JPS5831585A - 受光装置 - Google Patents
受光装置Info
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- JPS5831585A JPS5831585A JP56129836A JP12983681A JPS5831585A JP S5831585 A JPS5831585 A JP S5831585A JP 56129836 A JP56129836 A JP 56129836A JP 12983681 A JP12983681 A JP 12983681A JP S5831585 A JPS5831585 A JP S5831585A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- lead body
- lead
- photoreceptor
- semiconductor layer
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
- H10F71/10—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass the devices comprising amorphous semiconductor material
- H10F71/103—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass the devices comprising amorphous semiconductor material including only Group IV materials
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/20—Electrodes
- H10F77/206—Electrodes for devices having potential barriers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/93—Interconnections
- H10F77/933—Interconnections for devices having potential barriers
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は非単結晶半導体を具え′ic受元受光に関する
。
。
元に電気的VC検出する受光gttt、所−尤竜ンサが
オプトエレクトロニクス技術の利用が活発になるにつ1
′L、多方oklVC@豐が増大している・蕗1図は従
来この槌受光装置の正面図、第2図は第1図に於ける^
−ムー断面図であって、(l)はPN接合(2)を具え
たシリコン単結a1から成る半導体基板、(3)に該半
導体基板(1)の−王[IK酸化処場に工9形r!tさ
れた酸化シリコン81o2の反射防止膜、(4)に該反
射防止膜(3)を貫通して半導体基板111の一導電型
領域と結合したアルミニウムAff %の表面電極、(
51に上記半導体基板(11の他の一生面の逆導を型領
域とメーミツク接触した金Au等の裏面を極で、斯る半
導体基板il+乃至裏[fi電極151 vhら新組フ
ォトダイオードの受光体(6)が形成されている。ニア
1t81Uリードフレームから成る鷹1・第2のリード
体で、第1のリード体(71μ第6図に示す如くその先
端Vこ旗状部(7a)′ft肩し、この旗状部(7a)
に受光体(6)が46!置固着さrt−面111(mt
51と第1のリード体(71とが電気的に導通している
。一方表面電極(41と第2のリード体(81とflk
u等のワイヤリード+91(H介して′電気結合してい
る。(1(141元金透ft、せしめる透明エポキシ樹
脂から成るモールド体で、該モールド捧tltmμ均質
な透光性を必要とするためにトランスファモールドVこ
より所足形状に形成さ几ている。
オプトエレクトロニクス技術の利用が活発になるにつ1
′L、多方oklVC@豐が増大している・蕗1図は従
来この槌受光装置の正面図、第2図は第1図に於ける^
−ムー断面図であって、(l)はPN接合(2)を具え
たシリコン単結a1から成る半導体基板、(3)に該半
導体基板(1)の−王[IK酸化処場に工9形r!tさ
れた酸化シリコン81o2の反射防止膜、(4)に該反
射防止膜(3)を貫通して半導体基板111の一導電型
領域と結合したアルミニウムAff %の表面電極、(
51に上記半導体基板(11の他の一生面の逆導を型領
