JPS58208910A - ビデオテ−プレコ−ダの信号ひずみ測定方法及び測定のための信号の記録されたテ−プ - Google Patents
ビデオテ−プレコ−ダの信号ひずみ測定方法及び測定のための信号の記録されたテ−プInfo
- Publication number
- JPS58208910A JPS58208910A JP57091867A JP9186782A JPS58208910A JP S58208910 A JPS58208910 A JP S58208910A JP 57091867 A JP57091867 A JP 57091867A JP 9186782 A JP9186782 A JP 9186782A JP S58208910 A JPS58208910 A JP S58208910A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- distortion
- level
- waveform
- reproducing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/22—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor for reducing distortions
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Television Signal Processing For Recording (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
家庭用のビデオテープレコーダ（ＶＴＲ）等においては
、輝度信号の振幅と周波数によってエンファシス量を変
え常時最大周波数偏移をもたせるようにしたいわゆるノ
ンリニアエンファシスが行ワれている。さらにノイズキ
ャンセラー、ホワイトクリップ、ダーククリップ等の補
正も行われている。
、輝度信号の振幅と周波数によってエンファシス量を変
え常時最大周波数偏移をもたせるようにしたいわゆるノ
ンリニアエンファシスが行ワれている。さらにノイズキ
ャンセラー、ホワイトクリップ、ダーククリップ等の補
正も行われている。
このようｆｉ ＶＴＲ奴おいて信号の回線性を測定する
場合は、従来のＤＧ、ＤＰ＠による方法では正しい評価
を行うことができない。すなわち上述のノンリニアエン
ファシス等の補正が行われているために、祝勝と測定値
が対応しておらず、ＤＣ、ＤＰ等の測定では適切な評伴
を得ることができない。
場合は、従来のＤＧ、ＤＰ＠による方法では正しい評価
を行うことができない。すなわち上述のノンリニアエン
ファシス等の補正が行われているために、祝勝と測定値
が対応しておらず、ＤＣ、ＤＰ等の測定では適切な評伴
を得ることができない。
本発明はこのような点にかんがみ、上述のようなＶＴＲ
において適切な評価が行えるようにしたものである。以
下に図面を参照しながら本発明の一実施例について説明
し、よう。
において適切な評価が行えるようにしたものである。以
下に図面を参照しながら本発明の一実施例について説明
し、よう。
第１図において、図は１垂面期間の信号を示し、（１）
はペデスタルレベルであって、このペデスタルレベル４
より’） ｌ！＋１が同期信号、上側がビデオ信号と
カる。そしてこのビデオ信号の例えば５０％の位置にセ
ットアツプレベル（２）を設け、このセットアツプレベ
ル（２１を中心にして例えば０〜８０１１に略直線的に
レベルが変化するトーンバーストａ号（３）。
はペデスタルレベルであって、このペデスタルレベル４
より’） ｌ！＋１が同期信号、上側がビデオ信号と
カる。そしてこのビデオ信号の例えば５０％の位置にセ
ットアツプレベル（２）を設け、このセットアツプレベ
ル（２１を中心にして例えば０〜８０１１に略直線的に
レベルが変化するトーンバーストａ号（３）。
（４）、 （Ｓ；を設ける。さらにこのトーンバースト
信号（３〕〜（５・の周波数を、それぞれノンリニアエ
ンファ／スの不動作域ｆ１（例えは５０ ｋＨｚ ）、
やや動作する像域ｆ２（例えば５００ ｋＨｚ ）、最
大に動作する領域ｆ３（例えは２囲２）とする。
信号（３〕〜（５・の周波数を、それぞれノンリニアエ
ンファ／スの不動作域ｆ１（例えは５０ ｋＨｚ ）、
やや動作する像域ｆ２（例えば５００ ｋＨｚ ）、最
大に動作する領域ｆ３（例えは２囲２）とする。
この信号全供試のＶＴＲに供給し、記録シ２、再生スル
