JPS5821544A - 化学反応速度測定方法 - Google Patents
化学反応速度測定方法Info
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- JPS5821544A JPS5821544A JP12123381A JP12123381A JPS5821544A JP S5821544 A JPS5821544 A JP S5821544A JP 12123381 A JP12123381 A JP 12123381A JP 12123381 A JP12123381 A JP 12123381A JP S5821544 A JPS5821544 A JP S5821544A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/272—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration for following a reaction, e.g. for determining photometrically a reaction rate (photometric cinetic analysis)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発ＷＡＦｉ吸光度が時間に比例して変化する化学反応
ｔ−欄定する方法に調し％４＄にそＯ測定が正しい条件
下で行われたか否かｔ検出する手段を備えた化学反応速
度測定方法に関する。
ｔ−欄定する方法に調し％４＄にそＯ測定が正しい条件
下で行われたか否かｔ検出する手段を備えた化学反応速
度測定方法に関する。
従来、吸光度が時間に比例して変化する化学反応の一例
としてＩＩ素反応が知られている。酵素反応では、１分
間轟９ｏ甑光１０変化量に％物質及び測定条件から定型
る定数を乗じて酵素活性値を求め条、必ｌ！がある。と
ζろで酵素反応の場合、反応の初期段階においてラグ７
エイズと呼とれる非直線反応の区間があ〕、反応開始し
て多少０時間遅れ後直線反応Ｋするため、酵素活性値紘
この直線部分′ｃＩＩＩＩ定しなけれとならない７この
ため従来は、経験的に前述のラグ７エイメの時間を知り
その時間が経過した１ｌＫＩ］ｊ！！開始するか、ある
いはｑＩｉ会昭５４−４００３６号公報に開示されてい
ゐ様に、測定結果が直線部分であるか否か０４１［１断
を２時点における吸光度Ｏ変化分の積分値管求めて行う
方法が用いられている。
としてＩＩ素反応が知られている。酵素反応では、１分
間轟９ｏ甑光１０変化量に％物質及び測定条件から定型
る定数を乗じて酵素活性値を求め条、必ｌ！がある。と
ζろで酵素反応の場合、反応の初期段階においてラグ７
エイズと呼とれる非直線反応の区間があ〕、反応開始し
て多少０時間遅れ後直線反応Ｋするため、酵素活性値紘
この直線部分′ｃＩＩＩＩ定しなけれとならない７この
ため従来は、経験的に前述のラグ７エイメの時間を知り
その時間が経過した１ｌＫＩ］ｊ！！開始するか、ある
いはｑＩｉ会昭５４−４００３６号公報に開示されてい
ゐ様に、測定結果が直線部分であるか否か０４１［１断
を２時点における吸光度Ｏ変化分の積分値管求めて行う
方法が用いられている。
しかしながら、後者の方法では積分すゐ範囲のデータが
全てｗｅ入れられ、反応溶液中のゴ建。
全てｗｅ入れられ、反応溶液中のゴ建。
気泡、検体Ｋｌｌ、因する濁〕勢によって生ずる偽信号
４含まれてしまうため、実際には直線部分であっても直
線部分でｔｈと判断されてしまうことがしばしば生じる
。一方これら反応溶箪中Ｏゴ電、気泡、検体由来の濁ｅ
＊を反応溶液から完全に除去すること祉事実上不可能で
あ珈、従って精度Ｏ高い信頼性のあゐ測定結果を段るた