域とメーミツク接触した金Au等の裏面を極で、斯る半
導体基板il+乃至裏[fi電極151 vhら新組フ
ォトダイオードの受光体(6)が形成されている。ニア
1t81Uリードフレームから成る鷹1・第2のリード
体で、第1のリード体(71μ第6図に示す如くその先
端Vこ旗状部(7a)′ft肩し、この旗状部(7a)
に受光体(6)が46!置固着さrt−面111(mt
51と第1のリード体(71とが電気的に導通している
。一方表面電極(41と第2のリード体(81とflk
u等のワイヤリード+91(H介して′電気結合してい
る。(1(141元金透ft、せしめる透明エポキシ樹
脂から成るモールド体で、該モールド捧tltmμ均質
な透光性を必要とするためにトランスファモールドVこ
より所足形状に形成さ几ている。
然し乍ら、lfiる構造の受光装置の表面電極13)汀
第2のリード体181ニ対しワイヤリード191t−弁
して電気結合され−Cおり、大変作業性が急いば〃蔦り
かモールド体(1(ik?ランス7了モールドする際の
樹脂の圧入にエリ上記ワイヤリード(9)が断線する危
惧金有していた@箇だ、元はモールド体部を透過して受
光体(61のPNrI!合(21に入射するために、上
記モールド体層の入射l1ilit−鏡面加工しなけル
ばならなかった。
第2のリード体181ニ対しワイヤリード191t−弁
して電気結合され−Cおり、大変作業性が急いば〃蔦り
かモールド体(1(ik?ランス7了モールドする際の
樹脂の圧入にエリ上記ワイヤリード(9)が断線する危
惧金有していた@箇だ、元はモールド体部を透過して受
光体(61のPNrI!合(21に入射するために、上
記モールド体層の入射l1ilit−鏡面加工しなけル
ばならなかった。
本発明は斯る点に鍾みて為さnたもので、第4図以降を
参照しつつ本発明の実施例につき詳述する。
参照しつつ本発明の実施例につき詳述する。
第4図a本発明受元装置に於ける受光体であって、該受
尤体ttna、ガラス及びアクリル樹脂等の透光性基板
(lzと、該基板1りの一生面に被着された酸化スズ(
sno2)ri12化インジウム(I n 201.酸
化インジウム・スズ(xn2os−sno2)等の透明
電極u31と、&f透明電極[131の大部分を被覆す
る非晶質またに多結晶半導体勢のPH1合、PINII
合、ショットキ接合若しくはヘテロフェイス接合會有す
る非単結晶半導体層Iと、駁牛導体層圓上に設けらn7
t*l=銀入f等の第1の電極ttSと、該第1の電極
a9と同時に形成さ庇透明電極(131の露出部(13
a)と同一面上で結合する第2の″1llE極tt6+
と。
尤体ttna、ガラス及びアクリル樹脂等の透光性基板
(lzと、該基板1りの一生面に被着された酸化スズ(
sno2)ri12化インジウム(I n 201.酸
化インジウム・スズ(xn2os−sno2)等の透明
電極u31と、&f透明電極[131の大部分を被覆す
る非晶質またに多結晶半導体勢のPH1合、PINII
合、ショットキ接合若しくはヘテロフェイス接合會有す
る非単結晶半導体層Iと、駁牛導体層圓上に設けらn7
t*l=銀入f等の第1の電極ttSと、該第1の電極
a9と同時に形成さ庇透明電極(131の露出部(13
a)と同一面上で結合する第2の″1llE極tt6+
と。
から成っている。上記透明電極Glj電子ビーム蒸着法
で、また非単結晶半導体層Iが非晶質から成る場合框プ
ラズマ放電法若しくは高周波スパンタリング法によって
、多結晶構造の場合に蒸着、プリント、スプレー、気相
成長等の方法によってミクロンオーダに形成さn第1・
第2の電極qシue會略同−面上に配置せしめている@ II5図は本発明装置の平面図、第6図は第5図に於け
るB−Bgfr面図であって、住Bα槌に第7図に示す
即き2本−組の銅にニッケルメッキを施したリードフレ
ーム09からなる第1・第2のリード体で2こrt@第
1命第2のリード体Q71I18は受光体aυの同−面
上に形成さ11だ第1・第2の電極α9αeに直2ペー
スト婢會介して電気的に結合すると共に受光体圓が両リ
ード体[171住svc跨がることに工って機械的にも
強固に支持さ几ることになる。山は透光性基板(13の
一生面に堆積された非単結晶半導体層I、上記@1・第
2の電極及びリード体a5+tt61゜(171(Il
t覆うエポキシ樹脂等のモールド体で、光照射に第6図
に於いて矢印で示す10(透光性基板t121の他の一
生面側から為さnるので透明である必要rzない〇 而して、本発明装置の特徴に上記#11・@2のリード
体anaat、非単結晶半導体層Iの第1の電fi(I
