JPS58215876A - 固体撮像装置の駆動方法 - Google Patents

固体撮像装置の駆動方法

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JPS58215876A
JPS58215876A JP57099665A JP9966582A JPS58215876A JP S58215876 A JPS58215876 A JP S58215876A JP 57099665 A JP57099665 A JP 57099665A JP 9966582 A JP9966582 A JP 9966582A JP S58215876 A JPS58215876 A JP S58215876A
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Yutaka Miyata
豊 宮田
Yoshio Oota
太田 善夫
Takao Chikamura
隆夫 近村
Kosaku Yano
矢野 航作
Shinji Fujiwara
慎司 藤原
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    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、主に電荷転送素子(CCDtたはB’BD)
を用いた固体撮像装置に関するものであり、特に入射光
強度が大きいときに発生するブルーミング現象、残像現
象および白点発生現象を回路的手段をもって大巾に抑制
できる固体撮像装置を提供するものである。
信号走査回路としてCCD(電荷結合素子)を用いた固
体撮像装置、特に光電変換素子として光導電膜を、S1
走査回路を有する半導体基板上に積層した構成の固体撮
像装置(以下積層型固体撮像装置と称する。)の構成と
動作を説明し、従来の同装置の欠点を説明する。
第1図は走査デバイスにCCDが用いられている積層型
固体撮像装置における要部平面図であり、絵素が複数個
形成された部分を示している。第2図は第1図の固体撮
像装置の1絵素のA−B’線にこれらの図において、1
0は半導体基板で例えばp型Si よりなるものである
。11a、11b、11cはn領域で基板10とダイオ
ードを形成する。
12a、121)はCCD転送のだめのn−領域で、1
3a。
13b、13cは読み込み及び転送を兼ねたゲート電極
である。14はダイオード領域11の一部が開孔しかつ
走査部と電荷収集用の第1電極15を分離するだめの絶
縁体である。16はホトセンサとしての光導電膜で例え
ばα−8i(アモルファスシツコン)、異種接合Zn5
e−Zn1−xCdxTe 、 S e等を主体として
なるものである。光導電膜16の上には電圧印加のため
透明電極17が形成されている。
18は入射光である。
第3図は、第1図に示した構成の固体撮像装置の一絵素
の等価回路図を示したものである。第3図において21
はn″−領域11a、11b、11cと基板10で形成
されるダイオードの容量であり、その大きさecjで)
わす。22は光導電膜16の容量であり、その大きさを
CNで表わす。また、235・・−7 は第1電極15とゲート電極13a、13b、13cの
間で寄生的に発生する容量で、あり、その大きさをC2
で表わす。
いま入射光18により光導電膜16で生成した信号電荷
は、上記の三つの容量(Cj、CN、Cp)に゛蓄積さ
れるが、この時の最大蓄積電荷量QrrlaXは、信号
読み込み後の第1電極15の電位と透明電極17との電
位差をΔVとすると、 QmaX−(Cj+CN十〇p)・ΔVであられされる
。CCD転送段であるn−領域12a、12bの最大取
扱い電荷量をQSHCとすると、第1図の構成の固体撮
像装置の場合には、通常Qma x”SHCとなり、非
常に強い入射光の場合ΔQ−QITlaX−QsHcの
余剰電荷が生ずる。上記第1図構成の固体撮像装置の場
合ΔQ ”’ 7QSHCにもおよびこの余剰電荷を伺
らかの形で処理しない場合には、余剰電荷がCCD転送
段のn−領域12a、12bでオーバーフローレプルー
ミンク現象となったり、残像現象が発生したり、後述す
るような白点発生現像が生じたりする。
  − これらの現象を抑制するために、駆動パルスを工夫する
方法がたとえば特開昭56−140773号に提案され
