JPS5819206B2 - 計量装置における計量デ−タの表示用デ−タへの処理方法および処理装置 - Google Patents
計量装置における計量デ−タの表示用デ−タへの処理方法および処理装置Info
- Publication number
- JPS5819206B2 JPS5819206B2 JP52090626A JP9062677A JPS5819206B2 JP S5819206 B2 JPS5819206 B2 JP S5819206B2 JP 52090626 A JP52090626 A JP 52090626A JP 9062677 A JP9062677 A JP 9062677A JP S5819206 B2 JPS5819206 B2 JP S5819206B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- weighing
- measurement data
- memory
- storage section
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Indicating Measured Values (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は計量装置における計量データの表示用データ
への処理方法および処理装置に関する。
への処理方法および処理装置に関する。
従来、計量装置においては計量部から得られる計量デー
タを何ら処理を施すことなくそのまま表示用データとし
て表示部に出力するようにしていた。
タを何ら処理を施すことなくそのまま表示用データとし
て表示部に出力するようにしていた。
このため装置の機械的振動による計量データの変化がそ
のまま表示用データの変化として表示され、ちらつきが
激しくなる問題があった。
のまま表示用データの変化として表示され、ちらつきが
激しくなる問題があった。
最近では計量装置としてラベル発行装置を付設したもの
が開発されているが、このようなものではプリンターや
モータ等機械的振動を起こすものが内蔵されているため
特に表示のちらつきが激しくなる問題があった。
が開発されているが、このようなものではプリンターや
モータ等機械的振動を起こすものが内蔵されているため
特に表示のちらつきが激しくなる問題があった。
このため例えば計量が安定したら表示を固定する方法も
考えられるがこれでは計量が一旦安定してもその後大き
く変化したときには追従できなくなる問題がある。
考えられるがこれでは計量が一旦安定してもその後大き
く変化したときには追従できなくなる問題がある。
この発明はこのような問題を解決するために考えられた
もので、機械的振動等があっても表示用データはそれ程
変化することがなく、したがってちらつきがそれ程なく
安定した表示動作を行なわせることができ、しかも計量
値変化に対して追従性が減じる虞れがない計量装置にお
ける計量データの表示用データへの処理方法および処理
装置を提供することを目的とする。
もので、機械的振動等があっても表示用データはそれ程
変化することがなく、したがってちらつきがそれ程なく
安定した表示動作を行なわせることができ、しかも計量
値変化に対して追従性が減じる虞れがない計量装置にお
ける計量データの表示用データへの処理方法および処理
装置を提供することを目的とする。
以下、この発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図は装置全体の回路構成を示すブロック図で、1は
物品を計量する計量部である。
物品を計量する計量部である。
この計量部1からはアナログな計量データが出力され、
その計量データがA/D変換器2でディジタル化されア
ップダウンカウンタ3でカウントされるようになってい
る。
その計量データがA/D変換器2でディジタル化されア
ップダウンカウンタ3でカウントされるようになってい
る。
4は入力用記憶部を形成するレジスタ等の第1の記憶器
、5は出力用記憶部を形成するレジスタ等の第2の記憶
器である。
、5は出力用記憶部を形成するレジスタ等の第2の記憶
器である。
前記第1の記憶器4には前記カウンタ3によってカウン
トされた計量データが順次取り込まれるようになってい
る。
トされた計量データが順次取り込まれるようになってい
る。
又前記第2の記憶器5には基準計量データが取り込まれ
