JPS58219450A - 濃度測定装置 - Google Patents
濃度測定装置Info
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- JPS58219450A JPS58219450A JP10318282A JP10318282A JPS58219450A JP S58219450 A JPS58219450 A JP S58219450A JP 10318282 A JP10318282 A JP 10318282A JP 10318282 A JP10318282 A JP 10318282A JP S58219450 A JPS58219450 A JP S58219450A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims abstract 2
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 abstract description 2
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- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 5
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 4
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/222—Constructional or flow details for analysing fluids
-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/02—Analysing fluids
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N2291/02433—Gases in liquids, e.g. bubbles, foams
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は汚泥等の濃度を測定する濃度測定装置に関す
る。
る。
懸濁液の中で、例えば汚水処理工程で発生する汚泥等の
場合には、液中に微細気泡やガス泡を含んでいる。この
ような気泡等が含まれていると、超音波、光、放射線等
を使用して懸濁濃度を測定する測定方法の場合には、実
濃度以上または以下となって測定値に誤差を生ずる原因
となる。
場合には、液中に微細気泡やガス泡を含んでいる。この
ような気泡等が含まれていると、超音波、光、放射線等
を使用して懸濁濃度を測定する測定方法の場合には、実
濃度以上または以下となって測定値に誤差を生ずる原因
となる。
従って、従来この種懸濁液の濃度測定においては、汚泥
管路自体の一部を所定の間隔を置いて２つの弁で締切る
ようにし、その状態で一定値まで加圧消泡することによ
シ懸濁濃度を測定するようにしていた。つまシ、懸濁液
を加圧することによシ気体の飽和溶解度を高め液中に含
まれる気泡を溶解させ、気泡の影譬を除去していた。と
ころが前述の如く２つの弁で仕切る様な構造にすると流
路を閉塞させないためにバイパス管路を併設することが
必要となる。また、本管を丁字形に分岐して加圧容器を
設けることも行われていたが、この場合容器内への汚泥
のサンプリングが難しいなど何れの場合にも構造が複雑
でサンプリングが難しく、データの再現精度が出しにく
いという欠点があった。
管路自体の一部を所定の間隔を置いて２つの弁で締切る
ようにし、その状態で一定値まで加圧消泡することによ
シ懸濁濃度を測定するようにしていた。つまシ、懸濁液
を加圧することによシ気体の飽和溶解度を高め液中に含
まれる気泡を溶解させ、気泡の影譬を除去していた。と
ころが前述の如く２つの弁で仕切る様な構造にすると流
路を閉塞させないためにバイパス管路を併設することが
必要となる。また、本管を丁字形に分岐して加圧容器を
設けることも行われていたが、この場合容器内への汚泥
のサンプリングが難しいなど何れの場合にも構造が複雑
でサンプリングが難しく、データの再現精度が出しにく
いという欠点があった。
この発明は上記欠点を解決するためになされたものであ
って、汚泥主管の一部に開閉弁を介して宝閉測定室を設
け、しかも強制的にサンプリング汚泥を入れ変える加圧
膜を設けることによって、正確な濃度測定を行うと共に
管内圧が低くてもサンプリング汚泥の入れ変えを確実に
行なえる濃度測定装置を提供することを目的とする。
って、汚泥主管の一部に開閉弁を介して宝閉測定室を設
