JPH0556573B2 - - Google Patents
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- JPH0556573B2 JPH0556573B2 JP12881984A JP12881984A JPH0556573B2 JP H0556573 B2 JPH0556573 B2 JP H0556573B2 JP 12881984 A JP12881984 A JP 12881984A JP 12881984 A JP12881984 A JP 12881984A JP H0556573 B2 JPH0556573 B2 JP H0556573B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- noise
- output
- supplied
- pit
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/02—Analogue recording or reproducing
- G11B20/06—Angle-modulation recording or reproducing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/02—Analogue recording or reproducing
- G11B20/025—Error detection or correction
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Signal Processing Not Specific To The Method Of Recording And Reproducing (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、例えばビデオデイスクのピツトの
欠陥により生じるインパルス性ノイズを検出する
ことができ、製造されたビデオデイスクの品質の
検査に使用されるノイズ測定装置に関する。
欠陥により生じるインパルス性ノイズを検出する
ことができ、製造されたビデオデイスクの品質の
検査に使用されるノイズ測定装置に関する。
光学式のビデオデイスクには、例えばFM変調
された複合カラービデオ信号がピツトの有無とし
て記録される。このため、デイスクの製造時の成
形や転写の際に、異物によりピツトが塞がれた
り、ピツトの周縁部の形状がめくれたりしてピツ
トに欠陥が生じると、この欠陥が画面上に現れ、
画質を劣化させる。
された複合カラービデオ信号がピツトの有無とし
て記録される。このため、デイスクの製造時の成
形や転写の際に、異物によりピツトが塞がれた
り、ピツトの周縁部の形状がめくれたりしてピツ
トに欠陥が生じると、この欠陥が画面上に現れ、
画質を劣化させる。
第6図及び第7図は、このようなピツトの欠陥
と、ピツトに欠陥が生じていた場合の再生波形を
示すものである。第6図は、1個のピツト全部が
欠落した場合である。第6図Aにおいて、P1、
P3、P4が正常なピツトで、P2が欠落したピツト
である。この欠落した部分に対応して、第6図B
に示すように、再生出力波形中に一定区間レベレ
変化のない部分が現われる。このように、異物、
欠陥が1個以上のピツトにわたつていることでひ
き起こされる問題がドロツプアウトと称される。
と、ピツトに欠陥が生じていた場合の再生波形を
示すものである。第6図は、1個のピツト全部が
欠落した場合である。第6図Aにおいて、P1、
P3、P4が正常なピツトで、P2が欠落したピツト
である。この欠落した部分に対応して、第6図B
に示すように、再生出力波形中に一定区間レベレ
変化のない部分が現われる。このように、異物、
欠陥が1個以上のピツトにわたつていることでひ
き起こされる問題がドロツプアウトと称される。
ドロツプアウトが発生した場合、記録された
FM信号の最低周波数である7.6MHzの繰り返し周
期よりも長い時間にわたつて読取りレベルの変化
が生じない。したがつて、従来のドロツプアウト
検出と同様に、読取りレベルの変化のない事によ
り、検出でき、遅延されたカラービデオ信号で補
間することにより、補償可能である。
FM信号の最低周波数である7.6MHzの繰り返し周
期よりも長い時間にわたつて読取りレベルの変化
が生じない。したがつて、従来のドロツプアウト
検出と同様に、読取りレベルの変化のない事によ
り、検出でき、遅延されたカラービデオ信号で補
間することにより、補償可能である。
第7図は、1個のピツトの一部が欠落した場合
を示すものである。第7図Aにおいて、P5、P7、
P8が正常なピツトで、P6がその一部に欠陥の生
じているピツトである。この場合の再生出力波形
