JPS58213257A - ロジツク・アナライザ - Google Patents

ロジツク・アナライザ

Info

Publication number
JPS58213257A
JPS58213257A JP58087897A JP8789783A JPS58213257A JP S58213257 A JPS58213257 A JP S58213257A JP 58087897 A JP58087897 A JP 58087897A JP 8789783 A JP8789783 A JP 8789783A JP S58213257 A JPS58213257 A JP S58213257A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
logic
circuit
signal
ram
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP58087897A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0133784B2 (ja
Inventor
Hidemi Yokogawa
横川 秀美
Teruo Manome
馬目 輝夫
Yasuhiko Miki
安彦 三木
Machiko Tomioka
冨岡 真千子
Miyuki Fukuzawa
福沢 美雪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Tektronix Corp filed Critical Sony Tektronix Corp
Priority to JP58087897A priority Critical patent/JPS58213257A/ja
Publication of JPS58213257A publication Critical patent/JPS58213257A/ja
Publication of JPH0133784B2 publication Critical patent/JPH0133784B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/25Testing of logic operation, e.g. by logic analysers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の利用分野 本発明はロジック・アナライザ、特にパターン発生器と
しても使用できるロジック・アナライザに関する。
発明の背景 最近、マイクロプロセッサ技術及びコンピュータ技術の
進歩に伴い、種々の電子機器において、ロジック信号処
理技術が一般化してきた。ロジック技術を用いた電子機
器の開発、調整及び故障修理のための測定器として、オ
シロスコープ、ロジックプローブ及びロジック・アナラ
イザ等があるが、特に、ロジック・アナライザは、ロジ
ック技術を用いた電子機器の測定器として最適である。
即ち、ロジック・アナライザは、複数チャ、ンネルの入
力ロジック信号(データ)をランダム・アクセス・メモ
!I(RAM’)等の記憶手段に記憶した後、この記憶
手段に記憶されたデータを陰極線管(CRT)等の表示
手段に表示するので、トリが信号発生以前のデータを測
定できるからである。
このように、ロジック・アナライザは、ロジック信号の
測定器として最適であるが、従来のロジック・アナライ
ザは、単に、被測定回路(或いは被測定装置)の各測定
点の信号を観測するだけであり、被測定回路からのロジ
ック信号に応じたパターン・データを発生することがで
きながった。なお、ロジック・アナライザとパターン発
生器を単(−組合せた測定器が提案されているが、この
測定器のパターン発生器はキーボード等により設定され
たパターン・データ(デジタル信号)を発生するもので
あり、ロジック・アナライザが人力したロジック信号に
応じたデータを発生するもので2はなかった。よって、
被測定回路に応じたパターン・データを効率よく発生す
ることが、従来はできなかった。
発明の目的 したがって本発明の目的は、人力したロジック信号に応
じたパターン・データを発生するパターン発生機能を有
するロジック・アナライザの提供(二ある。
本発明のロジック・アナライザは、記憶手段と、この記
憶手段の記憶内容を表示する表示手段とを有し、記憶手
段には人力ロジック信号又はこの人力ロジック信号の演
算結果を記憶し、緩衝手段を介して記憶手段の記憶内容
をパターン・データとして出力する。
発明の実施例 以下、添付図を参照して本発明の好適な実施例について
説明する。
第1図は本発明に係るロジック・アナライザの好適な実
施例のブロック図である。第1図に示したロジック・ア
ナライザには、4個のプローブIOA〜1. ODが接
続されている。夫々のプローブは8個のチップな有し、
夫々8ブーヤンネルの入力ロジック信号を受けることが
できる。プローブIOA〜10Dからのロジック信号は
比較器12に供給される。比較器12は、人力ロジック
信号のレベルを、第1図の各ブロックに適したロジック
レベル(例えば、TTL()ランジスダトランジスタ・
レベル))に変換し、可変遅延手段6゜を介して高速R
AM等で構成されたデータ用記憶回路14、並びにトリ
ガ回路16(ワード・リコグナイザ及びカウンタを含む
