JPS58219451A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS58219451A JPS58219451A JP57102151A JP10215182A JPS58219451A JP S58219451 A JPS58219451 A JP S58219451A JP 57102151 A JP57102151 A JP 57102151A JP 10215182 A JP10215182 A JP 10215182A JP S58219451 A JPS58219451 A JP S58219451A
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は超音波探傷システムに係り、特に、容器、配管
等の工業材料の欠陥等を非破壊的に検査する際に使用さ
れる超音波探傷システムに関する。
等の工業材料の欠陥等を非破壊的に検査する際に使用さ
れる超音波探傷システムに関する。
従来の超音波探傷システムは、１探触子または複数の探
触子を用い、１点または複数点をサンプリングして超音
波信号を入力し、オンラインにより超音波信号を処理す
るものである。
触子を用い、１点または複数点をサンプリングして超音
波信号を入力し、オンラインにより超音波信号を処理す
るものである。
このため、探触子１個を用いる場合は探触子走査回数が
多くなり、一方、複数の探触子を用いる場合は結果的に
探触子の接触面積および走査範囲が大きくなる、という
問題点がある。また、１点ピークによシ探偏する場合は
、形状エコーおよびノイズ等が発生すると欠陥を検出で
きない虞れが生じる。これに対し、複数点をサンプリン
グする場合はサンプル数が多く必要となシ、コンピュー
タおよびメモリが大型化する欠点がある。更に、オンラ
インで処理する場合は、複数システムを導入する場合に
拡張性がなくなる、という欠点がある。
多くなり、一方、複数の探触子を用いる場合は結果的に
探触子の接触面積および走査範囲が大きくなる、という
問題点がある。また、１点ピークによシ探偏する場合は
、形状エコーおよびノイズ等が発生すると欠陥を検出で
きない虞れが生じる。これに対し、複数点をサンプリン
グする場合はサンプル数が多く必要となシ、コンピュー
タおよびメモリが大型化する欠点がある。更に、オンラ
インで処理する場合は、複数システムを導入する場合に
拡張性がなくなる、という欠点がある。
本発明は、上記問題点を解消すべく成されたもので、探
触子走査回数が少なく、形状エコーおよびノイズ等の影
響を受は難く、かつ、拡張性に富む超音波探傷システム
を提供することを目的とする。
触子走査回数が少なく、形状エコーおよびノイズ等の影
響を受は難く、かつ、拡張性に富む超音波探傷システム
を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために本発明の構成は、被検体への
屈折角が相違する複数の超音波ビームを送信しかつ該被
検体からの反射波を受信すると共に、送受信した超音波
信号を出力するマルチビーム超音波探触子と、前記マル
チビーム超音波探触子を前記被検体表面上で移動させる
駆動装置と、前記マルチビーム超音波探触子を所定の位
置に移動させかつ該位置に対応する位置信号を出力する
制御装置と、前記複数の超音波信号を送信するための励
振信号を出力しかつ前記超音波信号を増幅する超音波探
傷器と、前記位置信号および前記超音波信号を入力して
記憶装置に記憶させるデータ収録用コンピュータと、前
記位置信号および前記超音波信号を用いて前記マルチビ
ーム超音波探触子の移動軌跡を表示するときに波高値に
応じて輝度を変化させて表示する軌跡表示装置と、前記
記憶装置に記憶されたデータをオフラインによ多処理し
かつ少なくとも探傷結果を図表として出力するデータ処
理部とを含んで構成したものである。