には、第7図Bに示すように、記録されている正
常な信号によつて生じる周波数遷移よりもはるか
に大きな瞬時周波数遷移が生じる。この再生出力
波形はレベルが変化し続けているため、ドロツプ
アウトと同じ方法では検出できない。
を示すものである。第7図Aにおいて、P5、P7、
P8が正常なピツトで、P6がその一部に欠陥の生
じているピツトである。この場合の再生出力波形
には、第7図Bに示すように、記録されている正
常な信号によつて生じる周波数遷移よりもはるか
に大きな瞬時周波数遷移が生じる。この再生出力
波形はレベルが変化し続けているため、ドロツプ
アウトと同じ方法では検出できない。
このビツトの一部が欠落した場合の再生出力波
形中に生じる大きな瞬時周波数遷移は、FM復調
して得られるビデオ信号中に、比較的高い2MHz
以上の周波数成分を持ち非常に大きなレベルで変
化するような、インパルス性のノイズとなつて現
われる。インパルス性ノイズは画面に輝点となつ
て現われ、画質を大きく劣化させる。然も、記録
されているビデオ信号が例えば帯域制限されてい
ない複合カラービデオ信号であり、その帯域が例
えば4MHzまでの広い周波数成分である場合、こ
のインパルス性ノイズはビデオ信号の帯域に入り
こむ。このため、簡単な構成のノイズキヤンセラ
ーでは除去できない。
形中に生じる大きな瞬時周波数遷移は、FM復調
して得られるビデオ信号中に、比較的高い2MHz
以上の周波数成分を持ち非常に大きなレベルで変
化するような、インパルス性のノイズとなつて現
われる。インパルス性ノイズは画面に輝点となつ
て現われ、画質を大きく劣化させる。然も、記録
されているビデオ信号が例えば帯域制限されてい
ない複合カラービデオ信号であり、その帯域が例
えば4MHzまでの広い周波数成分である場合、こ
のインパルス性ノイズはビデオ信号の帯域に入り
こむ。このため、簡単な構成のノイズキヤンセラ
ーでは除去できない。
そこで、製造時にこのインパルス性のノイズの
発生を検査し、ビデオデイスクの品質を保つ必要
がある。しかし、従来、このようなインパルス性
ノイズを測定するノイズ測定装置がなく、この測
定は、再生画面をモニターしながら評価する主観
的な方法でしか調べることができなかつた。
発生を検査し、ビデオデイスクの品質を保つ必要
がある。しかし、従来、このようなインパルス性
ノイズを測定するノイズ測定装置がなく、この測
定は、再生画面をモニターしながら評価する主観
的な方法でしか調べることができなかつた。
したがつてこの発明は、例えばピツトの一部が
欠落した場合に生じるインパルス性ノイズを測定
するノイズ測定装置の提供を目的とするものであ
る。
欠落した場合に生じるインパルス性ノイズを測定
するノイズ測定装置の提供を目的とするものであ
る。
この発明は、画像情報信号をFM変調としてな
る記録信号がピツトのパターンとして記録された
デイスクの再生信号が供給され、再生信号からイ
ンパルス性ノイズ成分の周波数帯の信号を選択
し、インパルス性ノイズ成分の周波数帯内の信号
中に含まれる基準信号値以上の測定信号をノイズ
として検出するようにしたことを特徴とするノイ
ズ測定装置である。
る記録信号がピツトのパターンとして記録された
デイスクの再生信号が供給され、再生信号からイ
ンパルス性ノイズ成分の周波数帯の信号を選択
し、インパルス性ノイズ成分の周波数帯内の信号
中に含まれる基準信号値以上の測定信号をノイズ
として検出するようにしたことを特徴とするノイ
ズ測定装置である。
この発明の一実施例について、以下、図面を参
照して説明する。前述のように、ピツトの一部が
欠落した場合に生じるノイズは、インパルス性の
ノイズである。このインパルス性のノイズは、例
えば2MHz以上の高域成分のものである。記録さ
れているビデオ信号が4MHzまでの帯域を含む場
合、このインパルス性ノイズはビデオ信号の帯域
内にあり、このノイズだけを取り出して測定する
のは難しい。そこで、インパルス性のノイズだけ
を取り出すために、ビデオ信号中で信号レベルが
一定となる区間でノイズが測定される。ビデオ信
号中の信号レベルが一定となる区間は、例えば垂
直ブランキング区間、水平ブランキング区間のシ
ンクチツプ、フロントポーチの部分などである。
この一実施例では、水平ブランキング区間のシン
クチツプでノイズが測定されている。このよう
に、レベルの変動しない部分だけノイズ測定がな
されても、例えば1ラインに1個所ずつ測定を行
なつた場合500〜600個所の測定が行なわれ、1画
面での測定は十分行なえる。
照して説明する。前述のように、ピツトの一部が
欠落した場合に生じるノイズは、インパルス性の
ノイズである。このインパルス性のノイズは、例
えば2MHz以上の高域成分のものである。記録さ