)に供給する。データ用記憶回路14、トリガ回路16
は、バス20(データ、アドレス及び制御バスを含む)
に接続している。スタート/ストップ制御回路22は、
バス20からの命令信号により、データ用記憶回路14
の記憶動作即ち人力データ取込みを開始させ、更に、ト
リが回路16からの出力に応じてデータ用記憶回路14
の記憶動作を停止させる。中央処理装置(CPU)24
は、例えば市販のZ80A型マイクロプロセッサであり
、論理演算手段及び回路動作の処理手段として動作する
。リード・オンリ・メモリ(ROM)26は、CPU2
4の処理手順を記憶するファームウェア用の記憶回路で
あり、RAM28は、CPU24の一時記憶回路として
動作すると共に表示RAM領域も含む記憶回路である。
ROM26及びRAM28もバス20に接続している。
キーボード30は、複数のキーを有し、カーソルの制御
、制御信号及びデータの人力等に利用され、同様にバス
20に接続している。バス20に接続した表示制御回路
32は、水平同期信号、垂直同期信号、及びR,AM2
8の表示RAM領域のデータに基づいて輝度信号を出力
し、表示手段であるラスク走査型CRT34にデータ等
を表示する。クロックパルス発生器36は、バス20か
らの命令信号に応じた周波数のクロックパルスをデータ
用記憶回路14、トリが回路16等に供給する。尚、C
PU24.ROM26、RAM28、キーボード30の
クロック周波数は、例えば4Ml−1z(CPU24が
Z80Aの場合)で固定である。バス20に接続した緩
衝手段62からは、後述するパターン・データを出力す
る。
次に、本発明によるロジック信号の測定及び演算につい
て説明する。先ず、オペレータはプローブIOA〜10
Dの内適当なプローブを1個選択し、プローブの7個の
チップの内6個を第2図に示した被測定回路の入力端子
1〜6に、残りの1個のチップを出力端子7に夫々接続
済であり7個のチップと被測定回路の各端子1〜7の接
続関係は既にキーボード30から人力しであると仮定す
る。尚、説明を簡単にするため、以下、第2図の端子1
〜7は、夫々プローブIOAのチップ■〜7に接続され
るものとする。次に、ロジック信号の測定及び演算のス
テップ番号を振り、順を追って説明する。
(1)オペレータが、キーボード30から人力データの
取込を指示すると、スタート/ストップ制御回路22は
、CPU24からの命令信号に基づき、取込開始命令信
号をデータ用記憶回路14に出力する。
(2)データ用記憶回路14は、この取込開始信号に応
じ、指定されたプローブのチップからの人力データを、
比較器12を介して取り込み、順次所定の記憶領域に記
憶する。
(3))リガ回路16が、人力データからトリガ・ワー
ドを検出し、その後所定数のクロック信号を計数すると
、トリが回路16はスタート/ストップ制御回路22に
信号を出力する。
(4)スタート/ストップ制御回路22は、トリガ回路
16からの出力信号に応じ、取込停止信号をデータ用記
憶回路14に印加し、データ用記憶回路14の人力デー
タ取込みを停止させる。
(5)キーボード30から、データ用記憶回路14に取
り込んだデータの表示を指示する。
(6)C,PU24は、データ用記憶回路14じ記憶さ
れているデータを、RAM28のCI) U・RAMの
第1領域(第1記憶手段)に転送して記憶し、次に、表
示内容をフォント情報(例えば、コード信号)としてR
AM28の表示領域に記憶し、表示RA Mの内容をC
RT 34に表示する。
(RAM28の各領域を第4図に示す。)(7)キーボ
ード30から第2図に示した論理回路の論理演算式を入
力し、RAM28のCPU−RAMの演算式領域に記憶
する。
(8)CPU24は、RAM28のCPU・RAMに記
憶されている演算式を構文解析し、その解析結果に応じ
てRAM28のCI) U −RAMの第1領域からデ
ータを収り出し、ROM26に記憶されている論理演算
のサブルーチンにより演算を行い、その結果をRAM2
8のCPU−RAMの第2領域(第2記憶手段)に記憶
する。尚、途中結果は、CPU24の一時記憶用の記憶
回路に記憶する。
(9)入力された論理演算式及びRAM28の第2領域
のデータをフォント情報としてRAM28の表示RAM
に記憶し、この表示RAMの内容をCRT 34に表示
する。
例えば、第2図に示した被測定回路の論理演算式は、 ((lA2)↑6)V((3,A4)↓・5)で表わさ
れる。ここで、数字1〜6は第2図の被測定回路の入力
端子1〜6に人力される信号を示し、八は論理積、■は
論理和を示し、↑はDフリップ・フロップ42がクロッ
クパルスの立上りでデータ端に人力された信号をラッチ
(取り込んで保持)することを示し、↓はDフリップ・
フロップ46がグロックパルスの立下りでデータ端に人
力された信号をラッチすることを示す。即ち、上記の論
理演算式は、入力端子1と2に印加されたロジック信号
の論理積出力の立」ニリで入力端子6の信号をラッチし
たものと、入力端子3と4に印加された信号の論理積出
力の立下りで入力端子5の信号をラッチしたものとの論
理和を表わす。
第3図はタイミング表示モードによる表示画面を示す図
であり、第2図の論理回路(被測定回路)の人力及び出
力信号のタイミング波形(入力端子1〜6の波形は夫々
A6〜A1により、また出力端子7の波形はA7によ°
り示す)、第2図の回路の論理演算式、及びこの論理演
