JPS5827079A - 放射線分析装置 - Google Patents
放射線分析装置Info
- Publication number
- JPS5827079A JPS5827079A JP12472181A JP12472181A JPS5827079A JP S5827079 A JPS5827079 A JP S5827079A JP 12472181 A JP12472181 A JP 12472181A JP 12472181 A JP12472181 A JP 12472181A JP S5827079 A JPS5827079 A JP S5827079A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- energy distribution
- inverse matrix
- detection element
- energy
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/36—Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry
- G01T1/366—Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry with semi-conductor detectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は放射線分析装置に関する。
第１図は従来技術を示している。この装置は現在広く使
われている放射線のエネルギースペクトルの分析装置で
ある（例えば影山賊三部著「原子被物堰」ｐ・１４３）
。この動作累層け、入射放射線（−線、ｌ纏＊ ｒｓ、
Ｘ線など）を放射線検出器（半導体検出器、シンチレー
シ璽／検出器などで放射線エネルギーに比例した波高を
もつ電気パルスＫｍ換し、その波高を分析してエネルギ
ー分布を計測するものである。一般に放射線のエネルギ
〒分解能にすぐれ放射−計測には不可欠な装置で□ あるが、以下に示すような問題点・要求がある。
われている放射線のエネルギースペクトルの分析装置で
ある（例えば影山賊三部著「原子被物堰」ｐ・１４３）
。この動作累層け、入射放射線（−線、ｌ纏＊ ｒｓ、
Ｘ線など）を放射線検出器（半導体検出器、シンチレー
シ璽／検出器などで放射線エネルギーに比例した波高を
もつ電気パルスＫｍ換し、その波高を分析してエネルギ
ー分布を計測するものである。一般に放射線のエネルギ
〒分解能にすぐれ放射−計測には不可欠な装置で□ あるが、以下に示すような問題点・要求がある。
（１）正確でなくとも、大まかな放射線エネルギー分布
を測定し丸い用途には、！Ｉ置の価格や性能の点で不向
きである。
を測定し丸い用途には、！Ｉ置の価格や性能の点で不向
きである。
（ｊｌ）Ｘ ＃ ＃ ＊装置で使われるＸ線のスペクト
ルを実動条件で測定しようとすると、Ｘ線７オトンの計
数率が非常に高い九め調定が自わめて困難である。
ルを実動条件で測定しようとすると、Ｘ線７オトンの計
数率が非常に高い九め調定が自わめて困難である。
この発明の■的は、近似的な放射線エネルギー分布を容
易に測定でき、しかも高計数率のＸＩＩＩエネルギー分
布％測定可能な放射、−分析装置を提供するにある〇 本発明によれば放射線の入射方向に配列されて−る複数
個の放射線検出素子から得られる出力強度信号値と、あ
らかじめ算出される逆行列式とを演算するだけで放射線
エネルギー分布が得られる。
易に測定でき、しかも高計数率のＸＩＩＩエネルギー分
布％測定可能な放射、−分析装置を提供するにある〇 本発明によれば放射線の入射方向に配列されて−る複数
個の放射線検出素子から得られる出力強度信号値と、あ
らかじめ算出される逆行列式とを演算するだけで放射線
エネルギー分布が得られる。
本発明の実施例を第２図に示す０本装置はエネルギーシ
とシを有する高計数率の放射１纏が入射し九場合のそれ
ぞれの軒数率！１と９雪とを測定することを目的として
いる。
とシを有する高計数率の放射１纏が入射し九場合のそれ
ぞれの軒数率！１と９雪とを測定することを目的として
いる。
一般的な場合の拡張に関しては、後述する変形例で説明
する。第２図において１１〜２は半導体検出素子（ＰＮ
接合屋、表面障壁型、ＰＩＮ接合型など）、２１〜露は
増幅器、３は逆行列発生装置、４は行列演算装置、５は
エネルギー分布表示器をそれぞれ示す・動作原理を以下
で説明する。
する。第２図において１１〜２は半導体検出素子（ＰＮ
接合屋、表面障壁型、ＰＩＮ接合型など）、２１〜露は
増幅器、３は逆行列発生装置、４は行列演算装置、５は