屈折角が相違する複数の超音波ビームを送信しかつ該被
検体からの反射波を受信すると共に、送受信した超音波
信号を出力するマルチビーム超音波探触子と、前記マル
チビーム超音波探触子を前記被検体表面上で移動させる
駆動装置と、前記マルチビーム超音波探触子を所定の位
置に移動させかつ該位置に対応する位置信号を出力する
制御装置と、前記複数の超音波信号を送信するための励
振信号を出力しかつ前記超音波信号を増幅する超音波探
傷器と、前記位置信号および前記超音波信号を入力して
記憶装置に記憶させるデータ収録用コンピュータと、前
記位置信号および前記超音波信号を用いて前記マルチビ
ーム超音波探触子の移動軌跡を表示するときに波高値に
応じて輝度を変化させて表示する軌跡表示装置と、前記
記憶装置に記憶されたデータをオフラインによ多処理し
かつ少なくとも探傷結果を図表として出力するデータ処
理部とを含んで構成したものである。
以下図面を参照して本発明の一実施例を説明第１図に示
すように、本実施例は、探傷現場において超音波探触子
を走査して探傷データを採取する現場探傷機器部１、現
場探傷機器部１の超音波探触子の走査を制御し、探触子
からの超音波信号および探触子位置信号を用いて収録、
軌跡表示。
すように、本実施例は、探傷現場において超音波探触子
を走査して探傷データを採取する現場探傷機器部１、現
場探傷機器部１の超音波探触子の走査を制御し、探触子
からの超音波信号および探触子位置信号を用いて収録、
軌跡表示。
画像表示を行うデータ収録部２、データ収録部２とオフ
ラインによジ接続されて探傷データの解析。
ラインによジ接続されて探傷データの解析。
処理９作図１．作表等を行うデータ処理部３から構成さ
れている。
れている。
現場探傷機器部１は、マルチビーム超音波探触子５を備
えている。このマルチビーム超音波探触子５は、予め設
定された周期で高圧パルスを発生するプリアンプパルサ
４に接続されると共に、制御装置１０からの位置信号に
より駆動制御される探触子駆動装置７に位置決めされて
いる。この探触子駆動装置７は、手動または自動によレ
マルチビーム超音波探触子５を被検体上に走査すること
が可能な装置で、被検体６の形状等が変化するごとに種
々の駆動装置が用いられる。従って、マルチビーム超音
波探触子５は、探触子駆動装置７によシ被検体６上をａ
−ｂ−ｃ−ｄ−ｅ −ｆ−ｇ −ｈ・・・と走査される
と共に、被検体６に超音波パルスを入射し、被検体内の
欠陥等からの反射波を検出し、プリアンプパルサ４に送
出する。なお、９はＡスコープモニタ、１６は表示装置
である。
えている。このマルチビーム超音波探触子５は、予め設
定された周期で高圧パルスを発生するプリアンプパルサ
４に接続されると共に、制御装置１０からの位置信号に
より駆動制御される探触子駆動装置７に位置決めされて
いる。この探触子駆動装置７は、手動または自動によレ
マルチビーム超音波探触子５を被検体上に走査すること
が可能な装置で、被検体６の形状等が変化するごとに種
々の駆動装置が用いられる。従って、マルチビーム超音
波探触子５は、探触子駆動装置７によシ被検体６上をａ
−ｂ−ｃ−ｄ−ｅ −ｆ−ｇ −ｈ・・・と走査される
と共に、被検体６に超音波パルスを入射し、被検体内の
欠陥等からの反射波を検出し、プリアンプパルサ４に送
出する。なお、９はＡスコープモニタ、１６は表示装置
である。
データ収録部２は、超音波探傷器８．制御装置１０、画
像表示装置１１．Ｘ−Ｙレコーダ１２゜データ収録用コ
ンピュータ１３．フ四ツピディスク１４．探触子軌跡表
示装置１５およびデータタイプライタ１７を備えている
。超音波探傷器８は、プリアンプパルサ４を通過したマ
ルチビーム超音波探触子５からの超音波信号を入力する
と共に、この超音波信号を増幅した後、アナログ−ディ
ジタル変換してデータ収録用コンピュータ１３１’１力