算式に基づいて第2図の入力信号を演算して得た信号の
タイミング波形**(即ち、第2図の被測定回路の予想
出力信号)を示している。このように、オペレータは、
被測定回路の出力信号のタイミング波形を、演算結果に
基づくタイミング波形と簡単に比較できるので、被測定
回路の動作の正常或いは異常を極めて簡単に判断するこ
とができる。尚、タイミング表示モードの代りに、ステ
ート表示モードにより表示してもよい。
更(二、後述するように、被測定回路の動作が正常でな
い場合には、本発明に係るロジック・アナライザの出力
を次段の被測定回路の人力信号として用いることができ
るので、本発明に係る口泥り賢 シック・アナライザは、パターン ” としても使用することができる。
ところで、第2図に示した被測定回路では、I)フリッ
プ・フロップ42及1び46のクロック端に印加される
信号は、入力端子6及び5のロジック信号より位相が遅
れている(μm3ち、アンド回路40及び48の人出方
間(二位相ずれ(所謂スキュー)がある)。この位相に
より、たとえ被測定回路が正常に動作していたとしても
、実際の出力信号と演算結果が異なる場合が生ずるので
この位相ずれを補償して演算する必要がある。
このため、本発明では、ソフトウェアによるスキュ一対
策と、ハードウェア喝よるスキュ一対策とを講じている
。先ず、ソフトウェアによるスキュ一対策を説明する。
第4図は、本発明し係るソフトウェアによるスキー一対
策を説明するために、I<AM28のCPU−RAMの
記憶領域区分及びCP U −RAMの第1領域の一部
分を模型的に表わした図である。第*回(二おいて、左
側の0000〜0100.0101〜FFFFはRAM
28のアドレスを示し、CPU−RAMには、第1領域
(第1記憶手段)、第2領域(第2記憶手段)、演算式
領域、フラッグ領域、スキュー領域等がある。ソフトウ
ェアによるスキー−を行うためには、前述した本発明に
よるロジック信号の測定及び演算のためのステップ(1
)〜(9)の一部分を次のように変更する必要がある。
即ち、ステップ(7)の次に、r (7’)キーボード
3oから各チャンネルの位相ずれ(スキー−情報)をク
ロック数で表わしく各素子のスキー−はカタログ又は実
測で得られ、クロック周期とクロック数の積で表される
)、その値をRAMZ8のCPU−RAMのスキュー領
域に記憶する。」 のステップを挿入し、ステップ(8)及び(9)を夫々
次の(8)(9)に変更する。
r(8)CPU24は、RAM28のCPtJ−RAM
に記憶されている演算式を構文解析し、その解析結果及
びスキー−情報により、必要に応じてビット数(アドレ
ス)をずらしてデータを第1領域から読み出し、ROM
26+=記憶したサブルーチン(二より演算を行い、そ
の結果をRAM28のC1)U−RAMの第2領域に記
憶する。Jr(9)演算式、スキュー情報、及び第2領
域のデータをフォントとして表示RAM領域に記憶する
。」 尚、人力信号を取り込むクロック信号の周期は、考慮す
る位相ずれ(スキュ一時間)より短くなければならない
一ハードウェアによりスキー一対策を行なうには、キー
ボード30からのスキュー情報により、可遅延手段60
が選択した人力信号を設定時間だけ遅延させる。
緩衝手段62は上述したように、R,’LM28のCI
)U−RAMの第1又は第2領域のデータを外部に出力
するために設けたものである。しだがりて、緩衝手段6
2を設けることにより、本発明に係るロジック・アナラ
イザをパターン発生器として利用することができる。尚
、緩衝手段62を単なる緩衝増幅器とすれば、CPU−
RAMに記憶したデータを、CPUクロック(」二連し
たように、例えば4MHz )でしか出力できないが、
緩衝手段62じ高速記憶回路と緩衝増幅、器を設ければ
、CPUクロックで         CPU・RAM
からデータを転送し、所望クロック周波数(オペレータ
がキーボード30から人力する)で出力することができ
る。尚、緩衝手段62には、RAM28のCPU−RA
Mの第2領域の演算結果だけでなく、第1領域に収り込
んだデータを転送するよう(ニしてもよい。
発明の効果 このように、本発明に係るロジック・アナライザは、あ
る被測定回路の動作が正常でない場合、ロジック・アナ
ライザの、出力(即ち、緩衝手段62の出力)を次段の
被測定回路)二印加するパターン発生器として使用する
ことができる。勿論、被測定回路の動作の正常・異常に
拘らず、所望の論理演算式をロジック・アナライザに記
憶させ、所定の人力信号を人力して、本発明に係るロジ
ック・アナライザを単独のパターン発生器としても利用
することができる。また記憶した人力信号をそのままパ
ターン・データとして出力しても有効に利用できる。更
に緩衝手段62に記憶回路を設ければ、出カバターン・
データのクロック周波数を任意にすることができ、応用
範囲が広がる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の好適な実施例のブロック、図、第2図
は本発明を説明するための被測定回路の一具体回路図、
第3図は本発明を説明するための表示画面図、第4図は
本発明を説明するための記憶手段の記憶領域を模型的に
表わした図である。 28:記憶手段 34:表示手段 62:緩衝手段 特許出願人二ソニー・テクトロニクス株式会社麹2図 第5図 第4因

