JPS58200370A - 画像処理装置 - Google Patents

画像処理装置

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Publication number
JPS58200370A
JPS58200370A JP57082670A JP8267082A JPS58200370A JP S58200370 A JPS58200370 A JP S58200370A JP 57082670 A JP57082670 A JP 57082670A JP 8267082 A JP8267082 A JP 8267082A JP S58200370 A JPS58200370 A JP S58200370A
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JP
Japan
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image
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picture
Prior art date
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Pending
Application number
JP57082670A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Tsunekawa
尚 恒川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP57082670A priority Critical patent/JPS58200370A/ja
Publication of JPS58200370A publication Critical patent/JPS58200370A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は画像中の小領域の特徴を効果的に抽出すること
の可能な簡易で実用性の高い構成の画像処理装置に関す
る。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
物体表面の粒度や傷検査等を行う場合、しばしば上記検
査対象を画像入力し、その画像の一定面積内に含まれる
検査対象の数や上記検査対象の面積の総和を求めると云
う画像処理が良く利用される。このような画像処理にお
いて、従来一般的にはその処理時間を短くする為に、検
査対象である全領域を複数の小領域に分割し、各小領域
内でそれぞれ所定の′画像処理が行われている。しかし
、このような処理法は、画像中の検査対象がその画像の
全域に亘って均一に分布している場合には非常に効果的
であるが、例えば第1図に示すように分布の片寄りが有
る場合、どの小領域を検査するかによって問題が生じる
即ち、第1図に示すように(MXN)画素からなる検査
対象画像1の(mXn)画素からなる小領域7に着目し
、この小領域2丙における ゛傷3の数を計数して検査
結果を得るものとすると、上記小領域2の設定位置によ
っては第2図(a) (b)に示すように傷3の数が異
ってくる。この為、同じ画像1を処理(検査)している
にも拘らず、その検査結果が合格になる場合と、不合格
になる場合とが生じ、甚だ具合が悪い。この為、従来に
あっては、検査対象が不均一に分布している場合には、
対象画像1の全域に亘りて画像処理す±ことが必要とさ
れていた。
〔発明の目的〕
本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、そ
の目的とするところは、検査対象の不均一な画像に対し
ても局所的に簡易に、且つ高速に誤差のない検査結果を
得ることのできる実用性の高い画像処理装置を提供する
ことにある。
〔発明の概要〕
本発明はメモリに格納された画像データの一方向に連続
するn画素のデータを加算処理してその加算データを求
めると共に、この加算処理を上記n画素の配列方向と直
角な方向に1画素ずつずらして逐次実行し、これをm段
の記憶手段に順次格納すると共に、このようにして記憶
手段に入力するデータを出力メモリの出力データに加算
すると共に上記記憶手段の出力データを減算してこれを
上記出力メモリに再書込みすることによって、この出力
メモリに前記画像データ中の(m X n )画素から
なる小領域の累積和データを得るようにしたものであ・
る。
〔発明の効果〕
従って本発明によれば、例えば第3図(、) (b)に
示すように(MXN)画素からなる画像中の(mXn)
画素からなる小領域を順次走査し、つまり処理対象とす
る小領域位置を左から右へ、更には上から下へと順次可
変しながら各位置における画像累積和データあるいは濃
淡画像に対する局所的な濃度和をそれぞれ求めることが
できる。しかも一方向n画素の加算データを保持し、こ
れを有効に利用して上記処理を行うことができる。これ
故、対象分布・の不均一性に拘らず高速に検査処理を正
確に実行することが可能となり、その実用的利点は絶大
である。
〔発明の実施例〕    ・ 以下、図面を参照して本発明の一実施例につき説明する
第4図は実施例装置の概略構成図であシ、図中11は画
像データを一時記憶する画像メモリである。この画像メ
モリ11に一時記憶された画像データは、マイクロプロ
セッサ等によって構成される制御装置12による上記メ
モリ11のアドレス制御を受けて順次アクセスされ、読
出、される。この制御装置12による画像メモリ11の
アクセスは、例えは画像1に対する小額・域2の位置を
指定するアドレス(i、j)に対して、画素データを列
方向にn画素に亘って順次読出し、これらn画素のデー
タ読出し完了の5− 都度、そのアクセス位置を行方向に1画素ずらしてこれ
を繰返して実行することによシ行われる。つまり、後述