ている。
ている。
6は前記第1の記憶器4の計量データd1 と前記第2
の記憶器50基準計量データd。
の記憶器50基準計量データd。
とを比較し、その差d1−do=XがIXI≧2のとき
端子Aから第1の信号S1を出力し、Xが+1のとき端
子Bから第2の信号S2を出力し、かつXが−1のとき
端子Cから第3の信号S3を出力する比較器である。
端子Aから第1の信号S1を出力し、Xが+1のとき端
子Bから第2の信号S2を出力し、かつXが−1のとき
端子Cから第3の信号S3を出力する比較器である。
前記第2の記憶器5に取り込まれている基準計量データ
は表示用データとじて表示用レジスタ7へ供給され、表
示装置8で表示されるようになっている。
は表示用データとじて表示用レジスタ7へ供給され、表
示装置8で表示されるようになっている。
9は前記比較器6から第2の信号S2を入力される第1
のシフトレジスタ、10は前記比較器6から第3の信号
S3を入力される第2のシフトレジスタである。
のシフトレジスタ、10は前記比較器6から第3の信号
S3を入力される第2のシフトレジスタである。
これら各シフトレジスタ9,10は3桁からなり、前記
カウンタ3から第1の記憶器4に計量データが取り込ま
れるタイミングで桁シフトが行なわれるようになってい
る。
カウンタ3から第1の記憶器4に計量データが取り込ま
れるタイミングで桁シフトが行なわれるようになってい
る。
前記第1のシフトレジスタ9の各桁出力を3人力用の第
1のアンドゲート11に入力し、前記第2のシフトレジ
スタ10の各桁出力を3人力用の第2のアンドゲート1
2に入力するようにしている。
1のアンドゲート11に入力し、前記第2のシフトレジ
スタ10の各桁出力を3人力用の第2のアンドゲート1
2に入力するようにしている。
そして前記比較器6の第1の信号S1を2人力用の第3
のアンドゲート13の一方に入力し、前記第1、第2の
アントゲ−NL12の出力を第1のオアゲート14を介
して2人力用の第4のアンドゲート15の一方に入力す
るようにしている。
のアンドゲート13の一方に入力し、前記第1、第2の
アントゲ−NL12の出力を第1のオアゲート14を介
して2人力用の第4のアンドゲート15の一方に入力す
るようにしている。
前記第3、第4のアントゲ−N 3,15の他方には前
記第1の記憶器4から計量データが入力されている。
記第1の記憶器4から計量データが入力されている。
そして前記第3、第4のアントゲ−N3,15の出力を
第2のオアゲート16を介して前記、第2の記憶器5に
供給するようにしている。
第2のオアゲート16を介して前記、第2の記憶器5に
供給するようにしている。
なお、前記第1のオアゲート14の出力を前記両シフト
レジスタ9,10のクリア信号CLにも・使用している
。
レジスタ9,10のクリア信号CLにも・使用している
。
次にこのように構成された本実施例装置の動作について
第2図を参照して述べる。
第2図を参照して述べる。
なお、比較器6から出力される各信号SI、S2.S3
はそれが出力されているときをn 1 n、出力されて
いないときをO″として説明する。
はそれが出力されているときをn 1 n、出力されて
いないときをO″として説明する。
例えば計量部1側からA/D変換器2およびカウンタ3
を介して第1の記憶器4に取り込まれる計量データが時
刻t。
を介して第1の記憶器4に取り込まれる計量データが時
刻t。
〜ttaの所定のタイミング時間をもって第2図のaに
示すように変動したとする。
示すように変動したとする。
先ずt。においては計量データの目盛が” 100 ’
”から102′”へと2目盛変化したので比較器6の第
1の信号S1が”1″となり、第3のアンドゲート13
が開き第1の記憶器4に取り込まれた計量データ” 1
02 ”が第3のアンドゲート13および第2のオアゲ
ート16を介して第2の記憶器5にも取り込まれ、表示
用データとなる。
”から102′”へと2目盛変化したので比較器6の第
1の信号S1が”1″となり、第3のアンドゲート13
が開き第1の記憶器4に取り込まれた計量データ” 1
02 ”が第3のアンドゲート13および第2のオアゲ
ート16を介して第2の記憶器5にも取り込まれ、表示
用データとなる。
しかして第2図のbに示すように表示装置8へ供給され
る表示用データも時刻t。
る表示用データも時刻t。
においては”100″”から°’ 102 ”へと変化