ている。この場合の余剰電荷の掃き出し駆動の方法とそ
の欠点を第4図(a) 、 (b)を用いて説明する。
ここで、第4図(a)は垂直転送段のたとえばn−領域
12bの駆動パルスであり、第4図(b)は、第4図(
a)の駆動パルスの垂直消去帰線期間(以下、V−B 
LK期間とよぶ)を拡大して示した図であり、上記の構
成の固体撮像装置の信号読み込みパルス25による信号
読み込み動作と転送パルス24による転送動作は、通常
のインクラインCCDを用いた固体撮像装置と何ら変わ
る所がないから省略し、従来の駆動方法にて特に問題と
なるV−BLK期間中の動作について説明する。この場
合の駆動パルスは第4図(b)から明らかなように、数
回の余剰電荷読み込みパルス31a〜31dと、余剰電
荷読み込みパルスの間の余剰電荷を排き出すだめの転送
パルス32a〜3.1dで構成されている。
1ず最初に、−回の余剰電荷読み込みノくルスで、n+
領域11bから電荷転送段12bへ移送される余剰電荷
が、CCD転送段12bの最大取扱い電荷量QSI(C
以上の量である場合の問題点を第5図を用いて説明する
第5図は電荷の動きを説明するだめの井戸型ボテン7ヤ
ル図であり、番1図のA−B−C−D方向に関して示し
ている。第5図の21a、211)。
40a、41.42a、421)は第1図に示した領域
に対応している。
すなわち、21aはn 1域11aの範囲、211)は
n+領域11bの範囲、4oaは?領域11aと電荷転
送段の。−領域12aとゲート13aとから構成される
MOS)ランジスタのチャネル領域の範囲、40bはn
+領域11bと電荷転送段のn−領域12bとゲート電
極13bとから構成されるMOSトランジスタのチャネ
ル領域の範囲を示している。
ゲート電極13a、13bがオフ(OFF)状態の時の
範囲4Qa、40bの電位ハMo S )ランジスタの
ピンチオフ電圧に等しい。41は、2相駆動するために
転送段のnウェル中に設けた電位障壁部であり、42a
、421)は転送段の電荷蓄積部である。
ところで、製造工程においてMOSトランジスタのピン
チオフ電圧は全く同一とはならない。第5図においては
、MOSトランジスタのチャネル領域の電位4oa、4
0bの大きさに差を設け、この時に発生する撮像特性の
劣化を説明する。
第6図に示すように時間t。では、余剰電荷掃き出し駆
動パルスが印加される直前の、ダイオード領域211)
(11b)に多量の電荷43が蓄積され、隣接のダイオ
ード領域41aには電荷が蓄積されていない状態を示し
ている。次に時間t1 において、第4図に示す余剰電
荷読み込みパルス31aがゲート電極13bに印加され
ると、余剰電荷Q。のうち一部CCD転送段42b(1
2b)に移動する。パルス31aがOFF状態となると
、CCD転送段の蓄積領域42b(12b)に満杯の電
荷QR44が入り、ダイオード領域211)(11b)
には差分の電荷Q。べ社が残る。この状態が時間t2で
ある。次の時間t3において転送パルスがゲート電極1
3aに印加されると、電荷Q244は隣りの蓄積領域4
2aに転送される。この時、MOSトランジスタの4チ
ヤネル領域40aのピンチオフ電圧が4チヤネル領域4
0bのピンチオフ電圧よりも大であるために、電荷QM
44の一部の電荷Q、がダイオード領域21aに逆流す
る。時間t4は、ゲート13aに印加されていた転送パ
ルスがOFF状態になった時を示している。オイオード
領域21aに逆流した電荷Qp44bは通常の信号電荷
と区別することは不可能であるから、余剰電荷掃き出し
動作期間中もダイオード領株1aに残り、信号電荷読み
込みパルス印加時に信号として読み出され、出力されて
雑音信号の原因になる。このような動作が第4図のパル
ス31bと32b。
31Cと33b、31 dと34dにより砂目くり返え
される。上述したようなピンチオフ電圧のばらつきは、
撮像素子中に不均一に存在し、よりピンチオフ電圧の高
い部分に余剰電荷の逆流が生ずるから、スポット光を撮
像した場合の映像画面としては、スポット上部に無数の
白点を生ずることとなり、著しい画質劣化を引き起こす
1だ、移送される余剰電荷が、CCD転送段のn−領域
12a、12bの最大取扱い電荷量QSHCを超えない
場合には、少なくともΔQ/QSHC回の余剰電荷読み
込みパルスと転送パルスの組みあわせがなければ残像現