け、しかも強制的にサンプリング汚泥を入れ変える加圧
膜を設けることによって、正確な濃度測定を行うと共に
管内圧が低くてもサンプリング汚泥の入れ変えを確実に
行なえる濃度測定装置を提供することを目的とする。
以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。
する。
汚泥を流通させる汚泥主管１には、隆起部２に対向して
一部が分岐して密閉測定室３が設けられている。
一部が分岐して密閉測定室３が設けられている。
上記密閉測定室６は、開口部４位置に設けられた弾性体
からなる弾力スペーサ５と、汚泥主管１にボルト締め等
の方法によｐ着脱自在に固設された半球状の外箱６とを
有し、この外箱６と上記弾力スペーサ５との間には、汚
泥濃度検出子７が設けられている。
からなる弾力スペーサ５と、汚泥主管１にボルト締め等
の方法によｐ着脱自在に固設された半球状の外箱６とを
有し、この外箱６と上記弾力スペーサ５との間には、汚
泥濃度検出子７が設けられている。
この汚泥濃度検出子７は、互いに対向する一対超音波の
送信器およびその受信器とから成シ、その測定受領信号
は記録装置等にデータ伝送され処理される。
送信器およびその受信器とから成シ、その測定受領信号
は記録装置等にデータ伝送され処理される。
一方、上記開口部６に接した弾力スペーサ５の内側には
、その開口面に合わせ軸８によって回動自在に軸支され
た開閉弁９が設けられている。開閉弁９は実線で示すよ
うに弾力スペーサ５内に内接したシ、仮想線の如く垂直
位置に回動でき、この動作によって汚泥主管１を流れる
汚泥をサンプリングし、測定室６を密閉室とする。
、その開口面に合わせ軸８によって回動自在に軸支され
た開閉弁９が設けられている。開閉弁９は実線で示すよ
うに弾力スペーサ５内に内接したシ、仮想線の如く垂直
位置に回動でき、この動作によって汚泥主管１を流れる
汚泥をサンプリングし、測定室６を密閉室とする。
そして、上記密閉測定室６の内部には、上記汚泥濃度検
出子７と共締された例えばダイアフラム膜、ゴム隔膜等
の可動性の加圧膜１０が設けられ、この加圧膜１０と密
閉測定室３との間には加圧空気室１１が仕切られている
。
出子７と共締された例えばダイアフラム膜、ゴム隔膜等
の可動性の加圧膜１０が設けられ、この加圧膜１０と密
閉測定室３との間には加圧空気室１１が仕切られている
。
この加圧空気室１１には外箱６の一部に孔設した吸排気
口１２を介して管１４が接続され、これによって加圧空
気が供給排出される。
口１２を介して管１４が接続され、これによって加圧空
気が供給排出される。
加圧空気はコンプレッサー１５から管１４に供給される
が、との管１４には三方弁１７が設けられ、三方弁１７
の一端はアスピレータ１６の減圧１ 側に接続されている。また、管１４の三方弁１７よｐコ
ンプレッサーに近い側には弁１８を介し、アスピレータ
１６に加圧空気を供給できるようになっている。
が、との管１４には三方弁１７が設けられ、三方弁１７
の一端はアスピレータ１６の減圧１ 側に接続されている。また、管１４の三方弁１７よｐコ
ンプレッサーに近い側には弁１８を介し、アスピレータ
１６に加圧空気を供給できるようになっている。
そして、制御手段１３はタイマーを内蔵し、弁１７．１
８．８．濃度検出子７等を制御する。
８．８．濃度検出子７等を制御する。
次に、この発明の動作について説明する。
密閉測定室６内の汚泥の強制的入れ変えは、汚泥主管１
の管内圧が約０．３助・−を境として異なるので、以下
側けて説明する。
の管内圧が約０．３助・−を境として異なるので、以下
側けて説明する。
（１）管内圧が約ｏ、ａＫｆ−−以上の場合。
図において、仮想線で示すように開閉弁９を開放状態下
で、三方弁１７を操作して加圧空気室１１に加圧空気（
２〜５〜・−程度）を２〜３秒程度導入する。すると加
圧膜１０は実線で示す停止位置から仮想線で示す加圧位
置まで内方へ押し出され、密閉測定室６内の汚泥は汚泥
主管１側へ排出される。
で、三方弁１７を操作して加圧空気室１１に加圧空気（
２〜５〜・−程度）を２〜３秒程度導入する。すると加
圧膜１０は実線で示す停止位置から仮想線で示す加圧位
置まで内方へ押し出され、密閉測定室６内の汚泥は汚泥
主管１側へ排出される。
次に、弁１８を開放して加圧空気を大気開放すると、管
内圧によシ加圧膜１０は自動的に元の停止位置まで戻シ
、密閉測定室３内に７レツシユな汚泥が導入される。こ
の一連の操作を１〜数回繰り返し、密閉測定室６内の汚
泥を完全に入れ変える。
内圧によシ加圧膜１０は自動的に元の停止位置まで戻シ
、密閉測定室３内に７レツシユな汚泥が導入される。こ
の一連の操作を１〜数回繰り返し、密閉測定室６内の汚
泥を完全に入れ変える。
