JPS5821837A - 集積回路 - Google Patents
集積回路Info
- Publication number
- JPS5821837A JPS5821837A JP12011081A JP12011081A JPS5821837A JP S5821837 A JPS5821837 A JP S5821837A JP 12011081 A JP12011081 A JP 12011081A JP 12011081 A JP12011081 A JP 12011081A JP S5821837 A JPS5821837 A JP S5821837A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- blocks
- test
- gates
- failure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/316—Testing of analog circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は自己テスト機能をもたせた集積回路に関する
。
。
最近の集積回路の集積度向上は、テストシーケンス作成
上の困難さとテスト、コストの増大をもたらしつつある
。そのため、集積回路を機能に応じて複数個の回路ブロ
ックに分割し、同一機能をもつ回路ブロックを３個以上
並設して、・これらの多数決をとって良品ブロックのみ
を接続する方式が提案されている。しかしながらこの方
式は、同一機能をもつ回路ブロックを３個以上必要とす
るため無駄が多く、マた多数決をとった結果が必ず良品
であるという保証はない、といった欠点をもつ。
上の困難さとテスト、コストの増大をもたらしつつある
。そのため、集積回路を機能に応じて複数個の回路ブロ
ックに分割し、同一機能をもつ回路ブロックを３個以上
並設して、・これらの多数決をとって良品ブロックのみ
を接続する方式が提案されている。しかしながらこの方
式は、同一機能をもつ回路ブロックを３個以上必要とす
るため無駄が多く、マた多数決をとった結果が必ず良品
であるという保証はない、といった欠点をもつ。
この発明は上記欠点を除き、故障に弱い回路グロックに
対してとれと同一機能をもつ回路ブロックを並設して自
己テスト機能をもたせた集積回路を提供するものである
。
対してとれと同一機能をもつ回路ブロックを並設して自
己テスト機能をもたせた集積回路を提供するものである
。
即ちこの発明は、集積回路を機能に応じて回路ブロック
に分割し、それらのうち故障に弱い回路ブロック部分に
ついて、信号入力端を共通接続した同一機能を有する２
個の回路ブロックと、これら回路ブロックの対応する出
力を比較する比較回路と、この比較回路の出力とテスト
入力との論理和をとってテスト出力を得る論理和ダート
とからなる回路ユニットを構成し、かつこのような複数
個の回路ユニットについて、ある回路ユニットのテスト
出力を別の回路ユニットのテスト入力として、故障の有
無を示す信号を直列に伝播させるように構成することに
よシ、自己テスト機能をもたせたことを特徴としている
。
に分割し、それらのうち故障に弱い回路ブロック部分に
ついて、信号入力端を共通接続した同一機能を有する２
個の回路ブロックと、これら回路ブロックの対応する出
力を比較する比較回路と、この比較回路の出力とテスト
入力との論理和をとってテスト出力を得る論理和ダート
とからなる回路ユニットを構成し、かつこのような複数
個の回路ユニットについて、ある回路ユニットのテスト
出力を別の回路ユニットのテスト入力として、故障の有
無を示す信号を直列に伝播させるように構成することに
よシ、自己テスト機能をもたせたことを特徴としている
。
以下図面を参照してこの発明の一実施例を説明する。図
において、１が集積回路のなかの１つの回路ユニットで
ある。回路ユニット１は所望の機能をもつ主回路グロッ
ク２と、これと信号入力端を共通接続した同じ機能をも
つ補助回路グロック２を含む。またこれら回路ブロック
２．３の対応する出力を比較する比較回路として排他的
論理和ダート４１〜４３を有する。即ち回路ブロック２
，３が共に正常であるときは排他的論理和ダート４１〜
４３の出力は全て“０″でアシ、いずれかに故障がある
と排他的論理和ダート４１〜４３のいずれかの出力がＩ
Ｉ Ｉ ＩＩと力る。壕だこれら排他的論理和ダート４
１〜４３の出力は論理和ダート５に入力されている。６
はこの回路ユニット１に対するテスト入力端であシ、前
段までの回路ユニットに故障がある場合にこのテスト入
力端６がパ１”になシ、故障がない場合ＩＩ Ｏ＃にな
る。このテスト入力は前述の排他的論理和ダート４１〜
４３の出力と共に論理和ゲート５に入力され、この論理
和ケ９−ト５の出力端がとの回路ユニット１のテスト出
力端７となる。そしてこの回路ユニット１のテスト出力
は次段の回路ユニットのテスト入力となっている。
において、１が集積回路のなかの１つの回路ユニットで
ある。回路ユニット１は所望の機能をもつ主回路グロッ
ク２と、これと信号入力端を共通接続した同じ機能をも
つ補助回路グロック２を含む。またこれら回路ブロック
２．３の対応する出力を比較する比較回路として排他的
論理和ダート４１〜４３を有する。即ち回路ブロック２
，３が共に正常であるときは排他的論理和ダート４１〜
４３の出力は全て“０″でアシ、いずれかに故障がある
と排他的論理和ダート４１〜４３のいずれかの出力がＩ
Ｉ Ｉ ＩＩと力る。壕だこれら排他的論理和ダート４
１〜４３の出力は論理和ダート５に入力されている。６
はこの回路ユニット１に対するテスト入力端であシ、前
段までの回路ユニットに故障がある場合にこのテスト入
力端６がパ１”になシ、故障がない場合ＩＩ Ｏ＃にな
る。このテスト入力は前述の排他的論理和ダート４１〜
４３の出力と共に論理和ゲート５に入力され、この論理
和ケ９−ト５の出力端がとの回路ユニット１のテスト出
力端７となる。そしてこの回路ユニット１のテスト出力
は次段の回路ユニットのテスト入力となっている。
なお、ある回路ユニットのテスト出力端と他の回路ユニ
ットのテスト入力端との間の接続関係−１全ての回路ユ
ニットについて直列に故障の有無を示す信号が伝播する
ようになっていればよく、その順序は任意である。また
以上の説明から明らかなように、初段の回路ユニットに
はテスト出力端はあるがテスト入力端一、ない。
ットのテスト入力端との間の接続関係−１全ての回路ユ
ニットについて直列に故障の有無を示す信号が伝播する
ようになっていればよく、その順序は任意である。また
以上の説明から明らかなように、初段の回路ユニットに
はテスト出力端はあるがテスト入力端一、ない。
このような構成とすれば、いずれかの回路ユニットに故
障があるとそのテスト出力端７に′１＃が出力され、こ
れがそのまま次段以降の回路ユニットの論理和ゲート５
を通って伝播される。従って最終段のテスト出力端７を
外部テスト端子として集積回路の故障を容易に検出する