するクロックφlに従って、(s、j)、(x+x、 
 j )、(t+2 、j) 〜(量+n−1、j  
)なる各画素位置のデータを順次読出し、その後、クロ
ックφ2に行って列位置データjをインクリメントし、
(1、j+1) 、 (1+1 、 J+1) 、 (
1+2. j+1)〜のようにして順次画素r−夕を読
出している。
このことは、(MXN)画素からなる画像に対して、n
画素なる幅でその画素データをラスク走査して読出すこ
とを意味する。
しかして、このようにして画像メモリ11よシ読出され
る画素データは、加算器13を介したのちレジスタ14
に格納される。このレジスタ14は、前記制御装置12
が出力するクロックφ冨を遅延回路15を介して入力し
てその内容をゼロ・リセットし、またクロックφ1を入
力して加算器13からの出力データを順次取込むもので
ある。そして、このレジスタ14にセットされたデータ
は前記加算器13の一方の入6− カデータとして帰還されるようになっている。
これにより、画像メモリ11から読出された画素データ
は、1列毎にn画素ずつ累積加算されるようになってい
る。そして、このレジスタ14に、上記n画素の加算デ
ータであるBl、、が、クロックφ鵞のタイミング毎に
得られるようになっている。
一方、このようにしてレジスタ14に求められる加算デ
ータBY、、は、遅延回路15を介したクロ、りφ3に
よってリセットされる前に、m段のシフトレジスタ16
に入力され、順次格納される。このシフトレジスタ16
は、前記制御装置12からのクリア信号を受けて、画像
メモリ11からの画像データの読出しに先立って、つま
9n画素幅の画素データの読出しに先立ってゼロ・クリ
アされたのち、前記クロックφ2を受けて前記レジスタ
14か、、ら与えられる加算データSY、、を順次シフ
ト入力2ニジて格納するものである。そして、このシフ
トレジスタ16のm段目のシフト出力データBY−ml
は、減算器17に与えられている。レジスタ1 B ハ
(mXn ) 画素からなる小領域2の画素データの累
積和データSl、jを格納するものであシ、前記クロッ
クφ2を受けて動作する。
ま九前記シフトレジスタ16に入力される加算データJ
、jは加算器19に与えられ、レジスタ18に格納され
たデータSidと加算されたのち、前記減算器17に導
ひかれて前記シフトレジスタ16の出力データSY;T
が減算されている。
この加減算処理されたデータが新たな累積和データSi
 、j+1として、前記レジスタ18に再書込みされる
。これらのループ的に作動する加減算処理によって、n
画素の加算データのm画素分の累積和、つまjl)(m
Xn)画素の累積和データが逐次求められている。
このように構成された本装置によれば、画像メモリ11
から順次読出される画素データについて、加算器13b
よびレジスタ14からなる回路により、アドレス(1、
j)で示される小領域2のk (1<kりi +m−1
)列のデータ和、つまり加算データsY、、がその都度
計算される。またこの計算処理は、M画素に亘る12イ
ンの幅の各列のデータ毎に順次行われる。そして、この
ようにして順火水められる各列のn画素の加算データ3
1.、は、加算器19に供給されると共にシフトレジス
タ16に供給されてmタイミング遅延されたのち、減算
器17に供給される。この結果、レジスタ18には、最
初に吐jなるデータが格納され、次に81.jなるデー
タが加算された( S i、j+S t 、j)なるデ
ータが格納される。そして、mタイミング目には(Si
、j十5ilj十・・・・・・・・・−・+ s¥、j
)  なるデータがレジスタ18に格納されることにな
る。このデータはアドレス(1,j)を起点とする(m
Xn)画素からなる小領域のデータ総和 を示すものであシ、ここに小領域2に関するデータが得
られることになる。
しかるのち、次のクロックφ3のタイミング9− には、次の列(1+m)の加算データが加算器19に与
えられ、上記累積和データS、、、に加算されることに
なるが、このときシフトレジスタ16の出力であるデー
p s、、jが減算されることになる。このことは、先
に求めた累積和データS、、。
から、第1列目の加算データs j 、jを減算してな
る((m−1)Xn)画素の累積和データに、新た女次
の列(l+m)の加算データSm:、jを加えたこと、
つまシア゛rレス(1+1.j)  を起点とする(m
Xn)画素の小領域2の累積和S  を求めt+1tJ たことを意味する。このようにして、本装置にあっては
、起点アドレスを1画素ずつずらした小値域(mXn)
画素の累積和データS  が順1+ptj 火水められる。            ′第5図はそ
の概念を模式的に示したものであり、ここでは(4X8
)画素からなる小領域の累積和処理を行う例が示される
。この図に示されるように、処理対象とする画像め局部
的な加算データが列毎に順火水められるJそして、これ
らの加算データを連続する所定数毎に位置をず10− らし乍ら逐次計算することによって簡易に且つ高速に、
起点アドレスを異ならせた小領域の累積和データをそれ
ぞれ求めていくことが可能となる。
ところで、前記制御装置12による画像メモリ11のア
ドレス制御は、例えば第6図に示す制御シーケンスに従
って実行するようにすればよい。即ち、処理対象とする
画像の位置(列方向位置)jt−”1”に設定したのち
クリア信号を畠 出力して前記シフトレジスター7を初期リセットする。
その後、列ア、ドレス1を@0”にセットし、クロ、り
φ雪を出力する。その後、行アドレスjに前記設定デー
タj、をセットし、次に列アドレスlを指定したのちこ
のアドレスをインクリメントする。そして、行アドレス
jを出力する都度クロックφlを出力し、上記行アドレ
スjをインクリメントする。そしてこの場合、・) 走査幅nが「3」に設定されていることから、その幅n
の走査を完了したか否かを判定し、上記行アドレスjの