なお、コンプレッサー１５からの加圧空気を大気中に開
放するのは非効率的なのでコンプレッサー１５からの加
圧空気を弁で速断し、別に設けた弁により加圧室１１内
の加圧空気を大気に開放するとよい。
放するのは非効率的なのでコンプレッサー１５からの加
圧空気を弁で速断し、別に設けた弁により加圧室１１内
の加圧空気を大気に開放するとよい。
このように測定すべき汚泥の入れ変えが完了した後、開
閉弁９を実線で示すように閉位置にし、加圧空気室１１
内に加圧空気を導入すると、測定室３は密閉されている
ので、加圧膜１０の圧縮変形によシ所定の圧力値に高め
られ、汚泥中の気泡は溶解消滅する。
閉弁９を実線で示すように閉位置にし、加圧空気室１１
内に加圧空気を導入すると、測定室３は密閉されている
ので、加圧膜１０の圧縮変形によシ所定の圧力値に高め
られ、汚泥中の気泡は溶解消滅する。
このような加圧下で濃度測定をすると気泡等の含有によ
る測定誤差は解消される。測定後、加圧室１１内の加圧
空気を大気開放し、開閉弁９を開の状態に復帰させて測
定行程を終了する。これらの一連の動作は制御手段１６
によって自動的に制御する。
る測定誤差は解消される。測定後、加圧室１１内の加圧
空気を大気開放し、開閉弁９を開の状態に復帰させて測
定行程を終了する。これらの一連の動作は制御手段１６
によって自動的に制御する。
（２）管内圧が約０．３Ｋｆ−一未満の場合は、以下の
操作を要する点が異なる。
操作を要する点が異なる。
上述と同様に測定室６内への汚泥の入れ変えの段階で、
開閉弁９の開放状態で加圧空気を導入し、加圧膜１０に
よって汚泥を汚泥主管１へ排出する。
開閉弁９の開放状態で加圧空気を導入し、加圧膜１０に
よって汚泥を汚泥主管１へ排出する。
しかし、自然流下等の管内圧が０．３Ｋｆ−一以下では
、管内圧だけでは加圧膜１０は上記加圧位置から上記停
止位置に反転しない。そこで、上記制御手段の三方弁１
７を切換えて、コンプレッサー１５からの加圧空気を遮
断し、加圧室１１からの管１４をアスピレータ１６の減
圧側に連通ずる。そして第２のパルプ１８を開放しアス
ピレータ１６のノズル側にコンプレッサー１５からの加
圧空気を流通させると、アスピレータ１６の減圧作用に
よって、加圧空気室１１内は負圧になるので、加圧膜１
０は元の停止位置まで反転し、密閉測定室６内にフレッ
シュな汚泥が導入される。以下同様の操作を行い測定工
程を終了する。
、管内圧だけでは加圧膜１０は上記加圧位置から上記停
止位置に反転しない。そこで、上記制御手段の三方弁１
７を切換えて、コンプレッサー１５からの加圧空気を遮
断し、加圧室１１からの管１４をアスピレータ１６の減
圧側に連通ずる。そして第２のパルプ１８を開放しアス
ピレータ１６のノズル側にコンプレッサー１５からの加
圧空気を流通させると、アスピレータ１６の減圧作用に
よって、加圧空気室１１内は負圧になるので、加圧膜１
０は元の停止位置まで反転し、密閉測定室６内にフレッ
シュな汚泥が導入される。以下同様の操作を行い測定工
程を終了する。
同、上記実施例では、加圧手段として空気圧を用いたが
、何らこれに限定されることなく、それ以外の油圧等の
手段を用いても差支えない。
、何らこれに限定されることなく、それ以外の油圧等の
手段を用いても差支えない。
以上のようにこの発明の濃度測定装置によれば、懸濁液
中の気泡等を溶解させ、しかも管内圧が低くても加圧膜
によってサンプリング汚泥を入れ変えて、正確な濃度測
定が行なえる効果がある。
中の気泡等を溶解させ、しかも管内圧が低くても加圧膜
によってサンプリング汚泥を入れ変えて、正確な濃度測
定が行なえる効果がある。
図はこの発明の一実施例の縦断面図を示す。
１・・・汚泥主管、 ６・・・密閉測定室、 ７
・・・汚泥濃度検出子、 ９・・・開閉弁、 １
ｏ・・・加圧膜、 １１・・・加圧空気室、
１６・・・制御手段。
・・・汚泥濃度検出子、 ９・・・開閉弁、 １
ｏ・・・加圧膜、 １１・・・加圧空気室、
１６・・・制御手段。
Claims (1)
- 汚泥主管よ多分岐した密閉測定室と、この密閉測定室と
上記汚泥主管との間に設けられた開閉弁と、上記密閉測
定室に設けられた汚泥濃度検出子と、上記密閉測定室の
一部に設けられた可動性の加圧膜と、この加圧膜で上記
密閉測定室から仕切形成された加圧空気室と、上記開放
弁を開放状態でこの加圧空気室内に加圧空気を吸排気し
、上記密閉測定室内の汚泥を入れ替える制御手段とを備