51及びaIi11電極u3倉介した纂2の電極σQに
従来製置の如きワイヤリード(9)を介さず直接結合す
ると共に、上記第1・llI2のリード体anusで受
光体111を支持した点にある。即ち、非結晶半導体層
14はガラス、アクリル11脂勢の透光性基板aり上に
直播ミクロンオーダで被着せしめることができ、しかも
光照射に対し悪影響を与えない裏#Jvc於いて同一面
上KIs1・薦2の電極り9αGが配置されるので%第
1−wE2のリード体(171(IIによる上述の如き
結合及び支持が可能となる・ 次に、非結晶半導体層惺4として用いられる非晶質半導
体の製造方法ta明する。
で、また非単結晶半導体層Iが非晶質から成る場合框プ
ラズマ放電法若しくは高周波スパンタリング法によって
、多結晶構造の場合に蒸着、プリント、スプレー、気相
成長等の方法によってミクロンオーダに形成さn第1・
第2の電極qシue會略同−面上に配置せしめている@ II5図は本発明装置の平面図、第6図は第5図に於け
るB−Bgfr面図であって、住Bα槌に第7図に示す
即き2本−組の銅にニッケルメッキを施したリードフレ
ーム09からなる第1・第2のリード体で2こrt@第
1命第2のリード体Q71I18は受光体aυの同−面
上に形成さ11だ第1・第2の電極α9αeに直2ペー
スト婢會介して電気的に結合すると共に受光体圓が両リ
ード体[171住svc跨がることに工って機械的にも
強固に支持さ几ることになる。山は透光性基板(13の
一生面に堆積された非単結晶半導体層I、上記@1・第
2の電極及びリード体a5+tt61゜(171(Il
t覆うエポキシ樹脂等のモールド体で、光照射に第6図
に於いて矢印で示す10(透光性基板t121の他の一
生面側から為さnるので透明である必要rzない〇 而して、本発明装置の特徴に上記#11・@2のリード
体anaat、非単結晶半導体層Iの第1の電fi(I
51及びaIi11電極u3倉介した纂2の電極σQに
従来製置の如きワイヤリード(9)を介さず直接結合す
ると共に、上記第1・llI2のリード体anusで受
光体111を支持した点にある。即ち、非結晶半導体層
14はガラス、アクリル11脂勢の透光性基板aり上に
直播ミクロンオーダで被着せしめることができ、しかも
光照射に対し悪影響を与えない裏#Jvc於いて同一面
上KIs1・薦2の電極り9αGが配置されるので%第
1−wE2のリード体(171(IIによる上述の如き
結合及び支持が可能となる・ 次に、非結晶半導体層惺4として用いられる非晶質半導
体の製造方法ta明する。
低臭9にさrtた反応炉の電極間に一生面に透明電極α
3が選択蒸着された透光性基板α3を設置した状態で、
モノシラン81H4ガスを導入し、上記電極間で高周波
プラズマ放電を行なう・高周波で励起さf′した高いエ
ネルギーの電子が材料ガス[15Jし、ガス材の分解や
活性化さf″Lにガス間の反応に工って非晶質シリコン
が透丸性基板(121上に析出して(る、原料のSiH
4に不純物としてジボランB2H6f添71Ll f
几ばpijlvc、 ]t:xフィンPHsf添加丁n
#′i′N型に上記非晶質シリコン會変えることができ
る。以−ドにPIN輸合型非晶實シリコンの基本的反し
5条件を1丁。
3が選択蒸着された透光性基板α3を設置した状態で、
モノシラン81H4ガスを導入し、上記電極間で高周波
プラズマ放電を行なう・高周波で励起さf′した高いエ
ネルギーの電子が材料ガス[15Jし、ガス材の分解や
活性化さf″Lにガス間の反応に工って非晶質シリコン
が透丸性基板(121上に析出して(る、原料のSiH
4に不純物としてジボランB2H6f添71Ll f
几ばpijlvc、 ]t:xフィンPHsf添加丁n
#′i′N型に上記非晶質シリコン會変えることができ
る。以−ドにPIN輸合型非晶實シリコンの基本的反し
5条件を1丁。
また、上記製造方法ICよって導入ガスを適宜選択丁れ
ば、p、1.N各層に水素、フン減、炭素。
ば、p、1.N各層に水素、フン減、炭素。
窒素、ll素等【含有せしめた非晶質シリコンを得るこ
とができる・ 更に、非晶質半導体としてセレン、カルコゲン化合物等
が考えられる。
とができる・ 更に、非晶質半導体としてセレン、カルコゲン化合物等
が考えられる。
この様にして形成さf′Lrc非晶質半導体の厚みは1
ンクロンVcも満たな^為にIEl・第2の電極a91
1・間の幌!框上配置(クロン以下となり、第1・第2
のリード体(17118に噌差加工金施こさなくても良
く加工性に富む。
ンクロンVcも満たな^為にIEl・第2の電極a91
1・間の幌!框上配置(クロン以下となり、第1・第2