めＫは、橢走信号の＃！＆理方法管工夫し測定誤差の原
因による影響を最大隈取）＃〈ことが要求されている。
４含まれてしまうため、実際には直線部分であっても直
線部分でｔｈと判断されてしまうことがしばしば生じる
。一方これら反応溶箪中Ｏゴ電、気泡、検体由来の濁ｅ
＊を反応溶液から完全に除去すること祉事実上不可能で
あ珈、従って精度Ｏ高い信頼性のあゐ測定結果を段るた
めＫは、橢走信号の＃！＆理方法管工夫し測定誤差の原
因による影響を最大隈取）＃〈ことが要求されている。
零発−の目的は上記０点に鑑み、測定誤差の原因による
影響管最大［除去てきる測定信号の処履方法管提供する
ことにある、すなわち本発明による化学反応速度測定方
法は、光電変換され九甑光度の信号をム／Ｄ変換し、該
デジタル信号のうち一定時間間隔毎Ｏデーメ１；定区間
メモリ機能に取入れ、次いでに）該データから最小二乗
法によ〕そＯ区間に＆ける吸光度変化の第１の傾装置を
求め、＠款第１０傾配置かも一定範囲の市内にあるデー
タを選出し、０該選出データから第２０傾配、−を求め
ることを特徴とする４のである。
影響管最大［除去てきる測定信号の処履方法管提供する
ことにある、すなわち本発明による化学反応速度測定方
法は、光電変換され九甑光度の信号をム／Ｄ変換し、該
デジタル信号のうち一定時間間隔毎Ｏデーメ１；定区間
メモリ機能に取入れ、次いでに）該データから最小二乗
法によ〕そＯ区間に＆ける吸光度変化の第１の傾装置を
求め、＠款第１０傾配置かも一定範囲の市内にあるデー
タを選出し、０該選出データから第２０傾配、−を求め
ることを特徴とする４のである。
又酵素反応において、新しい反応による項目を測定する
場合、ラグ７エイズと呼ばれる非直線反応の区間がどの
くらいの時間か又直線反応の区間がどＯ（らいかを前も
って確定する必要である。
場合、ラグ７エイズと呼ばれる非直線反応の区間がどの
くらいの時間か又直線反応の区間がどＯ（らいかを前も
って確定する必要である。
その時間が判れと、それと同じ反応による項ｌを測定す
ゐ場合、それらの区間の時間を前もって設定した測定が
可能となる。そＯえめに、継続しえ多斂区間につ−で各
区間ととに最小二乗法により吸光度変化の第１０傾配置
１次いでｉかも一定範囲の市内＃Ｃあるデータを用いて
第３の傾装置を求め、この第２ｔ）傾起を各一定区間と
とに継続した多数区間にわたって表示し、該値がある範
１１１ＭＫあるかどうかで、吸光度と時間とが比例関係
を維持する区間及び比例関係が成シたたない区間を確定
する方法管提供する４ｏである、 又吸光度と時間とが比例関係′を維持する区間での傾起
管活性値として表示するときに、反応溶液中のゴミ、気
泡、検体ＫＩＥ因する濁シ等によるデータ管除去して信
頼度の高い値を得るため、最小二乗法によ〕吸光度変化
の第１の傾装置１次いでｉから一定市内にあるデータを
用いて纂２０傾配置を求め、その値に一定係数ｔ＊＃ｆ
て活性値として表示する方法を提供する。
ゐ場合、それらの区間の時間を前もって設定した測定が
可能となる。そＯえめに、継続しえ多斂区間につ−で各
区間ととに最小二乗法により吸光度変化の第１０傾配置
１次いでｉかも一定範囲の市内＃Ｃあるデータを用いて
第３の傾装置を求め、この第２ｔ）傾起を各一定区間と
とに継続した多数区間にわたって表示し、該値がある範
１１１ＭＫあるかどうかで、吸光度と時間とが比例関係
を維持する区間及び比例関係が成シたたない区間を確定
する方法管提供する４ｏである、 又吸光度と時間とが比例関係′を維持する区間での傾起
管活性値として表示するときに、反応溶液中のゴミ、気
泡、検体ＫＩＥ因する濁シ等によるデータ管除去して信
頼度の高い値を得るため、最小二乗法によ〕吸光度変化
の第１の傾装置１次いでｉから一定市内にあるデータを