する。また、この超音波探傷器８は、同時に超音波信号
をアナログ信号としても出力し、このアナログ信号は現
場探傷機器１のＡスコープモニタ９に入力されて波形と
して表示される。従って、探傷現場において波形のモニ
タが可能となる。制御装置１０は、探触子駆動装置７を
遠隔で制御すると共に、マルチビーム超音波探触子５の
位置信号および位置のディジタル信号を出力する。画像
表示装置１１は、超音波探傷器８から出力される超音波
信号および制御装置１０から出力される探触子の位置信
号を用いて、被検体の断面像および平面像等を実時間で
表示する。Ｘ−Ｙレコーダ１２は、画像表示装置１１と
同様に、超音波探傷器８から出力される超音波信号およ
び制御装置１０から構成される装置信号を入力して、位
置信号をＹ軸およびＹ軸に加えると共に、超音波信号を
２軸に加えて表示する。Ｘ−Ｙレコーダ１２による表示
は、本質的には底面エコーの表示であるが、この表示を
用いて底面形状またはマルチビーム超音波探触子の音響
的な結合状態のチェックに役立てることが可能となる。
像表示装置１１．Ｘ−Ｙレコーダ１２゜データ収録用コ
ンピュータ１３．フ四ツピディスク１４．探触子軌跡表
示装置１５およびデータタイプライタ１７を備えている
。超音波探傷器８は、プリアンプパルサ４を通過したマ
ルチビーム超音波探触子５からの超音波信号を入力する
と共に、この超音波信号を増幅した後、アナログ−ディ
ジタル変換してデータ収録用コンピュータ１３１’１力
する。また、この超音波探傷器８は、同時に超音波信号
をアナログ信号としても出力し、このアナログ信号は現
場探傷機器１のＡスコープモニタ９に入力されて波形と
して表示される。従って、探傷現場において波形のモニ
タが可能となる。制御装置１０は、探触子駆動装置７を
遠隔で制御すると共に、マルチビーム超音波探触子５の
位置信号および位置のディジタル信号を出力する。画像
表示装置１１は、超音波探傷器８から出力される超音波
信号および制御装置１０から出力される探触子の位置信
号を用いて、被検体の断面像および平面像等を実時間で
表示する。Ｘ−Ｙレコーダ１２は、画像表示装置１１と
同様に、超音波探傷器８から出力される超音波信号およ
び制御装置１０から構成される装置信号を入力して、位
置信号をＹ軸およびＹ軸に加えると共に、超音波信号を
２軸に加えて表示する。Ｘ−Ｙレコーダ１２による表示
は、本質的には底面エコーの表示であるが、この表示を
用いて底面形状またはマルチビーム超音波探触子の音響
的な結合状態のチェックに役立てることが可能となる。
また、データ収録用コンピュータ１３は、超音波信号と
探触子の位置信号とを入力し、フロッピディスク１４等
の記憶装置に波高値、路程、探触子の位置信号等を記憶
させる。探触子軌跡表示装置１５は、超音波探触子５の
軌跡を表示し、エコーの波高値が所定のレベル以上にな
った場合には輝度を変化させて表示する。超音波探触子
の軌跡は、探傷現場においても表示装置１６を用いて、
必要に応じて観測することができる。なお、データ収録
用コンピュータ１３の指令は、データタイプライタ１７
によシ行なわれる。
探触子の位置信号とを入力し、フロッピディスク１４等
の記憶装置に波高値、路程、探触子の位置信号等を記憶
させる。探触子軌跡表示装置１５は、超音波探触子５の
軌跡を表示し、エコーの波高値が所定のレベル以上にな
った場合には輝度を変化させて表示する。超音波探触子
の軌跡は、探傷現場においても表示装置１６を用いて、
必要に応じて観測することができる。なお、データ収録
用コンピュータ１３の指令は、データタイプライタ１７
によシ行なわれる。
データ処理部３は、データ処理用コンピュータ１８、磁
気ディスク１９９紙テープリーダ２０゜データタイプラ
イタ２１．プリンタプロッタ２２゜フロッピディスク２
３から構成されている。そして、探傷データは、データ
収録部２のフロッピディスク１４からオフライン処理に