象やブルーミング現象を生じさせる。第1図の構成の固
体撮像装置では、この回数は7回となり、かなりの期間
を必要とするとともに、1連の余剰電荷読み込みパルス
31a〜31dにより、CCD転送段のn−領域12a
、12bに読み込まれる余剰電荷が、その最大取扱い電
荷量を超えないようにするには、信号読み込みパルスの
高さを毎回少しずつ増加させてチャネル部40a 、4
0bの電位の高さを減密に制御する必要が生じ、回路的
にも複雑となる。また、余剰電荷ΔQを処理するに従っ
て光導電膜に印加される送バイアスは大きくなり光感度
は増大する。このため、強い入射光の場合には、読み込
みパルスの間に光生成した電荷が余剰電荷として再びダ
イオード領域21a。
21bに著積され、次の読み込みパルスでCCD転送段
に移送される余剰電荷が転送段最大取扱い電荷量QSH
C以下に制御することが困難となる。
上記の効果を抑えるには、転送パルス32a〜32dの
転送周波数を」−げ、余剰電荷読み込みパルス31a〜
31dと転送パルス32a〜32dの組みあわぜの回数
をさらに増やさなければいけないという不都合が生ずる
。このため残像現象やブルーミング現象や白点発生現象
の抑制の効果は、非常に制限されることとなる。
本発明の目的はこのような従来の問題を解決するため、
余剰電荷を電荷転送段の最大取扱い電荷量を超えない範
囲で排出し、残像現象やブルーミング現象および白点発
生現象を防止した固体撮像装置を提供することである。
本発明の固体撮像装置の詳細を図面を用いて実施例とと
もに述べる。
第6図(a) 、’ (b)は本発明の一実施例固体撮
像装置における駆動パルス波形を示すもので、第1図の
構成の固体撮像装置に印加する駆動パルスのv−BLK
期間について示している。第6図(a)はゲート電極1
3bに印加するパルスであり、第6図(b)は、透明電
極17に印加するパルスφITOである。この実施例で
は、鋸歯状のパルスは、透明電極17に印加するパルス
中に入れており、その動作を第7図ポテンシャル図を用
いて説明する。
第7図は第5図と同様に第1図の固体撮像装置のA−B
−C−D方向に関する井戸型ポテンシャル図である。
以下、この固体撮像装置の動作をt。−t3の各段階に
分け、1つの絵素に注目して説明する。
(1)t=to時 余剰電荷の掃き出し駆動がなされる前の状態である。こ
の時電荷転送段12bの最大取扱い電荷量Q S HC
よりも多量の電荷がダイオード領域21bに蓄積されて
おり、ダイオード領域21bの電位はvXoである。
(2)t=t1時 透明電極17に印加するパルスφITOが■ILからV
lHに変化し、ダイオード領域21bの電位は、(3)
t”’t2時 余剰電荷読み込みパルスφ十が電極13bに印加され、
チャネル領域40bと電荷転送段21bの電荷蓄積部4
2bの電位が深く々る。この時のチャネル領域−401
)の電位はゲート電極13bに印加する電圧とチャー”
f−fi 16bの電位との変換係数をγとし、チャネ
ル領域のピンチオフ電圧を■、とすると、余剰電荷45
が電荷転送段42bに移動する。
(4)t=U3時 」ぐ 電極13aにφ1 と同様な余剰電荷読み込みパルスが
印加され、電荷転送段21bの電位障壁部41および電
荷蓄積部42aの電位が深くなり、電荷蓄積部42bに
あった余剰電荷45が電荷蓄積部42aに転送される。
第7図ではダイオード領域21aに電荷がない場合を示
しているが、もしダイオード領域21aに過剰な電荷が
存在すれば余剰電荷読み込みパルス印加時と同時に余剰
電荷の読み込み動作が行なわれる。すなわち余剰電荷の
読み込みと電荷転送動作は同時に行なわれる。
* 以上の動作が第6図に示すパルスφ1の印加前後の動作
の説明である。φ1*がOFF状態となり、φJ1が印
加される迄の間にダイオード領域21bの電位VマLは
、 23を通しての容量結合に寄因して低下する電圧であり
、右辺第3項は、本発明にがかる鋸歯状波(期間To)
による電位変化であり、光導電膜容量22を通しての容
量結合により時間tとともにダイオード領域かbの電位
を除々に浅くする。また、右辺第4項は光導電膜19に
流れる電流Ipによる寄与を表わしている。
上記の式より明らかなように、φ1*がOFFした後、
次のφ枦1が印加される迄に、ダイオード領域21bの
電位は所定の電位だけ浅くなっており、φ丈が印加され
ると前記(1)〜(4)(時間t−to−t3)に説明
