JPS58214852A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS58214852A JPS58214852A JP57098324A JP9832482A JPS58214852A JP S58214852 A JPS58214852 A JP S58214852A JP 57098324 A JP57098324 A JP 57098324A JP 9832482 A JP9832482 A JP 9832482A JP S58214852 A JPS58214852 A JP S58214852A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、水浸方式ま′ｆｃは水柱方式による超音波
探傷装置において、超音波探触子と被検食材間の水中に
存在する気泡や固形物（例えば黒皮のはがれたもの）の
影響で発生する雑音に起因する探傷誤検出を防止する超
音波探傷装置に関するものである。
探傷装置において、超音波探触子と被検食材間の水中に
存在する気泡や固形物（例えば黒皮のはがれたもの）の
影響で発生する雑音に起因する探傷誤検出を防止する超
音波探傷装置に関するものである。
水浸方式または水柱方式により超音波探傷を行なう場合
、超音波探触子と被検査材間の水中に。
、超音波探触子と被検査材間の水中に。
瞬間的な気泡の発生および被検査材表面から剥離した固
形物の混入が見うけられる。これらの気泡または固形物
の影響による超音波の多重反射信号は、単発的に欠陥検
出ゲート内に入り込み、高感変で探傷を行なうと、誤検
出の原因となる。
形物の混入が見うけられる。これらの気泡または固形物
の影響による超音波の多重反射信号は、単発的に欠陥検
出ゲート内に入り込み、高感変で探傷を行なうと、誤検
出の原因となる。
まず従来の探傷装置の一例金第１図によって説明する。
第１図において、 （ＩＩＦｉ被検査材、（２１け被検
査材＋１１に対向して配置さｎ後述する送信信号を受け
て超音波信号を発生する超音波探触子、（３）は上記探
触子（２）を保持するための超音波探触子保持部、（４
）は上記探触子（２）から発生した超音波信号を上記被
検食材（１）に畝幅させるための接触媒質の水柱、（５
）は装置内各部の同期信号発生するための同期部、（６
）は上記同期部（５）で発生した送信トリガ信号、 （
７１Ｆｉ上記送信トリガ信号（６）ヲ受けて後述する送
信傅号を発生する送信信号発生部、（８）は上記送信信
号発生部で発生された送信信号および上記超音波探触子
（２）によって得らｎた超音波エコー信号。
査材＋１１に対向して配置さｎ後述する送信信号を受け
て超音波信号を発生する超音波探触子、（３）は上記探
触子（２）を保持するための超音波探触子保持部、（４
）は上記探触子（２）から発生した超音波信号を上記被
検食材（１）に畝幅させるための接触媒質の水柱、（５
）は装置内各部の同期信号発生するための同期部、（６
）は上記同期部（５）で発生した送信トリガ信号、 （
７１Ｆｉ上記送信トリガ信号（６）ヲ受けて後述する送
信傅号を発生する送信信号発生部、（８）は上記送信信
号発生部で発生された送信信号および上記超音波探触子
（２）によって得らｎた超音波エコー信号。
（９）は上記超音波エコー信号（８）を増幅する受信部
。
。
αωは上記受信部（９）の出力信号、σＢは上記出力信
号０臼のエコー高さを測定するエコー高さ測足部、任謙
は上記同期部（５）で発生する後述の欠陥検出用ゲート
位置を決めるｔめのトリガ信号、α’Ｚｌｌゴ上記トリ
ガ信号（１３１で超勤され欠陥検出用ゲートを発生する
ゲート発生部、α４１は上記ゲート発生部α国で発生し
たゲート信号、αωは上記ゲート信号１４１内のエコー