れているビデオ信号が4MHzまでの帯域を含む場
合、このインパルス性ノイズはビデオ信号の帯域
内にあり、このノイズだけを取り出して測定する
のは難しい。そこで、インパルス性のノイズだけ
を取り出すために、ビデオ信号中で信号レベルが
一定となる区間でノイズが測定される。ビデオ信
号中の信号レベルが一定となる区間は、例えば垂
直ブランキング区間、水平ブランキング区間のシ
ンクチツプ、フロントポーチの部分などである。
この一実施例では、水平ブランキング区間のシン
クチツプでノイズが測定されている。このよう
に、レベルの変動しない部分だけノイズ測定がな
されても、例えば1ラインに1個所ずつ測定を行
なつた場合500〜600個所の測定が行なわれ、1画
面での測定は十分行なえる。
この発明の一実施例を示す第1図において、1
が入力端子を示す。入力端子1からビデオデイス
クの再生出力波形をFM復調して得られた複合カ
ラービデオ信号がAGC(自動利得調整)回路2に
供給される。AGC回路2で、入力端子1から供
給されるビデオ信号のシンクチツプが所定レベル
となされる。AGC回路2の出力がハイパスフイ
ルタ3に供給されると共に、水平同期分離回路4
に供給される。ハイパスフイルタ3は、例えばカ
ツトオフ周波数が2MHzのフイルタである。ハイ
パスフイルタ3の出力がゲート回路5に供給され
る。
が入力端子を示す。入力端子1からビデオデイス
クの再生出力波形をFM復調して得られた複合カ
ラービデオ信号がAGC(自動利得調整)回路2に
供給される。AGC回路2で、入力端子1から供
給されるビデオ信号のシンクチツプが所定レベル
となされる。AGC回路2の出力がハイパスフイ
ルタ3に供給されると共に、水平同期分離回路4
に供給される。ハイパスフイルタ3は、例えばカ
ツトオフ周波数が2MHzのフイルタである。ハイ
パスフイルタ3の出力がゲート回路5に供給され
る。
AGC回路2を介して供給されるビデオ信号中
には、第2図Aに示すように、インパルス性のノ
イズ成分Nが含まれている。ハイパスフイルタ3
を介してこのビデオ信号中の低域成分が除去さ
れ、ハイパスフイルタ3からはノイズ成分Nを含
む高域成分だけがゲート回路5に供給される。
には、第2図Aに示すように、インパルス性のノ
イズ成分Nが含まれている。ハイパスフイルタ3
を介してこのビデオ信号中の低域成分が除去さ
れ、ハイパスフイルタ3からはノイズ成分Nを含
む高域成分だけがゲート回路5に供給される。
水平同期分離回路4の出力は、単安定マルチバ
イブレータ6に供給される。単安定マルチバイブ
レータ6が、水平同期分離回路4からの水平同期
信号の前エツジによりトリガーされ、この単安定
マルチバイブレータ6から第2図Cに示すパルス
が出力される。このパルスが単安定マルチバイブ
レータ6からゲート回路5に供給される。
イブレータ6に供給される。単安定マルチバイブ
レータ6が、水平同期分離回路4からの水平同期
信号の前エツジによりトリガーされ、この単安定
マルチバイブレータ6から第2図Cに示すパルス
が出力される。このパルスが単安定マルチバイブ
レータ6からゲート回路5に供給される。
ゲート回路5は、単安定マルチバイブレータ6
の出力パルスにより開閉される。単安定マルチバ
イブレータ6で形成されるパルスは、第2図Cに
示すように、水平ブランキング区間のシンクチツ
プSyの部分で発生する。このため、ゲート回路
5からは水平ブランキング区間のシンクチツプ
Syの高域成分が出力される。水平ブランキング
区間ではビデオ信号のレベルが一定であるため、
ゲート回路5からは、第2図Dに示すように、イ
ンパルス性ノイズNだけが出力される。
の出力パルスにより開閉される。単安定マルチバ
イブレータ6で形成されるパルスは、第2図Cに
示すように、水平ブランキング区間のシンクチツ
プSyの部分で発生する。このため、ゲート回路
5からは水平ブランキング区間のシンクチツプ
Syの高域成分が出力される。水平ブランキング
区間ではビデオ信号のレベルが一定であるため、
ゲート回路5からは、第2図Dに示すように、イ
ンパルス性ノイズNだけが出力される。
ゲート回路5の出力がコンパレータ7に供給さ
れる。コンパレータ7には、定電圧発生回路8か
ら所定の基準電圧が供給される。コンパレータ7
により、ゲート回路5の出力中でこの基準電圧よ
り大きい出力が第2図Eに示すように、パルスと
して出力され、出力端子9から取り出される。こ
のパルス出力から、インパルス性のノイズが測定
される。
れる。コンパレータ7には、定電圧発生回路8か
ら所定の基準電圧が供給される。コンパレータ7
により、ゲート回路5の出力中でこの基準電圧よ
り大きい出力が第2図Eに示すように、パルスと
して出力され、出力端子9から取り出される。こ
のパルス出力から、インパルス性のノイズが測定
される。