した余剰電荷読み込み動作が再び行なわれる。以下同様
に鋸歯状波の期間To中に存在する1許・・・・・・φ
、木のパルスが印加される間は、前記(1)〜(4)の
動作がくり返される。時間tNで鋸歯状波の終−r後は
、垂直絵素数相描分の個数のφv*ハルパル印加され、
垂直転送段21bに残っている余剰電荷を信号読みパル
スφRが印加される前に排出し、余剰電荷の処理が完了
する。
次に、上記実施例において従来例の欠点であっ/ζ白点
発生現象の抑制に重要な鋸歯状波の傾斜と余剰電荷読み
込みパルスへ店の周波数について説明する。(1)式か
ら明らかなようにζ余剰電荷読み込みパルス硬の1周期
間τに変化するダイオード領域21の電位変化Δ■eX
は、 である。従って、−回の、・余剰電荷読み込みパルス吋
6で電荷転送段12bに読み込まれる余剰電荷45は、 となるが、この量が大であれば従来例のように電荷転送
段12が電荷でいっばいになりあふれる可能性が大きく
、出来るだけ少なくすることが望せしい。この目的のた
めには、鋸歯状波の傾斜み込みパルス9鐘電荷転送段1
2bに読み込捷れる余剰電荷45は、 となるが、この量が犬であれば従来例のように電荷転送
段12が電荷でいっばいになりあふれる可能性が大きく
、出来るだけ少なくすることが望ましい。この目的のだ
めには、鋸歯状波の傾斜T。
み込みパルスの転送周波数(→を大きくとることτ が有効であり、V −BLK期間で使用できる最大の期
間を鋸歯状波とし、電荷転送段12の転送効率の低下し
ない範囲で転送周波数を最大にとればよい。
このような本発明の実施例における固体撮像装置は、従
来例では、飽和照度を超えるとすぐに発生した白点は、
飽和照度の約300倍抑制可能であわ、−また、電荷バ
ランスに起因する残像現象も、従来例では、飽和照度の
約80倍であったものが300倍寸で可能となった。
? 本発明の固体撮像装置の別の実施例を第7図を用いて説
明する。第子図は、第6図と同様に、■−BLK期間に
ついて示している。第8図(a)はゲート電極13に印
加するパルスであり、第8図(b)は、゛−透明電極1
7に印加するパルスである。第8図かられかるように、
本実施例では余剰電荷の読み込みパルス硬を漸増させ、
第6図をもとにして説明した固体撮像装置の実施例と同
様な機能を持だしている。本実施例の場合、白点抑制の
効果は第6図の場合の実施例に比し、刺子低下する。こ
れは、信号読み込みと電荷転送を共通のゲート電極で行
なうため、余剰電荷読み込みパルスφ?の低い間の転送
効率が悪いためである。従って信号読み込み電極と電荷
転送電極が独立した構成の固体撮像装置の場合には、第
6図の実施例と同程度の効果がある。
本実施例を用いるなら、積層型固体撮像装置でない、S
iダイオードと走査回路だけからなる固体撮像装置にも
適用可能である。
次に白点抑制効果をより向上させた本発明の固体撮像装
置の他の実施例を第9図(a) 、 (b)を用いて説
明する。第9図(b)は、透明電極に印加するパルスで
あり、鋸歯状波の前に、光導電膜を順バイアス状態にす
るパルスφ、bと、鋸歯状波の後に光導電膜の光感度を
低下あるいはなくすようなパルスφ。8を付加している
。このような構成にすると、1ず順バイアスバルブφ 
により、Cj、CNおよb びCpに蓄わえられていた余剰電荷の一部は光導電膜を
通して流れ、鋸歯状波φ。5期間で処理する余剰電荷を
減少させるとともに、最初の余剰電荷読み込みパルス硬
印加時に、ノード電位Vat)が低くなりすぎて多量の
電荷が電荷転送段へ移送されることを防止する働きをす
る。寸だ、光導電膜の光感度をなくすバ°ルスφn8は
、信号読み込みパルスφRの直前まで印加され、鋸歯状
波φobと信号読み込みパルスφRの期間で生成する光
電荷を抑制する。本実施例の構成の如く駆動した場合、
−白点の抑制倍率および電荷バランスに起因する残像の
抑制は、飽和照度の約1600倍まで可能であり、実用
上問題のないレベルとなる。この時、鋸歯状波に順バイ
アスパルスφfbの機能を持たせることができることは
言う丑でもない。
上記実施例においては、透明電極17に印加するパルス
中に鋸歯状波を含んでいるが、ゲート電極13に印加す
るパルス中に含めても同様な効果が得られる。
本発明の実施例においては、電荷転送素子としてCCD
を用いたが、BBDを用いても同様な効果が得られる。