高さを、上記エコー高さ測定ｇＩα℃で測定した測定結
果、ａ６！は上記測定結果ｔＬ５１と欠陥判定信号（１
７ｉを比較し、上記仮検青材（１１内の欠陥有無を判定
する比較判定部、■は欠陥判定に使用するための欠陥判
定信号（Ｉ？）を保持する欠陥判定値保持都、４９け上
記比較判定部すｅで判定された欠陥の有無を示す探傷結
果信号である。
号０臼のエコー高さを測定するエコー高さ測足部、任謙
は上記同期部（５）で発生する後述の欠陥検出用ゲート
位置を決めるｔめのトリガ信号、α’Ｚｌｌゴ上記トリ
ガ信号（１３１で超勤され欠陥検出用ゲートを発生する
ゲート発生部、α４１は上記ゲート発生部α国で発生し
たゲート信号、αωは上記ゲート信号１４１内のエコー
高さを、上記エコー高さ測定ｇＩα℃で測定した測定結
果、ａ６！は上記測定結果ｔＬ５１と欠陥判定信号（１
７ｉを比較し、上記仮検青材（１１内の欠陥有無を判定
する比較判定部、■は欠陥判定に使用するための欠陥判
定信号（Ｉ？）を保持する欠陥判定値保持都、４９け上
記比較判定部すｅで判定された欠陥の有無を示す探傷結
果信号である。
いま送信信号発生部（７）に送信トリガ信号が入力され
ると送信信号発生部（７）に送信信号（８）を発生して
、超音波探触子（２１忙導入する。超音波探触子（２）
は上記送信信号を超音波信号に変換して超音波を水柱（
４１ヲ介して被検査材（１）に入射させるとともに被検
食材（１）から反射した超音波エコー信号を電気信号に
変換する。
ると送信信号発生部（７）に送信信号（８）を発生して
、超音波探触子（２１忙導入する。超音波探触子（２）
は上記送信信号を超音波信号に変換して超音波を水柱（
４１ヲ介して被検査材（１）に入射させるとともに被検
食材（１）から反射した超音波エコー信号を電気信号に
変換する。
上肥超廿波探触子（２：によって電気信号に変換された
超音波エコー信号は受信部（９） Ｋ入力される。
超音波エコー信号は受信部（９） Ｋ入力される。
受信部（９）で増幅された出力信号は、エコー高さ測定
部σ９において、ゲート発生部α３で発生したゲート内
のエコーとして測定される。ゲート発生部０で発生する
ゲート信号は、被検査材ｔｘｔの内部欠陥を検出する位
置にあらかじめ設けておく。エコー高さ測定部σｌで測
定されたエコー高さ信号は、比較判定部（１６１におい
てあらかじめ設定されていた判足値鰻と比較判定され探
傷結果信号住９が作成さｎる。
部σ９において、ゲート発生部α３で発生したゲート内
のエコーとして測定される。ゲート発生部０で発生する
ゲート信号は、被検査材ｔｘｔの内部欠陥を検出する位
置にあらかじめ設けておく。エコー高さ測定部σｌで測
定されたエコー高さ信号は、比較判定部（１６１におい
てあらかじめ設定されていた判足値鰻と比較判定され探
傷結果信号住９が作成さｎる。
上記の従来の探傷装置では、水柱（４）円１ｃ気泡や固
形物が存在すると、上記気泡や固形物からの超音波多重
反射信号は欠陥検出ゲート内忙雑音信号 −とじて入り
込み、Ｐ傷誤検出の原因となる。
形物が存在すると、上記気泡や固形物からの超音波多重
反射信号は欠陥検出ゲート内忙雑音信号 −とじて入り
込み、Ｐ傷誤検出の原因となる。
この発明は上記水柱（４）内に存在する気泡や固形物を
検出し、探傷誤検出を防止する超音波探傷装置であり以
下図面に従って、この発明の一冥姉例を第２図に示し詳
述する。
検出し、探傷誤検出を防止する超音波探傷装置であり以
下図面に従って、この発明の一冥姉例を第２図に示し詳
述する。
／
第２図において（１）分被検葉材、（２）は超音波探触
子、 （３）Ｆｉ超發波探触子保持部、（４）は水柱、
（５）は同期部、（６）は送信トリガ信号、（７）は送
信信号発生部。
子、 （３）Ｆｉ超發波探触子保持部、（４）は水柱、
