１図は本発明が適用される反射光量測定装置の測定系
統を示す測定系統図、第２図は本発明が適用される反射
光Ｍ測定装置の一例としての絵柄面積率測定装首を示す
斜視図、第３図は光量検出器を示す斜視図、第４図は光
は検出器を示す断面図、第５図は光量検出器による検出
状態を示す模式図、第６図は光量検出器による他の検出
状態を示す模式図、第７図は被照光体の一例としての印
刷版を示す模式図である。 １０・・・絵柄面積；１ｇ測測定性、１１・・・印刷版
（被照光体）、１２・・・測定台、１４・・・光量検出
器、１８・・・測定点、１００・・・光層補正係数演算
部、１０１・・・光量補正部。 代理人 弁理士 塩 川 修 治 第 １ 図 １４べ叉 第 ２ 図
統を示す測定系統図、第２図は本発明が適用される反射
光Ｍ測定装置の一例としての絵柄面積率測定装首を示す
斜視図、第３図は光量検出器を示す斜視図、第４図は光
は検出器を示す断面図、第５図は光量検出器による検出
状態を示す模式図、第６図は光量検出器による他の検出
状態を示す模式図、第７図は被照光体の一例としての印
刷版を示す模式図である。 １０・・・絵柄面積；１ｇ測測定性、１１・・・印刷版
（被照光体）、１２・・・測定台、１４・・・光量検出
器、１８・・・測定点、１００・・・光層補正係数演算
部、１０１・・・光量補正部。 代理人 弁理士 塩 川 修 治 第 １ 図 １４べ叉 第 ２ 図
Claims (3)
- （１）板状の被照光体を測定台に載置し、測定台に対し
て走査する光量検出器により、被照光体各部の反射光量
を測定する被照光体からの反射光量測定方法において、
板状で各部の理論的反射光量が既知である基準照光体を
測定台に載置し、光量検出器によって基準照光体各部の
反射光量を測定し、基準照光体各部の測定反射光量と該
基準照光体の理論的反射光量に基づいて測定台上の各測
定点における光量補正係数を求め、被照光体各部の測定
反射光量を上記光量補正係数を用いて補正することを特
徴とする被照光体からの反射光量測定方法。 - （２）特許請求の範囲第１項において、基準照光体は光
学的に均一であり、各部の理論的反射光量が相互に同一
であることを特徴とする被照光体からの反射光量測定方
法。 - （３）特許請求の範囲第１項または第２項において、被
照光体が印刷版であることを特徴とする被照光体からの
反射光量測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61166816A JP2527939B2 (ja) | 1986-07-17 | 1986-07-17 | 印刷版の絵柄面積率測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61166816A JP2527939B2 (ja) | 1986-07-17 | 1986-07-17 | 印刷版の絵柄面積率測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6325533A true JPS6325533A (ja) | 1988-02-03 |
| JP2527939B2 JP2527939B2 (ja) | 1996-08-28 |
Family
ID=15838193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61166816A Expired - Fee Related JP2527939B2 (ja) | 1986-07-17 | 1986-07-17 | 印刷版の絵柄面積率測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2527939B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017090198A (ja) * | 2015-11-09 | 2017-05-25 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 板状体側面の表面疵撮影装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5817308A (ja) * | 1981-07-23 | 1983-02-01 | Nireko:Kk | インキ供給量測定装置 |
| JPS59122070A (ja) * | 1982-12-27 | 1984-07-14 | Omron Tateisi Electronics Co | Ｐｃｓ測定装置 |
| JPS6080739A (ja) * | 1983-10-07 | 1985-05-08 | Ee D S:Kk | 二次元濃度計 |
-
1986
- 1986-07-17 JP JP61166816A patent/JP2527939B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5817308A (ja) * | 1981-07-23 | 1983-02-01 | Nireko:Kk | インキ供給量測定装置 |
| JPS59122070A (ja) * | 1982-12-27 | 1984-07-14 | Omron Tateisi Electronics Co | Ｐｃｓ測定装置 |
| JPS6080739A (ja) * | 1983-10-07 | 1985-05-08 | Ee D S:Kk | 二次元濃度計 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017090198A (ja) * | 2015-11-09 | 2017-05-25 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 板状体側面の表面疵撮影装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2527939B2 (ja) | 1996-08-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7369253B2 (en) | Systems and methods for measuring sample surface flatness of continuously moving samples | |
| JP2008157933A (ja) | 色測定ヘッドおよび色測定ヘッドが装備されているスキャナー装置 | |
| WO2002010679A1 (fr) | Systeme servant a mesurer la forme d'une surface | |
| EP0835755A3 (en) | Apparatus for scanning colored registration marks | |
| JPS56142404A (en) | System for measuring plate width | |
| JPS6325533A (ja) | 印刷版の絵柄面積率測定方法 | |
| EP0094481A3 (en) | Opto-electrical measuring-device | |
| JPS6322522B2 (ja) | ||
| US4225241A (en) | Method and apparatus for adjusting the relative positioning of planar transparent objects, such as the glass plates of a liquid crystal display, and a liquid crystal display adjusted by the method and apparatus | |
| JPS57104803A (en) | Displacement measuring apparatus | |
| JP2001059720A (ja) | シート材検査装置 | |
| GB2132754A (en) | Determination of print area of a printing master | |
| FI76736B (fi) | Foerfarande foer kontroll av tryckkvalitet. | |
| JPH0413637Y2 (ja) | ||
| JPS6434061A (en) | Magnification inspecting device for sub-scanning direction of image scanner | |
| JPH03195911A (ja) | 絵柄面積率測定装置 | |
| JP2001157000A (ja) | 位置検知方法およびイメージング装置 | |
| JP2764399B2 (ja) | 絵柄面積率測定装置 | |
| JPH10153485A (ja) | 測定装置、測定方法、および画像出力装置 | |
| JPS62235512A (ja) | 平滑度計測装置 | |
| JPS6441819A (en) | Position detecting apparatus | |
| JPH10153405A (ja) | 測定装置および測定方法 | |
| JPH03269307A (ja) | すきま測定機 | |
| JPH02169440A (ja) | 紙片検出装置 | |
| JPS6210377B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |