JPS58197894A - 高出力半導体レ−ザ - Google Patents
高出力半導体レ−ザInfo
- Publication number
- JPS58197894A JPS58197894A JP8119382A JP8119382A JPS58197894A JP S58197894 A JPS58197894 A JP S58197894A JP 8119382 A JP8119382 A JP 8119382A JP 8119382 A JP8119382 A JP 8119382A JP S58197894 A JPS58197894 A JP S58197894A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- reflecting mirror
- stripe electrodes
- resonators
- output light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、半導体レーザに関し、特に高出力を安定に
得ることができる半導体レーザに関する。
得ることができる半導体レーザに関する。
現在、光情報処理の分野で′は、l(e −Ne レ
ーザ等の気体レーザが、計測、レーザプリンタ、バーコ
ード読み摩り、ビデオ・ディスクなどの光源として広く
使われている。最近、これらのいくつかの分野で半導体
レーザを使おうという気運が^壕、っている。これは半
導体レーザが気体レーザに比較してコンパクトであシ、
また使い易い専横々の利点があることKよる。このとき
半導体レーザに請求される性能の一つに高出力化がある
。
ーザ等の気体レーザが、計測、レーザプリンタ、バーコ
ード読み摩り、ビデオ・ディスクなどの光源として広く
使われている。最近、これらのいくつかの分野で半導体
レーザを使おうという気運が^壕、っている。これは半
導体レーザが気体レーザに比較してコンパクトであシ、
また使い易い専横々の利点があることKよる。このとき
半導体レーザに請求される性能の一つに高出力化がある
。
従来の半導体レーザとしては、例えば第1図に示すよう
なものが知られている。第1図において、この半導体レ
ーずは、n−QJAII基板l上基板液上エピタキシャ
ル成長法によって、n GLAAAs層2、GIAA
As層 3、p−GtAAAs層4、p−G、AI層5
および鳳−Gt A L A 8層6を順に積層形成し
た半導体結晶の上下面に電極7,8を設けえものである
。為抵抗のn−GLAJ!AI層6は一方向中央部が所
定幅Wをなして左右に分離され、上部電極7はこの暢W
だけPGLA”層5にオーミック接触し、そこに帯状の
ストラl′イブ電極9を形成している。このストライプ
構造によって、上部翼fi7から下部電極8に向かう電
流の流域がストライプ電極9に沿ったS分の下方向のみ
に制限され% GsIAAAs層3 にはストライプ電
極9に沿って^一度のキャリアが注入される。GaLA
AA B層3は、レーザ動作を行なう活性屑で、蒙餉
帯暢および屈折率がGtAtA1層3とは異なるn−G
Lム1k”!jj 2 、P Gs−Aj!As層4
で挾まれ、ダブルへテロ構造になっている。つま、り、
GLAtA1層3に注入され九キャリアは、接合面に形
成されるポテンシャル障壁によって閉じ込められる。こ
れによってレーザ発振が効率良く行なれ、誘導放出光(
レーザ光)が発生する。この発光領域はストライプ電極
9に沿って帯状に形成される。また、n−GLAAAI
層2 、P GL AjAs層4の屈折率はG1Aj
As層3のよシも小さくしであるので、GtA4A=層
3はコアとなり先導波路を形成し、この先導波路のスト
ライプ電極9両端側は半導体結晶のMR面でもって反射
鏡面が形成されている1゜このレーザ共振器によって、
上記レーザ光は共振増帳され2ヒーレンス光である出力
光P、が得られる。 、N、。
なものが知られている。第1図において、この半導体レ
ーずは、n−QJAII基板l上基板液上エピタキシャ
ル成長法によって、n GLAAAs層2、GIAA
As層 3、p−GtAAAs層4、p−G、AI層5
および鳳−Gt A L A 8層6を順に積層形成し
た半導体結晶の上下面に電極7,8を設けえものである
。為抵抗のn−GLAJ!AI層6は一方向中央部が所
定幅Wをなして左右に分離され、上部電極7はこの暢W
だけPGLA”層5にオーミック接触し、そこに帯状の
ストラl′イブ電極9を形成している。このストライプ
構造によって、上部翼fi7から下部電極8に向かう電
流の流域がストライプ電極9に沿ったS分の下方向のみ
に制限され% GsIAAAs層3 にはストライプ電
極9に沿って^一度のキャリアが注入される。GaLA
AA B層3は、レーザ動作を行なう活性屑で、蒙餉
帯暢および屈折率がGtAtA1層3とは異なるn−G
Lム1k”!jj 2 、P Gs−Aj!As層4
で挾まれ、ダブルへテロ構造になっている。つま、り、
GLAtA1層3に注入され九キャリアは、接合面に形
成されるポテンシャル障壁によって閉じ込められる。こ
れによってレーザ発振が効率良く行なれ、誘導放出光(
レーザ光)が発生する。この発光領域はストライプ電極
9に沿って帯状に形成される。また、n−GLAAAI
層2 、P GL AjAs層4の屈折率はG1Aj
As層3のよシも小さくしであるので、GtA4A=層
3はコアとなり先導波路を形成し、この先導波路のスト
ライプ電極9両端側は半導体結晶のMR面でもって反射
鏡面が形成されている1゜このレーザ共振器によって、
上記レーザ光は共振増帳され2ヒーレンス光である出力
光P、が得られる。 、N、。
このような半導体レーザで高出力化を計るには、原理的
な制約を考慮しなければならない。その1つは、閾値の
温度依存性である1、つまシ、最出力光を得るために%
閾電流値を越えた電流値でレーザ動作をさせると、出力
光は急速に増加するが、一方接合部温度の上昇と共に閾
値が増加し、安定に一定の出力光が得られないのみなら
ず、終局的K11IIi的砿馴を招来する。また、他の
1つは、過剰光強度による反射鏡面の破壊、ないしは劣
化である。これは光出力が大きくなると、反射鏡面での
光強度が過大になることによる。そのため従来は、過大
出力による破壊や劣化を防ぎ温度変化に対しても安定に
一定の光出力を得るために、光出力を電流値にフィード
バックして光出力の安定化を計っており、得られる光出
力は前述した要求に対し不充分なものにならざるを得な
いのが実情である。
な制約を考慮しなければならない。その1つは、閾値の
温度依存性である1、つまシ、最出力光を得るために%
閾電流値を越えた電流値でレーザ動作をさせると、出力
光は急速に増加するが、一方接合部温度の上昇と共に閾
値が増加し、安定に一定の出力光が得られないのみなら
ず、終局的K11IIi的砿馴を招来する。また、他の
1つは、過剰光強度による反射鏡面の破壊、ないしは劣
化である。これは光出力が大きくなると、反射鏡面での
光強度が過大になることによる。そのため従来は、過大
出力による破壊や劣化を防ぎ温度変化に対しても安定に
一定の光出力を得るために、光出力を電流値にフィード
バックして光出力の安定化を計っており、得られる光出
力は前述した要求に対し不充分なものにならざるを得な
いのが実情である。
そこで、ストライプ電極を複数並設し、これでもって独
立し友複数のレーザ共振器を形成させ、各出力光を1つ
にまとめることで高出力化を計ることが考えられる。し
かし、この方法では各出力 1光の位相整合が困−
で、出力光強度が安定しないという欠点がある。
立し友複数のレーザ共振器を形成させ、各出力光を1つ
にまとめることで高出力化を計ることが考えられる。し
かし、この方法では各出力 1光の位相整合が困−
で、出力光強度が安定しないという欠点がある。
この発明は、このような問題点KfIkみなされたもの
で、その目的とするところは、複数のレーず共振器を全
体として一つのレーザ共振器として動作させることによ
り、安定した高出力光を簡単に得ることができる高出力
半導体レーザを提供することである。
で、その目的とするところは、複数のレーず共振器を全
体として一つのレーザ共振器として動作させることによ
り、安定した高出力光を簡単に得ることができる高出力
半導体レーザを提供することである。
以下、この発明の実施例を添付図面に基づいて好細に説
明する。なお、半導体レーザの結晶組成は第1図と同じ
であるので、同一符号を付してその説明は省略する。