エネルギー分布表示器をそれぞれ示す・動作原理を以下
で説明する。
まず放射線束１０をΦとすれば、
Φ＝ｐ、 （Ｉｔ）＋！、（ｌｘ） ・・・・
・・（１）と表わされ、この放射線束の減衰が厚さａの
半導体検出素子中のみで生ずると仮定すると０増幅器２
□、２言から得られる信号強度ｂ１ｅｂＭは次式のよう
に表現できる。
・・（１）と表わされ、この放射線束の減衰が厚さａの
半導体検出素子中のみで生ずると仮定すると０増幅器２
□、２言から得られる信号強度ｂ１ｅｂＭは次式のよう
に表現できる。
上式中、声（１１）とｓ（ｍｍ）はエネルギーＩｔとシ
の入射放射線に対する半導体素材の一滅弱係数（Ｌｉｎ
ｅａｒ Ａｔｅ・ｍｕａｔｉｏａ Ｃｏａｆｆｉｃｉａ
ｓｔ）である。（２） 、 （８）式を連立させれば９
１．ψ冨が求まる。そこで、と定義すると。
の入射放射線に対する半導体素材の一滅弱係数（Ｌｉｎ
ｅａｒ Ａｔｅ・ｍｕａｔｉｏａ Ｃｏａｆｆｉｃｉａ
ｓｔ）である。（２） 、 （８）式を連立させれば９
１．ψ冨が求まる。そこで、と定義すると。
人文＝ｂ ・・・（４）
が成立し、（４）式より
へｚ Ａ−’ ｌ） ・・膚を演算
することによって、！１，９．が求まる。ただし、ム−
１はムの逆行列であり、使用する検出素子の形状等によ
って定まる放射線、嬉２図はこの原理を電子ｇｉｌｌ的
に実現したものである。
することによって、！１，９．が求まる。ただし、ム−
１はムの逆行列であり、使用する検出素子の形状等によ
って定まる放射線、嬉２図はこの原理を電子ｇｉｌｌ的
に実現したものである。
本発明による効果は次の点である。
（１）極めて簡単な電子回路システムにより、放射線の
エネルギー分析を行うことが可能である。
エネルギー分析を行うことが可能である。
（２）高計数率の放射線（例えば喪働状態のＸ−診ＷＲ
装置から尭せられるＸ線など）エネルギー分析も行うこ
とが可能である・ 本発明の変形例をしては以下のものが考えられる０ （１）放射線検出素子の厚さ唸か亙いに独立して任意の
ものを使用できる〇 （２Ｂ款射−検出素子として、半導体検出素子以外Ｋ
％ 、 シｙ ｆ ｖ −１（Ｎａｌ（Ｔｊ））、引４
Ｇ＠１０１１ すどを利用すｈもの中、気体電離箱タイ
プのものを使用すゐ事が可能である。
装置から尭せられるＸ線など）エネルギー分析も行うこ
とが可能である・ 本発明の変形例をしては以下のものが考えられる０ （１）放射線検出素子の厚さ唸か亙いに独立して任意の
ものを使用できる〇 （２Ｂ款射−検出素子として、半導体検出素子以外Ｋ
％ 、 シｙ ｆ ｖ −１（Ｎａｌ（Ｔｊ））、引４
Ｇ＠１０１１ すどを利用すｈもの中、気体電離箱タイ
プのものを使用すゐ事が可能である。
（３）第２図の実施例では放射線のエネルギーが。
シとシのみを含む場合であったが、一般的な場合を説明
する。
する。
まず放射線東金が連続的なエネルギースペクトルを有す
る場合も含めて実用的な範囲で・は次式のようＥｌｌ現
できる〇 ・蹴 １−百１ｉ） ・・団・（６）
（ａ式の場合、求めるべき未知数である計数率ｐｔはｌ
個存在すゐので、お互いに独立な方１１式はｍ個必畳で
ある０したがって放射線検出素子の数もｍ個必畳になる
＠このようにして放射線検出素子数を増加させることＫ
よりて必要なエネルギー分解能な有する放射線分析装置
を得ることが可能である・
る場合も含めて実用的な範囲で・は次式のようＥｌｌ現
できる〇 ・蹴 １−百１ｉ） ・・団・（６）
（ａ式の場合、求めるべき未知数である計数率ｐｔはｌ
個存在すゐので、お互いに独立な方１１式はｍ個必畳で
ある０したがって放射線検出素子の数もｍ個必畳になる
＠このようにして放射線検出素子数を増加させることＫ
よりて必要なエネルギー分解能な有する放射線分析装置
を得ることが可能である・
第１図は従来技術を示す図、第２図は本発明の実施例を
示す図である。 １１１１２・・・半導体検出素子Ｓ Ｚ、、Ｚ、・・・
増幅器、３・・・逆行列発生装置、 ４・・・行列演算
装置。 ５・・・エネルギー分布表示器。 代理人 弁通士 則 近 憲 佑 （＃！か１名）
示す図である。 １１１１２・・・半導体検出素子Ｓ Ｚ、、Ｚ、・・・
増幅器、３・・・逆行列発生装置、 ４・・・行列演算
装置。 ５・・・エネルギー分布表示器。 代理人 弁通士 則 近 憲 佑 （＃！か１名）
Claims (1)
- 放射−の入射方向く複数個の放射線検出素子を配列し、
前記複数個の放射線検出素子から得られる出力強度信号
の値をベクトルとし、このベクトルと前記放射線検出素
子に対応してあらかじめ定められている逆行列とを演算
することによって前記放射線のエネルギー分布を求める