する。
する。
時刻t1 においては目盛が”102”からゞ“104
”へと2目盛変化したので、この場合も前記同様に第3
のアンドゲート13が開き表示用データは”102 ”
から’104”へと変化する。
”へと2目盛変化したので、この場合も前記同様に第3
のアンドゲート13が開き表示用データは”102 ”
から’104”へと変化する。
時刻t2 においては計量データの目盛が”104”か
ら’101”へと3目盛変化したので、この場合も前記
同様に第3のアンドゲート13が開き表示用データは”
104”から’ 101 ”へと変化する。
ら’101”へと3目盛変化したので、この場合も前記
同様に第3のアンドゲート13が開き表示用データは”
104”から’ 101 ”へと変化する。
続いて時刻t3において計量データが”101”から”
102 ”へと1目盛増えると比較器6の第2の信号S
2が1″となり第1のシフトレジスタ9に入力される。
102 ”へと1目盛増えると比較器6の第2の信号S
2が1″となり第1のシフトレジスタ9に入力される。
しかし今の状態では第1のシフトレジスタ9の各桁は1
”、′0”、′O″となっているので第1のアンドゲー
ト11の出力が”1″′になることはない。
”、′0”、′O″となっているので第1のアンドゲー
ト11の出力が”1″′になることはない。
したがってこの状態では第2の記憶器6内の基準計量デ
ータは変化されることはない。
ータは変化されることはない。
したがって表示用データも変化さiない。
次の時刻t4において計量データが102 ”から°゛
103′′へ変化するとこの時点で計量データと基準計
量データとの差が2目盛となるから前記同様第1の記憶
器4内の計量データが第3のアンドゲート13および第
2のオアゲート16を介して第2の記憶器5内に供給さ
れ基準計量データは’101’”から’ 103 ”と
変化し表示用データが第2図のbに示すように”101
から’ 103 ”と変化する。
103′′へ変化するとこの時点で計量データと基準計
量データとの差が2目盛となるから前記同様第1の記憶
器4内の計量データが第3のアンドゲート13および第
2のオアゲート16を介して第2の記憶器5内に供給さ
れ基準計量データは’101’”から’ 103 ”と
変化し表示用データが第2図のbに示すように”101
から’ 103 ”と変化する。
その後計量データが時刻t5jt6jt7 において′
104”、” 103 ”、” 102 ”と変化して
も基準計量データは103″′でその差の変化は+1.
0、−1となるので第2図のbに示すように表示用デー
タは変化しない。
104”、” 103 ”、” 102 ”と変化して
も基準計量データは103″′でその差の変化は+1.
0、−1となるので第2図のbに示すように表示用デー
タは変化しない。
しかし時刻t8 において計量量データがさらに101
”になるとこのときは基準計量データとの差が2目盛
になるので基準計量データは’ 103”から101”
へと変化し表示用データが変化する。
”になるとこのときは基準計量データとの差が2目盛
になるので基準計量データは’ 103”から101”
へと変化し表示用データが変化する。
そして時刻ttoにおいて計量データが”101 ”か
ら” 103 ”へと変化するとこのときは差が2目盛
あるので、基準計量データも”101 ”から”103
”へと変化する。
ら” 103 ”へと変化するとこのときは差が2目盛
あるので、基準計量データも”101 ”から”103
”へと変化する。
その後計量データが時刻t11 t j1□、t13に
おいて104 ”、103 ”、103′と変化しても
基準計量データは”103 ”でその差の変化は+1.
0、Oとなるので第2図のbに示すように表示用データ
は変化しない。
おいて104 ”、103 ”、103′と変化しても
基準計量データは”103 ”でその差の変化は+1.
0、Oとなるので第2図のbに示すように表示用データ
は変化しない。
そして時刻t14において計量データが103”から1
04′”に変化するとこのときは基準計量データとの差
が+1になるので第2の信号S2がII I IIとな
り第1のシフトレジスタ9の内容が91111、e!
011、0”となる。
04′”に変化するとこのときは基準計量データとの差
が+1になるので第2の信号S2がII I IIとな
り第1のシフトレジスタ9の内容が91111、e!