よ）記憶媒体を介してフロッピディスク２３に入力され
、解析。
気ディスク１９９紙テープリーダ２０゜データタイプラ
イタ２１．プリンタプロッタ２２゜フロッピディスク２
３から構成されている。そして、探傷データは、データ
収録部２のフロッピディスク１４からオフライン処理に
よ）記憶媒体を介してフロッピディスク２３に入力され
、解析。
処理された後プリンタプロッタ２２に図表として出力さ
れる。
れる。
上記実施例の超音波探傷システムのソフトウェアの構成
を第２図に示す。図において、Ｉ’ｔＭ８／ＰＭＳ５０
は、データ収録システムの各プログラム実行および入出
力の制御を行う管理プログラムである。コンソールコン
トロール５１は、条件設定５２．探傷コントロール５３
．ＲＯＭチェック５４、ＲＭ８デパックルーチン５５等
を起動するものであシ、データタイプライタ１７を用い
て行う。条件設定５２は、探傷開始前に各種データの登
録を行うもので、日付、溶接番号、被検体配管の直径、
肉厚、超音波探触子走査モード、走査範囲、−走査ピッ
チ、走査開始点、使用超音波探触子等の条件を設定する
。また、探傷コントロール５３は、探傷の開始、中断、
再開、終了、探傷データ取込み５６．走査軌跡表示５７
．探傷データ収録５８等を制御する。
を第２図に示す。図において、Ｉ’ｔＭ８／ＰＭＳ５０
は、データ収録システムの各プログラム実行および入出
力の制御を行う管理プログラムである。コンソールコン
トロール５１は、条件設定５２．探傷コントロール５３
．ＲＯＭチェック５４、ＲＭ８デパックルーチン５５等
を起動するものであシ、データタイプライタ１７を用い
て行う。条件設定５２は、探傷開始前に各種データの登
録を行うもので、日付、溶接番号、被検体配管の直径、
肉厚、超音波探触子走査モード、走査範囲、−走査ピッ
チ、走査開始点、使用超音波探触子等の条件を設定する
。また、探傷コントロール５３は、探傷の開始、中断、
再開、終了、探傷データ取込み５６．走査軌跡表示５７
．探傷データ収録５８等を制御する。
次に、上記実施例のソフトウェアのフローチャートを第
３図に示す。まず、スタート指令により、本実施例の探
傷システムを起動し、ステップ６０において、超音波探
傷に必要な条件の設定を行う。
３図に示す。まず、スタート指令により、本実施例の探
傷システムを起動し、ステップ６０において、超音波探
傷に必要な条件の設定を行う。
条件設定完了後、ステップ６１において探傷データの取
込みを行う。探傷データには、探触子位置。
込みを行う。探傷データには、探触子位置。
波高値、路程等があるが、探触子位置と波高値との信号
を用いて、ステップ６２において軌跡表示を行う。この
軌跡表示は、超音波探触子の動きに同期して行なわれ、
軌跡が表示された位置の探傷データは、ステップ６３に
おいて収録され、フロッピディスクに格納される。そし
て、探傷範囲が全て走査され、探傷データの格納が完了
した後探傷を終了する。
を用いて、ステップ６２において軌跡表示を行う。この
軌跡表示は、超音波探触子の動きに同期して行なわれ、
軌跡が表示された位置の探傷データは、ステップ６３に
おいて収録され、フロッピディスクに格納される。そし
て、探傷範囲が全て走査され、探傷データの格納が完了
した後探傷を終了する。
次に、マルチビーム超音波探触子５について説明する。
このマルチビーム超音波探触子は、溶接部分等の被検体
に、θ°、４５°、６０°の屈折角になる超音波ビーム
を投入するもので、−回の走査で３角度の探傷を可能と
するものである。第４図に示すように、超音波を伝播す
るための断面多角形のシ二一２４には、超音波を発生さ
せるための３つの振動素子２５，２６．２７が固定され
ている。これらの振動素子２５〜２７は、送波の際の振
動が受波時に影響を与えないように、送波子と受波子と
に２分割された素子が用いられる。
に、θ°、４５°、６０°の屈折角になる超音波ビーム