。そしてこの再生信号を例えばオシロスコープで観Ｖす
る。
。そしてこの再生信号を例えばオシロスコープで観Ｖす
る。
第２図は上述の信号（３）〜（５）の一つを拡大して示
したものである。この図において、実線はＶＴＲに供給
される信号のレベル変化を示し、この例では低レベル側
に−３０ｄＢ及び−２０ｄＢの階段状のレベル変化部分
（６） 、 ＜７）を設けて後述のノイズキャンセラー
の測定も行われるようにされている。
したものである。この図において、実線はＶＴＲに供給
される信号のレベル変化を示し、この例では低レベル側
に−３０ｄＢ及び−２０ｄＢの階段状のレベル変化部分
（６） 、 ＜７）を設けて後述のノイズキャンセラー
の測定も行われるようにされている。
そしてこの信号を供試のＶＴＲで記録し、再生した再生
信号のレベルは例えに破線あるいは一点鎖線のようにな
る。この波形において、高レベル側の上側のひすみはホ
ワイトクリップの影響であシ、下側；のひずみはダーク
クリップの影響である。また４ｂ： ｖベル側のひすみ
はノイズキャンセラーの影響である。従ってこの再生信
号の波形が例えばハツチング゛を附した領域に入ってい
るか否かで、エンファシヌ及びホワイトクリップ、ダー
ククリップが正しい特性とされているヵ・合力・を定性
的に評価することかできる。
信号のレベルは例えに破線あるいは一点鎖線のようにな
る。この波形において、高レベル側の上側のひすみはホ
ワイトクリップの影響であシ、下側；のひずみはダーク
クリップの影響である。また４ｂ： ｖベル側のひすみ
はノイズキャンセラーの影響である。従ってこの再生信
号の波形が例えばハツチング゛を附した領域に入ってい
るか否かで、エンファシヌ及びホワイトクリップ、ダー
ククリップが正しい特性とされているヵ・合力・を定性
的に評価することかできる。
またノイズキャンセラーが正しぐ動作し、−２５ｄＢ以
下の信号を除去するようになっている場合には、図示の
ように部分（６）に対応する信号が除去され、部分（７
）に対応する信号が所定レベルで現われる。これによっ
てノイズキャンセラーの評価を行うことができる。
下の信号を除去するようになっている場合には、図示の
ように部分（６）に対応する信号が除去され、部分（７
）に対応する信号が所定レベルで現われる。これによっ
てノイズキャンセラーの評価を行うことができる。
このようにしてＶＴＲの特性を定性的に評価することが
できる。さらに上述の波形を観察し方から、上述の条件
を澄すように訓整を行うこともできる。
できる。さらに上述の波形を観察し方から、上述の条件
を澄すように訓整を行うこともできる。
′また上述の評価を定量的に溜゛定する間合には以下の
ようになる。
ようになる。
ます針：３図は直紅性ひずみを沖１定する場合であ２、
。図において発生源α０にて上述の信号が発生さス・こ
Ｃ信号が生詰のｖＴＰαシに介・船さえする。このＶＴ
ｌ：ｉ、 Ｑ１０において生前、スされた伯芳ブン・プ
リエンファシヌ回銘かを含む記［同ｌ路倣を２じて記鉦
再生切拓スイツつ−（１：’−に８′！絹され このス
イッチ０：！〃−らＣ信号が回転ヘッド（１４に供給さ
れて千−プα９に記録される。さらにテープ０９から回
転ヘッド０菊にて再生さｔ″した信号がスイッチα３に
供給され、このスイッチａ３からの信号がデエンファシ
ス回路等を含む再生回路αＧを通じて取シ出される。
。図において発生源α０にて上述の信号が発生さス・こ
Ｃ信号が生詰のｖＴＰαシに介・船さえする。このＶＴ
ｌ：ｉ、 Ｑ１０において生前、スされた伯芳ブン・プ
リエンファシヌ回銘かを含む記［同ｌ路倣を２じて記鉦
再生切拓スイツつ−（１：’−に８′！絹され このス
イッチ０：！〃−らＣ信号が回転ヘッド（１４に供給さ
れて千−プα９に記録される。さらにテープ０９から回
転ヘッド０菊にて再生さｔ″した信号がスイッチα３に
供給され、このスイッチａ３からの信号がデエンファシ
ス回路等を含む再生回路αＧを通じて取シ出される。
このＶＴＲαυにて記録され、再生された信号にて測定
が行われる。す々わちこの再生信号が同期分離回路Ｑ１
）に供給されて垂直同期信号が分離される。
が行われる。す々わちこの再生信号が同期分離回路Ｑ１
）に供給されて垂直同期信号が分離される。
この垂直同期信号が発生源Ｑｄ）と同等の信号発生回路
翰に供給され、ＶＴＲ（１１７に供給された信号と等し
い信号が発生される。この信号が減算回路翰に供給され
て元の再生信号から減算される。この減算された信号が
スライス回路υ）に供給されて５０％のセットアツプレ