えた濃度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10318282A JPS58219450A (ja) | 1982-06-15 | 1982-06-15 | 濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10318282A JPS58219450A (ja) | 1982-06-15 | 1982-06-15 | 濃度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58219450A true JPS58219450A (ja) | 1983-12-20 |
| JPH0418266B2 JPH0418266B2 (ja) | 1992-03-27 |
Family
ID=14347364
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10318282A Granted JPS58219450A (ja) | 1982-06-15 | 1982-06-15 | 濃度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58219450A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61190862U (ja) * | 1985-05-21 | 1986-11-27 | ||
| JPS62111656U (ja) * | 1985-12-28 | 1987-07-16 | ||
| JP2009300461A (ja) * | 2009-09-30 | 2009-12-24 | Nishihara Techno Service Co Ltd | 超音波式汚泥濃度測定装置 |
| WO2022014499A1 (ja) * | 2020-07-16 | 2022-01-20 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 物理量計測装置 |
| JP2022018585A (ja) * | 2020-07-16 | 2022-01-27 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 物理量計測装置 |
| JP2022018584A (ja) * | 2020-07-16 | 2022-01-27 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 物理量計測装置 |
-
1982
- 1982-06-15 JP JP10318282A patent/JPS58219450A/ja active Granted
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61190862U (ja) * | 1985-05-21 | 1986-11-27 | ||
| JPS62111656U (ja) * | 1985-12-28 | 1987-07-16 | ||
| JP2009300461A (ja) * | 2009-09-30 | 2009-12-24 | Nishihara Techno Service Co Ltd | 超音波式汚泥濃度測定装置 |
| WO2022014499A1 (ja) * | 2020-07-16 | 2022-01-20 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 物理量計測装置 |
| JP2022018585A (ja) * | 2020-07-16 | 2022-01-27 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 物理量計測装置 |
| JP2022018584A (ja) * | 2020-07-16 | 2022-01-27 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 物理量計測装置 |
| CN115803617A (zh) * | 2020-07-16 | 2023-03-14 | 松下知识产权经营株式会社 | 物理量测量装置 |
| EP4184159A4 (en) * | 2020-07-16 | 2023-12-27 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Physical quantity measurement device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0418266B2 (ja) | 1992-03-27 |
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