を投入するもので、−回の走査で３角度の探傷を可能と
するものである。第４図に示すように、超音波を伝播す
るための断面多角形のシ二一２４には、超音波を発生さ
せるための３つの振動素子２５，２６．２７が固定され
ている。これらの振動素子２５〜２７は、送波の際の振
動が受波時に影響を与えないように、送波子と受波子と
に２分割された素子が用いられる。
ここで、振動素子２５からは屈折角θ°の超音波ビーム
２８が送波され、振動素子２６からは屈折角４５°の超
音波ビームが送波され、そして振動素子２７からは屈折
角６０°の超音波ビーム３０が送波される。これらの振
動素子には、プリアンプバルサ４から時系列に高電圧の
電気パルスが加えられ、超音波を順次送出し、被検出体
からのエコーを受信する。
２８が送波され、振動素子２６からは屈折角４５°の超
音波ビームが送波され、そして振動素子２７からは屈折
角６０°の超音波ビーム３０が送波される。これらの振
動素子には、プリアンプバルサ４から時系列に高電圧の
電気パルスが加えられ、超音波を順次送出し、被検出体
からのエコーを受信する。
以下、本実施例の動作例について説明する。まず、探傷
データ取込み指令によシ、制御装置１０から位置データ
および超音波探傷器８から超音波信号を取込む。この場
合の超音波信号の一例を第５図に示す。超音波ビームは
、マルチビーム超音波探触子から屈折角０’、４５°、
６０°＃０’１４５°、６０°、０°・・・の順に送出
され、図の各角度において、ＪＰは送波信号、Ｐｔ ｌ
ｐｓ ｓＰａ 、Ｐ４は被検体の反射源からのエコー
、ＴＩ。
データ取込み指令によシ、制御装置１０から位置データ
および超音波探傷器８から超音波信号を取込む。この場
合の超音波信号の一例を第５図に示す。超音波ビームは
、マルチビーム超音波探触子から屈折角０’、４５°、
６０°＃０’１４５°、６０°、０°・・・の順に送出
され、図の各角度において、ＪＰは送波信号、Ｐｔ ｌ
ｐｓ ｓＰａ 、Ｐ４は被検体の反射源からのエコー
、ＴＩ。
Ｔｘ 、Ｔｓ 、Ｔ４は各エコーの路程に相当する時間
を表わす。ここで、可屈折角においてエコーを４点取込
むのは、４点を越えると処理時間が長くな９すぎ、３点
以下であると欠陥を充分検出できないからである。
を表わす。ここで、可屈折角においてエコーを４点取込
むのは、４点を越えると処理時間が長くな９すぎ、３点
以下であると欠陥を充分検出できないからである。
これらの探傷データは、コンピュータ１３によシフロツ
ピディスク１４に収録される。フロッピディスクへの格
納形式の一列を第６図に示す。図において、Ｘ、Ｙは超
音波探傷用の位置座標、ＰＫ＊ Ｐａ ＋ Ｐａ ＋
Ｐ４はエコーの波高値、ＴＩ。
ピディスク１４に収録される。フロッピディスクへの格
納形式の一列を第６図に示す。図において、Ｘ、Ｙは超
音波探傷用の位置座標、ＰＫ＊ Ｐａ ＋ Ｐａ ＋
Ｐ４はエコーの波高値、ＴＩ。
ＴＩ ｔ Ｔａ 、Ｔ４は各エコーの路程に相当する時
間、０°、４５°、６０°は各々被検体に投入する超音
波ビームの屈折角を表わす。そして、これらの探島デー
タは、各々屈折角Ｏ０に対するＸ。
間、０°、４５°、６０°は各々被検体に投入する超音
波ビームの屈折角を表わす。そして、これらの探島デー
タは、各々屈折角Ｏ０に対するＸ。
Ｙ ＋ Ｐ １ ｒ Ｔ ｓ Ｔ Ｐ ｚ ＋ Ｔ ａ
・・・Ｐ４ｔＴ４、屈折角４５°に対するＸ、Ｙ、Ｐ、
、’ｒ、・・・Ｔ４、屈折角６０°に対するＸＨＹ＊Ｐ
ｌ＋Ｔｔ・・・Ｔ４の順に収録される。
・・・Ｐ４ｔＴ４、屈折角４５°に対するＸ、Ｙ、Ｐ、
、’ｒ、・・・Ｔ４、屈折角６０°に対するＸＨＹ＊Ｐ
ｌ＋Ｔｔ・・・Ｔ４の順に収録される。
次に、軌跡表示と探傷データとの関係を第７図（１１）
に示す。図において、横軸は超音波探触子の走査距離を
表わし、ｔは走査方向の単位長さを表わす。