（５）は同期部、（６）は送信トリガ信号、（７）は送
信信号発生部。
（８１ｒ／ｉ送信信号および超音波エコー信号、（９）
は受信部、ａａは上記受信部（９３の出カイ１号、ａυ
は後述する超音波送信エコーと検検査材表面エコーとの
間の適切な位置を起点とし、被検査材表面エコーを検出
可断な位置を終点とする表面検出ゲート０２同のエコー
高さを測定するエコー高さ測定部、 （１３１は。
は受信部、ａａは上記受信部（９３の出カイ１号、ａυ
は後述する超音波送信エコーと検検査材表面エコーとの
間の適切な位置を起点とし、被検査材表面エコーを検出
可断な位置を終点とする表面検出ゲート０２同のエコー
高さを測定するエコー高さ測定部、 （１３１は。
同ｘＡ部（５）で発生した表面検出ゲート位置を決める
ためのトリガ信号Ｉで起動さｎ上記の表面検出ゲートα
ｚを発生するためのゲート発生部、α５１は、上記表面
検出ゲート住３内であらかじめ定められたレヘル以上ノ
エコーのエコー位置ヲ測定するためのエコー位置測定部
、 （１６１はエコー位置を計測するためのトリガ信号
側は被検査材表面と被検葺材底面との間の適切な位＃忙
設足ζｎる欠陥検出ゲート発生部のエコー高さを測定す
る機能及び気泡や固形物を検出した時の欠陥判定マスク
信号α９によりエコー高さ測定を中断させる機能を持っ
た欠陥エコー高さｆｔ測定部、（イ）は同期部から発生
さｎる欠陥検出ゲート位置ヲ決めるためのトリガ信号Ｑ
υで起動さｎ、欠陥検出ゲートａｍｅ発生する欠陥検出
ゲート発生部、ｒ２のけエコー高さ測定部αυで計測さ
れたエコー高さ結果のと、あらかじめ決められたエコー
高さ判定値信号（２）を比較し判定値信号より大きい反
射エコーであるかどうか比較する比較部。
ためのトリガ信号Ｉで起動さｎ上記の表面検出ゲートα
ｚを発生するためのゲート発生部、α５１は、上記表面
検出ゲート住３内であらかじめ定められたレヘル以上ノ
エコーのエコー位置ヲ測定するためのエコー位置測定部
、 （１６１はエコー位置を計測するためのトリガ信号
側は被検査材表面と被検葺材底面との間の適切な位＃忙
設足ζｎる欠陥検出ゲート発生部のエコー高さを測定す
る機能及び気泡や固形物を検出した時の欠陥判定マスク
信号α９によりエコー高さ測定を中断させる機能を持っ
た欠陥エコー高さｆｔ測定部、（イ）は同期部から発生
さｎる欠陥検出ゲート位置ヲ決めるためのトリガ信号Ｑ
υで起動さｎ、欠陥検出ゲートａｍｅ発生する欠陥検出
ゲート発生部、ｒ２のけエコー高さ測定部αυで計測さ
れたエコー高さ結果のと、あらかじめ決められたエコー
高さ判定値信号（２）を比較し判定値信号より大きい反
射エコーであるかどうか比較する比較部。
（至）は上記判定値信号ａ４１を保持するためのエコー
高さ判定値保持部、＠けエコー位置側足部四で計測され
たエコー位置結果勾と、あらかじめ決められたエコー位
置判定値信号＠を比較し、被検査材表面エコーより手前
に発生したエコーを検知するためのエコー位置比較部、
のけ上記エコー位置判定値信号−を保持するためのエコ
ー位置判足値保持部、（７）は上記エコー高さ比較部（
２）で得らｎたエコー高さ比較結果信号（３りと、エコ
ー位置比較部（ハ）で倚らＴ′したエコー立置比較距未
信号（３２）から欠陥判定マスク信号ｔ１９ｔｌ−発生
するマスク信号発生部。
高さ判定値保持部、＠けエコー位置側足部四で計測され
たエコー位置結果勾と、あらかじめ決められたエコー位
置判定値信号＠を比較し、被検査材表面エコーより手前
に発生したエコーを検知するためのエコー位置比較部、
のけ上記エコー位置判定値信号−を保持するためのエコ
ー位置判足値保持部、（７）は上記エコー高さ比較部（
２）で得らｎたエコー高さ比較結果信号（３りと、エコ
ー位置比較部（ハ）で倚らＴ′したエコー立置比較距未