011、0”となる。
しかしこの状態では第1のアンドゲート11のゲートが
開かないので第1の記憶器4内の計量データが第4のア
ンドゲート15および第2のオアゲート16を介して第
2の記憶器5に供給されることはない。
開かないので第1の記憶器4内の計量データが第4のア
ンドゲート15および第2のオアゲート16を介して第
2の記憶器5に供給されることはない。
すなわち基準計量データは変化しない。
続いて時刻t15においても計量データ”104”が第
1の記憶器4に入力されると第1のシフトレジスタ9の
内容が1″、”、0′”となる。
1の記憶器4に入力されると第1のシフトレジスタ9の
内容が1″、”、0′”となる。
しかしこの状■
態においても第1のアンドゲート11のゲートが。
開かないので第2の記憶器5内の基準計量データは変化
しない。
しない。
さらに時刻tt6においても計量デーダ’104”が第
1の記憶器4に入力されると第1のシフトレジスタ9の
内容が1′、′1”、N 1 t+となる。
1の記憶器4に入力されると第1のシフトレジスタ9の
内容が1′、′1”、N 1 t+となる。
すると第1のアンドゲート11の・ゲートが開らくので
、第1のアンドゲート11から出力”1″が第1のオア
ゲート14を介して第4のアンドゲート15に入力され
る。
、第1のアンドゲート11から出力”1″が第1のオア
ゲート14を介して第4のアンドゲート15に入力され
る。
しかして第1の記憶器4に入力されている計量データ”
104”が第4のアンドゲート15および第2のオアゲ
ート16を介して第2の記憶器5に供給される。
104”が第4のアンドゲート15および第2のオアゲ
ート16を介して第2の記憶器5に供給される。
こうして基準計量データが°’103”から104 ”
に変化し第2図のbに示すように表示用データが” 1
03 ”から°104”へと変化する。
に変化し第2図のbに示すように表示用データが” 1
03 ”から°104”へと変化する。
なお第1のアンドゲート11の出力によって第1、第2
のシフトレジスタ9,10はその記憶内容をクリアされ
る。
のシフトレジスタ9,10はその記憶内容をクリアされ
る。
このように第1の記憶器4に入力される計量データが第
2図のaに示すように激しく変化しても表示用データは
第2図のbに示すようにそれ程激しい変化はしない。
2図のaに示すように激しく変化しても表示用データは
第2図のbに示すようにそれ程激しい変化はしない。
したがって機械的振動によって計量データが激しく変化
することがあっても表示のちらつきはそれ程激しくなく
、安定した表示が行なえるものである。
することがあっても表示のちらつきはそれ程激しくなく
、安定した表示が行なえるものである。
また、表示用データが変化する条件は第2の記憶器5に
取り込まれている基準計量データと比較し、新たに取込
まれた重量データが2目盛以上変化したとき、及び3回
連続して1目盛変化があったときとしているので、重量
データが1安定してもその後計量変化があるとその計量
変化に充分追従して表示用データも変化でき表示用デー
タの信頼性を失なう虞れは無い。
取り込まれている基準計量データと比較し、新たに取込
まれた重量データが2目盛以上変化したとき、及び3回
連続して1目盛変化があったときとしているので、重量
データが1安定してもその後計量変化があるとその計量
変化に充分追従して表示用データも変化でき表示用デー
タの信頼性を失なう虞れは無い。
以上は計量データの表示用データへの処理を記憶器、比
較器、シフトレジスタ、ゲート等を使用して構成したも
のについて述べたがかならずしもこれに限定されるもの
ではなく、例えばマイクロコンピュータによって構成す
ることもできる。
較器、シフトレジスタ、ゲート等を使用して構成したも
のについて述べたがかならずしもこれに限定されるもの
ではなく、例えばマイクロコンピュータによって構成す
ることもできる。
以下、マイクロコンピュータを使用した場合の実施例に
ついて述べる。
ついて述べる。
第3図は基本回路の構成を示すもので、21は中央処理
装置(CPU)、22はデコーダ、23はRAM(ラン
ダム・アクセス・メモリ)、24はROM(リード・オ
ンリ・メモリ)、25は計量部等との入・出力ポート、
26はキーボード・表示部コントローラ、2Tはキーボ
ード、28は表示部、29はプリンタコントローラ、3
0はプリンタである。
装置(CPU)、22はデコーダ、23はRAM(ラン
ダム・アクセス・メモリ)、24はROM(リード・オ
ンリ・メモリ)、25は計量部等との入・出力ポート、
26はキーボード・表示部コントローラ、2Tはキーボ
ード、28は表示部、29はプリンタコントローラ、3
0はプリンタである。
前記RAM23には第4図に示すように第1の記憶器4
に対応する第1のメモリ(Wl)23、第2の記憶器5
に対応する第2のメモリ(W2 )23b、第1のシフ