表わし、ｔは走査方向の単位長さを表わす。
図に示すように、各単位長さの中に屈折角０°。
４５°、６０００３点の探傷データが取込まれた場合に
軌跡を表示する。第７図では、取込み順序が０’ 、４
５’ 、６０°０ＩＩＩＩｔ Ｋ： ｉｉ［Ｌ ７’ｃ
カ、コノ順序は本実施例に関係なく、例えば４５°、６
０’。
軌跡を表示する。第７図では、取込み順序が０’ 、４
５’ 、６０°０ＩＩＩＩｔ Ｋ： ｉｉ［Ｌ ７’ｃ
カ、コノ順序は本実施例に関係なく、例えば４５°、６
０’。
０°の順に取込まれた場合にも軌跡を表示する。
軌跡表示用ＣＲＴ画面上の表示は、条件設定により定ま
り、例えば第８図のようになる。図において、３１はＣ
ＲＴ、３２は表示範囲、３３はＸ軸方向の探触子位置表
示マーク、３４はＹ軸方向探触子位置表示マークである
。今、探触子が走査されると、第９図に示すように、距
離振幅補正（ＤＡＣ）１００％を越えると、符号３５で
示すように輝度を変えて表示する。ここで、探傷子表示
マークを上記の図の位置に戻し、ケインを変えて再探傷
することにより第１０図に示すように一様な輝度とする
ことができ、探傷を終了する。
り、例えば第８図のようになる。図において、３１はＣ
ＲＴ、３２は表示範囲、３３はＸ軸方向の探触子位置表
示マーク、３４はＹ軸方向探触子位置表示マークである
。今、探触子が走査されると、第９図に示すように、距
離振幅補正（ＤＡＣ）１００％を越えると、符号３５で
示すように輝度を変えて表示する。ここで、探傷子表示
マークを上記の図の位置に戻し、ケインを変えて再探傷
することにより第１０図に示すように一様な輝度とする
ことができ、探傷を終了する。
本発明は、オフライン処理のため、データ収録（１２）
の段階ではディジタル処理による探傷結果の表示は行な
わない。このため、探傷結果の実時間表示として、超音
波探傷用の画像表示装置１１を備えている。この画像表
示装置１１は、マルチビーム超音波探触子用の表示装置
であり、超音波信号。
わない。このため、探傷結果の実時間表示として、超音
波探傷用の画像表示装置１１を備えている。この画像表
示装置１１は、マルチビーム超音波探触子用の表示装置
であり、超音波信号。
探触子位置信号を入力し、θ°、４５°、６０゜の超音
波ビームに同期して、第１１図に示す鋸歯状波３６．３
７を発生し、第１２図において０°。
波ビームに同期して、第１１図に示す鋸歯状波３６．３
７を発生し、第１２図において０°。
４５°、６０°で示した走査線を出力し、ＣＲＴ３８上
に表面３９．底面４０．欠陥４１等の表示を行なう。こ
の表示は、最終的に第１３図に示すように被検体６の輪
郭３９．４０と欠陥からのエコー４１を重畳して表示で
きる。なお、第１３図の表示は、被検体の断面に相当す
るため断面表示とよばれているが、この画像表示装置は
平面表示。
に表面３９．底面４０．欠陥４１等の表示を行なう。こ
の表示は、最終的に第１３図に示すように被検体６の輪
郭３９．４０と欠陥からのエコー４１を重畳して表示で
きる。なお、第１３図の表示は、被検体の断面に相当す
るため断面表示とよばれているが、この画像表示装置は
平面表示。
側面表示を行うこともできる。
一般に、自動探傷においては、自動探傷の動作状態を確
認する一手段として、底面エコーの記録をチャート式記
録計を用いて行っている。本発明では、底面エコーの記
録にＸ−Ｙレコーダ１２を（１３） を用い、制御装置１０からの位置信号をＸ−Ｙレコーダ
のＸ、Ｙ軸に入力し、超音波信号をペンの上げ、下げ用
軸に入力し、記録と記録せずの２段階表示とし、記録レ
ベルをＤＡＣ％で設定できるようにした。例えば、底面
エコー記録レベルをＤＡＣ２０％付近に設定しておくこ
とにより、底面エコーが記録されている間は、底面エコ
ー強度が少なくとも記録レベルより高い値であることを
示す。第１４図に、Ｘ−Ｙレコーダの表示例を示す。図
において符号４２の部分は、底面エコーが受信されなか