用いて纂２０傾配置を求め、その値に一定係数ｔ＊＃ｆ
て活性値として表示する方法を提供する。
又その活性値が、本来吸光度変化が非直線でああ部分の
一部ｔｍ＊部分の区間として求めてし壇った）、あるい
は最小二乗法によ）落雪Ｏ傾起α會求めゐ際に第１０傾
配電から一定市内にあるデーターを用いる九め１本来取
〕入れるべきデーターを捨ててしまつ九ｐすゐことをチ
ェックするえめに１データを取り入れた区間を前後二区
間に分けて全区間Ｏ傾きとは別に、その二区間での吸光
度変化Ｏ第２の傾起α１．ａ、をそれぞれ求め、その比
を求めてその値がある条件内に入れば（理想はｌ）正常
そうで１ｋｌ／％場舎紘異常を表示する方法管提供する
亀のである。
一部ｔｍ＊部分の区間として求めてし壇った）、あるい
は最小二乗法によ）落雪Ｏ傾起α會求めゐ際に第１０傾
配電から一定市内にあるデーターを用いる九め１本来取
〕入れるべきデーターを捨ててしまつ九ｐすゐことをチ
ェックするえめに１データを取り入れた区間を前後二区
間に分けて全区間Ｏ傾きとは別に、その二区間での吸光
度変化Ｏ第２の傾起α１．ａ、をそれぞれ求め、その比
を求めてその値がある条件内に入れば（理想はｌ）正常
そうで１ｋｌ／％場舎紘異常を表示する方法管提供する
亀のである。
以下本発明の実施例ｔｍｗｅｃ沿ってさらに詳しく説明
する。第１図紘本方法管実施する装置のプ冑ツク図で、
１は吸光度測定用の検知器である。
する。第１図紘本方法管実施する装置のプ冑ツク図で、
１は吸光度測定用の検知器である。
検知器１からの吸光度信号は対数変換回路２を経た後、
アナーダ・デジタル変換回路３でデジタル信号へム／Ｄ
変換される。ζＯデジタル信号がインターフェイス４を
通じてＣＰＵ（電子計算機Ｏ中来演算麩鳳装置）Ｓへ入
夛、そζで後述Ｏ演算慇鳳が行われる。８は８点Ｍで、
吸光度の傾１１！求め為区間の長さ、反復調教Ｏ指定値
等測定上必Ｉ！な条件が記憶されて−る。この８点Ｍｌ
へＯＩＩ際の書込みは、指令スイッチ７の操作によジイ
ンター７エイス６を経、ＣＰＵ５を通じて行ちれる、又
９はＲＯＭで、これにはＣＰＵＫおける演算旭理グーグ
ツムが内蔵されている。こうして吸光度信号の入力に応
じて、ＣＰＵ５で演算廻履され九結果がインターフェイ
ス１０を介し表示装置１１に表わされ、測定した区間が
直線部分にあるかどうかの判定が示される。
アナーダ・デジタル変換回路３でデジタル信号へム／Ｄ
変換される。ζＯデジタル信号がインターフェイス４を
通じてＣＰＵ（電子計算機Ｏ中来演算麩鳳装置）Ｓへ入
夛、そζで後述Ｏ演算慇鳳が行われる。８は８点Ｍで、
吸光度の傾１１！求め為区間の長さ、反復調教Ｏ指定値
等測定上必Ｉ！な条件が記憶されて−る。この８点Ｍｌ
へＯＩＩ際の書込みは、指令スイッチ７の操作によジイ
ンター７エイス６を経、ＣＰＵ５を通じて行ちれる、又
９はＲＯＭで、これにはＣＰＵＫおける演算旭理グーグ
ツムが内蔵されている。こうして吸光度信号の入力に応
じて、ＣＰＵ５で演算廻履され九結果がインターフェイ
ス１０を介し表示装置１１に表わされ、測定した区間が
直線部分にあるかどうかの判定が示される。
＃Ｉ２図は吸光度スペクトルと測定プロセスのｌＩ係を
示す図、第３図はＣＰＵ５Ｋよる演算処Ｉｌ。
示す図、第３図はＣＰＵ５Ｋよる演算処Ｉｌ。
主要部分を示すチャート図で、以下これらを参照して測
定方法を説−する。
定方法を説−する。
第２図において１２は吸光度スペクトルで、０は測定ス
タート時点を示し、８は終了時点を示す。
タート時点を示し、８は終了時点を示す。
図示のように％スペクトルの最初の一定区間社反応が直
線的でなく、七〇ｔ＆吸光度が直線的に減少し始める。
線的でなく、七〇ｔ＆吸光度が直線的に減少し始める。
この直線的でないッグ７エイメ区間に対応したディレィ
時間ＤＴｆｅｆｆ演算処理の開始は遅らされる。これが