のリード体(17118に噌差加工金施こさなくても良
く加工性に富む。
第8図[a)乃至(C)μ本発明装置に於ける第1・第
2のリード体ロア1α鴫の変形例である。即ち、先の実
施例に於いてはWXl・第2のリード体a71鵠の幅に
互いに等しくまた同一面で第1・第2の電極u9αQと
結合するので受光体1111il−支持するに十分な支
持力を祷ることができるが、必要とあれば第1のリード
体σηの先端rctits図に示した如き旗状部(7a
)を含め1円状(17&)、四角形状(17b)及び+
J!1のリード体αnそのものt−幅広(17c)&C
21a工しても良い。
2のリード体ロア1α鴫の変形例である。即ち、先の実
施例に於いてはWXl・第2のリード体a71鵠の幅に
互いに等しくまた同一面で第1・第2の電極u9αQと
結合するので受光体1111il−支持するに十分な支
持力を祷ることができるが、必要とあれば第1のリード
体σηの先端rctits図に示した如き旗状部(7a
)を含め1円状(17&)、四角形状(17b)及び+
J!1のリード体αnそのものt−幅広(17c)&C
21a工しても良い。
纂9図ば本発明装置の他の実施例であって、透明電極1
131を透光性基板(12+の側面[延在ぜしめ、斯る
側面にて第2の電極(l麹と第2のリード体(lルとの
結合を行なわしめている♂この構造によると、透光性基
板uz−王面に於いて第2の電極(1eが占ゼしていた
透明電極u3の繍出部(1sa)kも非単結晶半導体層
■で覆うことかでセ、受光面積の拡大が図ルる反面、上
記側面に透明1惨(131及び第2の電極11F9を被
着する工程が増加する。この場合、第1のリード体(1
71rx第3図及びall!8図に示す如き旗状(7a
)、円状(17a)、四角形状(17b)若しくに幅広
(17c)の形状?為し、第2のリード体0υが受光体
1nt−側面で支持することに起因する支持力の低下を
補なっている。
131を透光性基板(12+の側面[延在ぜしめ、斯る
側面にて第2の電極(l麹と第2のリード体(lルとの
結合を行なわしめている♂この構造によると、透光性基
板uz−王面に於いて第2の電極(1eが占ゼしていた
透明電極u3の繍出部(1sa)kも非単結晶半導体層
■で覆うことかでセ、受光面積の拡大が図ルる反面、上
記側面に透明1惨(131及び第2の電極11F9を被
着する工程が増加する。この場合、第1のリード体(1
71rx第3図及びall!8図に示す如き旗状(7a
)、円状(17a)、四角形状(17b)若しくに幅広
(17c)の形状?為し、第2のリード体0υが受光体
1nt−側面で支持することに起因する支持力の低下を
補なっている。
本発明装置に以上の説明から明らかな如く、透光性基板
の一生而に堆積さf’した非単結晶半導体層を具えた受
光体に少なくとも2本のリード体に電気的IC接続さ几
ると共に、該2本のリード体で機械的にも支持されるの
で、従来の単結晶半導体力・らなる受光装置に於けるワ
イヤリードを削除することができ、断るワイヤリードの
存在に起因する作業性の煩雑さ及び断*亭故を回避する
ことができるーまた1党は透光性基板を介して半導体層
【隙封するので、従来装置の如く入射面を鏡面加工する
必要がない。罠に本発明によれば従来の単結晶半導体よ
り安価な非単結晶半導体を使用するので、上述の即き作
業工程の簡略化及び歩留りの向上と相俟ってエリ一層の
コストダウンを図ることができる。
の一生而に堆積さf’した非単結晶半導体層を具えた受
光体に少なくとも2本のリード体に電気的IC接続さ几
ると共に、該2本のリード体で機械的にも支持されるの
で、従来の単結晶半導体力・らなる受光装置に於けるワ
イヤリードを削除することができ、断るワイヤリードの
存在に起因する作業性の煩雑さ及び断*亭故を回避する
ことができるーまた1党は透光性基板を介して半導体層
【隙封するので、従来装置の如く入射面を鏡面加工する
必要がない。罠に本発明によれば従来の単結晶半導体よ
り安価な非単結晶半導体を使用するので、上述の即き作
業工程の簡略化及び歩留りの向上と相俟ってエリ一層の
コストダウンを図ることができる。
第1図に従来装置の正面図、第2図に第1図に於けるム
ーム線断11WA、lK3図に従来装置の要部の正1m
図、纂4図框本発明装置の要部である受光体の斜視図、
第511は本発明装置の正面図、第6図に第5図に於け
るB−B@断面図、第7図μ本発明it置の要部の正t
iia、 gs図(a)、(bl、 (c)H第7図の
要部の他の実施例を示す正面図、 ll915i!2に
本発明装置の他の実施例の断面図、を夫々示している。 Uυ・・・受光体、 (13・・・透尤性基板、 (1