ことを特徴とする放射−分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12472181A JPS5827079A (ja) | 1981-08-11 | 1981-08-11 | 放射線分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12472181A JPS5827079A (ja) | 1981-08-11 | 1981-08-11 | 放射線分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5827079A true JPS5827079A (ja) | 1983-02-17 |
Family
ID=14892452
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12472181A Pending JPS5827079A (ja) | 1981-08-11 | 1981-08-11 | 放射線分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5827079A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS603543A (ja) * | 1983-06-22 | 1985-01-09 | Hitachi Ltd | 人工衛星の熱試験装置 |
| JPS62117885A (ja) * | 1985-11-14 | 1987-05-29 | Suminoe Orimono Kk | タイルカ−ペツトの連続裁断法 |
| JP2009526213A (ja) * | 2006-02-09 | 2009-07-16 | フリードリヒ−アレクサンダー−ウニベルジテート・エアランゲン−ニュルンベルク | 放射線の１つ以上の特性を決定する方法および装置 |
| WO2009113606A1 (ja) * | 2008-03-13 | 2009-09-17 | 大学共同利用機関法人自然科学研究機構 | 電磁波・粒子線分光方法及び電磁波・粒子線分光装置 |
-
1981
- 1981-08-11 JP JP12472181A patent/JPS5827079A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS603543A (ja) * | 1983-06-22 | 1985-01-09 | Hitachi Ltd | 人工衛星の熱試験装置 |
| JPS62117885A (ja) * | 1985-11-14 | 1987-05-29 | Suminoe Orimono Kk | タイルカ−ペツトの連続裁断法 |
| JP2009526213A (ja) * | 2006-02-09 | 2009-07-16 | フリードリヒ−アレクサンダー−ウニベルジテート・エアランゲン−ニュルンベルク | 放射線の１つ以上の特性を決定する方法および装置 |
| WO2009113606A1 (ja) * | 2008-03-13 | 2009-09-17 | 大学共同利用機関法人自然科学研究機構 | 電磁波・粒子線分光方法及び電磁波・粒子線分光装置 |
| JP4584348B2 (ja) * | 2008-03-13 | 2010-11-17 | 大学共同利用機関法人自然科学研究機構 | 電磁波・粒子線分光方法及び電磁波・粒子線分光装置 |
| JPWO2009113606A1 (ja) * | 2008-03-13 | 2011-07-21 | 大学共同利用機関法人自然科学研究機構 | 電磁波・粒子線分光方法及び電磁波・粒子線分光装置 |
| US7995706B2 (en) | 2008-03-13 | 2011-08-09 | Inter-University Research Institute Corporation National Institutes Of Natural Sciences | Electromagnetic wave/particle beam spectroscopic method and electromagnetic wave/particle beam spectroscopic instrument |
| KR101118222B1 (ko) | 2008-03-13 | 2012-03-20 | 다이가쿠쿄도리요기깐호우징 시젠카가꾸켄뀨기꼬 | 전자파-입자선 분광방법 및 전자파-입자선 분광 장치 |
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