トレジスタ9に対応する第3のメモリ(W3)23c、
第2のシフトレジスタ10に対応する第4のメモリ(W
4 ) 23d、表示用メモ’) 23 e等が設けら
れている。
に対応する第1のメモリ(Wl)23、第2の記憶器5
に対応する第2のメモリ(W2 )23b、第1のシフ
トレジスタ9に対応する第3のメモリ(W3)23c、
第2のシフトレジスタ10に対応する第4のメモリ(W
4 ) 23d、表示用メモ’) 23 e等が設けら
れている。
前記第3のメモ’J (W3 ) 23 CにはW2−
Wlのときのみ1″が書き込まれそれ以外は0′”が書
き込まれ、又前記第4のメモ!J(W4)23dにはW
2−W1=−1のときのみ°゛1″が書き込まれそれ以
外はO″が書き込まれるようになっている。
Wlのときのみ1″が書き込まれそれ以外は0′”が書
き込まれ、又前記第4のメモ!J(W4)23dにはW
2−W1=−1のときのみ°゛1″が書き込まれそれ以
外はO″が書き込まれるようになっている。
前記中央処理装置(CPU)21はIW2−WI +≧
2のとき、あるいは第3、第4のメモリ23c、23d
にnluが連続して3回書き込まれたとき第1のメモリ
(Wl)23a内の計量データを第2のメモリ(W2)
23bへ書き込み同時に第2のメモリ23′bの内容に
もとすいて表示用メモ’)23eを書き換える処理を行
なうようにしている。
2のとき、あるいは第3、第4のメモリ23c、23d
にnluが連続して3回書き込まれたとき第1のメモリ
(Wl)23a内の計量データを第2のメモリ(W2)
23bへ書き込み同時に第2のメモリ23′bの内容に
もとすいて表示用メモ’)23eを書き換える処理を行
なうようにしている。
又、前記中央処理装置(CPU)21は第3、第4のメ
モリ23c。
モリ23c。
23dに”1″が連続して3回書き込まれたことを検出
したときには第1のメモリ23aから第2のメモリ23
bへの計量データの送り込みとともに第3、第4のメモ
リ23 c 、23 dの内容をクリアするようにして
いる。
したときには第1のメモリ23aから第2のメモリ23
bへの計量データの送り込みとともに第3、第4のメモ
リ23 c 、23 dの内容をクリアするようにして
いる。
このマイクロコンピュータを使用した場合の制御をフロ
ーチャートで示せば第5図に示すようになる。
ーチャートで示せば第5図に示すようになる。
計量データが第1のメモリ23aに取り込まれると第2
のメモリ23bとの差、W2−Wlがチェックされる。
のメモリ23bとの差、W2−Wlがチェックされる。
W2−Wl=1であれば第3のメモリ23cK″1′′
が書き込マレ、W 2−W 1 ==1であれば第4の
メモリにパ1”が書き込まれ、1W2−Wll≧2であ
れば直ちに第1のメモリ23aの内容が第2のメモ!J
23 bに取り込まれる。
が書き込マレ、W 2−W 1 ==1であれば第4の
メモリにパ1”が書き込まれ、1W2−Wll≧2であ
れば直ちに第1のメモリ23aの内容が第2のメモ!J
23 bに取り込まれる。
なお上記以外、すなわちW2−W1=0ときは第1のメ
モリの内容と第2のメモリへ取り込ませても又、フロー
チャートのように取り込ませなくテモヨイ。
モリの内容と第2のメモリへ取り込ませても又、フロー
チャートのように取り込ませなくテモヨイ。
W2−W1=1のときは第3のメモリ23cの内容がチ
ェックされ、そのメモリ23cに3回連続して1”が書
き込まれていると第1のメモリ23aの内容を第2のメ
モリ23bへ移し、かつ第3、第4のメモリ23c。
ェックされ、そのメモリ23cに3回連続して1”が書
き込まれていると第1のメモリ23aの内容を第2のメ
モリ23bへ移し、かつ第3、第4のメモリ23c。
23dをクリアする。
又、W2−W1=−1のときは第4のメモ’J 23
dの内容がチェックされ、そのメモ’) 23 cに3
回連続して1″が書き込まれていると第]のメモリ23
aの内容を第2のメモリ23bへ移し、カリ第3、第4
のメモリ23c、23dをクリアする。
dの内容がチェックされ、そのメモ’) 23 cに3
回連続して1″が書き込まれていると第]のメモリ23
aの内容を第2のメモリ23bへ移し、カリ第3、第4
のメモリ23c、23dをクリアする。
このようにマイクロコンピュータを使用することによっ
ても前述した実施例と同様の機能を果すことができ同様
の効果が得られるものである。
ても前述した実施例と同様の機能を果すことができ同様
の効果が得られるものである。
以上詳述したようにこの発明によれば機械的振動等によ
って計量データが激しく変化することがあっても表示用
データとなる基準計量データをそれ程変化させずに、し
かも計量データとの差を大きくさせることな(制御する
ことができるので、ちらつきがそれ程なく安定でしかも
信頼性を失なうことな(確実な表示動作を行なわせるこ