信号（３２）から欠陥判定マスク信号ｔ１９ｔｌ−発生
するマスク信号発生部。
（３りはエコー高さ泗Ｊ足部（ｉ７１で得らｎたエコー
高さ信号（３３）と、あらかじめ決めらｆた欠陥判ず値
信号（３りから比較し、被検資材中の欠陥有画信号（３
６）を発生する比収判足部、 （３７）は欠陥判定値
信号（３５）を保持するための欠陥ダ１定値仁持部、
（３８）破線円は本発明によるブロック構成部を表わ
す。
高さ信号（３３）と、あらかじめ決めらｆた欠陥判ず値
信号（３りから比較し、被検資材中の欠陥有画信号（３
６）を発生する比収判足部、 （３７）は欠陥判定値
信号（３５）を保持するための欠陥ダ１定値仁持部、
（３８）破線円は本発明によるブロック構成部を表わ
す。
次にこの発明の動作を第２図、第３図を用いて説明する
。いま送信信号発生部（７）に送信トリガ信号（６）が
入力すると送信信号発生部（７）は送信信号（８）全発
生して超音波探触子（２）に導入する。超音波探触子（
２）は上記送信信号を超音波信号に変換して超音波を水
柱（４）を介して被検査材（１）に入射させると共に被
検査材（１１から反射した超、、片波エコー信号を電気
信号に変換する。
。いま送信信号発生部（７）に送信トリガ信号（６）が
入力すると送信信号発生部（７）は送信信号（８）全発
生して超音波探触子（２）に導入する。超音波探触子（
２）は上記送信信号を超音波信号に変換して超音波を水
柱（４）を介して被検査材（１）に入射させると共に被
検査材（１１から反射した超、、片波エコー信号を電気
信号に変換する。
上記超音波探触子（２）によって電気信号に変換された
超音波エコー信号は受信部（９）に入力される。
超音波エコー信号は受信部（９）に入力される。
受信部（９）の出力は被検査材（１）に欠陥等が存在し
ない場合、第３図Ａに示す送信信号イ、被検査材表゛面
からの反射信号ハ、被検査材底面からの反射信号ホの３
種類のみ存在する。
ない場合、第３図Ａに示す送信信号イ、被検査材表゛面
からの反射信号ハ、被検査材底面からの反射信号ホの３
種類のみ存在する。
ところが、水柱（４）の中に気泡や固形物が存在すると
、上記気泡や固形物からの反射信号として第３図Ａに示
す口の信号が発生し、これの影響による多重反射信号が
発生する。この多重反射信号二は第３図Ｅに示す、欠陥
検出ゲート内に飛び込み雑音として探傷誤検出の原因と
なる。そこでゲート発生部ａ３で発生し窺超音波送信信
号（第３図Ａ−イ）を起点とじ亭検査材表面エコー（第
３図Ａ−ハ）を検出可能な位置を終点とする検出ゲート
（第３図Ｃ）を設け、上記検出ゲート内のエコー高さを
測定部０で測足しあらかじめ決められた判定値（第３図
Ａ−ｈ）との比較を比較部ので行なう。贅た検出ゲート
〔第３図Ｃ〕内のエコー位置をエコー位置測定部住９で
測足しあらかじめ決めらｎた判定値（第３図Ａ−ａ）と
の比較をエコー位置比較部（イ）で笑施し表面エコーで
あるかまたは水柱（４）内に存在する気泡や固形物によ
る反射エコーであるか検知する。
、上記気泡や固形物からの反射信号として第３図Ａに示
す口の信号が発生し、これの影響による多重反射信号が
発生する。この多重反射信号二は第３図Ｅに示す、欠陥
検出ゲート内に飛び込み雑音として探傷誤検出の原因と
なる。そこでゲート発生部ａ３で発生し窺超音波送信信
号（第３図Ａ−イ）を起点とじ亭検査材表面エコー（第
３図Ａ−ハ）を検出可能な位置を終点とする検出ゲート
（第３図Ｃ）を設け、上記検出ゲート内のエコー高さを
測定部０で測足しあらかじめ決められた判定値（第３図
Ａ−ｈ）との比較を比較部ので行なう。贅た検出ゲート
〔第３図Ｃ〕内のエコー位置をエコー位置測定部住９で
測足しあらかじめ決めらｎた判定値（第３図Ａ−ａ）と
の比較をエコー位置比較部（イ）で笑施し表面エコーで