第３図の１３デイレイタイマに対応している。直一部分
に入った所で測定が開＃畜れ、第１１１１定区間ＭＴｓ
ｉび第２測定区間を雪Ｋ１１つて吸光度のデータが取ら
れ演算処理へと送られ！、 ｅ０１ｉ１１＃ｊ１８１１
０１４１ｆｆｉｊｌｆ−１！−Ｆと対応していり。
時間ＤＴｆｅｆｆ演算処理の開始は遅らされる。これが
第３図の１３デイレイタイマに対応している。直一部分
に入った所で測定が開＃畜れ、第１１１１定区間ＭＴｓ
ｉび第２測定区間を雪Ｋ１１つて吸光度のデータが取ら
れ演算処理へと送られ！、 ｅ０１ｉ１１＃ｊ１８１１
０１４１ｆｆｉｊｌｆ−１！−Ｆと対応していり。
ζζでｔ−ｒａ光度変化の直線区間が予じめ判っている
場金管説明すると、第１１１０［ｉ１１区間Ｏ金範＠Ｍ
ＴＯデーメよ）最小二乗法でその区間Ｋかけ為眼光度賓
化の第１の傾起置ｔ求めに）、次にａｔ）ａｔ）＠ｆＤ
うちワースト４０％！＃外して残り０データを選ｍしく
至）、こｅａａｓデーメからＩＫ＃小二乗法によりＢｏ
頷配ａを求める０、そしてζＯ傾傾起Ｋ一定係数’ｔ＃
ｔｊて測定値である酵素活性値が表示される。
場金管説明すると、第１１１０［ｉ１１区間Ｏ金範＠Ｍ
ＴＯデーメよ）最小二乗法でその区間Ｋかけ為眼光度賓
化の第１の傾起置ｔ求めに）、次にａｔ）ａｔ）＠ｆＤ
うちワースト４０％！＃外して残り０データを選ｍしく
至）、こｅａａｓデーメからＩＫ＃小二乗法によりＢｏ
頷配ａを求める０、そしてζＯ傾傾起Ｋ一定係数’ｔ＃
ｔｊて測定値である酵素活性値が表示される。
又これと平行して、ζＯ全区間管前後２等分しそれぞれ
Ｏ区間Ｍｒｔ、 Ｍｒｍ においても、全区間ＭＴと１
Ｉｉｌｌ＊に最小二乗法によゐ直線りまル第１０傾配置
、とｉ、を求め、その直−〇上下一定巾にあるワースト
４（ｌｔｌｋ％／％九データ管用いて、ｊ！に最小二乗
法によ＃［＃１求めそのと龜Ｏ傾起７１ｔ ｉｉ、管求
めす る。そして、そＯ比 α、が一定範囲内に入れに正常そ
うでない場合轄異常を表示する。すなわち半区間での傾
起比がＯｊ９□／蓄、≦ＩＪｔ）関係を満さない場合、
第３図りを経て表示部には、測定区間に異常データが入
っていること會示す異常信号が表示される。
Ｏ区間Ｍｒｔ、 Ｍｒｍ においても、全区間ＭＴと１
Ｉｉｌｌ＊に最小二乗法によゐ直線りまル第１０傾配置
、とｉ、を求め、その直−〇上下一定巾にあるワースト
４（ｌｔｌｋ％／％九データ管用いて、ｊ！に最小二乗
法によ＃［＃１求めそのと龜Ｏ傾起７１ｔ ｉｉ、管求
めす る。そして、そＯ比 α、が一定範囲内に入れに正常そ
うでない場合轄異常を表示する。すなわち半区間での傾
起比がＯｊ９□／蓄、≦ＩＪｔ）関係を満さない場合、
第３図りを経て表示部には、測定区間に異常データが入
っていること會示す異常信号が表示される。
一方吸光度変化の直線区間が未知の新しい反応による項
ｉｉｔｗ＋定すゐ場合には、前もって設定した測定時間
で継続した多数区間について上述の方法に従い各区間の
αｔｍ定しそれを比較することＫＪニジ、非直線部及び
直線部Ｏ判断確定會行い、この直線部管活性値測定用の
直線区間とすることが出来る。
ｉｉｔｗ＋定すゐ場合には、前もって設定した測定時間
で継続した多数区間について上述の方法に従い各区間の
αｔｍ定しそれを比較することＫＪニジ、非直線部及び
直線部Ｏ判断確定會行い、この直線部管活性値測定用の
直線区間とすることが出来る。
以上述べ九ように本発明によれと、最小二乗法を用いて
直ａｔ導出し、その傾起から一定範囲の中肉にあるデー
タを用い更に直５ｔｖａｉｔ、、第２の傾起【求め、そ
れを用いて活性健全表示しているため、溶液中ａｙｓ、
気泡等によゐ偽信号管除去した信頼度の高−値が得られ
ると共に１前後２区間に分けたデータを用いて第２傾起
の比を求めることによ〕正常異常Ｏ判断表示管し當にデ