指定を繰返す。その後、1つの列についての走査を完了
した時点でこれを判定し、前記クロックφ意の出力シー
ケンスから上述した制御を繰返し実行する。
そして、n画素幅のM画素列に亘る走査が終了したとき
、これを判定してj の値をインクリメントし、1列シ
フトされたn画素幅の画素データ読出しを同様にして繰
返し実行する。そして、上記j の値を判定し、全画像
領域の走査を終了した時点を検出して、画素データの読
出し制御を完了する。
このように本発明によれば、従来、(mXn)回の演算
を必要とした小領域の演算処理を、(n+2 )回の演
算だけで簡易に且つ高速に行うことができる。しかもそ
の演算回路の構成は上述したように非常に簡単でアク、
実用性が高い。
そして、各列毎の加算データを保持して、起点位置のず
れた小領域の累積和データを順次求めていくので、各小
領域の上記累積和データをそれぞれ正確に求めることが
できる。故に従来のように小領域の設定のし方によって
抽出される演算結果が異ってくると云うような不具合が
なく、例えば検査対象が不均一に分布している場合であ
っても、これを高精度に検査することができる等の絶大
なる効果を奏する。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではない。例
えば(MXN)画素からなる画像に対する処理対象小領
域の大きさく m X n )画素は、仕様に応じて定
めればよいものである。また、実施例では列毎にn画素
の加算データを求めたのち、これを行方向に累積したが
、行と列とを入換えて同様に処理することも可能であシ
、処理方向も特に限定されない。また処理対象画像を予
め縮小する等の前処理を施すことも勿論可能である。ま
た(MXN)画素の画像メモリに代えて(MXn)画素
のラインバッファを用いることもできる。また濃淡画像
を処理対象として、その局所的な所謂濃度ムラを求める
こともできる。要するに本発明はその要旨を逸脱しない
範囲で種々変形して実施することができる。
−13=
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図(a) (b)は画像処理における
原画像と小領域との関係を示す図、第3図(、) (b
)は本発明における画像処理の小領域の走査概念を示す
図、第4図は本発明の一実施例装置の概略構成図、第5
図は実施例装置の演算処理概念を示す図、第6図は制御
装置による画像メモリのアドレス制御例を示すシーケン
ス図である。 11・・・画像メモリ、12・・・制御装置、13・・
・加算器、14・・・レジスタ(加算データ)、16・
・・シフトレジスタ、17・・・減算器、18・・・レ
ジスタ(累積和データ)、19・・・加算器。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦14− 第4図 116  図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)画像を一時記憶する画像メモリと、この画像メモ
    リから行方向に連続するn画素の画素データを一単位と
    して列方向に走査して順次読出す手段と、前記画像メモ
    リから読出された画素データを上記一単位毎に順次加算
    する加算器と、これらの加算データをm段に亘って暫時
    記憶する記憶手段と、初期時にクリアされる出力メモリ
    と、この出力メモリに格納されたデータに前記記憶手段
    への入力データを加算すると共に前記記憶手段の出力デ
    ータを減算した演算データを前記出力メモリに再書込み
    する演算回路とを具備したことを特徴とする画像処理装
    置。
  2. (2)記憶手段は、シフトレジスタ若しくはRAMから
    なるものである特許請求の範囲第1項記載の画像処理装
    置。
JP57082670A 1982-05-17 1982-05-17 画像処理装置 Pending JPS58200370A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57082670A JPS58200370A (ja) 1982-05-17 1982-05-17 画像処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57082670A JPS58200370A (ja) 1982-05-17 1982-05-17 画像処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58200370A true JPS58200370A (ja) 1983-11-21

Family

ID=13780856

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57082670A Pending JPS58200370A (ja) 1982-05-17 1982-05-17 画像処理装置

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JP (1) JPS58200370A (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56118187A (en) * 1980-02-25 1981-09-17 Hitachi Ltd Counter circuit of two dimensional pattern

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56118187A (en) * 1980-02-25 1981-09-17 Hitachi Ltd Counter circuit of two dimensional pattern

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