あるかまたは水柱（４）内に存在する気泡や固形物によ
る反射エコーであるか検知する。
上記、比較部（ハ）及びエコー位置比較部四における判
定結果から、決めらｆ′した判定値以上のエコー冒さて
かつ、被検量材表面エコーより手前の位置に発生する反
射エコー検出さ−ｎｆｃならば、第３図Ｆの欠陥判定マ
スク信号を作成するためのトリガ信号をマスク信号発生
部（至）の中で発生し欠陥判定マスク信号（第３図Ｇ）
を作成する。上記欠陥利足マスク信号により欠陥検出ゲ
ート内のエコー高さをｉ＋Ｉ定するエコー高さ測定部（
Ｉη内のエコー高さ測足機能不７マスクする。
定結果から、決めらｆ′した判定値以上のエコー冒さて
かつ、被検量材表面エコーより手前の位置に発生する反
射エコー検出さ−ｎｆｃならば、第３図Ｆの欠陥判定マ
スク信号を作成するためのトリガ信号をマスク信号発生
部（至）の中で発生し欠陥判定マスク信号（第３図Ｇ）
を作成する。上記欠陥利足マスク信号により欠陥検出ゲ
ート内のエコー高さをｉ＋Ｉ定するエコー高さ測定部（
Ｉη内のエコー高さ測足機能不７マスクする。
上言己動作により超音波送信信号と被検査材表面エコー
との間の水中に存在する気泡や固形物の影響で発生する
雑音に起因する探傷誤検出全防止することができる。
との間の水中に存在する気泡や固形物の影響で発生する
雑音に起因する探傷誤検出全防止することができる。
なお、第３図においてＢは超音波送信信号と被検査材表
面エコーとの間に設定されるゲートＣの位置を決定する
ためのトリガ信号、Ｄｆｄ欠陥検出ゲートＥの位置を決
定するためのトリガ信号である。
面エコーとの間に設定されるゲートＣの位置を決定する
ためのトリガ信号、Ｄｆｄ欠陥検出ゲートＥの位置を決
定するためのトリガ信号である。
この発明は以上のように超音波送信信号と被検査材表面
エコーとの間の適切な位置を起点とし被検査材表面エコ
ーを検出可能な位置を終点とする検出ゲートを設は上記
検出ゲート内のエコー高さ及びエコー位置を沖」足する
ことにより超音波探触子と被検査材間の水柱内に存在す
る気泡や固形物を検知可能なため従来のものに比べ正確
に欠陥を検出することが可能であり、より正確な探傷結
果１得ることができる。
エコーとの間の適切な位置を起点とし被検査材表面エコ
ーを検出可能な位置を終点とする検出ゲートを設は上記
検出ゲート内のエコー高さ及びエコー位置を沖」足する
ことにより超音波探触子と被検査材間の水柱内に存在す
る気泡や固形物を検知可能なため従来のものに比べ正確
に欠陥を検出することが可能であり、より正確な探傷結
果１得ることができる。
なお、被検査材の表面エコーを含む位置に検出ゲートを
設定しているため２表面エコーの状りも同時に検知可能
であり２表面エコーの状態を他の判定要素（例えば音響
結合状部の判定）等に使用することも可能となる。
設定しているため２表面エコーの状りも同時に検知可能
であり２表面エコーの状態を他の判定要素（例えば音響
結合状部の判定）等に使用することも可能となる。
萬１図は従来の探傷装置の一実施例上水す図。
第２図にこの発明の一実施例を示す図、第３図はこの発
明の主要構成部の動作波形図である。 第１図、第２図において、（１）は被検査材、（２）け
超音波探触子、（４１は水柱、（５）は同期部、（７）
は送信信号発生部、（９）は受信部である。（１１１は
エコー高さ測定部、ａＳ／ｆｉエコー位置測定部、α６
１は比較判定部。 ＠はエコー高さ比較部、＠はエコー位置比較部。 （７）はマスク信号発生部、 （Ｕｎは欠陥検出ゲート
内エコー高さ測定部、 （３ｊ）は比較判定部である
。 代理人 葛 野 信 − く ０００ＬＬＪ Ｌ Ｃ！５
明の主要構成部の動作波形図である。 第１図、第２図において、（１）は被検査材、（２）け
超音波探触子、（４１は水柱、（５）は同期部、（７）