ータのチェック【行える利点がある。又新しい項目を測
定する場合、直線、非直線領域がどのくらいの時間であ
るか會確定できるという利点もある。
直ａｔ導出し、その傾起から一定範囲の中肉にあるデー
タを用い更に直５ｔｖａｉｔ、、第２の傾起【求め、そ
れを用いて活性健全表示しているため、溶液中ａｙｓ、
気泡等によゐ偽信号管除去した信頼度の高−値が得られ
ると共に１前後２区間に分けたデータを用いて第２傾起
の比を求めることによ〕正常異常Ｏ判断表示管し當にデ
ータのチェック【行える利点がある。又新しい項目を測
定する場合、直線、非直線領域がどのくらいの時間であ
るか會確定できるという利点もある。
第１図は本発明による化学反応速度一定方法を実施する
装置のプ胃ツク図、第２図は反応速ｆｔ測定する吸光度
プログ２ムと測定プロ士スの関係を示す図、第３図は演
算処理の主要部分を示すチャート図である。 １・・・検出ＩＩ ２−・・対数変換回路３
・・・アナジグ・デジタル変換回路 ４．６．１０・・・インターフェイス ５・・・ＣＰＵ ７・・・指令スイッチ８・
・・凡ムＭ ９・−ＲＯＭｌｌ・・・表示装置
１２・・・吸光度スペクトル出願人 日本分光工
業株式会社 代理人 丸 山 幸 雄
装置のプ胃ツク図、第２図は反応速ｆｔ測定する吸光度
プログ２ムと測定プロ士スの関係を示す図、第３図は演
算処理の主要部分を示すチャート図である。 １・・・検出ＩＩ ２−・・対数変換回路３
・・・アナジグ・デジタル変換回路 ４．６．１０・・・インターフェイス ５・・・ＣＰＵ ７・・・指令スイッチ８・
・・凡ムＭ ９・−ＲＯＭｌｌ・・・表示装置
１２・・・吸光度スペクトル出願人 日本分光工
業株式会社 代理人 丸 山 幸 雄
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１） 吸光度と時間とが比例関係管維持すゐ時の反
応速度をこの傾きから求める化学反応速度測定方法にお
いて、 光電変換された吸光度の信号管ム／Ｄ変換し、該デジタ
ル信号のうち一定時間間隔毎のデータを一定区閲メ毫り
機能に取入れ、次いて内骸データから最小二乗法によシ
その区間にお轄ゐ吸光度変化の第１０傾配置ｔ求め、（
ハ）該第１０傾配置から一定範囲の中肉にあるデーメｔ
ａ出し、０該選出データから第２０傾配αを求めること
を４１像とする化学反応一定方法。 （２、特許請求の範Ｉ！第１項に記載の方法を用い。 継続した多数区間について各区間ととに上記第２の傾起
ａｌ求めて表示し、該値より、吸光度と時間とが比例関
係を維持する区間及び比例関係が成夛立たない区間を確
定する方法。 （３） 特許請求の範囲第２項に記載の方法を用いて
確定した吸光度と時間とが比例関係１ｍ持する区間に対
し、該区間を新たな一定区間としてそ０区間における上
記第２の傾装置を求めこれに一定定数ｔＳけて測定値を
表示すること′ＹｒＩｆ！！黴とする化学反応測定方法
。 （４） ４１１許請求ｔ）＠８第３項に記載の方法を
用いて測定表示する区間に対し、該区間の前半分区間と
後牛分区関Ｋｊ−ける吸光度変イヒ１記第２の傾起るよ
うにしたこと１０黴とする化学反応測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12123381A JPS5821544A (ja) | 1981-07-31 | 1981-07-31 | 化学反応速度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12123381A JPS5821544A (ja) | 1981-07-31 | 1981-07-31 | 化学反応速度測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5821544A true JPS5821544A (ja) | 1983-02-08 |