第3図は、この発明の他の実施例である。10
が入力端子を示し、入力端子10から複合カラー
ビデオ信号がハイパスフイルタ11を介してゲー
ト回路12に供給されると共に、水平同期分離回
路13に供給される。水平同期分離回路13の出
力が単安定マルチバイブレータ14に供給され
る。単安定マルチバイブレータ14の出力ゲート
回路12に供給される。前述の一実施例と同様
に、ゲート回路12からは水平ブランキング区間
のシンクチツプ部分での高域成分が出力され、こ
の出力にはノイズNだけが取り出される。
が入力端子を示し、入力端子10から複合カラー
ビデオ信号がハイパスフイルタ11を介してゲー
ト回路12に供給されると共に、水平同期分離回
路13に供給される。水平同期分離回路13の出
力が単安定マルチバイブレータ14に供給され
る。単安定マルチバイブレータ14の出力ゲート
回路12に供給される。前述の一実施例と同様
に、ゲート回路12からは水平ブランキング区間
のシンクチツプ部分での高域成分が出力され、こ
の出力にはノイズNだけが取り出される。
ゲート回路12の出力がコンパレータ15に供
給される。コンパレータ15には、基準信号発生
回路16の出力が供給される。この他の実施例で
は、AGC回路が設けられず、入力されるビデオ
信号のレベルは一定に保たれていない。このた
め、ゲート回路12から出力されるノイズレベル
が変動している。基準信号発生回路16には、入
力端子10からビデオ信号が供給され、このビデ
オ信号のレベルに応じた基準信号が形成される。
この基準信号とゲート回路12の出力がコンパレ
ータ15で比較されることで、ノイズの検出レベ
ルが一定に保たれる。コンパレータ15の出力が
出力端子17から取り出される。
給される。コンパレータ15には、基準信号発生
回路16の出力が供給される。この他の実施例で
は、AGC回路が設けられず、入力されるビデオ
信号のレベルは一定に保たれていない。このた
め、ゲート回路12から出力されるノイズレベル
が変動している。基準信号発生回路16には、入
力端子10からビデオ信号が供給され、このビデ
オ信号のレベルに応じた基準信号が形成される。
この基準信号とゲート回路12の出力がコンパレ
ータ15で比較されることで、ノイズの検出レベ
ルが一定に保たれる。コンパレータ15の出力が
出力端子17から取り出される。
このように、パルス出力により検出されたイン
パルス性ノイズは、例えば規定されたフレームの
間カウントされ、この積算されたパルスの数によ
り、デイスクの評価がなされる。
パルス性ノイズは、例えば規定されたフレームの
間カウントされ、この積算されたパルスの数によ
り、デイスクの評価がなされる。
また、例えば第4図に示すように、デイスプレ
イ上にノイズの数を表示して、デイスクの品質チ
エツクを行なうこともできる。第4図は、パルス
出力として取り出されたインパルス性のノイズ
を、ライン毎にデイスプレイ20上に表示したも
のである。21Aが奇数フイールドの表示領域
で、21Bが偶数フイールドの表示領域である。
表示領域21A,21Bで、縦軸に示されるライ
ン番号毎に、夫々ノイズの数がドツトで示され、
所定数のフレームの累積値が曲線a及びbで示す
ように、デイスプレイ20上に表示される。
イ上にノイズの数を表示して、デイスクの品質チ
エツクを行なうこともできる。第4図は、パルス
出力として取り出されたインパルス性のノイズ
を、ライン毎にデイスプレイ20上に表示したも
のである。21Aが奇数フイールドの表示領域
で、21Bが偶数フイールドの表示領域である。
表示領域21A,21Bで、縦軸に示されるライ
ン番号毎に、夫々ノイズの数がドツトで示され、
所定数のフレームの累積値が曲線a及びbで示す
ように、デイスプレイ20上に表示される。
ビデオデイスクが例えば、角速度一定で再生さ
れるものであり、第5図に示すように、奇数フイ
ールドの信号が記録された領域23Aと、偶数フ
イールドの信号が記録された領域23Bとが、デ
イスク22上で分割されている場合、このデイス
プレイ20の表示から、ピツトの欠陥がどこに集
中しているかわかる。つまり、第4図に示す表示
画面では、奇数フイールドでのノイズ曲線aで示
すように、ラインの中央に集中して分布し、偶数
フイールドでのノイズ曲線bで示すように、あま
り発生していない。この場合、デイスク22上で
は奇数フイールドの信号が記録された部分の23
Bの破線で囲んで示す領域24にピツトの欠陥が
集中していると推定される。
れるものであり、第5図に示すように、奇数フイ
ールドの信号が記録された領域23Aと、偶数フ
イールドの信号が記録された領域23Bとが、デ
イスク22上で分割されている場合、このデイス
プレイ20の表示から、ピツトの欠陥がどこに集
中しているかわかる。つまり、第4図に示す表示