ったことを示す。
認する一手段として、底面エコーの記録をチャート式記
録計を用いて行っている。本発明では、底面エコーの記
録にＸ−Ｙレコーダ１２を（１３） を用い、制御装置１０からの位置信号をＸ−Ｙレコーダ
のＸ、Ｙ軸に入力し、超音波信号をペンの上げ、下げ用
軸に入力し、記録と記録せずの２段階表示とし、記録レ
ベルをＤＡＣ％で設定できるようにした。例えば、底面
エコー記録レベルをＤＡＣ２０％付近に設定しておくこ
とにより、底面エコーが記録されている間は、底面エコ
ー強度が少なくとも記録レベルより高い値であることを
示す。第１４図に、Ｘ−Ｙレコーダの表示例を示す。図
において符号４２の部分は、底面エコーが受信されなか
ったことを示す。
以上説明したように本発明によれば、マルチビーム超音
波探触子を採用しているため、１回の走査で３回の探傷
が行なえ、走査回数を低減することができる。また、ビ
ークエコーを複数点取込んでいるため欠陥エコーを必ず
取込むことができる。
波探触子を採用しているため、１回の走査で３回の探傷
が行なえ、走査回数を低減することができる。また、ビ
ークエコーを複数点取込んでいるため欠陥エコーを必ず
取込むことができる。
更に、オフライン結合したため、データ処理装置を一式
とし、現場探傷機器およびデータ収録装置を、例えば圧
力容器用一式、配管用二式とする等複数個設置で色るた
め拡張性に富む。また更に、（１４） 探触子の軌跡、ＤＡＣ％以上のエコー分布、被検体の断
面像、底面エコー等が実時間で表示されるため、欠陥の
識別が容易になる、という優れた効果が得られる。
とし、現場探傷機器およびデータ収録装置を、例えば圧
力容器用一式、配管用二式とする等複数個設置で色るた
め拡張性に富む。また更に、（１４） 探触子の軌跡、ＤＡＣ％以上のエコー分布、被検体の断
面像、底面エコー等が実時間で表示されるため、欠陥の
識別が容易になる、という優れた効果が得られる。
第１図は、本発明の一実施例を示すブロック図、第２図
は、上記実施例のソフトウェアのブロック図、第３図は
、ソフトウェアの流れ図、第４図は、マルチビーム超音
波探触子の断面図、第５図は、上実施例における超音波
信号を示す線図、第６図は、上記超音波信号の格納形式
を示す線図、第７図は、超音波探触子の軌跡表示と探傷
データとの関係を示す線図、第８図〜第１０図は、ＣＲ
Ｔ上の軌跡表示例を示す線図、第１１図は、画像表示装
置用鋸歯状波を示す線図、第１２図および第１３図は、
断面表示の画像表示例を示す線図、第１４図は、底面エ
コーの表示例を示す線図である。 ３・・・データ処理部、５・・・マルチビーム超音波探
触子、７・・・超音波探触子駆動装置、８・・・超音波
探傷器、１０・・・制御装置、１１・・・超音波探傷用
画像衣（１５） 示装置、１２・・・Ｘ−Ｙレコーダ、１３・・・データ
収（１６） 茅７ 口 第８図 茅り固 茅１０目 第１Ｉ 目
は、上記実施例のソフトウェアのブロック図、第３図は
、ソフトウェアの流れ図、第４図は、マルチビーム超音
波探触子の断面図、第５図は、上実施例における超音波
信号を示す線図、第６図は、上記超音波信号の格納形式
を示す線図、第７図は、超音波探触子の軌跡表示と探傷
データとの関係を示す線図、第８図〜第１０図は、ＣＲ
Ｔ上の軌跡表示例を示す線図、第１１図は、画像表示装
置用鋸歯状波を示す線図、第１２図および第１３図は、
断面表示の画像表示例を示す線図、第１４図は、底面エ
コーの表示例を示す線図である。 ３・・・データ処理部、５・・・マルチビーム超音波探
触子、７・・・超音波探触子駆動装置、８・・・超音波
探傷器、１０・・・制御装置、１１・・・超音波探傷用
画像衣（１５） 示装置、１２・・・Ｘ−Ｙレコーダ、１３・・・データ
収（１６） 茅７ 口 第８図 茅り固 茅１０目 第１Ｉ 目
Claims (1)
- １、被検体への屈折角が相違する複数の超音波ビームを