は送信信号発生部、（９）は受信部である。（１１１は
エコー高さ測定部、ａＳ／ｆｉエコー位置測定部、α６
１は比較判定部。 ＠はエコー高さ比較部、＠はエコー位置比較部。 （７）はマスク信号発生部、 （Ｕｎは欠陥検出ゲート
内エコー高さ測定部、 （３ｊ）は比較判定部である
。 代理人 葛 野 信 − く ０００ＬＬＪ Ｌ Ｃ！５
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 水浸式又は水柱式によって被検材の欠陥有無を検査する
超音波探傷装置において、超音波送信エコーと被検食材
表面エコーとの間の適切な位置を起点とし被検査材表面
エコーを検出可能な位置を終点とする検出ゲートを設定
するゲート設定手段と、上記ゲート設定手段により設定
され友ゲート内に存在しあらかじめ決められた判足レベ
ル以上のエコー高さを持ち、かつ被検査材表面エコーよ
り手前の位置にある反射波の有無を検出する２反射エコ
ー検出手段とを備え、超音波探触子と被検査材間の水中
ｌｌｃ存在する気泡や固形物を検知し。 気泡や固形に起因する雑音を含んだ探傷信号を誤り信号
として処理するように構成したことを特徴とする超音波
探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57098324A JPS58214852A (ja) | 1982-06-08 | 1982-06-08 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57098324A JPS58214852A (ja) | 1982-06-08 | 1982-06-08 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58214852A true JPS58214852A (ja) | 1983-12-14 |
Family
ID=14216718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57098324A Pending JPS58214852A (ja) | 1982-06-08 | 1982-06-08 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58214852A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103901100A (zh) * | 2014-03-25 | 2014-07-02 | 深圳市神视检验有限公司 | 一种超声波探伤缺陷定位方法及超声波探伤仪 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5663254A (en) * | 1979-10-30 | 1981-05-29 | Nippon Steel Corp | Noise discrimination method in ultrasonic flaw detection |
-
1982
- 1982-06-08 JP JP57098324A patent/JPS58214852A/ja active Pending
Patent Citations (1)
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| CN103901100A (zh) * | 2014-03-25 | 2014-07-02 | 深圳市神视检验有限公司 | 一种超声波探伤缺陷定位方法及超声波探伤仪 |
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