41・・・非単結晶半導体層、 (151(l岨・・W
Xl・第2の電極、住ηαe・・・第1書第2のリード
体。 出願人三洋電機株式会社 代理人 弁理士 佐野静天 昭和57年 1月2z日 特許庁長官殿 1、事件の表示 昭和56年特 許 願第 129856号2、発明の名
称 受 光 装 置 3、補正をする者 特許出願人 住所 守口型京阪本通2了目18番地 名称(188)三洋電機株式会社 代表者 井 植 薫 4、代理人 住所 守口市京阪本通2丁目18番地 連絡先:電話(東京) 835−1111特許七ンター
駐在#田5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 6、補正の内容 明細書第8頁第13行と同頁第14行との間に下記の文
章を挿入します。 記 「また以上の説明に於ける非単結晶半導体層IはP工N
接合、ショットキ接合等の接合形態を有し、光照射に対
し光起電力を発生せしめる光起電力効果を利用したもの
であったが、斯る接合形態を持たず光照射によって導電
率が上昇する光導電効果を利用したものであっても本発
明の作用効果を妨げるものではない。」
ーム線断11WA、lK3図に従来装置の要部の正1m
図、纂4図框本発明装置の要部である受光体の斜視図、
第511は本発明装置の正面図、第6図に第5図に於け
るB−B@断面図、第7図μ本発明it置の要部の正t
iia、 gs図(a)、(bl、 (c)H第7図の
要部の他の実施例を示す正面図、 ll915i!2に
本発明装置の他の実施例の断面図、を夫々示している。 Uυ・・・受光体、 (13・・・透尤性基板、 (1
41・・・非単結晶半導体層、 (151(l岨・・W
Xl・第2の電極、住ηαe・・・第1書第2のリード
体。 出願人三洋電機株式会社 代理人 弁理士 佐野静天 昭和57年 1月2z日 特許庁長官殿 1、事件の表示 昭和56年特 許 願第 129856号2、発明の名
称 受 光 装 置 3、補正をする者 特許出願人 住所 守口型京阪本通2了目18番地 名称(188)三洋電機株式会社 代表者 井 植 薫 4、代理人 住所 守口市京阪本通2丁目18番地 連絡先:電話(東京) 835−1111特許七ンター
駐在#田5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 6、補正の内容 明細書第8頁第13行と同頁第14行との間に下記の文
章を挿入します。 記 「また以上の説明に於ける非単結晶半導体層IはP工N
接合、ショットキ接合等の接合形態を有し、光照射に対
し光起電力を発生せしめる光起電力効果を利用したもの
であったが、斯る接合形態を持たず光照射によって導電
率が上昇する光導電効果を利用したものであっても本発
明の作用効果を妨げるものではない。」
Claims (1)
- 111 透元性基板、鈑基板の一生面に堆積さrtた
非単結晶半導体層、t−具えた受光体?、少なくとも2
本のリード体に電気的に*dすると共vc、g2本のリ
ード体で機械的に支持することを特徴としに受5を装置
。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56129836A JPS5831585A (ja) | 1981-08-19 | 1981-08-19 | 受光装置 |
| GB08223216A GB2104727B (en) | 1981-08-19 | 1982-08-12 | Light sensitive device |
| US06/759,496 US4613880A (en) | 1981-08-19 | 1985-07-26 | Light sensitive apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56129836A JPS5831585A (ja) | 1981-08-19 | 1981-08-19 | 受光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5831585A true JPS5831585A (ja) | 1983-02-24 |
Family
ID=15019428
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56129836A Pending JPS5831585A (ja) | 1981-08-19 | 1981-08-19 | 受光装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4613880A (ja) |