とができる計量装置における計量データの表示用データ
への処理方法および処理装置を提供できるものである。
って計量データが激しく変化することがあっても表示用
データとなる基準計量データをそれ程変化させずに、し
かも計量データとの差を大きくさせることな(制御する
ことができるので、ちらつきがそれ程なく安定でしかも
信頼性を失なうことな(確実な表示動作を行なわせるこ
とができる計量装置における計量データの表示用データ
への処理方法および処理装置を提供できるものである。
第1図はこの発明の実施例を示すブロック図、第2図は
同実施例におけるデータの変化状態を示すものでaは計
量データの変化状態を示すグラフ、bは表示用データの
変化状態を示すグラフ、第3図はこの発明の他の実施例
を示すブロック図、第4図は同実施例におけるRAMの
一部を示す図、第5図は同実施例の制御過程を示すフロ
ーチャートである。 1・・・・・・計量部、4・・・・・・第1の記憶器、
5・・・・・・第2の記憶器、6・・・・・・比較器、
9,10・・・・・・シフトレジスタ。
同実施例におけるデータの変化状態を示すものでaは計
量データの変化状態を示すグラフ、bは表示用データの
変化状態を示すグラフ、第3図はこの発明の他の実施例
を示すブロック図、第4図は同実施例におけるRAMの
一部を示す図、第5図は同実施例の制御過程を示すフロ
ーチャートである。 1・・・・・・計量部、4・・・・・・第1の記憶器、
5・・・・・・第2の記憶器、6・・・・・・比較器、
9,10・・・・・・シフトレジスタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 物品を計量し表示する計量装置において、計量デー
タをデジタル化して取り込み、その取り込まれた計量デ
ータを表示用データとなる基準計量データと比較し、そ
の差が2目盛以上あるときには直ちに今取込まれた計量
データを基準計量データとし、又、その差が最も新しい
3個の計量データについて連続して+1あるいは−1の
とき今取込まれた計量データを基準計量データとし、そ
れ以外は基準計量データを変化させないようにしたこと
を特徴とする計量装置における計量データの表示用デー
タへの処理方法。 2 物品を計量する計量部と、この計量部からのアナロ
グな計量データをディジタル化する手段と、この手段か
らの計量データを記憶する入力用記憶部と、表示用デー
タとなる基準計量データを記憶する出力用記憶部と、こ
の出力用記憶部の基準計量データと上記入力用記憶部の
計量データを比較し、基準計量データとの差XがIXI
≧2のとき第1の信号を出力し、差XがX−+1のとき
第2の信号を出力し、かつ差XがX−−1のとき第3の
信号を出力する比較器と、この比較器から第1の信号を
入力されることにより上記入力用記憶部に取込まれてい
る計量データを上記出力用記憶部に入力させる手段と、
上記比較器から第2の信号あるいは第3の信号が3回連
続して入力されることにより上記入力用記憶部に取込ま
れている計量データを上記出力用記憶部に入力させる手
段とを具備してなることを特徴とする計量装置における
計量データの表示用データへの処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52090626A JPS5819206B2 (ja) | 1977-07-28 | 1977-07-28 | 計量装置における計量デ−タの表示用デ−タへの処理方法および処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52090626A JPS5819206B2 (ja) | 1977-07-28 | 1977-07-28 | 計量装置における計量デ−タの表示用デ−タへの処理方法および処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5425769A JPS5425769A (en) | 1979-02-26 |
| JPS5819206B2 true JPS5819206B2 (ja) | 1983-04-16 |
Family
ID=14003680
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52090626A Expired JPS5819206B2 (ja) | 1977-07-28 | 1977-07-28 | 計量装置における計量デ−タの表示用デ−タへの処理方法および処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5819206B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020110585A1 (ja) | 2018-11-30 | 2020-06-04 | 富士フイルム株式会社 | インクジェットインク組成物及び画像記録方法 |