送信しかつ該被検体からの反射波を受信すると共に、送
受信した超音波信号を出力するマルチビーム超音波探触
子と、前記マルチビーム超音波探触子を前記被検体表面
上で移動させる駆動装置と、前記マルチビーム超音波探
触子を所定の位置に移動させかつ該位置に対応する位置
信号を出力する制御装置と、前記複数の超音波信号を送
信するための励振信号を出力しかつ前記超音波信号を増
幅する超晋波深傷器と、前記位置信号および前記超音波
信号を入力して記憶装置に記憶させるデータ収録用コン
ピュータと、前記位置信号および前記超音波信号を用い
て前記マルチビーム超音波探触子の移動軌跡を表示する
ときに波高値に応じて輝度を変化させて表示する軌跡表
示装置と、前記記憶装置に記憶されたデータをオフライ
ンによ多処理しかつ少なくとも探傷結果を図表とじて出
力するデータ処理部とを含む超音波探傷システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57102151A JPS58219451A (ja) | 1982-06-16 | 1982-06-16 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57102151A JPS58219451A (ja) | 1982-06-16 | 1982-06-16 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58219451A true JPS58219451A (ja) | 1983-12-20 |
| JPH022101B2 JPH022101B2 (ja) | 1990-01-16 |
Family
ID=14319730
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57102151A Granted JPS58219451A (ja) | 1982-06-16 | 1982-06-16 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58219451A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50115087U (ja) * | 1974-03-01 | 1975-09-19 | ||
| JPS5267688A (en) * | 1975-12-03 | 1977-06-04 | Toshiba Corp | Ultrasonic flaw detector |
| JPS52108872A (en) * | 1976-03-10 | 1977-09-12 | Hitachi Ltd | Ultrasonic flaw detector |
-
1982
- 1982-06-16 JP JP57102151A patent/JPS58219451A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50115087U (ja) * | 1974-03-01 | 1975-09-19 | ||
| JPS5267688A (en) * | 1975-12-03 | 1977-06-04 | Toshiba Corp | Ultrasonic flaw detector |
| JPS52108872A (en) * | 1976-03-10 | 1977-09-12 | Hitachi Ltd | Ultrasonic flaw detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH022101B2 (ja) | 1990-01-16 |
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