| JP (1) | JPS5831585A (ja) |
| GB (1) | GB2104727B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4755666A (en) * | 1986-06-16 | 1988-07-05 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Photosensor frame |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5123733A (en) * | 1988-08-30 | 1992-06-23 | Institut Radiotekhniki I Elektroniki Akademiinauk Sssr | Method for measuring the spatial distribution of electromagnetic radiation intensity |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4016589A (en) * | 1971-11-10 | 1977-04-05 | Omron Tateisi Electronics Co., Ltd. | Semiconductor device |
| US3820150A (en) * | 1972-08-01 | 1974-06-25 | Us Army | Temperature insensitive doped amorphous thin film switching and memory device |
| US4371882A (en) * | 1978-07-20 | 1983-02-01 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Process for preparing isolated junctions in thin-film semiconductors |
| US4272641A (en) * | 1979-04-19 | 1981-06-09 | Rca Corporation | Tandem junction amorphous silicon solar cells |
| US4217148A (en) * | 1979-06-18 | 1980-08-12 | Rca Corporation | Compensated amorphous silicon solar cell |
| JPS56116673A (en) * | 1980-02-19 | 1981-09-12 | Sharp Corp | Amorphous thin film solar cell |
| US4388482A (en) * | 1981-01-29 | 1983-06-14 | Yoshihiro Hamakawa | High-voltage photovoltaic cell having a heterojunction of amorphous semiconductor and amorphous silicon |
-
1981
- 1981-08-19 JP JP56129836A patent/JPS5831585A/ja active Pending
-
1982
- 1982-08-12 GB GB08223216A patent/GB2104727B/en not_active Expired
-
1985
- 1985-07-26 US US06/759,496 patent/US4613880A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4755666A (en) * | 1986-06-16 | 1988-07-05 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Photosensor frame |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2104727B (en) | 1986-04-30 |
| US4613880A (en) | 1986-09-23 |
| GB2104727A (en) | 1983-03-09 |
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