明する。なお、半導体レーザの結晶組成は第1図と同じ
であるので、同一符号を付してその説明は省略する。
第2図はこの発明に係る高出力半導体レーザを示す概略
図であり、この高出力半導体レーザは、長さの等しい4
本のストライプ電極20 、21 。
図であり、この高出力半導体レーザは、長さの等しい4
本のストライプ電極20 、21 。
22.23’i上部電極7に形成し、ストライプ゛電極
20と21.22と23の一端Aはそれぞれ半導体結晶
の一端で交差し1つとなり、またストライプ電極21と
22の他端Bは半導体結晶の他端で交差し、全体として
1つのストライプ電極が形成されている。これによって
、光導波路でおる活性鳩3 (GIAtAa層)には、
これらストライプ電極2G、21,22.23 に沿
ったレーザ共振器が萌述の如く形成される。このとき、
ストライプ電極20.21,22.23 の端部A下方
の反射鏡面24゜2Sと、趨sB下方の反射鏡面(図示
せず)とは、互いに共有されている。
20と21.22と23の一端Aはそれぞれ半導体結晶
の一端で交差し1つとなり、またストライプ電極21と
22の他端Bは半導体結晶の他端で交差し、全体として
1つのストライプ電極が形成されている。これによって
、光導波路でおる活性鳩3 (GIAtAa層)には、
これらストライプ電極2G、21,22.23 に沿
ったレーザ共振器が萌述の如く形成される。このとき、
ストライプ電極20.21,22.23 の端部A下方
の反射鏡面24゜2Sと、趨sB下方の反射鏡面(図示
せず)とは、互いに共有されている。
このような構成としたので、ここで形成される各レーず
共振器は共振器長が等しいから、それぞれ略同位相でレ
ーザ発振をする。そして、各レーザ共振器で発生したレ
ーザ光は、共有反射鏡面を介して互いに干渉し、特定の
位相で強め合い、簡単に位相整合がなされる。その結果
、出力光は各レーザ共振器が単独の場合の出力光の和に
略等しくなる。
共振器は共振器長が等しいから、それぞれ略同位相でレ
ーザ発振をする。そして、各レーザ共振器で発生したレ
ーザ光は、共有反射鏡面を介して互いに干渉し、特定の
位相で強め合い、簡単に位相整合がなされる。その結果
、出力光は各レーザ共振器が単独の場合の出力光の和に
略等しくなる。
ここで注目すべきことは、出力光の高串力化が、各レー
ず共振器の閾電流値を増加させずに達成でき九ことであ
る。 これによって各レーザ共振器の接合部温度は安定
し、一定の高出力化出力光が安定的に得られるのである
。また、等長のレーザ共振器を反射鏡面を介して接続し
たことVCよって、共振器長が長くなることによる発振
モードの多モード化が防止できている。さらに、出力光
は各し−ザ共振器の反射鏡面から出力されたものの総和
でおシ、反射鏡面当シの光強度は過剰になることはない
のである。
ず共振器の閾電流値を増加させずに達成でき九ことであ
る。 これによって各レーザ共振器の接合部温度は安定
し、一定の高出力化出力光が安定的に得られるのである
。また、等長のレーザ共振器を反射鏡面を介して接続し
たことVCよって、共振器長が長くなることによる発振
モードの多モード化が防止できている。さらに、出力光
は各し−ザ共振器の反射鏡面から出力されたものの総和
でおシ、反射鏡面当シの光強度は過剰になることはない
のである。
以上説明した実施例では、G、AAAfi 系の半導体
レーザについて説明し九が、この発明はこれに限定され
るものではなく、InGIA11P系等他の材質のもの
であっても良い。また、半導体レーザは、ストライプ電
極形だけでなく、他のオll得縛波形や屈折率導波形の
ものであってもよい。さらに、反射鏡面11開面を利用
せずとも、エツチング法で得るようにしても良いことは
勿しである。
レーザについて説明し九が、この発明はこれに限定され
るものではなく、InGIA11P系等他の材質のもの
であっても良い。また、半導体レーザは、ストライプ電
極形だけでなく、他のオll得縛波形や屈折率導波形の
ものであってもよい。さらに、反射鏡面11開面を利用
せずとも、エツチング法で得るようにしても良いことは
勿しである。
以上詳細に説明したように、この発titこ係る為出力
半導体レーザは、被数のレーザ共振器が反射−面を互い