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  記憶手段と、該記憶手段の記憶内容を表示す
    る表示手段とを有するロジック・アナライザにおいて、
    上記記憶手段に入力ロジック信号又は該人力ロジック技
    術の演算結果を記憶し、緩衝手段を介して上記記憶手段
    の記憶内容を出力することを特徴とするロジック・アナ
    ライザ。 +21  l記緩衝手段は緩衝増幅器であることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載のロジック・アナライ
    ザ。 (31l記緩衝手段は記憶回路及び緩衝増幅器であり、
    上記記憶手段の記憶内容を上記記憶回路に転送した後、
    所望クロック周波数で出力することを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載のロジック・アナライザ。
JP58087897A 1983-05-19 1983-05-19 ロジツク・アナライザ Granted JPS58213257A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58087897A JPS58213257A (ja) 1983-05-19 1983-05-19 ロジツク・アナライザ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58087897A JPS58213257A (ja) 1983-05-19 1983-05-19 ロジツク・アナライザ

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP583582A Division JPS58123466A (ja) 1982-01-18 1982-01-18 ロジツク・アナライザ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58213257A true JPS58213257A (ja) 1983-12-12
JPH0133784B2 JPH0133784B2 (ja) 1989-07-14

Family

ID=13927678

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58087897A Granted JPS58213257A (ja) 1983-05-19 1983-05-19 ロジツク・アナライザ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58213257A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008191060A (ja) * 2007-02-07 2008-08-21 Yokogawa Electric Corp デバイステストデータ表示装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5342869A (en) * 1976-09-30 1978-04-18 Iwatsu Electric Co Ltd Signal observing apparatus

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5342869A (en) * 1976-09-30 1978-04-18 Iwatsu Electric Co Ltd Signal observing apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008191060A (ja) * 2007-02-07 2008-08-21 Yokogawa Electric Corp デバイステストデータ表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0133784B2 (ja) 1989-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4303983A (en) Method and apparatus for measuring time
US6105157A (en) Salphasic timing calibration system for an integrated circuit tester
KR100506773B1 (ko) 이벤트 기반 테스트 시스템을 위한 다중 테스트 종료의 신호
JPS5813864B2 (ja) ロジツク信号観測装置
US4434488A (en) Logic analyzer for a multiplexed digital bus
KR100356725B1 (ko) 반도체 시험 장치
US7143323B2 (en) High speed capture and averaging of serial data by asynchronous periodic sampling
JPH027530B2 (ja)
JPH0361148B2 (ja)
JP2001324549A (ja) テストパターンやストローブ信号の発生装置及びタイミングデータへの遅延時間の挿入方法
JPS58213257A (ja) ロジツク・アナライザ
US5440592A (en) Method and apparatus for measuring frequency and high/low time of a digital signal
JP2001305197A (ja) 半導体集積回路試験におけるパルス幅タイミング誤差補正のための較正方法および装置
US6833695B2 (en) Simultaneous display of data gathered using multiple data gathering mechanisms
US4578666A (en) Method of comparing data with asynchronous timebases
JPH0132952B2 (ja)
JPS6067869A (ja) タイミング信号発生器
JP2531437B2 (ja) ビデオ信号検査装置
JP2903443B2 (ja) Ic試験装置
JPH0675015A (ja) パターン信号発生器に同期したac測定電圧印加回路
KR20060046052A (ko) Ic 테스터
US4999573A (en) Method and apparatus for measurement gate display
WO1987001207A1 (en) Harmonic sampling logic analyzer
JP2944307B2 (ja) A/dコンバータの非直線性の検査方法
JPS6350668B2 (ja)