ベル（２）よシ大きい部分と小さい部分とに分離され、
それぞれメータ（ハ）、（ロ）に供給さｆてレベルが表
示される。
翰に供給され、ＶＴＲ（１１７に供給された信号と等し
い信号が発生される。この信号が減算回路翰に供給され
て元の再生信号から減算される。この減算された信号が
スライス回路υ）に供給されて５０％のセットアツプレ
ベル（２）よシ大きい部分と小さい部分とに分離され、
それぞれメータ（ハ）、（ロ）に供給さｆてレベルが表
示される。
従ってこの回路において、発生少Ｏひから第４図Ａのよ
うな信号がＶＴＲ（１υに供給されると、ＶＴＲα刀か
らは例えは第４図Ｂのような信号が取シ田される。この
信号の同期信号を分離し、信号発生回路（ハ）にも−絽
テることにより、発生回路Ｑ々からに第４図ＩＢの破線
のような信号か発生され、これらが汲冥されて第４図Ｃ
のような信号か形成てれる。そしてこの信号を５０チの
レベルで分彪することにより、第４図り、Ｅのように低
レベル部分の直納性ひずみと高レベル部分の血縁性ひず
みとが取シ出され、メータ＠、翰で表示される。または
標遵カーブと比較して定量的数値に変換して読み出すこ
ともできる。
うな信号がＶＴＲ（１υに供給されると、ＶＴＲα刀か
らは例えは第４図Ｂのような信号が取シ田される。この
信号の同期信号を分離し、信号発生回路（ハ）にも−絽
テることにより、発生回路Ｑ々からに第４図ＩＢの破線
のような信号か発生され、これらが汲冥されて第４図Ｃ
のような信号か形成てれる。そしてこの信号を５０チの
レベルで分彪することにより、第４図り、Ｅのように低
レベル部分の直納性ひずみと高レベル部分の血縁性ひず
みとが取シ出され、メータ＠、翰で表示される。または
標遵カーブと比較して定量的数値に変換して読み出すこ
ともできる。
また第５図はホワイトクリップ及びダーククリップ等に
よる上下の非対称性ひずみを測定する場合である。図に
おいて第３図と同様にＶＴＲａηにて記録され、再生さ
れた信号にて測定が行われる。
よる上下の非対称性ひずみを測定する場合である。図に
おいて第３図と同様にＶＴＲａηにて記録され、再生さ
れた信号にて測定が行われる。
すなわち再生信号がクランプ回路０１）に供給されて所
定レベルでクランプされる。この信号がスライス回路０
うに供給されて５０チのセットアンプｌ／ペル（２）よ
シ大きい部分と小さい部分とに分離される。
定レベルでクランプされる。この信号がスライス回路０
うに供給されて５０チのセットアンプｌ／ペル（２）よ
シ大きい部分と小さい部分とに分離される。
このレベル（２）よシ大きい部分の信号がインバータ（
３１に供給されて反転される。この信′＠が減算回路の
、に供給されてレベル（２）より小さい部分の信号から
♂・あさ１しる。このぴνされた体力かメータ（ハ）に
供給されてレベルか表示される。
３１に供給されて反転される。この信′＠が減算回路の
、に供給されてレベル（２）より小さい部分の信号から
♂・あさ１しる。このぴνされた体力かメータ（ハ）に
供給されてレベルか表示される。
徒ってこの回路において、ＶＴＲ（１１）からは例えば
紀６図Ａのよう彦侶号が紬ジ出でｔする。そしてこ（）
信号のレベル（２・より大きい部分か反ｊＦｌれて小さ
い部分から減シ、されることにより、第６図Ｂのように
上下の非効祢ひずみが取り出でれ、メータ（ハ）で表示
される。
紀６図Ａのよう彦侶号が紬ジ出でｔする。そしてこ（）
信号のレベル（２・より大きい部分か反ｊＦｌれて小さ
い部分から減シ、されることにより、第６図Ｂのように
上下の非効祢ひずみが取り出でれ、メータ（ハ）で表示
される。
こうしてＶＴＲの測定が行われるわけであるか、本発明
によれば上述のような測定を上述のｆｌ ＋ ｆ ２
＋ｆ３の３つの周波数で行うことｖＣよシ、ノンリニア
エンファシスの力、かったＶＴＲにおいても容易に適γ
カ計価を行うことができる。さらにこの測定結芽に基つ
いて回路の訴整鶴・を行うこともできる。
によれば上述のような測定を上述のｆｌ ＋ ｆ ２
＋ｆ３の３つの周波数で行うことｖＣよシ、ノンリニア
エンファシスの力、かったＶＴＲにおいても容易に適γ
カ計価を行うことができる。さらにこの測定結芽に基つ
いて回路の訴整鶴・を行うこともできる。
なお第１図においてセットアンプレベルは３０壬でもよ
い。またレベル変化はＯ〜１００係でもよい。
い。またレベル変化はＯ〜１００係でもよい。
さラニ＋ットアツプはなくてもよく、その場合にはノン
リニアエンファシス及びノイズシャンセラーの泗九計豚
を行うことかできる。