共有することで全体として1つのレーザ共振器を構成す
るようにしたので、各レーザ共振器間の位相整合が簡単
に行なえ、簡単に高出力光を得ることができる。また、
各レーザ共振器の動作亀flt9jiは閾値を越えるこ
とがないから、!@値の温度変化は僅かcめり、安定し
た出力光が倚られる。
半導体レーザは、被数のレーザ共振器が反射−面を互い
共有することで全体として1つのレーザ共振器を構成す
るようにしたので、各レーザ共振器間の位相整合が簡単
に行なえ、簡単に高出力光を得ることができる。また、
各レーザ共振器の動作亀flt9jiは閾値を越えるこ
とがないから、!@値の温度変化は僅かcめり、安定し
た出力光が倚られる。
第1図は従来の半導体レーザを示す概略図、第2Eはこ
の発明の一実施例を示す概略図である。 1・−・・・・ n−Qっム8基板 2・・・・・・ n−Q、人り4m層 3・・・・・・ GIAjAI1層(光導波路)4・・
・・・・ P−G、AtAs層 5・・・・・・ p−GユA1層 5 ・・・・・・n−GILA t A 1層7・・・
・・・上部電極 8・・・・・・下部電極 20 、21 、22.23・・・・・・ストライプ電
極24.25・・・・・・共有反射fIA面特許出願人
立石電機株式金社
の発明の一実施例を示す概略図である。 1・−・・・・ n−Qっム8基板 2・・・・・・ n−Q、人り4m層 3・・・・・・ GIAjAI1層(光導波路)4・・
・・・・ P−G、AtAs層 5・・・・・・ p−GユA1層 5 ・・・・・・n−GILA t A 1層7・・・
・・・上部電極 8・・・・・・下部電極 20 、21 、22.23・・・・・・ストライプ電
極24.25・・・・・・共有反射fIA面特許出願人
立石電機株式金社
Claims (1)
- (1) 半導体結晶内O光導波路にストライプ構造に
よって形成される帯状の発光領域が半導体結晶の両端面
を反射鏡面としてレーザ共振器を形成する半導体レーザ
であって、上記レーザ共振(転)を上記光導波路に複数
形成し、かつこれらレーザ共振器の上記反射鏡面を互い
に共有させ、全体として1つのレーザ共振器を構成する
ようにしたことを特徴とする高出力半導体レーザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8119382A JPS58197894A (ja) | 1982-05-14 | 1982-05-14 | 高出力半導体レ−ザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8119382A JPS58197894A (ja) | 1982-05-14 | 1982-05-14 | 高出力半導体レ−ザ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58197894A true JPS58197894A (ja) | 1983-11-17 |
Family
ID=13739630
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8119382A Pending JPS58197894A (ja) | 1982-05-14 | 1982-05-14 | 高出力半導体レ−ザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58197894A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6215877A (ja) * | 1985-07-12 | 1987-01-24 | Sharp Corp | 半導体レ−ザアレイ装置 |
-
1982
- 1982-05-14 JP JP8119382A patent/JPS58197894A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6215877A (ja) * | 1985-07-12 | 1987-01-24 | Sharp Corp | 半導体レ−ザアレイ装置 |
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