ととができる。特に回路ブロックがその信号入出力をみ
ることによっては良否判定が難しい場合、あるいは良否
判定に多くの時間を要する場合に有効となる。
障があるとそのテスト出力端７に′１＃が出力され、こ
れがそのまま次段以降の回路ユニットの論理和ゲート５
を通って伝播される。従って最終段のテスト出力端７を
外部テスト端子として集積回路の故障を容易に検出する
ととができる。特に回路ブロックがその信号入出力をみ
ることによっては良否判定が難しい場合、あるいは良否
判定に多くの時間を要する場合に有効となる。
′しかもこの実例節の構成では、回路ブロックを３個以
上並設して多数決をとる従来の方式に比べて冗長度が少
なく、かつ故障検出の確度も高いものと力る。
上並設して多数決をとる従来の方式に比べて冗長度が少
なく、かつ故障検出の確度も高いものと力る。
なお、実施例の構成では、主回路でロック２が正常であ
っても、補助回路ブロック３が故障していると全体とし
て集積回路が不良と判定されることになる。しかしこの
ような不良は、最近の集積回路製造技術の進歩によシネ
良品の絶対数が少なくなっている現状から、集積回路の
歩留りやコストに対してそれ程影響を与えない。
っても、補助回路ブロック３が故障していると全体とし
て集積回路が不良と判定されることになる。しかしこの
ような不良は、最近の集積回路製造技術の進歩によシネ
良品の絶対数が少なくなっている現状から、集積回路の
歩留りやコストに対してそれ程影響を与えない。
５−
以上述べたようにこの発明によれば、わずかな゛’％長
回路の付加によシ優れた自己テスト機能をもたせ、テス
トシーケンス作成上の困難やテストコスト増大等の問題
を解決した集積回路を実現することができる。
回路の付加によシ優れた自己テスト機能をもたせ、テス
トシーケンス作成上の困難やテストコスト増大等の問題
を解決した集積回路を実現することができる。
図はこの発明の一実施例における１つの回路ユニットの
構成を示す。 ！・・・回路ユニット、２・・・主回路グロック、３・
・・補助回路ブロック、４１〜４３・・・排他的論理和
ケ゛−ト（比較回路）、５・・・論理和ダート、６・・
・テスト入力端、７・・・テスト出力端。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦６−
構成を示す。 ！・・・回路ユニット、２・・・主回路グロック、３・
・・補助回路ブロック、４１〜４３・・・排他的論理和
ケ゛−ト（比較回路）、５・・・論理和ダート、６・・
・テスト入力端、７・・・テスト出力端。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦６−
Claims (2)
- （１）信号入力端を共通接続した同一機能を有する２個
の回路ブロックと、これら回路ブロックの対応する出力
を比較する比較回路と、この比較回路の出力とテスト入
力との論理和をとってテスト出力を得る論理和ダートと
から構成される複数個の回路ユニットを有し、かつある
回路ユニットのテスト出力を別の回路ユニットのテスト
入力として故障の有無を示す信号を前記複数個の回路ユ
ニットについて直列に伝播させるように構成したことを
特徴とする集積回路。 - （２）比較回路は排他的論理和デートである特許請求の
範囲第１項記載の集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12011081A JPS5821837A (ja) | 1981-07-31 | 1981-07-31 | 集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12011081A JPS5821837A (ja) | 1981-07-31 | 1981-07-31 | 集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5821837A true JPS5821837A (ja) | 1983-02-08 |
Family
ID=14778176
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12011081A Pending JPS5821837A (ja) | 1981-07-31 | 1981-07-31 | 集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5821837A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5130198A (en) * | 1989-02-03 | 1992-07-14 | Ppg Industries, Inc. | Polymeric-containing compositions with improved oxidative stability |
| US5247004A (en) * | 1989-02-03 | 1993-09-21 | Ppg Industries, Inc. | Polymeric-containing compositions with improved oxidative stability |
| US5484656A (en) * | 1988-07-05 | 1996-01-16 | Ppg Industries, Inc. | Chemical treatment for fibers and reinforcement for polymer matrices resulting in good solvent resistance |
-
1981
- 1981-07-31 JP JP12011081A patent/JPS5821837A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5484656A (en) * | 1988-07-05 | 1996-01-16 | Ppg Industries, Inc. | Chemical treatment for fibers and reinforcement for polymer matrices resulting in good solvent resistance |
| US5130198A (en) * | 1989-02-03 | 1992-07-14 | Ppg Industries, Inc. | Polymeric-containing compositions with improved oxidative stability |
| US5247004A (en) * | 1989-02-03 | 1993-09-21 | Ppg Industries, Inc. | Polymeric-containing compositions with improved oxidative stability |
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