また、信号読み込み電極と電荷転送電極が独立した構成
の固体撮像装置においても同様な効果があることは言う
までもない。
さらに、二つ以上の1駆動パルスに鋸歯状波を含めても
同様な動作をさせることは可能である。
本発明の固体撮像装置は従来飽和照度以上の光が入射す
ると発生していた白点現象や残像現象を、通常7使用さ
れる照度範囲で実用上問題にならないレベルまで抑制可
能であり、その産業上の意義は極めて大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は、走査デバイス上に光導電膜を積層した構成の
固体撮像装置の要部平面図、第2図は第1図の構成の固
体撮像装置の一絵素の断面図、第だめの図、第5図は従
来の駆動方法の欠点を説明するだめの井戸型ボテン/ヤ
ル図、第6図(a)+ [b)は本発明の実施例の固体
撮像装置に爪いるパルス電圧の波形を示す図、第7図は
同装置の動作を説明するだめのボテンンヤル図、第8図
(a) 、 (b)は本発明の他の実施例における固体
撮像装置に用いるパルス電圧の波形を示す図、第9図[
a) 、 (b)は本発明の他の実施例における固体撮
像装置に用いるパルス電圧の波形を示す図である。 10111111111111半導体基板、11a、1
1b、11C,21B。 21b・・・・・・記領域、12a 、 121)・・
・・・・n−領域、13a、13b、13C−−−−−
−ゲート電極、14 @@@111111絶縁体、15
・・・・・・第1電極、16・・・・・・光導電膜、1
7・・・・・・透明電極、18・・・・・・入射光、4
0a、4obφ・・・e拳チャネル領域、410・・・
・電位膜壁部、42a、42b・・・・・・転送段の電
荷蓄積部。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第3図 第4図 32良327) 33b  σ’tb 第6図 り一一一1−一一一 第8図 第9図

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体基板上に光電変換領域と信号走査回路とを
    有し、前記光電変換領域の信号電荷を読み出す時のパル
    ス電圧の波形中に鋸歯状波を含むことを特徴とする固体
    撮像装置。
  2. (2)信号走査回路がCCDもしくはBBDによって構
    成されていることを特徴とする特許請求の範囲第(1)
    項に記載の固体撮像装置。
  3. (3)鋸歯状波が、垂直消去帰線期間中に存在すること
    を特徴とする特許請求の範囲第(1)項または第(2)
    項に記載の固体撮像装置。
  4. (4)鋸歯状波が、信号走査回路の駆動パルス波形中に
    存在することを特徴とする特許請求の範囲第(3)項に
    記載の固体撮像装置。
  5. (5)光電変換領域が、半導体基板中に形成されたダイ
    オード領域と電気的接続を有して形成され、その上部に
    透明電極が形成されることを特徴とする特許請求の範囲
    第(1)項に記載の固体撮像装置。
  6. (6)鋸歯状波が、透明電極に印加されるパルス波形中
    に存在することを特徴とする特許請求の範囲第(3)項
    捷たは第(5)項に記載の固体撮像装置。
  7. (7)半導体基板上に、信号走査回路と、複数個のダイ
    オードと、上面に透明電極を有しかつ上記ダイオードと
    電気的に接続された光導電膜とを有し、前記光電変換領
    域の信号電荷を読み出す時のパル固体撮像装置。
  8. (8)鋸歯状波と第一のパルスと第2のパルスが、垂直
    消去帰線期間中に存在することを特徴とする特許請求の
    範囲第(7)項に記載の固体撮像装置。
  9. (9)透明電極に印加する駆動パルス中に、鋸歯状波ト
    、少すくとも第1のパルスと第2のパ/lz スノいず
    れかのパルスとが存在することを特徴とする特許請求の
    範囲第(7)項または第(8)項記載の固体撮像装置。
  10. (10)信号走査回路の駆動パルスにより、信号の読み
    込み動作と、電荷転送動作を同時に行なうことを特徴と
    する特許請求の範囲第(7)項に記載の固体撮像装置。
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