| JPS6348300B2 JPS6348300B2 (ja) | 1988-09-28 |
Family
ID=14806200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12123381A Granted JPS5821544A (ja) | 1981-07-31 | 1981-07-31 | 化学反応速度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5821544A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60132683A (ja) * | 1983-12-22 | 1985-07-15 | Kansai Paint Co Ltd | 被膜の形成方法 |
| JPS60253977A (ja) * | 1984-05-31 | 1985-12-14 | Shimadzu Corp | 自動分析装置 |
| JPS6250645A (ja) * | 1985-08-30 | 1987-03-05 | Jeol Ltd | 化学分析方法 |
| JPS6298256A (ja) * | 1985-10-25 | 1987-05-07 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 呼吸速度測定方法 |
| JPS62181354A (ja) * | 1986-02-04 | 1987-08-08 | Sumitomo Naugatuck Co Ltd | 耐候性樹脂組成物 |
| JP2011226909A (ja) * | 2010-04-20 | 2011-11-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び自動分析方法 |
-
1981
- 1981-07-31 JP JP12123381A patent/JPS5821544A/ja active Granted
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60132683A (ja) * | 1983-12-22 | 1985-07-15 | Kansai Paint Co Ltd | 被膜の形成方法 |
| JPS60253977A (ja) * | 1984-05-31 | 1985-12-14 | Shimadzu Corp | 自動分析装置 |
| JPS6250645A (ja) * | 1985-08-30 | 1987-03-05 | Jeol Ltd | 化学分析方法 |
| JPS6298256A (ja) * | 1985-10-25 | 1987-05-07 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 呼吸速度測定方法 |
| JPS62181354A (ja) * | 1986-02-04 | 1987-08-08 | Sumitomo Naugatuck Co Ltd | 耐候性樹脂組成物 |
| JP2011226909A (ja) * | 2010-04-20 | 2011-11-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び自動分析方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6348300B2 (ja) | 1988-09-28 |
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