| WO2020175033A1 (ja) | 2019-02-26 | 2020-09-03 | 日本化薬株式会社 | 洗浄液及びインクジェットプリンタの洗浄方法 |
| US10994544B2 (en) | 2018-05-08 | 2021-05-04 | Nippon Kayaku Kabushiki Kaisha | Cleaning liquid and method of cleaning ink-jet printer |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59224524A (ja) * | 1983-06-03 | 1984-12-17 | Kawaguchiko Seimitsu Kk | 計量装置における計量デ−タの表示用デ−タへの処理方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5212582A (en) * | 1975-07-21 | 1977-01-31 | Hitachi Ltd | Insulated gate type semi-conductor device |
-
1977
- 1977-07-28 JP JP52090626A patent/JPS5819206B2/ja not_active Expired
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10994544B2 (en) | 2018-05-08 | 2021-05-04 | Nippon Kayaku Kabushiki Kaisha | Cleaning liquid and method of cleaning ink-jet printer |
| WO2020110585A1 (ja) | 2018-11-30 | 2020-06-04 | 富士フイルム株式会社 | インクジェットインク組成物及び画像記録方法 |
| WO2020175033A1 (ja) | 2019-02-26 | 2020-09-03 | 日本化薬株式会社 | 洗浄液及びインクジェットプリンタの洗浄方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5425769A (en) | 1979-02-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4402081A (en) | Semiconductor memory test pattern generating apparatus | |
| US4206346A (en) | System for gathering data representing the number of event occurrences | |
| US4578666A (en) | Method of comparing data with asynchronous timebases | |
| JPS5834037B2 (ja) | アドレス計算装置 | |
| JPH0520350A (ja) | ベクトル処理装置 | |
| JPH04220826A (ja) | 転送データ格納方式 | |
| JPS5856090B2 (ja) | 計量装置における計量デ−タの表示用デ−タへの処理装置 | |
| JPS59195728A (ja) | デ−タ処理装置 | |
| JP3546013B2 (ja) | 信号処理装置 | |
| JPH08129487A (ja) | プログラムシーケンス制御回路 | |
| JPH11191080A (ja) | メモリ試験装置 | |
| JP2915912B2 (ja) | 半導体試験装置のパターンシーケンス制御回路 | |
| JP2577797B2 (ja) | 画素密度変換回路 | |
| JPH05108500A (ja) | メモリ回路 | |
| JPH01320482A (ja) | 素子遅延測定回路装置 | |
| JPH0439750A (ja) | 高速記憶装置 | |
| JPS61255448A (ja) | メモリアクセス制御装置 | |
| JPS6222437B2 (ja) | ||
| JPS59189463A (ja) | メモリアクセス制御方式 | |
| JPS58108579A (ja) | デ−タ表示方式 | |
| JPH04232537A (ja) | トレースシステム | |
| JPH01106148A (ja) | 多ポートメモリ装置 | |
| JPH04248633A (ja) | テスト方式 | |
| JPS59221710A (ja) | シ−ケンスプログラムの演算処理時間測定方式 | |
| JPS6411972B2 (ja) |