リニアエンファシス及びノイズシャンセラーの泗九計豚
を行うことかできる。
さらに上述のようｌＸ介ＪｉＥ５を正しく調駈されたプ
リエンファシス回路等ヲ有するＶＴＲで記録し、このテ
ープを供試のＶＴＲにかけて再生１−て測定を行うこと
によシ、例えば再生専用ＶＴＲにおいて衿生糸のデエン
ファシス回路等の沖；定調整を行うことができる。
リエンファシス回路等ヲ有するＶＴＲで記録し、このテ
ープを供試のＶＴＲにかけて再生１−て測定を行うこと
によシ、例えば再生専用ＶＴＲにおいて衿生糸のデエン
ファシス回路等の沖；定調整を行うことができる。
また上述のような信号を供μのＶＴＲに供給して記録し
、このテープを正しく調整されたデエンファシス回路等
を有するＶＴＲで再生して測定を行うことにより、例え
ば記録専用ＶＴＲにおいて記録系のプリエンファシス回
路等の測定調整を行うことができる。
、このテープを正しく調整されたデエンファシス回路等
を有するＶＴＲで再生して測定を行うことにより、例え
ば記録専用ＶＴＲにおいて記録系のプリエンファシス回
路等の測定調整を行うことができる。
第１図、第２図σ本発明の訝明のための波形図、第３図
は測定のための−の回路の系統図、第４図はその舷明の
ための図、第５図は訓１定のための二の回路の系統図、
第６図はその照明のだめの図でおる０ （１）ｄペデスタルレベル、（２σセツトアツプレベル
、（３！〜（５゛はトーンバースト信号でとる。
は測定のための−の回路の系統図、第４図はその舷明の
ための図、第５図は訓１定のための二の回路の系統図、
第６図はその照明のだめの図でおる０ （１）ｄペデスタルレベル、（２σセツトアツプレベル
、（３！〜（５゛はトーンバースト信号でとる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、それぞれ単一の周波数で構成され、レベルが直線的
に変化される信号を所定期間内に複数設け、この信号を
記録再生し、この再生信号のレベル変化の形状を測定す
るようにしたビデオテープレコーダの信号ひずみ測定方
法。 ２、それぞれ単一の周波数で構成され１ レベルが直線
的に変化される信号を所定期間内に複数設け、この信号
を記録した？１１１定のだめの信号の記録されたテープ
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57091867A JPS58208910A (ja) | 1982-05-28 | 1982-05-28 | ビデオテ−プレコ−ダの信号ひずみ測定方法及び測定のための信号の記録されたテ−プ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57091867A JPS58208910A (ja) | 1982-05-28 | 1982-05-28 | ビデオテ−プレコ−ダの信号ひずみ測定方法及び測定のための信号の記録されたテ−プ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58208910A true JPS58208910A (ja) | 1983-12-05 |
Family
ID=14038501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57091867A Pending JPS58208910A (ja) | 1982-05-28 | 1982-05-28 | ビデオテ−プレコ−ダの信号ひずみ測定方法及び測定のための信号の記録されたテ−プ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58208910A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59100222A (ja) * | 1982-11-08 | 1984-06-09 | ア−ムコ，インコ−ポレ−テツド | 電気鋼の局部熱処理法 |
-
1982
- 1982-05-28 JP JP57091867A patent/JPS58208910A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59100222A (ja) * | 1982-11-08 | 1984-06-09 | ア−ムコ，インコ−ポレ−テツド | 電気鋼の局部熱処理法 |
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