画面では、奇数フイールドでのノイズ曲線aで示
すように、ラインの中央に集中して分布し、偶数
フイールドでのノイズ曲線bで示すように、あま
り発生していない。この場合、デイスク22上で
は奇数フイールドの信号が記録された部分の23
Bの破線で囲んで示す領域24にピツトの欠陥が
集中していると推定される。
なお、インパルス性ノイズは、ビデオ信号のレ
ベルが一定の区間なら同様に測定できる。したが
つて、垂直ブランキング区間、水平ブランキング
区間のフロントポーチなどでノイズを測定する構
成としても良い。
ベルが一定の区間なら同様に測定できる。したが
つて、垂直ブランキング区間、水平ブランキング
区間のフロントポーチなどでノイズを測定する構
成としても良い。
この発明に依れば、デイスク再生プレーヤのド
ロツプアウト補償回路で補正不可能なインパルス
性ノイズを正確に測定することができる。従つ
て、この発明に依れば、ピツトの一部が欠落して
いる場合のピツトの欠陥を検出することができ、
ビデオデイスクの品質チエツクを十分にすること
ができる。
ロツプアウト補償回路で補正不可能なインパルス
性ノイズを正確に測定することができる。従つ
て、この発明に依れば、ピツトの一部が欠落して
いる場合のピツトの欠陥を検出することができ、
ビデオデイスクの品質チエツクを十分にすること
ができる。
第1図はこの発明の一実施例のブロツク図、第
2図はこの発明の一実施例の説明に用いる波形
図、第3図はこの発明の他の実施例のブロツク
図、第4図はこの発明の一実施例による測定結果
の表示方法の説明に用いる略線図、第5図はこの
発明の一実施例による測定結果の一例とピツトの
欠陥の分布の対応関係の説明に用いる略線図、第
6図及び第7図はピツトの欠陥を示す拡大図及び
再生出力の波形図である。 1,10:入力端子、3,11:ハイパスフイ
ルタ、5,12:ゲート回路、7,15:コンパ
レータ、9,17:出力端子。
2図はこの発明の一実施例の説明に用いる波形
図、第3図はこの発明の他の実施例のブロツク
図、第4図はこの発明の一実施例による測定結果
の表示方法の説明に用いる略線図、第5図はこの
発明の一実施例による測定結果の一例とピツトの
欠陥の分布の対応関係の説明に用いる略線図、第
6図及び第7図はピツトの欠陥を示す拡大図及び
再生出力の波形図である。 1,10:入力端子、3,11:ハイパスフイ
ルタ、5,12:ゲート回路、7,15:コンパ
レータ、9,17:出力端子。
Claims (1)
- 1 画像情報信号をFM変調してなる記録信号が
ピツトのパターンとして記録されたデイスクの再
生信号が供給され、上記再生信号からインパルス
性ノイズ成分の周波数帯の信号を選択し、上記イ
ンパルス性ノイズ成分の周波数帯の信号中に含ま
れる基準信号値以上の測定信号をノイズとして検
出するようにしたことを特徴とするノイズ測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12881984A JPS619847A (ja) | 1984-06-22 | 1984-06-22 | ノイズ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12881984A JPS619847A (ja) | 1984-06-22 | 1984-06-22 | ノイズ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS619847A JPS619847A (ja) | 1986-01-17 |
| JPH0556573B2 true JPH0556573B2 (ja) | 1993-08-19 |
Family
ID=14994196
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12881984A Granted JPS619847A (ja) | 1984-06-22 | 1984-06-22 | ノイズ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS619847A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0230108U (ja) * | 1988-08-11 | 1990-02-26 |
-
1984
- 1984-06-22 JP JP12881984A patent/JPS619847A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS619847A (ja) | 1986-01-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |